一種生產(chǎn)條件下準確測量鍍層厚度的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種提高電鍍隨槽試樣厚度測量準確率的測試方法，適用于碳鋼、結(jié)構(gòu)鋼鍍層的厚度測量。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有的航空鍍覆工藝有電鍍鎘、鎳、銀、銅等數(shù)十種，其中以電鍍鎘最為常見，用于碳鋼、結(jié)構(gòu)鋼等鋼制工件的表面防護，被鍍工件多為螺栓、軸承、銷子等棒、柱類形狀，其鍍層厚度有3-6μm、6-9μm、9-15μm、15-21μm。眾所周知，被鍍工件形狀不同，其電鍍時的電力線分布情況有較大差異，導(dǎo)致測量試片與被鍍工件的實際鍍層厚度差別較大。同時，薄鍍層厚度(如3-6μπι、6-9μπι)也給測量帶來極大的困難，現(xiàn)有的鍍層測厚方法是采用磁性測厚儀測量隨槽電鍍的試片，而多數(shù)測厚儀的精度為Ιμπι，誤差相對較大，不適用棒、柱、軸類工件精密尺寸電鍍鍍層的厚度測量。
[0003]如何準確的測量出被鍍工件的鍍層厚度是解決問題的關(guān)鍵，試片與工件形狀的不匹配性、測厚儀的測量誤差，隨槽試片的表面平整度等都影響測量結(jié)果。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]為了解決以上問題，本發(fā)明提供一種可提高生產(chǎn)條件下鍍層厚度測量準確率的方法。
[0005]本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:一種生產(chǎn)條件下準確測量鍍層厚度的方法，包括如下步驟:
[0006]I)鍍前測量:用千分尺對測試棒的測量區(qū)直徑進行測量，記為LI;優(yōu)選的，鍍前測量是:用千分尺對測試棒的測量區(qū)直徑進行測量時，先在一側(cè)中心位置測量三點，然后將測試棒旋轉(zhuǎn)60°再測量三點，再旋轉(zhuǎn)60°測量三點，取9次測量值的平均值作為LI。
[0007]2)絕緣:將測試棒兩端部的保護區(qū)進行絕緣保護。
[0008]3)裝掛:將銅絲穿過測試棒的裝掛孔，并固定住，銅絲另一端連接導(dǎo)電杠。
[0009]4)調(diào)整測試棒角度:將測試棒垂直吊入鍍液槽中。
[0010]5)電鍍:將測試棒與其他電鍍工件一同放入電鍍液中進行電鍍，測試棒的擺放位置應(yīng)在其他工件的中間，并使測試棒處于電鍍陽極的三角中心區(qū)域。
[0011]6)拆卸:將鍍好的測試棒取下，用干凈的壓縮空氣吹干測試棒表面殘留的液體，操作時需佩戴干凈的手套.以免由于污物的沾污影響測量結(jié)果。
[0012]7)鍍后測量:用千分尺對鍍后的測試棒的測量區(qū)直徑進行測量，記為L2。優(yōu)選的，鍍后測量是:用千分尺對測試棒的測量區(qū)直徑進行測量時，先在一側(cè)中心位置測量三點，然后將測試棒旋轉(zhuǎn)60°再測量三點，再旋轉(zhuǎn)60°測量三點，取9次測量值的平均值作為L2。
[0013]8)計算:鍍層平均厚度= (L2_Ll)/2。
[0014]上述的一種生產(chǎn)條件下準確測量鍍層厚度的方法，所述的測試棒的結(jié)構(gòu)是:圓柱形測量區(qū)(I)的兩端為圓柱形的保護區(qū)(2)，在一端的保護區(qū)(2)上距頂端3mm處設(shè)有裝掛孔(3)ο優(yōu)選的，測量區(qū)的直徑為1mm土0.2μηι;保護區(qū)的直徑為6mm土0.2μηι。
[0015]本發(fā)明的有益效果是:
[0016]I)本發(fā)明，摒棄了現(xiàn)有的測量方法，將測量試件由長方形的試片改為圓柱形的測試棒，使用千分尺測量測試棒的鍍層厚度。測量方法由原來的測厚儀觸點式更改為測量測試棒的鍍前、鍍后平均值，以平局值差值作為測試棒的平均鍍層厚度，測量方法簡單。
[0017]2)本發(fā)明，為了更好的提高測試棒與被鍍工件的鍍層厚度一致性，在電鍍時對測試棒的裝掛及鍍前進行一定的調(diào)整。對試棒兩端部的保護區(qū)進行絕緣保護，以提高電力線的有效分布。
[0018]3)本發(fā)明，大大提高了測試棒與被鍍工件的鍍層厚度一致性，并以多次測量尺寸平均值的方法減少了因操作手法、測量儀器所帶來的誤差。按本發(fā)明的方法，測試棒與被鍍工件的實際鍍層厚度相差不超過Ιμπι。與以往用磁性測厚儀測量試片方法(GB/T4956)相比，厚度以致性提高75%以上，測量誤差減少20%-30%,總體測量準確率提高85%以上。
【附圖說明】
[0019]圖1是測試棒的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0020]實施例一種生產(chǎn)條件下準確測量鍍層厚度的方法
[0021](一)測試棒的制造
[0022]測試棒尺寸:Φ10 X 30mm;為提高測量準確度，屏蔽電鍍邊緣效應(yīng)，在試棒兩端1mm左右加工至Φ6，為測試棒的兩端保護區(qū)(2)，為方便電鍍時裝掛，在其中一端的保護區(qū)
(2)軸面中心位置穿Φ2的孔，作為裝掛孔(3)，孔距測試棒端面3mm左右;將測試棒中間1mm部位圓周的形位公差和尺寸公差加工至Φ10mm±2μm，表面光潔度加工至0.2，此區(qū)域為電鍍及測試棒的測量區(qū)(I)。
[0023](二)測量方法
[0024]I)鍍前測量:用千分尺對測試棒的測量區(qū)直徑進行測量，記為LI;優(yōu)選的，鍍前測量是:用千分尺對測試棒的測量區(qū)直徑進行測量時，先在一側(cè)中心位置測量三點，然后將測試棒旋轉(zhuǎn)60°再測量三點，再旋轉(zhuǎn)60°測量三點，取9次測量值的平均值作為LI。
[0025]2)絕緣:將測試棒兩端部的保護區(qū)進行絕緣保護。
[0026]3)裝掛:將銅絲穿過測試棒的裝掛孔，并固定住，銅絲另一端連接導(dǎo)電杠。
[0027]4)調(diào)整測試棒角度:將測試棒垂直吊入鍍液槽中。
[0028]5)電鍍:將測試棒與其他電鍍工件一同放入電鍍液中進行電鍍，測試棒的擺放位置應(yīng)在其他工件的中間，并使測試棒處于電鍍陽極的三角中心區(qū)域。
[0029]6)拆卸:將鍍好的測試棒取下，用干凈的壓縮空氣吹干測試棒表面殘留的液體，操作時需佩戴干凈的手套.以免由于污物的沾污影響測量結(jié)果。
[0030]7)鍍后測量:用千分尺對鍍后的測試棒的測量區(qū)直徑進行測量，記為L2。優(yōu)選的，鍍后測量是:用千分尺對測試棒的測量區(qū)直徑進行測量時，先在一側(cè)中心位置測量三點，然后將測試棒旋轉(zhuǎn)60°再測量三點，再旋轉(zhuǎn)60°測量三點，取9次測量值的平均值作為L2。
[0031]8)計算:鍍層平均厚度=仏2-1^1)/2。
【主權(quán)項】
1.一種生產(chǎn)條件下準確測量鍍層厚度的方法，其特征在于，包括如下步驟: 1)鍍前測量:用千分尺對測試棒的測量區(qū)直徑進行測量，記為LI; 2)絕緣:將測試棒兩端部的保護區(qū)進行絕緣保護； 3)裝掛:將銅絲穿過測試棒的裝掛孔，并固定住，銅絲另一端連接導(dǎo)電杠； 4)調(diào)整測試棒角度:將測試棒垂直吊入鍍液槽中； 5)電鍍:將測試棒與其他電鍍工件一同放入電鍍液中進行電鍍，測試棒的擺放位置在其他工件的中間，并使測試棒處于電鍍陽極的三角中心區(qū)域； 6)拆卸:將鍍好的測試棒取下，用干凈的壓縮空氣吹干測試棒表面殘留的液體，操作時需佩戴干凈的手套.以免由于污物的沾污影響測量結(jié)果； 7)鍍后測量:用千分尺對鍍后的測試棒的測量區(qū)直徑進行測量，記為L2， 8)計算:鍍層平均厚度=(L2-Ll)/2。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種生產(chǎn)條件下準確測量鍍層厚度的方法，其特征在于，所述的鍍前測量是:用千分尺對測試棒的測量區(qū)直徑進行測量時，先在一側(cè)中心位置測量三點，然后將測試棒旋轉(zhuǎn)60°再測量三點，再旋轉(zhuǎn)60°測量三點，取9次測量值的平均值作為LI。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種生產(chǎn)條件下準確測量鍍層厚度的方法，其特征在于，所述的鍍后測量是:用千分尺對測試棒的測量區(qū)直徑進行測量時，先在一側(cè)中心位置測量三點，然后將測試棒旋轉(zhuǎn)60°再測量三點，再旋轉(zhuǎn)60°測量三點，取9次測量值的平均值作為L2。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種生產(chǎn)條件下準確測量鍍層厚度的方法，其特征在于，所述的測試棒的結(jié)構(gòu)是:圓柱形測量區(qū)(I)的兩端為圓柱形的保護區(qū)(2)，在一端的保護區(qū)(2)上距頂端3mm處設(shè)有裝掛孔(3)。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種生產(chǎn)條件下準確測量鍍層厚度的方法，其特征在于，測量區(qū)的直徑為I Omm 土 0.2μηι;保護區(qū)的直徑為6mm 土 0.2μηι。
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種生產(chǎn)條件下準確測量鍍層厚度的方法。采用的技術(shù)方案是，包括如下步驟：鍍前測量；將測試棒兩端部的保護區(qū)進行絕緣保護；將測試棒垂直吊入鍍液槽中；測試棒的擺放位置應(yīng)在其他工件的中間，并使測試棒處于電鍍陽極的三角中心區(qū)域；將鍍好的測試棒取下，用干凈的壓縮空氣吹干測試棒表面殘留的液體；鍍后測量；然后進行計算得出厚度。本發(fā)明大大提高了測試棒與被鍍工件的鍍層厚度一致性，按本發(fā)明的方法，測試棒與被鍍工件的實際鍍層厚度相差不超過1μm。與以往用磁性測厚儀測量試片方法(GB/T4956)相比，厚度以致性提高75％以上，測量誤差減少20％-30％，總體測量準確率提高85％以上。
【IPC分類】G01B5/06
【公開號】CN105509608
【申請?zhí)枴緾N201510852816
【發(fā)明人】于海, 沙春鵬
【申請人】沈陽飛機工業(yè)（集團）有限公司
【公開日】2016年4月20日
【申請日】2015年11月27日