本實(shí)用新型涉及一種檢驗(yàn)治具，尤其是注塑件外形檢測(cè)的多功能的檢驗(yàn)治具。

背景技術(shù)：

注塑件通常外形復(fù)雜，具有多種不同的平面、圓孔、平臺(tái)等等結(jié)構(gòu)。在產(chǎn)品出廠時(shí)，通常要對(duì)其進(jìn)行合格性檢測(cè)，包括圓孔的內(nèi)徑、圓孔的中心偏差、平面的平整度、平臺(tái)的寬度、縫隙的高度之類。這通常會(huì)使用到多種不同的測(cè)量器具。目前，這些測(cè)量器具大多采用標(biāo)準(zhǔn)件，包括塞規(guī)、千分尺、百分尺等等。由于這些測(cè)量器具都非特制，因而測(cè)量過程復(fù)雜，效率低下，且涉及測(cè)量器具多，使用、保管都非常不方便。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

為了克服上述問題，本實(shí)用新型提供一種容易操作、使用和保管都方便的注塑件外形多功能檢驗(yàn)治具。

本實(shí)用新型的技術(shù)方案是提供一種注塑件外形多功能檢驗(yàn)治具，該注塑件具有若干個(gè)待檢測(cè)的圓孔或平面，其特征在于：所述注塑件外形多功能檢驗(yàn)治具包括底座，所述底座上設(shè)置有一固定注塑件的工件固定座及若干個(gè)檢測(cè)注塑件的圓孔內(nèi)徑的第一測(cè)量柱；所述底座上還設(shè)置有一校平臺(tái)，一塊形的校平塊活動(dòng)設(shè)置在所述校平臺(tái)上，所述校平塊與所述校平臺(tái)面接觸且可在所述校平臺(tái)的接觸面上自由移動(dòng)；所述校平塊上設(shè)置一百分表或千分表。

優(yōu)選的，所述校平塊與所述校平臺(tái)通過永磁體相互吸附。

優(yōu)選的，所述底座上還設(shè)置有一具有校零面的基準(zhǔn)臺(tái)。

優(yōu)選的，所述第一測(cè)量柱由兩個(gè)直徑不同的圓柱體組成，兩所述圓柱體的直徑分別為待檢測(cè)的圓孔內(nèi)徑加工精度的最大值和最小值。

優(yōu)選的，所述工件固定座包括四個(gè)工件卡座，每個(gè)所述工件卡座上均活動(dòng)設(shè)置有兩水平相對(duì)的卡爪和一驅(qū)動(dòng)所述卡爪同時(shí)向內(nèi)或向外移動(dòng)的旋鈕。

優(yōu)選的，所述底座上設(shè)置有若干個(gè)具有一個(gè)開口的圓環(huán)形的卡環(huán)，所述第一測(cè)量柱穿過所述卡環(huán)的開口卡設(shè)在所述卡環(huán)中。

優(yōu)選的，所述底座上設(shè)置有至少一個(gè)穿過所述注塑件的圓孔的圓柱形標(biāo)準(zhǔn)柱，所述底座上設(shè)置有至少一個(gè)檢測(cè)所述標(biāo)準(zhǔn)柱與其穿過的所述注塑件的圓孔內(nèi)壁之間距離的第二測(cè)量柱。

優(yōu)選的，所述底座上設(shè)置有至少一個(gè)間隙測(cè)量柱，所述間隙測(cè)量柱上至少有一端設(shè)置有一折彎的圓柱形塞規(guī)。

優(yōu)選的，所述底座上設(shè)置有U字形檢測(cè)所述注塑件局部寬度的長(zhǎng)度規(guī)。

本實(shí)用新型的注塑件外形多功能檢驗(yàn)治具將多種特制的測(cè)量工具整合在一起，對(duì)注塑件的定位后，通過簡(jiǎn)單的操作即可實(shí)現(xiàn)各個(gè)部分的檢測(cè)。本實(shí)用新型的注塑件外形多功能檢驗(yàn)治具具有效率高、使用方便，方便移動(dòng)和保管等優(yōu)點(diǎn)。

附圖說明

圖1是本實(shí)用新型最佳實(shí)施例的一種注塑件外形多功能檢驗(yàn)治具的立體結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

下面對(duì)本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式作進(jìn)一步詳細(xì)的描述。

如圖1所示，本實(shí)用新型提供一種注塑件8外形多功能檢驗(yàn)治具，該注塑件8具有若干個(gè)待檢測(cè)的圓孔或平面，需要檢測(cè)圓孔內(nèi)徑、圓孔的偏心，平面的平整度，兩相互平行的平面間距離。本實(shí)用新型的注塑件8外形多功能檢驗(yàn)治具包括底座10，底座10上設(shè)置有一固定注塑件8的工件固定座12及若干個(gè)檢測(cè)注塑件8的圓孔內(nèi)徑的第一測(cè)量柱14。底座10上還設(shè)置有一柱形的校平臺(tái)16，一塊形的校平塊18活動(dòng)設(shè)置在校平臺(tái)16上，校平塊18與校平臺(tái)16面接觸且可在校平臺(tái)16的接觸面上自由移動(dòng)；校平塊18上設(shè)置一百分表20或千分表20。

校平塊18與校平臺(tái)16通過永磁體（未圖示）相互吸附，該永磁體可以設(shè)置在校平塊18或校平臺(tái)16上，同時(shí)校平臺(tái)16或校平塊18由金屬制成，以便相互吸附，使得它們的接觸面緊密接觸。底座10上還設(shè)置有一具有校零面的基準(zhǔn)臺(tái)22。較平塊在較平臺(tái)上水平移動(dòng)，百分表或千分表的測(cè)量螺桿抵靠在基準(zhǔn)臺(tái)22上，進(jìn)行校零；然后移動(dòng)到注塑件8的待檢測(cè)平面，在其上游走，檢測(cè)各處的平面度。

第一測(cè)量柱14由兩個(gè)直徑不同的圓柱體組成，兩圓柱體的直徑分別為待檢測(cè)的圓孔內(nèi)徑加工精度的最大值和最小值。將第一測(cè)量柱14兩端分別插入待檢測(cè)的圓孔，通過其可否順利的插入，來檢測(cè)圓孔的內(nèi)徑是否符合加工的精度要求。

工件固定座12包括4個(gè)工件卡座121，每個(gè)工件卡座121上均活動(dòng)設(shè)置有兩水平相對(duì)的卡爪122和一驅(qū)動(dòng)卡爪122同時(shí)向內(nèi)或向外移動(dòng)的旋鈕123。通過卡爪122來固定注塑件8四周上凸出的4個(gè)平臺(tái)，從而對(duì)其進(jìn)行水平定位。旋鈕123和卡爪122可以通過齒輪（未圖示）、齒條（未圖示）的方式來實(shí)現(xiàn)，即每個(gè)卡爪122都固定在一齒條上，旋鈕123固定一齒輪，齒輪與齒條均嚙合。上述結(jié)構(gòu)常被用于類似功能的機(jī)械結(jié)構(gòu)上，為業(yè)界所熟知。

底座10上設(shè)置有若干個(gè)具有一個(gè)開口的圓環(huán)形的卡環(huán)24，第一測(cè)量柱14穿過卡環(huán)24的開口卡設(shè)在卡環(huán)24中。

底座10上設(shè)置有至少一個(gè)穿過注塑件8的圓孔的圓柱形標(biāo)準(zhǔn)柱26，底座10上設(shè)置有至少一個(gè)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)柱26與其穿過的注塑件8的圓孔內(nèi)壁之間距離的第二測(cè)量柱28。標(biāo)準(zhǔn)柱26和注塑件8上的部分或全部圓孔對(duì)應(yīng)，當(dāng)注塑件8放置在工件固定座12上時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)柱26正好插入到圓孔中。將第二測(cè)量柱28插入標(biāo)準(zhǔn)柱26和圓孔之間的間隙，并繞其一周，從而從其通過的情況可以檢測(cè)圓孔的偏心度。

底座10上設(shè)置有至少一個(gè)間隙測(cè)量柱30，間隙測(cè)量柱30上至少有一端設(shè)置有一折彎的圓柱形塞規(guī)301。將塞規(guī)301塞入注塑件8的待檢測(cè)的間隙中，從而可以檢測(cè)其高度是否符合加工要求。

底座10上設(shè)置有U字形檢測(cè)注塑件8局部寬度的長(zhǎng)度規(guī)32，其可以檢測(cè)注塑件8相平行的兩平面之間的間距，將該兩平面之間的部分放入到長(zhǎng)度規(guī)32的U形槽中即可。

以上實(shí)施例僅為本實(shí)用新型其中的一種實(shí)施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對(duì)本實(shí)用新型專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。因此，本實(shí)用新型專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。