本實(shí)用新型屬于檢測(cè)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種電路板檢測(cè)裝置。
背景技術(shù):
現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)電路板的檢測(cè),都是在電路板制造并切割完成后進(jìn)行的,每次只能進(jìn)行一個(gè)電路板的檢測(cè)。這種單一電路板所進(jìn)行的電性檢測(cè)通常要花費(fèi)較長(zhǎng)的時(shí)間,因此,如何縮短電路板進(jìn)行電性檢測(cè)的時(shí)間,并能夠在電路板制作完成且未切割的狀態(tài)下進(jìn)行檢測(cè),是許多商家探討的課題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本實(shí)用新型的目的是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述問(wèn)題,提供一種可以在電路板未經(jīng)切割時(shí)進(jìn)行檢測(cè),且檢測(cè)效率高的電路板檢測(cè)裝置。
本實(shí)用新型解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是:
一種電路板檢測(cè)裝置,包括:
基座,所述基座上表面設(shè)有安裝板;
下針板,所述下針板設(shè)置于安裝板上,所述下針板上設(shè)有用于放置未切割電路板的放置區(qū),所述未切割電路板由若干個(gè)單個(gè)電路板組成;
上針板,所述上針板設(shè)置于下針板上方,所述上針板上與每個(gè)單個(gè)電路板的檢測(cè)位置相對(duì)應(yīng)的位置均設(shè)有探針塊,所述上針板上與每個(gè)單個(gè)電路板相對(duì)應(yīng)的位置開設(shè)有第一避讓槽,所述第一避讓槽一側(cè)的上針板上設(shè)有定位柱,另一側(cè)設(shè)有第二避讓槽。
進(jìn)一步的,所述下針板一端設(shè)有折頁(yè),所述上針板一端固定在折頁(yè)上,所述上針板另一端設(shè)有鎖扣。
進(jìn)一步的,所述下針板有一個(gè),所述上針板有兩個(gè),兩個(gè)所述上針板在下針板上并排設(shè)置。
進(jìn)一步的,所述探針塊上設(shè)有若干朝向下針板的探針。
進(jìn)一步的,所述探針塊可拆卸的安裝于上針板上。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型產(chǎn)生的有益效果是:
在本實(shí)用新型中,由于放置區(qū)可以放置多個(gè)相互連接的單個(gè)電路板,因此,本實(shí)用新型的檢測(cè)裝置能夠一次電性檢測(cè)多個(gè)單個(gè)電路板,且這些單個(gè)電路板可以是未切割電路板,即剛剛制作完成的整個(gè)電路板,提高了電性檢測(cè)的效率。
附圖說(shuō)明
下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)一步說(shuō)明:
圖1為本實(shí)用新型的整體結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為本實(shí)用新型的俯視圖。
其中:1.基座,2.安裝板,3.下針板,4.未切割電路板,5.上針板,6.探針塊,7.第一避讓槽,8.定位柱,9.第二避讓槽,10.折頁(yè),11.鎖扣。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型做進(jìn)一步說(shuō)明:
如圖1-2所示,本實(shí)用新型提供的電路板檢測(cè)裝置,其特征在于,包括:
基座1,所述基座1上表面設(shè)有安裝板2;
下針板3,所述下針板3設(shè)置于安裝板2上,所述下針板3上設(shè)有用于放置未切割電路板4的放置區(qū),所述未切割電路板4由若干個(gè)單個(gè)電路板組成;
上針板5,所述上針板5設(shè)置于下針板3上方,所述上針板5上與每個(gè)單個(gè)電路板的檢測(cè)位置相對(duì)應(yīng)的位置均設(shè)有探針塊6,所述上針板5上與每個(gè)單個(gè)電路板相對(duì)應(yīng)的位置開設(shè)有第一避讓槽7,所述第一避讓槽7一側(cè)的上針板5上設(shè)有定位柱8,另一側(cè)設(shè)有第二避讓槽9。
所述下針板3一端設(shè)有折頁(yè)10,所述上針板5一端固定在折頁(yè)10上,所述上針板5另一端設(shè)有鎖扣11。
所述下針板3有一個(gè),所述上針板5有兩個(gè),兩個(gè)所述上針板5在下針板3上并排設(shè)置。
所述探針塊6上設(shè)有若干朝向下針板3的探針。
所述探針塊6可拆卸的安裝于上針板5上。
本實(shí)用新型在使用時(shí),打開上針板5,使下針板3上的放置區(qū)暴露,將剛剛制作完成且未切割的未切割電路板放置于放置區(qū)的相應(yīng)位置上,蓋上上針板5,上針板5上的每個(gè)定位柱8分別穿過(guò)與其相對(duì)應(yīng)的單個(gè)電路板上相應(yīng)的孔,起到定位作用,第一避讓槽7和第二避讓槽9能夠容納相對(duì)應(yīng)位置上的單個(gè)電路板上凸起的元件,上針板5上的探針塊6與相應(yīng)位置的單個(gè)電路板上的檢測(cè)位置相接觸,即可檢測(cè)出單個(gè)電路板是否為良品。在本實(shí)用新型中,由于放置區(qū)可以放置多個(gè)相互連接的單個(gè)電路板,因此,本實(shí)用新型的檢測(cè)裝置能夠一次電性檢測(cè)多個(gè)單個(gè)電路板,且這些單個(gè)電路板可以是未切割電路板,提高了電性檢測(cè)的效率。
以上通過(guò)實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型的進(jìn)行了詳細(xì)說(shuō)明,但所述內(nèi)容僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例,不能被認(rèn)為用于限定本實(shí)用新型的實(shí)施范圍。凡依本實(shí)用新型申請(qǐng)范圍所作的均等變化與改進(jìn)等,均應(yīng)仍歸屬于本實(shí)用新型的專利涵蓋范圍之內(nèi)。