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一種二次電子特性參數(shù)檢測(cè)裝置的制作方法

文檔序號(hào):12562079閱讀:442來(lái)源:國(guó)知局

本實(shí)用新型涉及電子特性檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種二次電子特性參數(shù)檢測(cè)裝置。



背景技術(shù):

所謂二次電子特性參數(shù)檢測(cè),就是指具有一定能量或速度的電子(或離子)轟擊物體表面時(shí),會(huì)引起電子從該物體表面發(fā)射出來(lái),并且具備一定的能量,但是電子的特性需要檢測(cè)出來(lái),而且從電子表面散射出來(lái)的能量也會(huì)呈現(xiàn)一定的分布,其中包括一次電子的彈性散射電子,非彈性散射電子、真二次電子、俄歇電子等,有時(shí)還有其它復(fù)雜現(xiàn)象伴隨二次電子發(fā)射過(guò)程,如輻射X射線,產(chǎn)生熒光等,但是開(kāi)始階段的研究工作進(jìn)展緩慢,不利于研究電子參數(shù),二十世紀(jì)三十年代后,由于電真空器件的發(fā)展,二次電子發(fā)射問(wèn)題才逐漸引起了研究人員的注意,這是因?yàn)槎坞娮影l(fā)射有正反兩方面的影響,在某些器件中,由于二次電子發(fā)射,導(dǎo)致器件工作不穩(wěn)定,需要對(duì)二次電子發(fā)射機(jī)理與發(fā)射材料自身特性做一個(gè)系統(tǒng)的研究,但是目前的檢測(cè)裝置對(duì)電子進(jìn)行形貌分析時(shí),其分辨率遠(yuǎn)比二次電子像低,而且散射電子能量高,以直線軌跡逸出樣品表面,對(duì)于背向檢測(cè)器的樣品表面,因檢測(cè)器無(wú)法收集到背散射電子而變成一片陰影,因此,其圖象襯度很強(qiáng),襯度太大會(huì)失去細(xì)節(jié)的層次,不利于分析。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

針對(duì)以上問(wèn)題,本實(shí)用新型提供了一種二次電子特性參數(shù)檢測(cè)裝置,設(shè)置有真空泵,能夠推動(dòng)真空室檢測(cè)電子能量,并且真空裝置不會(huì)導(dǎo)致電 子能量散失,使用檢測(cè)器對(duì)電子參數(shù)進(jìn)行分析,利用數(shù)據(jù)校對(duì)模塊進(jìn)行對(duì)于,有利于檢測(cè)電子的特性,利用一次電子檢測(cè)器和二次電子檢測(cè)器能夠?qū)z測(cè)電子的二次特性,使其檢測(cè)裝置穩(wěn)定,可以有效解決背景技術(shù)中的問(wèn)題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案:一種二次電子特性參數(shù)檢測(cè)裝置,包括真空泵和電子檢測(cè)裝置,所述真空泵的上表面固定安裝有真空室和電子槍?zhuān)译娮訕屧O(shè)置在真空室的右端,在真空室的正面還固定安裝有調(diào)制電源,所述真空泵的左端固定安裝有檢測(cè)器,真空泵的兩側(cè)還固定安裝有可編程控制器和溫控電路,且可編程控制器位于溫控電路的上方,在溫控電路的下端設(shè)置有絕緣轉(zhuǎn)軸,且絕緣轉(zhuǎn)軸的一端穿過(guò)絕緣層的內(nèi)部與設(shè)置在絕緣層底部的傳感器固定連接;所述電子檢測(cè)裝置通過(guò)安裝在其內(nèi)側(cè)的轉(zhuǎn)動(dòng)塊固定連接在真空泵的右端,在電子檢測(cè)裝置的表面固定安裝有一次電子檢測(cè)器和二次電子檢測(cè)器,且在一次電子檢測(cè)器和二次電子檢測(cè)器的上表面分別安裝有一次前置放大器和二次前置放大器,在二次電子檢測(cè)器的右端還設(shè)置有數(shù)據(jù)核對(duì)模塊。

作為本實(shí)用新型一種優(yōu)選的技術(shù)方案,所述真空室的右側(cè)面固定安裝有觸摸控制屏。

作為本實(shí)用新型一種優(yōu)選的技術(shù)方案,所述真空室的上表面還固定安裝有電子加速器。

作為本實(shí)用新型一種優(yōu)選的技術(shù)方案,所述電子檢測(cè)裝置的右側(cè)還設(shè)置有熱陰極。

與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型的有益效果是:該二次電子特性參數(shù)檢 測(cè)裝置,通過(guò)設(shè)置真空泵,推動(dòng)真空室檢測(cè)電子能量,并且真空裝置不會(huì)導(dǎo)致電子能量散失,使用檢測(cè)器對(duì)電子參數(shù)進(jìn)行分析,利用數(shù)據(jù)校對(duì)模塊進(jìn)行對(duì)于,有利于檢測(cè)電子的特性,利用一次電子檢測(cè)器和二次電子檢測(cè)器能夠?qū)z測(cè)電子的二次特性,使用觸摸控制屏控制發(fā)射電子在電子加速器中加速,使其檢測(cè)裝置穩(wěn)定,而且提高了分辨率,實(shí)用性強(qiáng)。

附圖說(shuō)明

圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖;

圖中:1-真空泵;2-真空室;3-電子槍?zhuān)?-調(diào)制電源;5-觸摸控制屏;6-檢測(cè)器;7-可編程控制器;8-溫控電路;9-絕緣轉(zhuǎn)軸;10-傳感器;11-一次電子檢測(cè)器;12-二次電子檢測(cè)器;13-數(shù)據(jù)核對(duì)模塊;14-一次前置放大器;15-二次前置放大器;16-電子檢測(cè)裝置;17-絕緣層;18-電子加速器;19-熱陰極。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖,對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例?;诒緦?shí)用新型中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。

實(shí)施例:

請(qǐng)參閱圖1,本實(shí)用新型提供一種技術(shù)方案:一種二次電子特性參數(shù)檢測(cè)裝置,包括真空泵1和電子檢測(cè)裝置16,所述真空泵1的上表面固定安裝有真空室2和電子槍3,利用真空室提供真空環(huán)境,有利于排除其他因素 的干擾,且電子槍3設(shè)置在真空室2的右端,在真空室2的正面固定安裝有調(diào)制電源4,使用調(diào)制電源控制電源的大小,真空室2的右側(cè)面還固定安裝有觸摸控制屏5,使用觸摸控制屏控制電子在電子加速器模塊加速,且真空室2的上表面還固定安裝有電子加速器18,所述真空泵1的左端固定安裝有檢測(cè)器6,真空泵1的兩側(cè)還固定安裝有可編程控制器7和溫控電路8,且可編程控制器7位于溫控電路8的上方,將編程模塊放在可編程控制器中,以便更好的控制電子發(fā)射,在溫控電路8的下端設(shè)置有絕緣轉(zhuǎn)軸9,且絕緣轉(zhuǎn)軸9的一端穿過(guò)絕緣層17的內(nèi)部與設(shè)置在絕緣層17底部的傳感器10固定連接,根據(jù)傳感器的特性檢測(cè)電子能量參數(shù);所述電子檢測(cè)裝置16的右側(cè)還設(shè)置有熱陰極19,且電子檢測(cè)裝置16通過(guò)安裝在其內(nèi)側(cè)的轉(zhuǎn)動(dòng)塊固定連接在真空泵1的右端,在電子檢測(cè)裝置16的表面固定安裝有一次電子檢測(cè)器11和二次電子檢測(cè)器12,且在一次電子檢測(cè)器11和二次電子檢測(cè)器12的上表面分別安裝有一次前置放大器14和二次前置放大器15,利用二次電子檢測(cè)器對(duì)電子進(jìn)行第二次檢測(cè),使得電子核對(duì)參數(shù)更加精確,在二次電子檢測(cè)器12的右端還設(shè)置有數(shù)據(jù)核對(duì)模塊13,使用檢測(cè)器與數(shù)據(jù)核對(duì)模塊的數(shù)據(jù)對(duì)比,檢測(cè)電子的特性參數(shù)。

本實(shí)用新型的工作原理:該二次電子特性參數(shù)檢測(cè)裝置,通過(guò)設(shè)置真空泵,推動(dòng)真空室檢測(cè)電子能量,并且真空裝置不會(huì)導(dǎo)致電子能量散失,使用檢測(cè)器對(duì)電子參數(shù)進(jìn)行分析,利用數(shù)據(jù)校對(duì)模塊進(jìn)行對(duì)于,有利于檢測(cè)電子的特性,利用一次電子檢測(cè)器和二次電子檢測(cè)器能夠?qū)z測(cè)電子的二次特性,使用觸摸控制屏控制發(fā)射電子在電子加速器中加速,使其檢測(cè)裝置穩(wěn)定,而且提高了分辨率,實(shí)用性強(qiáng)。

以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已,并不用以限制本實(shí)用新型,凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。

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