一種放射性氣體核素β射線自吸收校正方法
【技術領域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種放射性氣體核素e射線自吸收校正方法，具體涉及e-Y符合法 測量放射性氣體核素活度中0射線的自吸收校正。
【背景技術】
[0002] e-Y符合測量方法是一種探測靈敏度較高的氣體放射性核素的測量方法，是大 氣環(huán)境輻射監(jiān)測的重要手段。在樣品測量過程中，0射線不可避免地會存在自吸收問題， 即當測量樣品中載氣種類和含量不同時，0射線探測效率會有較大不同。目前通常對設備 刻度好后采用固定的0射線探測效率計算氣體樣品活度，這會造成活度計算結果不準確。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0003] 本發(fā)明目的是提供一種放射性氣體核素0射線自吸收校正方法，其解決了 0 _Y 符合測量放射性氣體活度時，0射線自吸收校正難題，提高了活度測量的準確度。
[0004] 本發(fā)明的技術解決方案是：
[0005] 一種放射性氣體核素e射線自吸收校正方法，其特殊之處在于：包括以下步驟：
[0006] 1)計算載氣與樣品氣成分相同時，單一組分的樣品氣對e射線的吸收校正因子， 具體步驟如下：
[0007] 1. 1)在符合系統(tǒng)中，樣品氣定量充入e探測器中，獲取符合譜和原始譜，按 照公式（1)計算此時0射線效率；
[0008]
【主權項】
1.一種放射性氣體核素0射線自吸收校正方法，其特征在于：包括以下步驟： 1) 計算載氣與樣品氣成分相同時，單一組分的樣品氣對0射線的吸收校正因子，具體 步驟如下： 1. 1)在0-Y符合系統(tǒng)中，樣品氣定量充入0探測器中，獲取符合譜和原始譜，按照公 式（1)計算此時0射線效率；
式中，117為原始譜y射線峰計數(shù)率；nY。為符合譜Y射線峰計數(shù)率； PeS0射線發(fā)射幾率， 1.2) 再定量充入相同成分的載氣，獲取符合譜和原始譜，計算此時的0射線效率； 1.3) 重復上述步驟1.2)，獲取不同載氣量下的0射線效率； 1. 4)通過公式（2)擬合得到不同載氣量對應0射線效率：e,p=ea.v+b (2) 式中，V為充入0探測器中的氣體量；a和b為線性擬合系數(shù)； 當公式（2)中V為零時，即沒有吸收時0射線探測效率為e 1. 5)計算不同含量的單一組分的樣品氣自吸收系數(shù)校正因子為：
式中，h和i為線性擬合系數(shù)； 2) 計算載氣與樣品氣成分不同時，不同含量的單一載氣對0射線的吸收校正因子，具 體步驟如下： 2. 1)在符合系統(tǒng)中，將樣品氣充入0探測器中，獲取符合譜和原始譜，按照公式 (1)計算此時0射線效率ePs; 2. 2)再定量充入載氣，其中的載氣的成分與樣品氣不同，獲取符合譜和原始譜，利用公 式（1)計算此時的0射線效率； 2.3) 重復上述步驟2. 2)，獲取不同載氣量下的0射線效率； 2. 4)通過公式（4)擬合得到不同載氣量對應0射線效率： t"p=ea，，v，+b， (4) 式中，Vz為充入0探測器中的載氣的量；az和bz為線性擬合系數(shù)； 當公式（4)中為零時，即沒有該載氣吸收時0射線探測效率e2. 5)通過下式（5)擬合得到該載氣不同含量對應的校正因子；
式中，j和k為線性擬合系數(shù)； 3) 當實際樣品測量中含有多種載氣時，按照步驟2)的方法計算得到不同的單一載氣 對0射線的吸收校正因子，根據(jù)各載氣含量計算各自校正因子Kn，n為大于1的自然數(shù)，將 樣品氣的校正因子與各載氣的校正因子相乘得到測量該樣品時的校正因子， K=I?V..Kn〇
2. 根據(jù)權利要求1所述的放射性氣體核素0射線自吸收校正方法，其特征在于： 所述0-Y符合系統(tǒng)中的0探測器為塑料閃爍體探測器。
3. 根據(jù)權利要求1或2所述的放射性氣體核素0射線自吸收校正方法，其特征在于： 所述載氣為氣氣、氣氣、氦氣、氬氣、氫氣、甲燒、氮氣和空氣中的一種或多種。
4. 根據(jù)權利要求3所述的放射性氣體核素0射線自吸收校正方法，其特征在于：載氣 采用注射器定量注入。
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種放射性氣體核素β射線自吸收校正方法，對于β-γ符合測量放射性氣體活度，β射線不可避免地會存在自吸收問題，如不進行校正將會影響β-γ符合測量的準確度。本發(fā)明通過實驗研究β射線在不同含量目標氣體中的自吸收曲線，得到了任意氣體組分的β射線自吸收因子，本發(fā)明解決了β-γ符合測量放射性氣體活度β射線自吸收校正難題。
【IPC分類】G01T1-178, G01T1-00
【公開號】CN104570035
【申請?zhí)枴緾N201410835771
【發(fā)明人】李奇, 王世聯(lián), 樊元慶, 賈懷茂, 趙允剛, 張新軍, 劉蜀疆
【申請人】北京放射性核素實驗室
【公開日】2015年4月29日
【申請日】2014年12月26日