專利名稱：測試多端子電子元器件的裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于測試裝置領(lǐng)域。尤其本發(fā)明包括被設(shè)計成便于小型電子元器件測試的裝置。一個獨特的傳輸輪和加壓裝置(presser apparatus)被告知可用于為測試電子元器件所設(shè)計的機器中。該輪和加壓裝置被設(shè)計成能測試位于電子元器件的側(cè)面和末端的端子。一個獨特的測試探頭也被告知而且可以類似地被用于在為測試電子元器件所設(shè)計的機器中。該探頭包括多根一端被固定在一個可移動的、彈性固定的基板上的引線。引線穿過一個靜止的引導(dǎo)塊以便精確地將引線的末端引向被測試的電子元器件的位于側(cè)面的端子和/或引向輪和加壓裝置的部分。
隨著電子裝置變得越來越普遍，要求測試的小型電子元器件的需求也大幅度地增長。與這種需要相對應(yīng)，能以超高速度測試大量電子元器件的自動裝置也變得很普通。例如，有一種裝置，它每小時能處理50，000個電子元器件。
在電子元器件的測試中，某些問題經(jīng)常被遇到而且通常會隨著被測試的電子元器件的尺寸的減小而加劇。這些問題已經(jīng)嚴重地限制了通過現(xiàn)有的測試裝置處理元器件可達到的最大速率。
一個問題是與測試裝置的內(nèi)部的傳輸機構(gòu)有關(guān)。大部分高容量的測試機器將被測試的元器件從進料或裝料臺移到測試臺然后進入分類臺。傳輸機構(gòu)不僅必須能以高精確度的和控制的方式移動元器件，而且必須是耐久的、成本相當?shù)偷牟⑹箿y試裝置能達到與元器件的位于側(cè)面的或位于末端的端子的電接觸。這些屬性以一種最佳形式的結(jié)合，在現(xiàn)有技術(shù)中還沒有發(fā)現(xiàn)。
第二個問題是許多元器件的特點是具有多個需要同時連接的、間距很小的位于側(cè)面的端子。這要求測試探頭有間隔很小的引線，這些引線與元器件的側(cè)面端子對準。探頭的引線必須也能快速地、精確地移動。而且，由每個引線施加到被測試的元器件的端子上的壓力必須被精確地控制，因為壓力必須足以使引線和端子獲得良好接觸而又未達到對端子或引線引起刮擦或其它破壞的程度。在現(xiàn)有技術(shù)中，探頭的引線所必須的精確的定位和控制如果不是不可能達到的話也一直是十分困難的，而且在現(xiàn)有技術(shù)的裝置中嚴重地限制了產(chǎn)品的產(chǎn)量。
本發(fā)明是一個獨特的傳輸輪和一個獨特的測試探頭，它們最好被用在測試裝置中來傳輸和測試小型電子元器件，如集成無源器件(IPC′s)。IPC′s的實例是具有電容器、電感器和變阻器陣列的芯片。這些類型的電子元器件在尺寸上一般是1毫米到3毫米長，0.5毫米到1.5毫米寬或厚，而且有位于末端和側(cè)面的端子。
傳輸輪具有大量位于園周的溝槽狀的器件接收分隔室(或凹槽)，而且每個分隔室被作成大小能接收被傳輸?shù)囊粋€單個的電子元器件。在最佳的使用方式中，使用傳輸輪的機器用該輪將每個電子元器件從進料臺傳輸?shù)綔y試臺，然后至分類區(qū)。在分類區(qū)，電子元器件根據(jù)在測試臺中所得的結(jié)果被分類。
在傳輸輪中的每個分隔室的底部是一個金屬芯棒，在傳輸過程中元器件的一端停在金屬芯棒上。芯棒不僅通過提供一個金屬接觸表面增加了輪的耐久性，而且當輪傳輸有端部端子的電子元器件時，芯棒會和器件的位于底部的端子電接觸。而芯棒暴露的外端在輪上提供了側(cè)面的金屬區(qū)域，所說的金屬區(qū)域能被測試臺中位于側(cè)面的測試探頭接觸，從而將元器件的位于底部的端子電連接到一個測試儀器。
在最佳實施例中，傳輸輪被用在一個有特別設(shè)計的測試臺的機器中。該測試臺包括一個沿輪的周邊滾動的金屬接觸滾柱，并且每當滾柱從其中一個分隔室上方通過時，滾柱將向下壓在位于分隔室內(nèi)的任一電子元器件的頂部或外部。當滾柱向下壓在元器件上時，它改善了器件的位于底部的端子與輪的金屬芯棒之間的接觸。另外，金屬滾柱將接觸器件的頂部的端子，從而通過金屬滾柱的主體可實現(xiàn)與所說的端子的電接觸。
本發(fā)明的探頭部件包括多根被精確地定位和控制的測試引線。當探頭被用在使用傳輸輪的測試機器中時，該探頭最好具有與位于傳輸輪上每側(cè)部分的引線相同的右側(cè)和左側(cè)部分。探頭被安裝在支撐結(jié)構(gòu)上而且每組引線被固定在彈性支撐的可移動基板上。一個加力裝置，最好由計算機控制，被用來施加壓力到基板以引起相應(yīng)引線的有限制的運動。每一組引線穿過靜止的引導(dǎo)塊，該引導(dǎo)塊將引線精確地引向被測試的元器件的端子。當探頭與前面所述的傳輸輪和金屬接觸滾柱一起使用時，探頭可包括附加的引線，這些附加的引線被引導(dǎo)使之與輪的金屬芯棒的一側(cè)或兩側(cè)以及接觸滾柱的一側(cè)或兩側(cè)接觸。按照這種方式，探頭與元器件末端的兩個端子都能進行電接觸。探頭部件體積小、重量輕、幾乎不要求維修，通過計算機控制加力裝置的運動進行自我調(diào)節(jié)，而且制作成本不過分昂貴。而且，探頭的設(shè)計能使引線快速地移動并保持極小的間距。


圖1是電子元器件測試和分類裝置的前視圖，根據(jù)本發(fā)明，該裝置有一個傳輸輪和測試探頭。
圖2是圖1所示的裝置的俯視圖。
圖3是位于傳輸輪的其中一個分隔室中的電子元器件的前視圖，這時恰好在元器件進入測試臺之前。
圖4是傳輸輪的后視圖。
圖5顯示了傳輸輪的輪緣部分制造中的第一個階段。
圖6顯示了傳輸輪的輪緣部分制造中的第二個階段。
圖7顯示了傳輸輪的輪緣部分制造中的第三個階段。
圖8顯示了傳輸輪的輪緣部分制造中的最后一個階段。
圖9是按照本發(fā)明提供的測試探頭的詳細的側(cè)視圖。該探頭被顯示在一個探頭的引線還沒有被延伸以與測試的電子元器件接觸的位置。
圖10顯示圖9的探頭的引線已被延伸與測試的電子元器件接觸的位置。
現(xiàn)在更詳細地描述各附圖，其中在所有圖中相同的標記指的是相同的零部件，數(shù)字1所表示的是對小型電子元器件進行測試和分類的裝置。
圖1提供了裝置1的前視圖。該裝置包括一個進料臺2，一個測試臺4，一個分類臺6和一個傳輸輪8。在實際中，每個臺和傳輸輪都被組合成一個單個的櫥柜式的單元(櫥柜沒有示出)。
進料臺2包括一個漏斗型的給料器10，小型電子元器件(這里也指“各部件”)12被大量地倒進給料器10中。小型電子元器件一般是集成的無源器件(IPC′s)，如芯片電容器、變阻器和電感器。給料器將器件全部注入一個包括振動元件(未示出)的傳遞裝置14，其中的振動元件是促進各部件的分離及其沿滑道16的運動。
滑道16將器件注入一個分配器18，該分配器18被設(shè)計成能用來容納相對少量的部件12。一旦這些器件進入分配器，它們可以穿過由分配器底部的開口20(圖2中示出)所形成的出口而出去。分配器包括一個收集輪(sweeper wheel)22，其功能是為了防止那些器件從分配器的底端溜掉，同時也有助于保持那些器件朝向該分配器的左側(cè)部分。當每個器件12離開分配器18時，它直接地被接收進位于傳輸輪8的外緣上一個尺寸互補的雙側(cè)的分隔室24。圖3示出了對被裝載進傳輸輪外部輪緣的一個部件的描述。從圖3可以看出該器件包括多個位于側(cè)面的端子26和末端的端子28。
圖4提供傳輸輪8的后視圖。該輪包括一個金屬輪轷器30和一個以輪緣構(gòu)件形成的環(huán)形部分。輪緣構(gòu)件的直徑最好是12至18英寸，而且該輪緣構(gòu)件通過使用一般的緊固零件，如螺釘或螺栓34固緊，故可從金屬輪轷上拆除。
輪緣構(gòu)件32最好是由剛性的不導(dǎo)電的塑料材料制成。所有的分隔室24都位于輪緣構(gòu)件內(nèi)而且在輪緣構(gòu)件的外緣形成一圈開口。簡而言之就是每一個分隔室的基部包括一個金屬制的芯棒36。由于輪緣構(gòu)件32可從輪轷上拆除，這樣為了適合不同尺寸的電子元器件，使用者能拆除一個輪緣構(gòu)件而用另一個有不同尺寸的分隔室24的；輪緣構(gòu)件來代替它。輪轷30有一個固定到其后表面并用皮帶40(在圖1中示出)連接到電動機42的皮帶輪38。電動機用于帶動輪的轉(zhuǎn)動。
圖5-8示出了輪緣構(gòu)件32的制作過程的詳細視圖。
圖5示出了輪緣構(gòu)件在其制造的最初階段的部分。這時，輪緣構(gòu)件是一個簡單的環(huán)形。如果穿過圖5所示的部分取一個橫截面，將會看到該部分有一個矩形的橫截面，該橫截面最好是約6毫米寬、15毫米高。
圖6示出了圖5所示的輪緣構(gòu)件的同一部分。然而，在輪緣構(gòu)件上已鉆了多個孔44，而且螺釘形式的金屬芯棒36，已經(jīng)被擰入了每一個孔。
圖7顯示圖5和6所示的輪緣構(gòu)件的同一部分。然而，輪緣構(gòu)件的頂部46已被機械切削成略小于2.5毫米厚度。從輪緣構(gòu)件頂面到金屬芯棒/無頭螺釘36的中心或附近，被切削的頂部變?yōu)榧s6毫米高。這時在輪緣構(gòu)件上鉆出多個孔48以便使輪緣構(gòu)件能用緊固零件34連接到輪轷32上。
圖8顯示了在前三幅圖中所示的輪緣構(gòu)件的同一部分。在機械切削的最后階段，在輪緣構(gòu)件頂部46形成了許多切口50。這些切口都是以無頭螺釘為中心而且部分地穿過無頭螺釘從而形成分隔室24。每個切口的寬度比進入分隔室24的電子元器件的寬度或厚度稍微大一些。一旦切口被制成，一個窄的通孔或槽52就被鉆進金屬芯棒的中間然后向下直到該通孔完全穿過輪緣構(gòu)件。通孔52能使真空通過圖1、2、9和10中所示的轉(zhuǎn)接器54從一個傳統(tǒng)的真空裝置施加到每個分隔室24的底部。將真空施加到分隔室24，當傳輸輪轉(zhuǎn)動時能夠有助于達到將器件12維持在分隔室內(nèi)的目的。
在圖8中還應(yīng)該看到金屬芯棒/無頭螺釘?shù)膫?cè)部56位于輪緣構(gòu)件的側(cè)面而且剛好被暴露在相應(yīng)的分隔室下面。結(jié)果，側(cè)部56容易從輪的側(cè)面接近。
正如前面所指出的，圖3示出了位于輪的其中一個分隔室24中的電子元器件12。圖3示出的電子元器件12恰好在元器件進入測試臺4之前。測試探頭上的引線就是在測試臺中臨時被置于與電子元器件12的端子的直接或間接地接觸中。測試臺的各個部分將在圖9至11被詳細描述。
測試臺包括一個具有左右側(cè)部62和64的測試探頭60。每部分包括多條引線。當每一個側(cè)部被示出有五條引線時，在每一個側(cè)部可以使用更多或更少數(shù)量的引線。應(yīng)該指出的是，在一些情況下，探頭60可能僅僅包括側(cè)部62或64中之一。
每條引線66是由導(dǎo)電性材料制成的，是相當堅硬的而且可能是一種不貴重的金屬線或插頭。每個引線的外端最好是平的而且適合于接觸被測試的器件的端子。每個引線的另一端70與一個易彎曲的導(dǎo)線72電連接，導(dǎo)線72本身連接到一個測試儀器74(如示波器、邏輯分析器、模擬器可其它眾所周知的測試或診斷裝置)上。夾子76或其它傳統(tǒng)的固定零件或固定方法，被用來將每個引線的端部70固定到一個可移動的基板78上。應(yīng)該指出的是所示的頂部和底部引線66在基板上呈弧形而其它的引線被顯示是直的。頂部和底部的引線66的尾部的彎曲為固定引線增加了有效的空間，然而同時，當它們從基板向外擴展時，能使引線之間保持一個幾乎相等的間距。頂部和底部引線的彎曲部分在位置上是由支柱79進行限定的，支柱79是從基板78的表面向上伸展的。根據(jù)可利用的空間的有效性，探頭所有的引線可做成直的，或者如果空間是非常有限的，更多的引線可能會有一個呈弧形的尾部，其方式就如所示的頂部和底部引線，而且用附加的支柱79進行位置固定。
每個基板78以底板80的形式可移動地固定到一個相對不移動的支撐體上。底板是由緊固零件82固定在一個固定結(jié)構(gòu)，如機器的靜止的框架84上。被用來將每個基板可移動地連接到底板80上的結(jié)構(gòu)能夠使基板進行彈性的運動。在最佳實施例中，連接結(jié)構(gòu)是兩個薄的金屬片簧86。雖然示出的是兩個片簧，但也可以選擇性地使用一個或幾個(多于兩個)片簧。應(yīng)該指出的是，雖然圖中示出所使用的是片簧，但是其它等同的彈性結(jié)構(gòu)，如其它類型的彈簧，包括螺旋彈簧，或彈性材料如橡膠，也可以被選用。而且，阻尼裝置(未示出)如液壓缸或軟墊可以放在一個或者兩個基板的靜止位置的附近來抑制基板的任何不想要的振動。
位于每個基板78附近而且不可移動地固定到底板80上的是一個加力裝置88。所示的裝置88有一個活塞90，該活塞90能夠?qū)毫κ┘拥娇梢苿拥幕?8的一側(cè)從而引起所述的基板向輪8移動。裝置88的激發(fā)是通過金屬線91進行的，最好是由測試儀器74或由計算機(未示出)引起，該計算機可能包含在測試裝置中也可能與其分離。在最佳實施例中，裝置88是由電驅(qū)動的而且可以采用一個螺線管、線性致動器或其它裝置，或裝置或元件的組合，該裝置88能給可移動的基板施加一個力。作為另一個未被示出的實施例，加力裝置可以是機械控制的并與輪8的運動同步運動。另外在最佳實施例中，活塞90移動的距離也能通過測試儀器/計算機控制。這使得探頭能夠自動地調(diào)節(jié)，由此，測試儀器/計算機通過加力裝置88能夠改變引線運動的距離來補償由于引線的磨損或不同尺寸的電子元器件12產(chǎn)生的變化。
從基板78開始，每條引線66穿過引導(dǎo)塊94中的一個通孔或槽92。引導(dǎo)塊包括多個通孔92，每條引線的中間部分位于其中一個通孔內(nèi)。在最佳實施例中，每個通孔的長度比其直徑大兩倍或更多倍。這樣，通過通孔能加強對每條引線的方向性導(dǎo)引。
每個引導(dǎo)塊94被牢牢地固定在探頭的底板80上而且與臨近的基板78保持一定的間距。由于引導(dǎo)塊被固定，所以當基板78移動時，它們并不動。應(yīng)該指出的是，雖然所有的引線被顯示穿過引導(dǎo)塊，但這不是必須的。在未被示出的其它實施例中，一些引線能繞過引導(dǎo)塊。
位于輪緣構(gòu)件32的周邊的是一個包括一個接觸滾柱96的加壓裝置。該滾柱是由導(dǎo)電的金屬材料制成的而且可繞軸97轉(zhuǎn)動，軸97是通過彈簧支架98固定到底板80(或固定到機械框架)上的。彈簧支架在設(shè)計上最好是傳統(tǒng)的而且可以像現(xiàn)有技術(shù)的測試裝置中所用的帶彈簧的銷軸(pogo pins)。彈簧支架98在長度上是可變的而且包括連續(xù)地偏離或促使支架達到其最大長度的彈簧。當輪轉(zhuǎn)動時，彈簧支架連續(xù)地促使?jié)L柱向輪緣構(gòu)件32運動，由此，滾柱在輪緣構(gòu)件的周邊上滾動，同時壓在其上。圖3顯示了滾柱與其中一個輪緣構(gòu)件的齒狀部分99的末端相接觸。當輪繼續(xù)從圖3所示的位置轉(zhuǎn)動時，滾柱滾離輪緣構(gòu)件的齒狀部分99而運動到電子元器件12的外端上。一旦滾柱被完全地壓到電子元器件12上，電子元器件將準備測試而且位于圖9所示的位置。由滾柱12施加到電子元器件12上的向下的力推動該電子元器件緊緊地靠在金屬芯棒36的表面并因此確保電子元器件的底部的端子28和金屬芯棒之間的良好接觸。另外，向下壓在電子元器件12頂部上的滾柱在該電子元器件的位于頂部的端子28與滾柱的表面之間形成了一個良好的接觸。這樣，通過壓靠在滾柱的一側(cè)或兩側(cè)，使探頭上的引線66能夠與元器件的頂部端子28進行電接觸。在這些圖中，示出的引線都與滾柱的兩側(cè)相接觸。
在操作中，當電子元器件12被引入測試臺進行測試而且恰好位于探頭的左側(cè)和右側(cè)之間時，電信號通過控制計算機被發(fā)送到兩個加力裝置88上。然后每個裝置88施加壓力到臨近的可移動的基板78的側(cè)面并使基板向輪8移動。在最佳實施例中，基板將僅移動一小段距離，如1毫米(該距離在這些圖中被夸張地顯示)。當基板向被測試的器件移動時，連接在基板上的引線通過引導(dǎo)塊中的通孔移動并因此被精確地瞄準以致于它們的末端68精確地接觸被測試的器件的側(cè)面端子，而且朝向位于每個分隔室24的基板處的金屬芯棒36的暴露的外側(cè)部分56和金屬滾柱96的側(cè)面。圖10顯示了加力裝置88使基板78產(chǎn)生預(yù)定的運動量，并且引線的末端68與電子元器件的端子相接觸，以及與金屬芯棒的側(cè)部56和金屬滾柱96的側(cè)面接觸。然后器件的測試可以開始了。
一旦器件12的測試被完成，加力裝置88的活塞90就退回。然后片簧86使基板78和連接在基板上的引線返回到圖9所示的初始位置。之后輪8將轉(zhuǎn)動并使?jié)L柱96離開器件12的末端。輪的轉(zhuǎn)動將繼續(xù)直到下一個器件被引入測試臺。最后，輪的轉(zhuǎn)動將被測試的器件帶進分類臺6。
分類臺6在設(shè)計上是傳統(tǒng)的而且包括一個容納進行一系列的電操作的電磁閥(未示出)的塊100。每個電磁閥通過軟管102與壓縮氣源連接，且當其打開時，它能引導(dǎo)被壓縮的空氣進入分隔室24。與分隔室和電磁閥排成直線的是多極管104，其中每個管特定地與一個分隔室24的位置相對應(yīng)而且伸展至它自己的專用的器件接收器106。
在器件12在測試臺被測試完之后，它的測試結(jié)果由測試儀器臨時地存貯。測試儀器被連接到電磁閥上根據(jù)測試臺所得的測試的結(jié)果，在器件12到達一個相應(yīng)的位置時，該器件將與一個特定的電磁閥排成一條直線。通過測試儀器使該閥打開然后被壓縮的空氣被從該閥導(dǎo)入與該閥相臨近的分隔室24內(nèi)。這迫使器件12被推入臨近的管104內(nèi)，然后進入相應(yīng)的接收器106內(nèi)。
雖然被告知的探頭60用于這里所描述的測試臺和分類機器，但應(yīng)該指出的是，該探頭也可用于使用電探頭的任何其它類型的機器或環(huán)境中。同理，所說的傳輸輪8和/或金屬接觸滾柱可以在其它的電器件測試裝置而不僅僅是所說的那種測試裝置中使用，而且可以和其它類型的測試探頭而不僅僅是所示出那種測試探頭一起使用。
這里所討論的實施例被公開是為了使讀者熟悉本發(fā)明的各個新穎的方面。雖然發(fā)明的最佳實施例已被示出和描述，但是許多變化、改進和替代可以通過本領(lǐng)域中的一般技術(shù)實現(xiàn)而不會脫離本發(fā)明在下面的權(quán)利要求中所描述的主旨和范圍。
權(quán)利要求
1．一種用于電子元器件測試中的探頭，其中的探頭能有效地連接到一個測試儀器，所說的探頭包括一個支撐體；一個固定在所說的支撐體上的可移動的基板；多個固定到所說的基板上的并能有效地連接到一個測試儀器上的電傳導(dǎo)的細長的引線，而且其中所說的引線中至少有一條有一個端部適于接觸被測試的電子元器件的端子；一個固定在所說的支撐體上且至少有一個通孔的引導(dǎo)塊，其中的引線中至少有一條穿過通孔并在所說的至少一個通孔中可移動；和一個能引起所說的基板運動的加力裝置，其中當一個電子元器件相對于所說的引導(dǎo)塊位于一個預(yù)定的位置時，致動器會使所說的加力裝置移動所說的基板從而使固定在所說的基板上的引線移向所說的電子元器件，并且所說的至少一個通孔將所說的引線中的相應(yīng)的一條引向所說的電子元器件。
2．如權(quán)利要求1所說探頭，其中所說的基板用一個彈性結(jié)構(gòu)固定到所說的支撐體上。
3．如權(quán)利要求2所說探頭，其中所說的彈性結(jié)構(gòu)采取至少一個片簧的形式。
4．如權(quán)利要求1所說的探頭，其中的引導(dǎo)塊有多個所說的通孔，其中所說的每條引線穿過一個不同的所說的通孔。
5．如權(quán)利要求1所說的探頭，其中的加力裝置采用電激發(fā)的螺線管形式。
6．如權(quán)利要求1所說的探頭，其中的致動器采用計算機的形式。
7．如權(quán)利要求1所說的探頭進一步包括一個可移動地固定在支撐板上的第二個基板；多個固定在所說的第二塊基板上的且有效地連接到測試裝置上的導(dǎo)電的細長的引線，而且其中所說的引線中至少有一條有一個端部適于接觸被測試的電子元器件的端子；一個固定在所說的支撐體上且至少有一個通孔的第二引導(dǎo)塊，其中固定在所說的第二引導(dǎo)塊上的所說的引線中至少有一條穿過通孔并在所說的至少一個通孔中可移動；和一個加力裝置，當一個電子元器件相對于所說的第二引導(dǎo)塊位于一個預(yù)定的位置時，加力裝置將被致動器激發(fā)而使所說的第二基板運動以便使固定在第二基板上的引線移向所說的電子元器件。
8．一個適合用于測試電子元器件的裝置的傳輸輪，其中所說的傳輸輪的功能是為了將所說的電子元器件從裝載所說的電子元器件的進料臺傳輸進傳輸輪，然后到測試電子元器件的測試臺，所說的輪包括一個由非導(dǎo)電性材料制成的環(huán)形部分，所說的環(huán)形部分包括多個分隔室，每個分隔室被制作成能接收要測試的電子元器件的大?。贿€包括多個金屬構(gòu)件，其中每個金屬構(gòu)件形成每個分隔室的基本部分，而且當所說的電子元器件位于所說的金屬構(gòu)件上部的分隔室中時，金屬構(gòu)件能接觸電子元器件的端部的端子，其中每個所說的金屬構(gòu)件包括至少一個側(cè)部，該側(cè)部能從環(huán)形部分的第一側(cè)面的外部的一點接近。
9．如權(quán)利要求8所說的傳輸輪，其中的金屬構(gòu)件由位于所說的構(gòu)件中部的多個螺紋固定在環(huán)形部分。
10．如權(quán)利要求8所說的傳輸輪，其中所說的每個分隔室可經(jīng)過一通孔被連接到真空源上，該通孔伸展穿過與該分隔室相連接的金屬構(gòu)件并繼續(xù)穿過環(huán)形部分的非導(dǎo)電性材料。
11．一種制造適用于測試電子元器件的裝置中的傳輸輪的方法，其中所說的傳輸輪的功能是將所說的電子元器件從裝載所說的電子元器件的進料臺輸送給傳輸輪，到測試所說的電子元器件的測試臺，所說的方法包括用非導(dǎo)電性材料制作一個環(huán)形構(gòu)件；在所說的環(huán)形構(gòu)件中制作多個通孔，所說的通孔在所說的環(huán)形構(gòu)件上是等間距分布的；將多個金屬構(gòu)件中的每一個都放進所說的多個通孔的每一個通孔中；機械切削所說的環(huán)形構(gòu)件的周邊部分以減少所說的周邊部分的厚度；以及在所說的周邊部分制作多個等間距的槽，其中所說的槽被定位，由此所說的金屬構(gòu)件構(gòu)成每個槽的基礎(chǔ)部分。
12．如權(quán)利要求11所述的方法，其中金屬構(gòu)件被定位以便它可從環(huán)形構(gòu)件的至少一個側(cè)面接近。
13．如權(quán)利要求11所說的方法，其中每個金屬構(gòu)件有外螺紋并且通過轉(zhuǎn)動金屬構(gòu)件以將每個金屬構(gòu)件插入環(huán)形構(gòu)件，因此它的螺紋與環(huán)形構(gòu)件相應(yīng)的通孔的內(nèi)表面螺紋連接。
14．如權(quán)利要求11所說的方法，其中在形成所說的槽之后，一個通孔被鉆穿過所說的每個金屬構(gòu)件并繼續(xù)穿過環(huán)形構(gòu)件的非導(dǎo)電性材料。
15．一種測試電子元器件的裝置，所說的裝置包括一個適于接收大量電子元器件的進料臺然后經(jīng)過一個出口分送所說的電子元器件；一個傳輸輪，所說的傳輸輪有多個分立的、彼此間隔的、位于周邊的分隔室，這些分隔室適用于接收來自進料臺出口的電子元器件，其中每個分隔室在兩側(cè)是打開的，而且其中的每個分隔室的基礎(chǔ)部分包括一個金屬區(qū)域，當一個電子元器件在所說的分隔室時該區(qū)域能夠接觸所說的電子元器件的端部的端子，其中金屬區(qū)域包括一個部分，該部分暴露在所說的輪的至少一側(cè)；一個測試臺，它包括一個探頭，所說的探頭有多根可移動的引線，其中當一個電子元器件位于所說的傳輸輪的與探頭最接近的分隔室時，所說的引線能與所說的電子元器件的多個側(cè)面端子相接觸。測試裝置有效地連接到測試臺的所說的探頭上，而且其中當一個電子元器件位于傳輸輪的其中一個分隔室時，它能從進料臺被輸?shù)綔y試臺。
16．如權(quán)利要求15所說的裝置，其中所說的探頭包括一個支撐體；一個可移動地固定在所說的支撐體上的基板；所說的多根可移動的引線，其中每個引線是細長的、由導(dǎo)電材料制成，而且被固定到所說的基板上并有效地連接到所說的測試裝置上，并且其中所說的引線中至少一條有一個適于接觸所測試的電子元器件的一個端子；一個固定在所說的支撐體上的引導(dǎo)塊，該引導(dǎo)塊有多個通孔，所說的多根引線穿過這些通孔并在其中可以移動；和一個加力裝置，在一個電子元器件相對于所說的引導(dǎo)塊位于預(yù)定位置上時，該裝置能使所說的基板移動，其中所說的基板的移動引起固定在所說的基板上的引線相應(yīng)的移動，而且其中所說的多根引線的移動通過引導(dǎo)塊中的通孔被引導(dǎo)。
17．如權(quán)利要求16所說的裝置，其中一個彈性結(jié)構(gòu)將探頭的基板連接到所說的探頭的支撐體上。
18．如權(quán)利要求15所說的裝置進一步包括一個加壓裝置，其中當一個電子元器件位于測試臺中，而且所說的電子元器件的底端位于分隔室的金屬區(qū)域的頂部時，加壓裝置的功能是向下壓在電子元器件的頂部。
19．如權(quán)利要求18所述的裝置，其中加壓裝置包括一個沿傳輸輪的周邊部分滾動的滾柱，而且其中所說的滾柱通過至少一個彈簧支撐構(gòu)件固定到該裝置上，彈簧支撐構(gòu)件使?jié)L柱向傳輸輪的周邊部分偏離。
20．如權(quán)利要求19所說的裝置，其中所說的滾柱是由導(dǎo)電性的金屬材料制成。
21．如權(quán)利要求20所述的裝置，其中探頭包括數(shù)條被定位的引線，由此，當一個電子元器件在測試臺中并被定位測試時，至少有一條來自所說的探頭的引線會與該電子元器件所在的分隔室的金屬區(qū)域相接觸，而且至少有另一條探頭的引線會與滾柱的一側(cè)相接觸。
22．如權(quán)利要求21所述的裝置，其中所說的探頭包括一個支撐體；一個可移動地固定在支撐體上的可移動的基板；所說的多根可移動的引線，其中每個引線是細長的、由導(dǎo)電材料制成，而且被固定到所說的基板上并有效地連接到所說的測試裝置上，并且其中所說的引線中至少一條有一個端部適用于接觸所測試的電子元器件的一個端子；一個固定在所說的支撐體上的引導(dǎo)塊，該引導(dǎo)塊有多個通孔，所說的多根引線穿過這些通孔并在其中可以移動；而且一個加力裝置，在一個電子元器件位于相對于所說的引導(dǎo)塊的預(yù)定位置上時，該裝置能使所說的基板移動，其中所說的基板的運動引起固定在所說的基板上的引線相應(yīng)的運動，而且其中所說的多根引線的運動通過引導(dǎo)塊中的通孔被引導(dǎo)。
全文摘要
為了促進小型電子元器件的測試,一個改進的測試探頭和傳輸輪(8)組件被公開。探頭的基本形式是具有一個固定的支撐體(84),一個可移動的底板(78)通過至少一個彈性結(jié)構(gòu)被固定在該支撐體(84)上。固定在可移動的底板(78)上的多條引線(66)可以穿過固定的引導(dǎo)塊(94)中的互補槽(complementary tunnels)移向被測試的電子元器件的位于側(cè)面的端子。傳輸輪組件包括一個輪(8),輪(8)的圓周上有許多接收電子元器件的分隔室。每個分隔室包括一個金屬基礎(chǔ)。而且本發(fā)明還公開了一個被設(shè)計用來在測試期間壓在分隔室的末端上的金屬滾柱(96)。每個分隔室的金屬基板和金屬滾柱(96)通過來自測試探頭的側(cè)面的引線與電子元器件的端部的端子的電連接。
文檔編號G01R31/28GK1286757SQ99801668
公開日2001年3月7日 申請日期1999年9月21日 優(yōu)先權(quán)日1998年9月25日
發(fā)明者約瑟夫, 博伊曼 申請人:電子科學(xué)工業(yè)公司