本發(fā)明涉及開關(guān)電源測試領(lǐng)域，具體是一種開關(guān)電源性能測試方法、系統(tǒng)及裝置，其將多個不同類型、但均用于測試開關(guān)電源性能的測試儀器的測試指令集合在一起，利用測試儀器GPIB地址的唯一性，實現(xiàn)對測試指令的自動選擇，從而增加對不同類型甚至不同品牌的用于測試開關(guān)電源性能的測試儀器的適用性。

背景技術(shù)：

開關(guān)電源是一種高頻開關(guān)式的能量變換電子電路，常作為設(shè)備的電源供應(yīng)器。在電子設(shè)計領(lǐng)域，開關(guān)電源以其體積小、重量輕、功耗小、效率高、轉(zhuǎn)換速度快、穩(wěn)壓范圍寬、濾波效率好、所需濾波電容的數(shù)量少等諸多優(yōu)點，成為電子產(chǎn)品設(shè)計領(lǐng)域最重要的供電設(shè)計方式。

隨著服務(wù)器和PC行業(yè)的迅速發(fā)展，對開關(guān)電源的性能提出了更高的要求。而在現(xiàn)有技術(shù)中，在同一個開關(guān)電源測試系統(tǒng)中，經(jīng)常出現(xiàn)需要更換一臺或多臺測試儀器的情況，而現(xiàn)有技術(shù)中尚未出現(xiàn)好的開關(guān)電源測試技術(shù)，不僅更換不便，有時還存在開關(guān)電源測試軟件與所更換測試儀器的兼容問題，在很大程度上影響測試效率。此為現(xiàn)有技術(shù)的不足之處。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是，針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種開關(guān)電源性能測試方法、系統(tǒng)及裝置，用于增加對不同類型甚至不同品牌的用于測試開關(guān)電源性能的測試儀器的適用性，以提高測試效率。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種開關(guān)電源性能測試方法，包括：

步驟A、預(yù)先獲取并存儲用于測試開關(guān)電源性能的各相關(guān)測試儀器的測試指令，建立各測試指令及其對應(yīng)測試儀器的GPIB地址的一一對應(yīng)關(guān)系；

步驟B、實時采集當前用于測試開關(guān)電源性能的各相關(guān)測試儀器的GPIB地址；

步驟C、基于步驟A中建立的各測試指令及其對應(yīng)測試儀器的GPIB地址的一一對應(yīng)關(guān)系，分別調(diào)用與步驟B中所采集的各GPIB地址相對應(yīng)的相應(yīng)測試指令；

步驟D、基于步驟C中調(diào)用的相應(yīng)的測試指令，分別控制對開關(guān)電源的性能測試。

其中，步驟A中所述的各相關(guān)測試儀器包括直流電源、示波器、電子負載儀、萬用表，信號發(fā)生器。

在步驟A中，建立各測試指令及其對應(yīng)測試儀器的GPIB地址的一一對應(yīng)關(guān)系的方法為：

以所述的各相關(guān)測試儀器的GPIB地址作為選擇器標簽，建立一個分支選擇結(jié)構(gòu)；

將各測試指令分別存放在該分支選擇結(jié)構(gòu)的分支中。

本發(fā)明還提供了一種開關(guān)電源性能測試系統(tǒng)，包括：

GPIB地址采集單元，用于實時采集當前用于測試開關(guān)電源性能的各相關(guān)測試儀器的GPIB地址；

存儲單元，用于本系統(tǒng)的數(shù)據(jù)存儲，包括用于存儲預(yù)先采集的用于測試開關(guān)電源性能的各相關(guān)測試儀器的測試指令、以及用于存儲預(yù)先建立的上述各測試指令及其對應(yīng)測試儀器的GPIB地址的一一對應(yīng)關(guān)系；

控制單元，連接所述的GPIB地址采集單元和存儲單元，其基于存儲單元存儲的相應(yīng)測試指令與相應(yīng)GPIB地址的一一對應(yīng)關(guān)系，調(diào)用與所述GPIB地址采集單元當前所采集到的各GPIB地址相對應(yīng)的相應(yīng)測試指令，分別控制對開關(guān)電源的性能測試。

在該開關(guān)電源性能測試系統(tǒng)中，所述的各相關(guān)測試儀器包括直流電源、示波器、電子負載儀、萬用表，信號發(fā)生器。

在該開關(guān)電源性能測試系統(tǒng)中，預(yù)先建立上述各測試指令及其對應(yīng)測試儀器的GPIB地址的一一對應(yīng)關(guān)系的方法為：

以所述的各相關(guān)測試儀器的GPIB地址作為選擇器標簽，建立一個分支選擇結(jié)構(gòu)；將各測試指令分別存放在該分支選擇結(jié)構(gòu)的分支中。

本發(fā)明還提供了一種開關(guān)電源性能測試裝置，包括開關(guān)電源性能測試裝置本體，該所述的開關(guān)電源性能測試裝置本體包括如上所述的開關(guān)電源性能測試系統(tǒng)。

在該開關(guān)電源性能測試裝置中，所述開關(guān)電源性能測試系統(tǒng)中預(yù)先建立上述各測試指令及其對應(yīng)測試儀器的GPIB地址的一一對應(yīng)關(guān)系的方法為：以所述的各相關(guān)測試儀器的GPIB地址作為選擇器標簽，建立一個分支選擇結(jié)構(gòu)；將各測試指令分別存放在該分支選擇結(jié)構(gòu)的分支中。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的優(yōu)點在于：

本發(fā)明預(yù)先獲取并存儲用于測試開關(guān)電源性能的各相關(guān)測試儀器的測試指令，并建立各測試指令及其對應(yīng)測試儀器的GPIB地址的一一對應(yīng)關(guān)系，之后基于實時采集的當前用于測試開關(guān)電源性能的各相關(guān)測試儀器的GPIB地址，調(diào)用相應(yīng)測試指令，分別控制對開關(guān)電源的性能測試，這使得本發(fā)明能夠兼容多種測試儀器的使用，使得在測試過程中：如需更換測試儀器時，不需要對程序進行修改；或?qū)y試程序移植到其他開關(guān)電源測試設(shè)備上時，便于實現(xiàn)程序軟件與硬件系統(tǒng)的兼容，大大提升程序的使用范圍，并且容易擴展。

由此可見，本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有突出的實質(zhì)性特點和顯著的進步，其實施的有益效果也是顯而易見的。

附圖說明

圖1為本發(fā)明所述開關(guān)電源性能測試方法的方法流程示意圖；

圖2為本發(fā)明所述開關(guān)電源性能測試系統(tǒng)的功能結(jié)構(gòu)框圖示意圖。

具體實施方式

為使本發(fā)明的技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結(jié)合附圖，對本發(fā)明的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述。

具體實施方式1：

如圖1所示，本發(fā)明的一種開關(guān)電源性能測試方法，包括以下步驟A、B、C和D：

步驟A、預(yù)先獲取并存儲用于測試開關(guān)電源性能的各相關(guān)測試儀器的測試指令，建立各測試指令及其對應(yīng)測試儀器的GPIB地址的一一對應(yīng)關(guān)系。其中，該預(yù)先獲取的測試指令的功能不同。

在本實施方式中，上述步驟A中所述的各相關(guān)測試儀器包括直流電源、示波器、電子負載儀、萬用表，信號發(fā)生器。

在本實施方式中，在上述步驟A中，建立各測試指令及其對應(yīng)測試儀器的GPIB地址的一一對應(yīng)關(guān)系的方法為：以所述的各相關(guān)測試儀器的GPIB地址作為選擇器標簽，建立一個分支選擇結(jié)構(gòu)；將各測試指令分別存放在該分支選擇結(jié)構(gòu)的分支中。

步驟B、實時采集當前用于測試開關(guān)電源性能的各相關(guān)測試儀器的GPIB地址。

步驟C、基于步驟A中建立的各測試指令及其對應(yīng)測試儀器的GPIB地址的一一對應(yīng)關(guān)系，分別調(diào)用與步驟B中所采集的各GPIB地址相對應(yīng)的相應(yīng)測試指令。

步驟D、基于步驟C中調(diào)用的相應(yīng)的測試指令，分別控制對開關(guān)電源的性能測試。

本發(fā)明還提供了一種開關(guān)電源性能測試系統(tǒng)，如圖2所示，該測試系統(tǒng)包括：

GPIB地址采集單元，用于實時采集當前用于測試開關(guān)電源性能的各相關(guān)測試儀器的GPIB地址；

存儲單元，用于本系統(tǒng)的數(shù)據(jù)存儲，包括用于存儲預(yù)先采集的用于測試開關(guān)電源性能的各相關(guān)測試儀器的測試指令、以及用于存儲預(yù)先建立的上述各測試指令及其對應(yīng)測試儀器的GPIB地址的一一對應(yīng)關(guān)系；

控制單元，連接所述的GPIB地址采集單元和存儲單元，其基于存儲單元存儲的相應(yīng)測試指令與相應(yīng)GPIB地址的一一對應(yīng)關(guān)系，調(diào)用與所述GPIB地址采集單元當前所采集到的各GPIB地址相對應(yīng)的相應(yīng)測試指令，分別控制對開關(guān)電源的性能測試。

在上述開關(guān)電源性能測試系統(tǒng)中，所述的各相關(guān)測試儀器包括直流電源、示波器、電子負載儀、萬用表，信號發(fā)生器。

在上述開關(guān)電源性能測試系統(tǒng)中，預(yù)先建立上述各測試指令及其對應(yīng)測試儀器的GPIB地址的一一對應(yīng)關(guān)系的方法為：以所述的各相關(guān)測試儀器的GPIB地址作為選擇器標簽，建立一個分支選擇結(jié)構(gòu)；將各測試指令分別存放在該分支選擇結(jié)構(gòu)的分支中。

在上述開關(guān)電源性能測試系統(tǒng)中，所述的GPIB地址采集單元采用一組GPIB接口，所述的GPIB接口與所述存儲單元中存儲的測試指令一一對應(yīng)。

本發(fā)明還提供了一種開關(guān)電源性能測試裝置。該開關(guān)電源性能測試裝置包括開關(guān)電源性能測試裝置本體，該所述的開關(guān)電源性能測試裝置本體包括如上所述的開關(guān)電源性能測試系統(tǒng)。

為簡化本發(fā)明的結(jié)構(gòu)，所述開關(guān)電源性能測試裝置的結(jié)構(gòu)未在說明書附圖中畫出，基于本申請的文字描述以及現(xiàn)有技術(shù)，本領(lǐng)域技術(shù)人員很容易能夠?qū)崿F(xiàn)，在此不再贅述。

此外，在該開關(guān)電源性能測試裝置中，所述開關(guān)電源性能測試系統(tǒng)中預(yù)先建立上述各測試指令及其對應(yīng)測試儀器的GPIB地址的一一對應(yīng)關(guān)系的方法為：以所述的各相關(guān)測試儀器的GPIB地址作為選擇器標簽，建立一個分支選擇結(jié)構(gòu)；將各測試指令分別存放在該分支選擇結(jié)構(gòu)的分支中。

每個用于測試開關(guān)電源性能的測試儀器都有一個不同的GPIB地址，且均對應(yīng)一種不同的測試指令。

基于此，本發(fā)明預(yù)先獲取并存儲用于測試開關(guān)電源性能的各相關(guān)測試儀器的測試指令，并建立各測試指令及其對應(yīng)測試儀器的GPIB地址的一一對應(yīng)關(guān)系，之后基于實時采集的當前用于測試開關(guān)電源性能的各相關(guān)測試儀器的GPIB地址，調(diào)用相應(yīng)測試指令，分別控制對開關(guān)電源的性能測試，這使得本發(fā)明能夠兼容多種測試儀器的使用，使得在測試過程中：如需更換測試儀器時，不需要對程序進行修改；或?qū)y試程序移植到其他開關(guān)電源測試設(shè)備上時，便于實現(xiàn)程序軟件與硬件系統(tǒng)的兼容，大大提升程序的使用范圍，并且容易擴展。進而提高開關(guān)電源性能測試人員的測試效率，較為實用。

以上實施方式僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案，而非對其限制；盡管參照前述實施方式對本發(fā)明進行了詳細的說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當理解：其依然可以對前述各實施方式所記載的技術(shù)方案進行修改，或者對其中部分技術(shù)特征進行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實施方式技術(shù)方案的范圍。