一種3d元件高度檢測儀及其檢測步驟的制作方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及檢測儀器領域,尤指一種用于產品元件高度快速檢測的3D元件高度檢測儀。
【背景技術】
[0002]在工業(yè)生產現代化的今天,人們對工業(yè)生產機器及其相關部件的精密度要求越來越高,在對產品進行裝配工序時,產品元件若超高則對產品元件壓傷/壓壞,從而影響產品壽命ο
[0003]目前,關于3D元件高度檢測儀需要用手慢慢旋轉被測零件,誤差較大。
【發(fā)明內容】
[0004]為解決上述問題,本發(fā)明提供一種3D元件高度檢測儀。
[0005]為實現上述目的,本發(fā)明采用如下的技術方案是:一種3D元件高度檢測儀,包括機架,所述的機架上設有雙Υ進料模組、3D激光掃描運動模組、二維碼掃碼模組和計算機模組,所述的計算機模組與3D激光掃描運動模組、二維碼掃碼模組電信號連接,所述的3D激光掃描運動模組及二維碼掃碼模組設于雙Υ進料模組上方,所述的二維碼掃碼模組設于3D激光掃描運動模組前方,所述的雙Υ進料模組包括Υ1進料模組和Υ2進料模組,所述的Υ1進料模組和Υ2進料模組均包括Υ向運動模組、U軸旋轉模組、產品治具模組和治具防呆檢測開關,所述的U軸旋轉模組滑設于Υ向運動模組上,所述的產品治具模組設于Υ向運動模組上方并與U軸旋轉模組連接,所述的治具防呆檢測開關設于Υ向運動模組并設于產品治具模組下方,治具防呆檢測開關檢測治具蓋板是否壓合到位,防止產品進行翻轉時,因治具蓋板未壓合到位,而使產品掉出冶具。
[0006]優(yōu)選地,所述的Υ向運動模組包括Υ向線性導軌、Υ向研磨絲桿和Υ向伺服電機,所述的Υ向伺服電機與Υ向絲桿電性連接,所述的Υ向研磨絲桿與Υ向線性導軌平行設置,所述的U軸旋轉模組包括U軸旋轉底板、U軸旋轉電機、導軌氣缸、同步輪、同步帶和定位銷,U軸旋轉底板與Υ向研磨絲桿連接并滑設于Υ向線性導軌上,所述的導軌氣缸設于U軸旋轉底板上并與Υ向絲桿連接,定位銷設于導軌氣缸一側,所述的U軸旋轉電機設于U軸旋轉底板上并與同步輪電性連接連接,所述的同步輪與同步帶連接,所述的同步帶和產品治具模組相連接。
[0007]優(yōu)選地,所述的產品治具模組包括治具底板、治具防呆檢測孔、產品防呆定位銷、治具自鎖開關、自鎖彈簧板簧、產品壓柱、產品定位銷、調節(jié)螺釘和治具蓋板,治具底板上設有若干個供產品置入的容納槽,治具蓋板上設有與容納槽相對應的通孔,治具蓋板蓋合于治具底板上,治具防呆檢測孔設于治具底板下邊緣,產品防呆定位銷設于容納槽內,產品壓柱和產品定位銷設于容納槽四周,調節(jié)螺釘設于產品壓柱下方,自鎖彈簧與板簧相互鎖接并設于治具底板下邊緣中部,治具自鎖開關與板簧連接。
[0008]優(yōu)選地,所述的3D激光掃描運動模組包括Ζ向運動模組、X向運動模組和3D掃描激光裝置,所述的ζ向運動模組滑動設于X向運動模組上,所述的3D掃描激光裝置設于Z向運動模組下端,所述的Z向運動模組和X向運動模組包括線性導軌、研磨絲桿和伺服電機,X向伺服電機驅動研磨絲桿帶動3D掃描激光裝置在線性導軌上下移動,保證3D掃描激光裝置的位移精度。
[0009]優(yōu)選地,所述的二維碼掃碼模組包括掃碼械組固定座、掃碼模組導軌、掃碼支架、滑塊、旋轉定位銷和二維碼掃碼模塊,所述的掃碼模組導軌設于掃碼械組固定座兩側,所述的滑塊設于掃碼模組導軌并可沿著掃碼模組導軌左右移動,所述的掃碼支架一端與滑塊連接,所述的掃碼支架另一端與二維碼掃碼模組連接,所述的掃碼支架與滑塊間設有旋轉定位銷,旋轉定位銷可使掃碼支架傾斜。
[0010]一種3D元件高度檢測儀的檢測步驟如下:
[0011]步驟一:把待測產品放入產品治具模組;
[0012]步驟二:啟動雙Y進料模組,Y1進料模組把待測產品沿Y向線性導軌進入掃描區(qū),產品治具模組通過U軸旋轉模組使待測產品在Y向方向旋轉,二維碼掃碼模組把貼在待測產品上的二維碼掃描并把待測產品的數據傳送至計算機組件;
[0013]步驟三:3D激光掃描運動模組啟動,3D掃描激光裝置隨著X向運動模組沿X向左右移動,3D掃描激光裝置隨著Z向運動模組沿Z向上下移動,待測產品通過U軸旋轉模組在Y向方向旋轉,3D掃描激光裝置完成待測產品正反兩面掃描,輸出產品高度數據并把測產品的數據傳送至計算機組件,在Y1進料模組把待測產品送進掃描區(qū)時,Y2進料模組進行上下料工序,待Y1進料模組完成待測產品掃描后,Y2進料模組把待測產品沿Y向線性導軌進入掃描區(qū),待Y2進料模組完成待測產品掃描后,Y1進料模組把待測產品沿Y向線性導軌進入掃描區(qū),如此類推。
[0014]本發(fā)明的有益效果在于:
[0015]1.本發(fā)明可快速完成產品3D數據處理,輸出產品高度數據至計算機組件,計算機組件與設定的標準數據進行對比,且進行0K/NG自動判別,0K則進入裝配工序,若NG則返回上一工序,從而防止因產品元件超高,在對產品進行裝配工序時對產品元件壓傷/壓壞,從而影響廣品壽命。
[0016]2.本發(fā)明具有二維碼掃描掃描模組,在待測產品進料同時對產品進行二維碼掃描,并記錄產品數據上傳至計算機組件上。
[0017]3.本發(fā)明具有雙Y(Y1/Y2)進料模組,Υ1進料模組進掃描時,Υ2進料模組進行上下料工序,提高本發(fā)明掃描效率。
【附圖說明】
[0018]圖1是本發(fā)明結構圖。
[0019]圖2是本發(fā)明激光掃描運動模組結構圖。
[0020]圖3是是本發(fā)明二維碼掃碼模組結構圖。
[0021]圖4是是本發(fā)明雙Υ進料模組結構圖。
[0022]圖5是是本發(fā)明U軸旋轉模組結構圖。
[0023]圖6是是本發(fā)明廣品治具t旲組打開時狀態(tài)不意圖。
[0024]圖7是是本發(fā)明產品治具模組壓合時狀態(tài)示意圖。
[0025]圖8是是本發(fā)明局部放大圖。
[0026]標注說明:1.機架;2.顯示器;3.鍵盤組;4.Yl啟動按鈕;5.Y2啟動按鈕;6.二維碼掃碼模組;20.掃碼械組固定座;21.掃碼模組導軌;22.滑塊;23.旋轉定位銷;24.掃碼支架;25.二維碼掃碼模塊;7.3D激光掃描運動模組;11.Z向運動模組;12.X向運動模組;
13.3D掃描激光;8.Yl運動模組;9.Y2運動模組;30.Y向運動模組;31.U軸旋轉模組;40.U軸旋轉底板;41.U軸旋轉電機;42.導軌氣缸;43.同步輪;44.同步帶;45.定位銷;32.產品治具模組;32.產品治具模組;50.治具底板;51.治具防呆檢測孔;52.產品防呆定位銷;53.治具自鎖開關;54.自鎖彈簧;55.治具蓋板;56.板簧;57.產品壓柱;58.產品定位銷;59調節(jié)螺釘;33.治具防呆檢測開關。
【具體實施方式】
[0027]請參閱圖1-8所示,本發(fā)明關于一種3D元件高度檢測儀,包括機架1,所述的機架I上設有雙Y進料模組、3D激光掃描運動模組7、二維碼掃碼模組6和計算機模組,計算機模組包括顯示器2和鍵盤組3,所述的計算機模組與3D激光掃描運動模組7、二維碼掃碼模組6電信號連接,所述的3D激光掃描運動模組7及二維碼掃碼模組6設于雙Y進料模組上方,所述的二維碼掃碼模組6設于3D激光掃描運動模組7前方,所述的3D激光掃描運動模組7包括Z向運動模組11、X向運動模組12和3D掃描激光裝置13,所述的Z向運動模組11滑動設于X向運動模組12上,所述的3D掃描激光裝置13裝置設于Z向運動模組11下端,所述的Z向運動模組11和X向運動模組12包括2根高精度線性導軌、高精度研磨絲桿和伺服電機,伺服電機驅動研磨絲桿使3D掃描激光裝置13沿X和Z方向移動以保證3D掃描激光裝置13的位移精度,所述的二維碼掃碼模組6包括掃碼械組固定座20、掃碼模組導軌21、掃碼支架24、滑塊22、旋轉定位銷23和二維碼掃碼模塊25,所述的掃碼模組導軌21設于掃碼械組固定座20兩側,所述的滑塊22設于掃碼模組導軌21并可沿著掃碼模組導軌21左右移動,所述的掃碼支架24 —端與滑塊22連接,所述的掃碼支架24另一端與二維碼掃碼模塊25連接,所述的掃碼支架24與滑塊22間設有旋轉定位銷23,旋轉定位銷23可使掃碼支架24傾斜,雙Y進料模組包括Yl進料模組和Y2進料模組,Yl進料模組和Y2進料模組分別與Yl啟動按鈕4、Y2啟動按鈕5電性連接;所述的Yl進料模組和Y2進料模組均包括Y向運動模組30、U軸旋轉模組31、產品治具模組32和治具防呆檢測開關33,所述的U軸旋轉模組31滑設于Y向運動模組30上,所述的產品治具模組32設于Y向運動模組30上方并與U軸旋轉模組31固定連接,Y向運動模組30包括2根高精度Y向線性導軌、高精度Y向研磨絲桿和Y向伺服電機,U軸旋轉模組31包括U軸旋轉底板40、U軸旋轉電機41、導軌氣缸