用于使用交錯式裝置設(shè)定與測試來測試數(shù)據(jù)包信號收發(fā)器的方法
【專利說明】
【背景技術(shù)】
[0001]本發(fā)明涉及測試數(shù)據(jù)包信號收發(fā)器，尤其是有關(guān)于通過使用交錯式裝置設(shè)定與測試來達成更快速測試時間。
[0002]許多現(xiàn)今的電子裝置使用無線技術(shù)作為連接及通信這兩種目的。因為無線裝置發(fā)送以及接收電磁能量，且因為兩個或更多個無線裝置可能因其信號頻率及功率頻譜密度而干擾彼此的運作，這些電子裝置及其無線技術(shù)必須遵循各種無線技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格。
[0003]在設(shè)計此類無線裝置時，工程師附加注意要確保此類裝置會符合或優(yōu)于根據(jù)其所包括的無線技術(shù)所規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)的每一項規(guī)格。此外，當(dāng)這些無線裝置之后進入量產(chǎn)時，其會經(jīng)測試以確保制造缺陷不會導(dǎo)致不適當(dāng)?shù)倪\作，測試項目也包括其是否遵循所包括的無線技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格。
[0004]為了在這些裝置制造及組裝后對其進行測試，目前的無線裝置測試系統(tǒng)(亦稱為“測試器”)利用子系統(tǒng)來分析接收自各裝置的信號。此類子系統(tǒng)通常至少包括:向量信號產(chǎn)生器(VSG)，其用于提供傳輸至受測裝置的來源信號;及向量信號分析器(VSA)，其用于分析由該受測裝置所產(chǎn)生的信號。VSG對于測試信號的產(chǎn)生及VSA所執(zhí)行的信號分析通常是可編程的，以便允許將每一者都應(yīng)用于測試各種裝置是否遵循各種具有不同頻率范圍、帶寬、以及信號調(diào)變特性的無線技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。
[0005]應(yīng)易于了解，測試數(shù)據(jù)包信號收發(fā)器(亦稱為受測裝置(DUT))需要有限量時間。取決于要用來測試DUT的無線技術(shù)或標(biāo)準(zhǔn)(且有時候取決于多種無線技術(shù)或標(biāo)準(zhǔn))，完整測試DUT以確認(rèn)DUT是否適當(dāng)發(fā)揮作用及運作將會耗時更多或更少的測試時間。有時可通過應(yīng)用各種測試技術(shù)縮短這些測試所需的時間，然而進一步在技術(shù)上的改變傾向于毫無意義，從而造成報酬遞減。因此，測試技術(shù)已將重點著重在并行測試多個DUT，使得即使未能可觀地縮短每裝置實際測試時間，但在該時間間隔內(nèi)可測試的DUT數(shù)目增加，造成測試每DUT的整體時間縮短的凈效應(yīng)，也因此降低每DUT的測試成本。
[0006]但是，使用具有單一測試信號來源(例如，單一VSG)及單一測試信號分析器(例如，單一 VSA)的測試系統(tǒng)(亦稱為測試器)并行測試多個DUT時，通常無法同時對所有DUT執(zhí)行傳輸信號測試。這是因為事實上測試信號分析器一次僅可接收、捕獲及分析來自一個DUT的傳輸信號。對于其中單一測試信號來源提供單一測試信號的接收信號測試而言，是有可能使用功率分配器來復(fù)制測試信號，并從而對多個DUT提供同時測試信號。但是，在各DUT具有多個接收器(例如，多輸入多輸出，亦稱為ΜΜ0)的情況中，仍需要個別測試各個DUT，這是因為提供相同信號至所有DUT接收端口將無法檢測出DUT接收器電路中不良的個別接收器。因此，必須在各測試序列之間控制各個DUT。替代地，可使用多個測試信號來源來產(chǎn)生多串流測試信號，但是如果要以許多DUT的制造測試所需的規(guī)模來復(fù)制，此類測試信號來源傾向于過分昂貴。
[0007]特定來說，DUT測試期間所需要執(zhí)行的兩項任務(wù)為:控制(例如，準(zhǔn)備或設(shè)定)DUT以用于其隨后的測試;及允許一段時間使DUT傳輸器電路能穩(wěn)定于其穩(wěn)態(tài)運作且從而提供一致傳輸信號功率。這兩項任務(wù)通常必須在傳輸信號測試開始時執(zhí)行，并且可能比測試器與DUT之間交換測試數(shù)據(jù)包的持續(xù)期間更長(經(jīng)常長上許多)。
[0008]因此，希望具有一種用于測試數(shù)據(jù)包信號收發(fā)器的技術(shù)，在該技術(shù)中，可將本會因等待DUT初始設(shè)定以用于隨后的測試序列及其所傳輸數(shù)據(jù)包信號的功率穩(wěn)定而損失的時間，用來執(zhí)行屬于待執(zhí)行的測試的部分或在其他方面與待執(zhí)行的測試相關(guān)聯(lián)的有用任務(wù)。此外，如果此類測試方法可應(yīng)用至多個DUT用于同時測試，將可進一步節(jié)省時間。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0009]根據(jù)本發(fā)明，提供一種使用測試器數(shù)據(jù)包信號和控制指令來測試多個數(shù)據(jù)包信號收發(fā)器受測裝置(DUT)的方法。在相互交替時間間隔期間(此類相互交替時間間隔中的所選擇的一個時間間隔實質(zhì)上為同時發(fā)生的(contemporaneous))，使用多個測試器數(shù)據(jù)包信號和DUT控制指令來進行多個DUT的并行測試。
[0010]根據(jù)本發(fā)明中的一個實施例，一種使用測試器數(shù)據(jù)包信號和控制指令以用于測試多個數(shù)據(jù)包信號收發(fā)器受測裝置(DUT)的方法包括:在第一多個測試器信號間隔中的一個間隔期間，用多個DUT的第一個或多個中的每一個來接收多個測試器數(shù)據(jù)包信號中的各自的一個;在第二多個測試器信號間隔中的一個間隔期間，用該多個DUT的第二個或多個中的每一個來接收該多個測試器數(shù)據(jù)包信號中的各自的一個;在第一多個指令間隔中的一個間隔期間，用該多個DUT的所述第一個或多個中的每一個來執(zhí)行多個DUT控制指令，以構(gòu)造該多個DUT的所述第一個或多個中的每一個來接收該多個測試器數(shù)據(jù)包信號中的各自的一個；以及，在第二多個指令間隔中的一個間隔期間，用所述多個DUT的所述第二個或多個中的每一個，執(zhí)行多個DUT控制指令，以構(gòu)造該多個DUT的所述第二個或多個中的每一個來接收該多個測試器數(shù)據(jù)包信號中的各自的一些。該第一多個測試器信號間隔及該第一多個指令間隔中的各自的一些為相互交替的，該第二多個測試器信號間隔及該第二多個指令間隔中的各自的一些為相互交替的，該第一多個測試器信號間隔中的各自的一些與該第二多個指令間隔中的各自的一些實質(zhì)上為同時發(fā)生的，且該第二多個測試器信號間隔中的各自的一些與該第一多個指令間隔中的各自的一些實質(zhì)上為同時發(fā)生的。
[0011 ]根據(jù)本發(fā)明的另一實施例，提供一種提供測試器數(shù)據(jù)包信號和控制指令來測試多個數(shù)據(jù)包信號收發(fā)器受測裝置(DUT)的方法，其包括:在第一多個測試器信號間隔中的一個間隔期間，對多個DUT的第一個或多個中的每一個提供多個測試器數(shù)據(jù)包信號中的各自的一個;在第二多個測試器信號間隔中的一個間隔期間，對該多個DUT的第二個或多個的各自提供該多個測試器數(shù)據(jù)包信號之一各自者;在第一多個指令間隔中的一個間隔期間，提供多個DUT控制指令用于由該多個DUT的該第一個或多個中的每一個執(zhí)行，以構(gòu)造該多個DUT的該第一個或多個中的每一個來接收該多個測試器數(shù)據(jù)包信號中的各自的一個；以及，在第二多個指令間隔中的一個間隔期間，提供多個DUT控制指令用于由該多個DUT的第二個或多個中的每一個執(zhí)行，以構(gòu)造該多個DUT的第二個或多個中的每一個來接收該多個測試器數(shù)據(jù)包信號中的各自的一個。該第一多個測試器信號間隔及該第一多個指令間隔中的各自的一些為相互交替的，該第二多個測試器信號間隔及該第二多個指令間隔中的各自的一些為相互交替的，該第一多個測試器信號間隔中的各自的一些與該第二多個指令間隔中的各自的一些實質(zhì)上為同時發(fā)生的，且該第二多個測試器信號間隔中的各自的一些與該第一多個指令間隔中的各自的一些實質(zhì)上為同時發(fā)生的。
【附圖說明】
[0012]圖1示出用于其中針對隨后的DUT測試使DUT傳輸及接收信號測試與DUT控制交錯的示例性實施例的測試環(huán)境及信號圖。
[0013]圖2及圖3