本發(fā)明涉及電路板測試領域，具體涉及一種復雜環(huán)境下電路板柔性快速測試裝置。

背景技術：

在軍工電子產品領域，需要在多種復雜環(huán)境下(如高溫、低溫、振動等)對裝配完成的電路板進行多次測試，以確保其高可靠性。目前，對含接線柱類的電路板為保證測試可靠性，一般采用接線柱焊線方式對電路板進行測試，待所有測試完成后再對電路板解焊進行后續(xù)裝配。這種人工焊線測試的方法，非常耗費人力，效率也極為低下，隨著軍工產品訂單的不斷增長，此種方法已經越來越難以滿足測試需求。

申請?zhí)枮?01310676513.X的專利文獻公開了一種電路板測試器，利用上、下壓針夾緊電路板測試點進行測試及鎖緊的測試裝置。

申請?zhí)?01310025296.8的專利文獻公開了一種柔性測試裝置及其測試方法，利用帶凸點的柔性基板與底座夾持電路板，凸點與測試點接觸來實現電路板測試的裝置。

申請?zhí)?00810149660.0的專利文獻公開了一種柔性測試夾具，利用上、下探針盤夾緊電路板測試點進行測試，每個探針都進行了冗余設計，可保證接觸可靠性。

上述專利文獻中測試探針或凸點相互關聯，同步運動，當電路板接線柱高低不均，不在同一平面時，無法保證所有測試點可靠接觸；同時夾緊方式很難適應振動條件下測試。

申請?zhí)?01610005554.X的專利文獻公開了一種測試工裝，利用電磁吸合力鎖緊柔性探針的電路板測試裝置，此裝置需要外接電源提供電磁力，不適合進行各種環(huán)境試驗，同時電磁環(huán)境可能會對電路敏感器件產生影響。

申請?zhí)?01610053300.5的專利文獻公開了一種線路板測試用自動夾緊定位裝置，利用軸傳動帶動兩塊含定位銷立板定位并夾緊電路的裝置，此裝置針對方形或長方形電路板，不適用于其他形狀電路板，定位鎖緊機構較復雜，無法實現快速鎖定。

技術實現要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種復雜環(huán)境下電路板柔性快速測試裝置，利用彈簧力保證各種復雜環(huán)境條件下每個測試點接觸的可靠性，極大地提高了測試效率，提高了復雜環(huán)境下的測試可靠性。

為了達到上述目的，本發(fā)明通過以下技術方案實現：一種復雜環(huán)境下電路板柔性快速測試裝置，其特點是，用于對待測試電路板進行柔性測試，該裝置包含：

柔性探針組件，包含若干個接觸針，所述的若干個接觸針分別連接待測試電路板的接線柱；

定位柱組件，用于對待測電路板進行導向定位；

快鎖組件，用于鎖緊待測試電路板；

殼體組件，所述的殼體組件包含主殼體及接插件，所述的主殼體用于裝設柔性探針組件、定位柱組件、快鎖組件及接插件；所述的接插件與所述的接觸針連接。

所述的殼體組件還包含底蓋，所述的底蓋設置在所述的主殼體的下方，并與所述的主殼體連接。

所述的主殼體及底蓋均由鋁合金材質制成。

所述的柔性探針組件還包含：

接觸座，所述的接觸座呈臺階形，并且在接觸座的頂部設有凹槽，凹槽的邊沿上設有若干個臺階通孔，所述的接觸座設置在所述的主殼體的上方，并與所述的主殼體連接；

固定蓋，所述的固定蓋設置在所述的凹槽內；

頂蓋，所述的頂蓋設置在所述的固定蓋的上方，并且頂蓋的頂部平面高于所述待測試電路板所在的平面；

壓緊蓋，所述的壓緊蓋設置在所述的固定蓋的下方，所述的壓緊蓋上設有與臺階通孔位置對應的壓緊蓋通孔；

其中，接觸針的一端為接觸端部，另一端為焊線尾端，所述的接觸端部穿過所述的臺階通孔與待測試電路板的接線柱連接，所述的焊線尾端穿過所述的壓緊蓋通孔與所述的接插件連接；

若干個接觸針彈簧，接觸針彈簧套接在所述的接觸針上，并且位于所述的臺階通孔內。

所述的接觸座、頂蓋及壓緊蓋均由聚四氟乙烯材料制成；所述的固定蓋由鋁合金材質制成；所述的接觸針由黃銅材料制成；所述的接觸針彈簧由不銹鋼材料制成。

定位組件包含若干個與待測試電路板的安裝通孔對應的定位柱，所述的定位柱一端與所述的主殼體連接，另一端穿過所述的安裝通孔。

所述的定位柱由不銹鋼材料制成。

所述的快鎖組件包含若干個快鎖單元，每一快鎖單元包含：

快鎖座，所述的快鎖座呈倒T形，包含相互垂直設置的橫向座體與豎向座體，其中橫向座體與所述的主殼體連接，所述的快鎖座設有沿豎向貫穿豎向座體和橫向座體的臺階沉孔；

快鎖壓頭，所述的快鎖壓頭設置在所述的豎向座體的上方，所述的快鎖壓頭包含一壓緊端面，與待測試電路板的安裝面貼合；

快鎖桿，所述的快鎖桿穿過所述的臺階沉孔與所述的快鎖壓頭連接；

快鎖彈簧，所述的快鎖彈簧套接在所述的快鎖桿上，所述的快鎖彈簧設置在所述的臺階沉孔內；

快鎖蓋，所述的快鎖蓋設置在所述的快鎖桿下方，所述的快鎖蓋與所述的橫向座體連接。

所述的快鎖座、快鎖桿、快鎖桿及快鎖彈簧由不銹鋼材料制成；所述的快鎖壓頭由聚四氟乙烯材料制成。

本發(fā)明一種復雜環(huán)境下電路板柔性快速測試裝置與現有技術相比具有以下優(yōu)點：由于設有柔性探針組件，可適應待測試電路板接線柱高低不平，不在同一水平面的情況，確保接觸可靠；由于設有定位柱組件和快鎖組件能保證待測試電路板迅速安裝鎖緊，快速安裝定位，保證測試效率；由于主殼體上設有接插件，保證了裝置的小型化及高安裝適應性；接觸針彈簧、快鎖彈簧均為不銹鋼材質，且需選擇合適的設計參數，保證高、低溫，振動環(huán)境下接觸力，夾緊力足夠；整個裝置利用彈簧力保證各種復雜環(huán)境條件下每個測試點接觸的可靠性，極大地提高了測試效率，提高了復雜環(huán)境下的測試可靠性。

附圖說明

圖1為本發(fā)明一種復雜環(huán)境下電路板柔性快速測試裝置的整體結構示意圖；

圖2為本發(fā)明的爆炸示意圖；

圖3為接插件的立體示意圖；

圖4A為主殼體的正面立體示意圖；

圖4B為主殼體的反面立體示意圖；

圖5A為接觸座的正面立體示意圖；

圖5B為接觸座的反面立體示意圖；

圖6為固定蓋的立體示意圖；

圖7為壓緊蓋的立體示意圖；

圖8為接觸針的立體示意圖；

圖9為定位柱的立體示意圖；

圖10為快鎖單元的爆炸示意圖；

圖11為快鎖座的立體示意圖。

具體實施方式

以下結合附圖，通過詳細說明一個較佳的具體實施例，對本發(fā)明做進一步闡述。

如圖1及圖2所示，一種復雜環(huán)境下電路板柔性快速測試裝置，用于對待測試電路板100進行柔性測試，該裝置包含：柔性探針組件200，包含若干個接觸針201，所述的若干個接觸針201分別連接待測試電路板100的接線柱101；定位柱組件300，用于對待測電路板100進行導向定位；快鎖組件400，用于鎖緊待測試電路板100；殼體組件500，所述的殼體組件500包含主殼體501及接插件502，所述的主殼體501用于裝設柔性探針組件200、定位柱組件300、快鎖組件400及接插件502；所述的接插件502與所述的接觸針201連接；結合圖3所示，接插件502的安裝通孔5021與主殼體501的螺紋通孔5011通過鎖緊螺柱504連接，接插件502的尾端出線5022與接觸針201連接；其中，鎖緊螺柱504由303不銹鋼材質制成；接插件502的型號為J18C-25P。

在本實施例中，如圖2所示，殼體組件500還包含底蓋503，所述的底蓋503設置在所述的主殼體501的下方，并與所述的主殼體501連接；如圖2、圖4A及圖4B所示，底蓋503上設有沉頭通孔5031，主殼體501上設有與沉頭通孔5031對應的螺紋盲孔5012，通過壓緊螺釘505將沉頭通孔5031與螺紋盲孔5012連接；優(yōu)選地，底蓋503上還設有若干個通孔5032，主殼體501上還設有若干個通孔5013，當底蓋503與主殼體501通過壓緊螺釘505連接后，底蓋503上的通孔5032與主殼體501上的通孔5013對正，作為復雜環(huán)境下電路板柔性快速測試裝置進行沖擊、振動等其他試驗時的對外轉接安裝口；所述的主殼體501及底蓋502均由2A12鋁合金材質制成，保證輕質高強；壓緊螺釘505為M2.5×8沉頭螺釘。

在本實施例中，如圖2所示，并參照圖5～圖8所示，所述的柔性探針組件200還包含接觸座202、固定蓋203、頂蓋204、壓緊蓋205及若干個接觸針彈簧206。

如圖5A及圖5B，并結合圖2所示，接觸座202呈臺階形，并且在接觸座202的頂部設有凹槽2021，凹槽2021的邊沿上設有若干個臺階通孔2022，所述的接觸座202設置在所述的主殼體501的上方，并與所述的主殼體501連接；較佳地，結合圖4A及圖5A所示，主殼體501上設有螺紋通孔5014，接觸座202上設有與螺紋通孔5014對應的沉頭通孔2023，壓緊螺釘506依次穿過沉頭通孔2023和螺紋通孔5014，將主殼體501與接觸座202連接；較佳地，接觸座202由聚四氟乙烯材料制成，起絕緣作用；壓緊螺釘506為M4×12沉頭螺釘。

如圖6，并結合圖2及圖5A所示，固定蓋203設置在所述的凹槽2021內；較佳的，接觸座202上設有通孔2024，固定蓋203上設有與通孔2024對應的螺紋通孔2031，鎖緊螺釘207依次穿過通孔2024和螺紋通孔2031，將接觸座202與固定蓋203連接；優(yōu)選地，固定蓋203由2A12鋁合金材質制成，保證輕質高強；鎖緊螺釘207為M3×12圓頭螺釘帶彈簧墊圈和平墊圈。

如圖2所示，并結合圖1及圖6所示，頂蓋204設置在所述的固定蓋203的上方，并且頂蓋204的頂部平面高于所述待測試電路板100所在的平面；較佳地，頂蓋204上設有通孔2041，固定蓋203上設有與通孔2041對應的螺紋通孔2032，鎖緊螺釘208依次穿過通孔2041和螺紋通孔2032將固定蓋203于頂蓋204連接；優(yōu)選地，頂蓋204由聚四氟乙烯材料制成，起絕緣作用；鎖緊螺釘208為M3×15圓頭螺釘帶彈簧墊圈和平墊圈。

如圖2所示，并結合圖6及圖7所示，壓緊蓋205設置在所述的固定蓋203的下方，所述的壓緊蓋205上設有與臺階通孔2022位置對應的壓緊蓋通孔2051；較佳地，所述的壓緊蓋205上設有通孔2052，接觸座202上設有與通孔2052對應的通孔2025，固定蓋203上設有與通孔2052、通孔2025對應的螺紋通孔2033，鎖緊螺釘209依次穿過通孔2052、通孔2025和螺紋通孔2033，將壓緊蓋205、接觸座202和固定蓋203連接；優(yōu)選地，壓緊蓋205由聚四氟乙烯材料制成，起絕緣作用；鎖緊螺釘209為M3×15圓頭螺釘帶彈簧墊圈和平墊圈。

如圖8所示，并結合圖2所示，接觸針201的一端為接觸端部2011，另一端為焊線尾端2012，所述的接觸端部2011穿過所述的臺階通孔2022與待測試電路板100的接線柱101連接，所述的焊線尾端2012穿過所述的壓緊蓋通孔2051與所述的接插件502的尾端出線5022焊接；較佳地，接觸針201由黃銅H62材料制成，保證良好導電性。

如圖2所示，接觸針彈簧206套接在所述的接觸針201上，并且位于所述的臺階通孔2022內；較佳地，接觸針彈簧206由304不銹鋼絲材料制成，彈力系數為0.083N/mm，總長為8.7mm，可保證在高、低溫、振動等環(huán)境條件下待測試電路板100與接觸針201可靠接觸。

如圖2所示，定位組件300包含若干個與待測試電路板100的安裝通孔102對應的定位柱301，所述的定位柱301一端與所述的主殼體501連接，另一端穿過所述的安裝通孔102；較佳地，如圖9所示，定位柱301與主殼體501連接的一端設有螺紋3011，并且主殼體501上設有與螺紋3011對應的螺紋通孔5015；定位柱301穿過安裝通孔102的一端為端部短導向柱3012，通過端部短導向柱3012對待測試電路板100進行定位；優(yōu)選地，定位柱301由303不銹鋼材質制成，以保證運動耐磨。

如圖2所示，所述的快鎖組件400包含若干個快鎖單元401，如圖10所示，每一快鎖單元包含：快鎖座401、快鎖壓頭402、快鎖桿403、快鎖彈簧404及快鎖蓋405。

如圖10，并結合圖2及圖11所示，快鎖座401呈倒T形，包含相互垂直設置的橫向座體4011與豎向座體4012，其中橫向座體4011與所述的主殼體501連接，所述的快鎖座401設有沿豎向貫穿豎向座體4012和橫向座體4011的臺階沉孔4013；較佳地，在橫向座體4011上設有通孔40111，主殼體501上設有與通孔40111對應的螺紋通孔5016，鎖緊螺釘507依次穿過通孔40111和螺紋通孔5016，將快鎖座401與主殼體501連接；優(yōu)選地，快鎖座401由303不銹鋼材質制成，以保證運動耐磨；鎖緊螺釘507為M2.5×8圓頭螺釘帶彈簧墊圈和平墊圈。

如圖10，并結合圖2所示，快鎖壓頭402設置在所述的豎向座體4012的上方，所述的快鎖壓頭402包含一壓緊端面4021，與待測試電路板100的安裝面103貼合；較佳地，快鎖壓頭402由聚四氟乙烯材料制成，起絕緣作用。

如圖10，并結合圖2所示，快鎖桿403穿過所述的臺階沉孔4013與所述的快鎖壓頭402連接；較佳地，快鎖桿403的一端設置一沉頭座，快鎖桿403上設有一通孔4031，通孔4031的軸向與快鎖桿403的軸向垂直，快鎖壓頭402上設有快鎖桿403供快鎖桿403穿過的通孔4022，快鎖壓頭402上還設有與通孔4031對應的通孔4023，彈性銷406依次穿過通孔4023和通孔4031，將快鎖桿403與快鎖壓頭402固定連接；優(yōu)選地，快鎖桿403由303不銹鋼材質制成，以保證運動耐磨；彈性銷406為Φ1.5×8的開口彈性銷。

如圖10，并結合圖2所示，快鎖彈簧404套接在所述的快鎖桿403上，所述的快鎖彈簧404設置在所述的臺階沉孔4013內；較佳地，快鎖彈簧404為304不銹鋼絲，彈力系數為0.767N/mm，總長為15.3mm，可保證在高、低溫、振動等環(huán)境條件下待測試電路板100與接觸針201可靠接觸。

如圖10，并結合圖2所示，快鎖蓋405設置在所述的快鎖桿403下方，與所述的橫向座體4011連接；較佳地，快鎖蓋405上設有螺紋4051，橫向座體4011的底部設有與螺紋4051對應的螺紋盲孔4014，以將快鎖蓋405與快鎖座401連接；較佳地，快鎖蓋405由303不銹鋼材質制成，以保證運動耐磨。

盡管本發(fā)明的內容已經通過上述優(yōu)選實施例作了詳細介紹，但應當認識到上述的描述不應被認為是對本發(fā)明的限制。在本領域技術人員閱讀了上述內容后，對于本發(fā)明的多種修改和替代都將是顯而易見的。因此，本發(fā)明的保護范圍應由所附的權利要求來限定。