本發(fā)明涉及移動(dòng)通信領(lǐng)域，尤其涉及一種微波測(cè)試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

很多手機(jī)和平板廠商在將手機(jī)或平板電腦送檢之前，需要完成性能的自檢，以保證能夠順利完成國(guó)內(nèi)CTA、CMCC等的認(rèn)證，順利獲得銷售許可。由于國(guó)內(nèi)CTA、CMCC等認(rèn)證都需要進(jìn)行EMC測(cè)試，所述EMC測(cè)試是對(duì)電磁兼容性能的測(cè)試，主要是對(duì)諧波的測(cè)試，但是國(guó)內(nèi)很多廠商用于檢測(cè)天線微波的微波暗室只具備OTA(over the air)測(cè)試能力，而所述OTA測(cè)試是對(duì)手機(jī)或平板的空中電磁特性參數(shù)的測(cè)試，很多廠商沒(méi)有進(jìn)行EMC測(cè)試的微波暗室，給自檢帶來(lái)很大的不變。

目前只能通過(guò)新建EMC測(cè)試系統(tǒng)或者提前到第三方認(rèn)證機(jī)構(gòu)測(cè)試來(lái)實(shí)現(xiàn)EMC測(cè)試，但是這兩種方案都需要花費(fèi)較多的資金，增加認(rèn)證成本。

所以需要一種低成本的微波測(cè)試系統(tǒng)，以實(shí)現(xiàn)對(duì)手機(jī)或平板等的電磁兼容性能的測(cè)試。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是，提供一種微波測(cè)試系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)電磁兼容性能的測(cè)試。

為了解決上述問(wèn)題，本發(fā)明提供了一種微波測(cè)試系統(tǒng)，包括：控制端；分別與所述控制端連接的諧波檢測(cè)裝置和轉(zhuǎn)臺(tái)；與所述諧波檢測(cè)裝置連接的第一天線；綜合測(cè)試儀；與所述綜合測(cè)試儀連接的第二天線。

可選的，還包括微波暗室，所述轉(zhuǎn)臺(tái)、第一天線和第二天線位于所述微波暗室內(nèi)。

可選的，所述諧波檢測(cè)裝置包括：極化切換開(kāi)關(guān)、與所述極化切換開(kāi)關(guān)連接的微波切換開(kāi)關(guān)、與所述微波切換開(kāi)關(guān)連接的頻譜儀。

可選的，所述控制端連接至所述頻譜儀和極化切換開(kāi)關(guān)。

可選的，所述微波切換開(kāi)關(guān)內(nèi)置陷波器。

可選的，所述陷波器包括低頻陷波器和高頻陷波器。

可選的，所述微波切換開(kāi)關(guān)通過(guò)放大器與頻譜儀連接。

可選的，所述轉(zhuǎn)臺(tái)具有360°旋轉(zhuǎn)功能。

可選的，所述第二天線的工作頻段覆蓋通信頻段。

可選的，所述控制端包括顯示設(shè)備，用于顯示頻譜儀發(fā)送的信號(hào)。

本發(fā)明的微波測(cè)試系統(tǒng)復(fù)用了現(xiàn)有的對(duì)通信終端進(jìn)行空中電磁特性參數(shù)測(cè)試(OTA測(cè)試)的微波暗室以及測(cè)試設(shè)備，在此基礎(chǔ)上增加其他用于諧波檢測(cè)的測(cè)試設(shè)備，從而能夠?qū)崿F(xiàn)微波諧波測(cè)試，無(wú)需單獨(dú)構(gòu)建新的測(cè)試系統(tǒng)，也無(wú)需通過(guò)第三方測(cè)試機(jī)構(gòu)即可完成對(duì)通信終端的諧波測(cè)試(EMC測(cè)試)，從而可以節(jié)約成本，縮短產(chǎn)品上市周期。并且，改變?cè)O(shè)備連接關(guān)系，還可以進(jìn)行OTA測(cè)試，所以所述微波測(cè)試系統(tǒng)能夠兼容OTA與EMC測(cè)試。

附圖說(shuō)明

圖1為現(xiàn)有技術(shù)一微波測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明一具體實(shí)施方式的微波測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為本發(fā)明一具體實(shí)施方式的微波測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明提供的微波測(cè)試系統(tǒng)的具體實(shí)施方式做詳細(xì)說(shuō)明。

請(qǐng)參考圖1，為現(xiàn)有技術(shù)一微波測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

所述微波測(cè)試系統(tǒng)包括：電腦103；與所述電腦103連接的綜合測(cè)試儀105和轉(zhuǎn)臺(tái)102；與所述綜合測(cè)試儀105和電腦103連接的極化切換開(kāi)關(guān)104；與所述極化切換開(kāi)關(guān)連接的天線102；微波暗室100，所述轉(zhuǎn)臺(tái)101和天線102設(shè)置于所述微波暗室100內(nèi)。

所述微波測(cè)試系統(tǒng)僅能對(duì)手機(jī)或平板等進(jìn)行空中電磁特性參數(shù)的測(cè)試(OTA測(cè)試)，無(wú)法對(duì)諧波進(jìn)行檢測(cè)。

本發(fā)明基于上述用于OTA測(cè)試的微波測(cè)試系統(tǒng)，提出一種新的微波測(cè)試系統(tǒng)，復(fù)用現(xiàn)有的微波測(cè)試系統(tǒng)中的儀器，實(shí)現(xiàn)對(duì)通信終端的通信過(guò)程中發(fā)出的電磁波的諧波進(jìn)行檢測(cè)。

請(qǐng)參考圖2，為本發(fā)明一具體實(shí)施方式的微波測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

所述微波測(cè)試系統(tǒng)包括：控制端202；分別與所述控制端202連接的諧波檢測(cè)裝置203和轉(zhuǎn)臺(tái)201；與所述諧波檢測(cè)裝置203連接的第一天線204；綜合測(cè)試儀206；與所述綜合測(cè)試儀206連接的第二天線205。

所述控制端202可以是電腦等終端控制設(shè)備，用于對(duì)轉(zhuǎn)臺(tái)201以及諧波檢測(cè)裝置203進(jìn)行控制。所述轉(zhuǎn)臺(tái)201具有360°轉(zhuǎn)動(dòng)功能，用于放置待檢測(cè)的手機(jī)或平板等通信終端。所述通信終端固定于所述轉(zhuǎn)臺(tái)201上，控制端202用于控制所述轉(zhuǎn)臺(tái)201的旋轉(zhuǎn)角度以及旋轉(zhuǎn)速率，從而改變通信終端的發(fā)射的電磁波的位置和方向。

所述第二天線205可以為通信天線，工作頻段覆蓋通信頻段，從而可以使得所述第二天線205與綜合測(cè)試儀206構(gòu)成模擬基站，通過(guò)第二天線205與置于轉(zhuǎn)臺(tái)201上的通信終端保持通信，使得通信終端的天線保持發(fā)射和接收電磁波的狀態(tài)，用于進(jìn)行微波檢測(cè)。

所述第一天線204用于接收通信終端在通信過(guò)程中發(fā)出的電磁波以及發(fā)射電磁波，所述電磁波包括基波和諧波。所述第一天線204用于將接收到的電磁波信號(hào)發(fā)送至諧波檢測(cè)裝置203，通過(guò)所述諧波檢測(cè)裝置203對(duì)所述第一天線204在通信過(guò)程中接收到的諧波進(jìn)行檢測(cè)。所述諧波檢測(cè)裝置203用于對(duì)第一天線接收的諧波進(jìn)行降噪、過(guò)濾、放大等處理，最終將檢測(cè)得到的諧波信號(hào)發(fā)送至所述控制端202。所述控制端202可以具有顯示設(shè)備，用于顯示所述諧波檢測(cè)裝置203檢測(cè)到的諧波波形。在本發(fā)明的一個(gè)具體實(shí)施方式中，所述第一天線204為喇叭天線。

所述微波測(cè)試系統(tǒng)還包括微波暗室200，所述轉(zhuǎn)臺(tái)200、第一天線204和第二天線205位于所述微波暗室200內(nèi)。所述微波暗室200的內(nèi)壁全部裝有無(wú)反射材料以及吸波材料，用于模擬自由空間，通信終端位于微波暗室200內(nèi)的轉(zhuǎn)臺(tái)200上，能夠模擬通信終端在自由空間的信號(hào)傳播。

所述微波測(cè)試系統(tǒng)，在現(xiàn)有的用于OTA測(cè)試的設(shè)備基礎(chǔ)上，增加諧波檢測(cè)裝置203以及第一天線204，能夠進(jìn)行諧波測(cè)試，不需要重新購(gòu)買昂貴的設(shè)備建立單獨(dú)的EMC測(cè)試系統(tǒng)，從而可以節(jié)約檢測(cè)成本。

請(qǐng)參考圖3，為本發(fā)明另一具體實(shí)施方式的微波檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

在上一實(shí)施方式的基礎(chǔ)上，該微波檢測(cè)系統(tǒng)的諧波檢測(cè)裝置203(請(qǐng)參考圖2)包括：極化切換開(kāi)關(guān)301、與所述極化切換開(kāi)關(guān)301連接的微波切換開(kāi)關(guān)302、與所述微波切換開(kāi)關(guān)302連接的頻譜儀304。

所述極化切換開(kāi)關(guān)301用于對(duì)所述第一天線203的極化方向進(jìn)行選擇，可以選擇垂直極化、水平極化或±45°傾斜極化等極化方向，分別用于接收通信終端發(fā)射的對(duì)應(yīng)極化方向的電磁波。所述極化切換開(kāi)關(guān)301連接至控制端202，由所述控制端202對(duì)所述極化切換開(kāi)關(guān)301進(jìn)行控制，以切換所述第一天線203的極化方向。

所述微波切換開(kāi)關(guān)302用于微波頻段的切換，用于選擇接收微波的頻段范圍。根據(jù)測(cè)試需求，所述微波切換開(kāi)關(guān)302將接收頻段范圍切換至待測(cè)試的電磁波的頻段。在測(cè)試過(guò)程中，所述微波切換開(kāi)關(guān)302可用于切換不同頻段，從而對(duì)各個(gè)頻段的微波進(jìn)行測(cè)試。

作為本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方式，所述微波切換開(kāi)關(guān)302內(nèi)還內(nèi)置陷波器，用于對(duì)接收到的微波的載波進(jìn)行過(guò)濾，使得所述頻譜儀304僅接收到諧波信號(hào)，不受載波信號(hào)的干擾。

所述內(nèi)置的陷波器包括低頻陷波器和高頻陷波器，分別用于過(guò)濾低頻(30KHz～300KHz)和高頻(3MHz～30MHz)的載波。

在該具體實(shí)施方式中，所述微波切換開(kāi)關(guān)302通過(guò)放大器303與頻譜儀304連接，所述放大器303用于放大由微波切換開(kāi)關(guān)302接收到的諧波信號(hào)，便于被頻譜儀204檢測(cè)。在所述微波切換開(kāi)關(guān)302內(nèi)置陷波器進(jìn)行濾波的情況下，所述放大器303用于放大經(jīng)過(guò)濾波之后的諧波信號(hào)。由于諧波信號(hào)較為微弱，在對(duì)其進(jìn)行放大的過(guò)程中，噪聲對(duì)信號(hào)會(huì)造成嚴(yán)重的干擾，在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施方式中，所述放大器303為低噪聲放大器(LAN)，所述低噪聲放大器的噪聲系數(shù)很低，從而可以減小放大過(guò)程中的噪聲，提高放大后的諧波信號(hào)的信噪比，有利于提高測(cè)試的準(zhǔn)確性。

所述頻譜儀204連接至所述控制端202，所述控制端202可以用于配置所述頻譜儀204的測(cè)試參數(shù)以及控制所述頻譜儀204對(duì)諧波信號(hào)的檢測(cè)過(guò)程，并且，所述控制端202還可以具有顯示設(shè)備，用于顯示所述頻譜儀304檢測(cè)到的諧波的波形、頻率等信息。

本發(fā)明的上述具體實(shí)施方式所提供的微波測(cè)試系統(tǒng)，復(fù)用了現(xiàn)有進(jìn)行OTA測(cè)試的測(cè)試系統(tǒng)中的微波暗室以及測(cè)試設(shè)備，在此基礎(chǔ)上增加新的測(cè)試設(shè)備，例如頻譜儀等，無(wú)需單獨(dú)構(gòu)建新的EMC測(cè)試系統(tǒng)，也無(wú)需通過(guò)第三方測(cè)試機(jī)構(gòu)進(jìn)行測(cè)試，即可實(shí)現(xiàn)微波的諧波測(cè)試，從而可以節(jié)約成本、縮短產(chǎn)品上市周期。

進(jìn)一步的，在本發(fā)明的微波測(cè)試系統(tǒng)的基礎(chǔ)上，通過(guò)改變?cè)O(shè)備之間的連接關(guān)系，還可以形成用于OTA測(cè)試的微波測(cè)試系統(tǒng)，從而本發(fā)明的微波測(cè)試系統(tǒng)可以兼容OTA以及EMC測(cè)試。

以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾，這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。