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一種卡托檢測(cè)方法及裝置與流程

文檔序號(hào):11111294閱讀:738來(lái)源:國(guó)知局
一種卡托檢測(cè)方法及裝置與制造工藝

本發(fā)明涉及移動(dòng)終端檢測(cè)領(lǐng)域,特別涉及一種卡托檢測(cè)方法及裝置。



背景技術(shù):

隨著移動(dòng)通信技術(shù)與設(shè)備的發(fā)展,為了適應(yīng)人們對(duì)移動(dòng)終端輕薄化和操作簡(jiǎn)便化的需求,越來(lái)越多的移動(dòng)終端采用獨(dú)立的卡托安裝SIM(Subscriber Identification Module,客戶識(shí)別模塊)卡、SD(Secure Digital Memory,安全數(shù)字存儲(chǔ))卡等。在生產(chǎn)移動(dòng)終端時(shí)為避免將故障卡托安裝在移動(dòng)終端中,所以需要對(duì)將要安裝在移動(dòng)終端的卡托進(jìn)行檢測(cè),以檢測(cè)并排除故障卡托。

相關(guān)技術(shù)中,卡托的檢測(cè)方法主要是:技術(shù)人員先將卡裝入卡托并插入移動(dòng)終端,該卡可以為SIM卡或者是SD卡,然后使用移動(dòng)終端檢測(cè)該卡;當(dāng)檢測(cè)到該卡時(shí),技術(shù)人員再拔出裝有該卡的卡托,在撥出卡托后,如果移動(dòng)終端檢測(cè)到卡拔出事件,則確定卡托正常。

在實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的過(guò)程中,發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)至少存在以下問(wèn)題:

在生產(chǎn)過(guò)程中使用該方法對(duì)卡托進(jìn)行檢測(cè),由于移動(dòng)終端檢測(cè)到卡拔出事件需要耗費(fèi)較長(zhǎng)時(shí)間,因此造成測(cè)試過(guò)程耗費(fèi)工時(shí)較長(zhǎng),不利于生產(chǎn)效率的提高。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

為了解決現(xiàn)有技術(shù)的問(wèn)題,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種卡托檢測(cè)方法及裝置。所述技術(shù)方案如下:

一方面,提供了一種卡托檢測(cè)方法,所述方法包括:

獲取卡托插入移動(dòng)終端時(shí)GPIO(General Purpose Input Output,通用輸入輸出)的第一電平信息和所述卡托拔出所述移動(dòng)終端時(shí)所述GPIO的第二電平信息,所述GPIO為所述移動(dòng)終端的處理器用于連接卡托的引腳;

根據(jù)所述第一電平信息和所述第二電平信息確定所述卡托是否正常。

可選地,所述根據(jù)所述第一電平信息和所述第二電平信息確定所述卡托是否正常,包括:

判斷所述第一電平信息和第三電平信息是否相同,所述第三電平信息是正??ㄍ胁迦胨鲆苿?dòng)終端時(shí)GPIO的預(yù)設(shè)電平信息;當(dāng)所述第一電平信息和所述第三電平信息相同時(shí),判斷所述第二電平信息和第四電平信息是否相同,所述第四電平信息是正??ㄍ邪纬鏊鲆苿?dòng)終端時(shí)所述GPIO的預(yù)設(shè)電平信息;當(dāng)所述第二電平信息和所述第四電平信息相同時(shí),確定所述卡托正常;或者,

判斷所述第二電平信息和第四電平信息是否相同;當(dāng)所述第二電平信息和所述第四電平信息相同時(shí),判斷所述第一電平信息和第三電平信息是否相同;當(dāng)所述第一電平信息和所述第三電平信息相同時(shí),確定所述卡托正常。

可選地,所述方法,還包括:

通過(guò)第一接口從所述移動(dòng)終端的MP(Modem processor,調(diào)制解調(diào)處理器)中獲取所述GPIO的第三電平信息和第四電平信息。

可選地,所述方法還包括:

獲取所述GPIO的標(biāo)識(shí)信息;

所述通過(guò)第一接口從所述移動(dòng)終端的調(diào)制解調(diào)處理器MP中獲取所述GPIO的第三電平信息和第四電平信息,包括:

根據(jù)所述GPIO的標(biāo)識(shí)信息,通過(guò)第一接口從所述移動(dòng)終端的MP中獲取所述GPIO的第三電平信息和第四電平信息。

另一方面,提供了一種卡托檢測(cè)裝置,所述裝置包括:

第一獲取模塊,用于獲取卡托插入移動(dòng)終端時(shí)通用輸入輸出GPIO的第一電平信息和所述卡托拔出所述移動(dòng)終端時(shí)所述GPIO的第二電平信息,所述GPIO為所述移動(dòng)終端的處理器用于連接卡托的引腳,且所述第一電平信息與所述第二電平信息不同;

判斷模塊,用于根據(jù)所述第一電平信息和所述第二電平信息確定所述卡托是否正常。

可選地,所述判斷模塊根據(jù)所述第一電平信息和所述第二電平信息確定所述卡托是否正常,包括:

判斷所述第一獲取模塊獲取的第一電平信息和第三電平信息是否相同,所述第三電平信息是正??ㄍ胁迦胨鲆苿?dòng)終端時(shí)GPIO的預(yù)設(shè)電平信息;當(dāng)所述第一獲取模塊獲取的第一電平信息和所述第三電平信息相同時(shí),判斷所述第二電平信息和第四電平信息是否相同,所述第四電平信息是正??ㄍ邪纬鏊鲆苿?dòng)終端時(shí)所述GPIO的預(yù)設(shè)電平信息;當(dāng)所述第一獲取模塊獲取的第二電平信息和所述第四電平信息相同時(shí),確定所述卡托正常;或者,

判斷所述第一獲取模塊獲取的第二電平信息和第四電平信息是否相同;當(dāng)所述第一獲取模塊獲取的第二電平信息和所述第四電平信息相同時(shí),判斷所述第一電平信息和第三電平信息是否相同;當(dāng)所述第一獲取模塊獲取的第一電平信息和所述第三電平信息相同時(shí),確定所述卡托正常。

可選地,所述裝置,還包括:

第二獲取模塊,用于通過(guò)第一接口從所述移動(dòng)終端的調(diào)制解調(diào)處理器MP中獲取所述GPIO的第三電平信息和第四電平信息。

可選地,所述裝置還包括:

第三獲取模塊,用于獲取所述GPIO的標(biāo)識(shí)信息;

所述第二獲取模塊通過(guò)第一接口從所述移動(dòng)終端的調(diào)制解調(diào)處理器MP中獲取所述GPIO的第三電平信息和第四電平信息,包括:

根據(jù)所述第三獲取模塊獲取的GPIO的標(biāo)識(shí)信息,通過(guò)第一接口從所述移動(dòng)終端的MP中獲取所述GPIO的第三電平信息和第四電平信息。

本發(fā)明實(shí)施例具有下述有益技術(shù)效果:在進(jìn)行卡托檢測(cè)時(shí),移動(dòng)終端獲取卡托插入移動(dòng)終端時(shí)通用輸入輸出GPIO的第一電平信息和所述卡托拔出所述移動(dòng)終端時(shí)所述GPIO的第二電平信息,并將所述第一電平信息和所述第二電平信息分別與正常卡托插入所述移動(dòng)終端時(shí)的第三電平信息和正??ㄍ邪纬鏊鲆苿?dòng)終端時(shí)的第四電平信息進(jìn)行比較,如果所述第一電平信息與第三電平信息相同且所述第二電平信息與第四電平信息相同,則確定所述卡托正常。采用本發(fā)明的方法,相較于相關(guān)技術(shù)中通過(guò)監(jiān)聽卡拔出事件來(lái)檢測(cè)卡托的方法,縮短了檢測(cè)時(shí)長(zhǎng),提高了生產(chǎn)效率。

附圖說(shuō)明

為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種卡托檢測(cè)方法流程圖;

圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種卡托檢測(cè)方法流程圖;

圖3A是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種卡托檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)示意圖;

圖3B是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種卡托檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)示意圖;

圖3C是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種卡托檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明實(shí)施方式作進(jìn)一步地詳細(xì)描述。

在對(duì)本發(fā)明實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)的解釋說(shuō)明之前,先對(duì)本發(fā)明實(shí)施例的應(yīng)用場(chǎng)景予以介紹。對(duì)于采用獨(dú)立卡托的移動(dòng)終端,為了避免在生產(chǎn)過(guò)程中將故障卡托安裝在移動(dòng)終端中,需要對(duì)將要安裝在移動(dòng)終端的卡托進(jìn)行檢測(cè),以檢測(cè)并排除故障卡托。為此,本發(fā)明通過(guò)如下任一實(shí)施例來(lái)檢測(cè)卡托是否正常。

本發(fā)明實(shí)施例提供了一種卡托檢測(cè)方法,參見圖1,該方法包括:

在步驟101中,獲取卡托插入移動(dòng)終端時(shí)GPIO的第一電平信息和該卡托拔出移動(dòng)終端時(shí)該GPIO的第二電平信息,該GPIO為該移動(dòng)終端的處理器用于連接卡托的引腳,且該第一電平信息與該第二電平信息不同;

在步驟102中,根據(jù)該第一電平信息和該第二電平信息確定該卡托是否正常。

在本發(fā)明實(shí)施例中,在進(jìn)行卡托檢測(cè)時(shí),移動(dòng)終端獲取卡托插入移動(dòng)終端時(shí)通用輸入輸出GPIO的第一電平信息和該卡托拔出該移動(dòng)終端時(shí)該GPIO的第二電平信息,并將該第一電平信息和該第二電平信息分別與正??ㄍ胁迦朐撘苿?dòng)終端時(shí)的第三電平信息和正??ㄍ邪纬鲈撘苿?dòng)終端時(shí)的第四電平信息進(jìn)行比較,如果該第一電平信息與第三電平信息相同且該第二電平信息與第四電平信息相同,則確定該卡托正常。在相關(guān)技術(shù)中,技術(shù)人員拔出卡托之后,移動(dòng)終端通過(guò)檢測(cè)卡拔出事件來(lái)判斷卡托是否拔出。在檢測(cè)卡拔出事件的過(guò)程中,移動(dòng)終端在監(jiān)聽到卡拔出事件后,要將該事件上報(bào)MP進(jìn)行處理,之后將MP處理得到的卡已拔出的信息上傳至AP(Application processor,應(yīng)用處理器),其中,MP處理卡拔出事件耗時(shí)過(guò)長(zhǎng),大約在5秒以上。而采用本發(fā)明的方法,移動(dòng)終端可以直接通過(guò)檢測(cè)GPIO的電平信息來(lái)確定卡托的狀態(tài),而不需要進(jìn)行上述卡拔出事件的處理過(guò)程,因此,相較于相關(guān)技術(shù)中檢測(cè)卡托的方法,縮短了檢測(cè)時(shí)長(zhǎng),提高了生產(chǎn)效率。

上述所有可選技術(shù)方案,均可按照任意結(jié)合形成本公開的可選實(shí)施例,本發(fā)明實(shí)施例對(duì)此不再一一贅述。

本發(fā)明實(shí)施例提供了一種卡托檢測(cè)方法,參見圖2,該方法包括:

在步驟201中,獲取卡托插入移動(dòng)終端時(shí)與該卡托所在卡托槽連接GPIO的第一電平信息。

可選地,在檢測(cè)卡托時(shí)技術(shù)人員首先將卡托插入移動(dòng)終端的卡托槽,移動(dòng)終端的卡托槽與移動(dòng)終端的處理器上的GPIO相連,且在卡托插入移動(dòng)終端上的卡托槽時(shí)移動(dòng)終端可以檢測(cè)出該卡托槽。之后技術(shù)人員輸入卡托插入檢測(cè)指令,該卡托插入檢測(cè)指令用于指示移動(dòng)終端檢測(cè)卡托插入移動(dòng)終端時(shí)卡托是否正常。移動(dòng)終端接收該卡托插入檢測(cè)指令,根據(jù)該卡托插入檢測(cè)指令的指示,獲取與該卡托槽連接的GPIO的第一電平信息。

其中,移動(dòng)終端上可以插入多個(gè)卡托,移動(dòng)終端上可以有多個(gè)卡托槽,且每個(gè)卡托槽與移動(dòng)終端的處理器上的GPIO相連。或者,移動(dòng)終端上可以插入一個(gè)卡托,移動(dòng)終端上有一個(gè)卡托槽。因此,該GPIO的第一電平信息可以為一個(gè),也可以為多個(gè),且該第一電平信息可以為高電平信息,也可以為低電平信息。

可選地,當(dāng)該移動(dòng)終端包括多個(gè)GPIO時(shí),在該移動(dòng)終端獲取第一電平信息的同時(shí),還可以獲取GPIO的標(biāo)識(shí)信息。其中,GPIO的標(biāo)識(shí)信息用于唯一標(biāo)識(shí)該GPIO。

其中,當(dāng)移動(dòng)終端上只有一個(gè)卡托槽時(shí),可以只有一個(gè)GPIO與該卡托槽相連,因此在這種場(chǎng)景下可以不用根據(jù)GPIO標(biāo)識(shí)信息獲取第一電平信息,而是直接從該GPIO中讀取第一電平信息。

在步驟202中,通過(guò)第一接口從該移動(dòng)終端的MP中獲取該GPIO的第三電平信息和第四電平信息。

由于該GPIO的第三電平信息和第四電平信息預(yù)先存儲(chǔ)在該移動(dòng)終端的MP中,而卡托的檢測(cè)是在該移動(dòng)終端的AP中進(jìn)行的,因此,該移動(dòng)終端的AP要從MP中獲取該第三電平信息和第四電平信息。相關(guān)技術(shù)中,AP從MP中獲取該第三電平信息和第四電平信息時(shí),是沒有現(xiàn)成的接口可以調(diào)用的,需要通過(guò)人為的參與和確認(rèn)。為了解決該問(wèn)題,本發(fā)明實(shí)施例自行擴(kuò)展了第一接口,通過(guò)第一接口來(lái)實(shí)現(xiàn)該第三電平信息和第四電平信息的獲取,減少了人為參與,提高了獲取速度,降低了錯(cuò)誤率。

其中,該第一接口可以包括qcrilhook對(duì)象,該qcrilhook對(duì)象中包括信息發(fā)送接口和用戶識(shí)別模塊任務(wù)接口。

第三電平信息是正??ㄍ胁迦朐撘苿?dòng)終端時(shí)GPIO的預(yù)設(shè)電平信息,第四電平信息是正??ㄍ邪纬鲈撘苿?dòng)終端時(shí)該GPIO的預(yù)設(shè)電平信息,即該第三電平信息和第四電平信息是預(yù)先存儲(chǔ)在該移動(dòng)終端MP中的電平信息。

當(dāng)移動(dòng)終端只有一個(gè)卡托槽時(shí),移動(dòng)終端可以只有與該卡托槽相連的一個(gè)GPIO的第三電平信息和第四電平信息;當(dāng)移動(dòng)終端有多個(gè)卡托槽時(shí),移動(dòng)終端中存儲(chǔ)GPIO的標(biāo)識(shí)信息、第三電平信息與第四電平信息的對(duì)應(yīng)關(guān)系,該對(duì)應(yīng)信息存儲(chǔ)有每個(gè)卡托槽相連的GPIO對(duì)應(yīng)的GPIO標(biāo)識(shí)信息、第三電平信息和第四電平信息。

可選地,本步驟可以為:當(dāng)移動(dòng)終端只有一個(gè)卡托槽時(shí),移動(dòng)終端的AP調(diào)用第一接口包括的信息發(fā)送接口,通過(guò)該信息發(fā)送接口向該移動(dòng)終端的MP發(fā)送信息獲取請(qǐng)求;該移動(dòng)終端的MP接收該信息獲取請(qǐng)求,調(diào)用第一接口包括的用戶識(shí)別模塊任務(wù)接口獲取該GPIO的第三電平信息和第四電平信息,并向移動(dòng)終端的AP發(fā)送獲取的第三電平信息和第四電平信息。當(dāng)移動(dòng)終端有多個(gè)卡托槽時(shí),該移動(dòng)終端的AP可以調(diào)用第一接口包括的信息發(fā)送接口向該移動(dòng)終端的MP發(fā)送信息獲取請(qǐng)求,該信息獲取請(qǐng)求中攜帶該GPIO標(biāo)識(shí)信息;該移動(dòng)終端的MP接收該信息獲取請(qǐng)求,調(diào)用第一接口包括的用戶識(shí)別模塊任務(wù)接口,根據(jù)該GPIO標(biāo)識(shí)信息,通過(guò)該用戶識(shí)別模塊任務(wù)接口獲取該GPIO的第三電平信息和第四電平信息,并將該獲取到的第三電平信息和第四電平信息通過(guò)第一接口返回至該移動(dòng)終端的AP。

其中需要說(shuō)明的是:該移動(dòng)終端的MP可以根據(jù)該獲取請(qǐng)求獲取整個(gè)GPIO標(biāo)識(shí)信息、第三電平信息與第四電平信息的對(duì)應(yīng)關(guān)系,并將獲取到的對(duì)應(yīng)關(guān)系發(fā)送至AP;該移動(dòng)終端根據(jù)步驟201中獲取到的該GPIO的標(biāo)識(shí)信息,在AP接收到的對(duì)應(yīng)關(guān)系中查找與該GPIO標(biāo)識(shí)信息相同的標(biāo)識(shí)信息,并獲取與該標(biāo)識(shí)信息對(duì)應(yīng)的該GPIO的第三電平信息和第四電平信息。

其中,該第三電平信息和該第四電平信息可以為高電平信息,也可以為低電平信息;當(dāng)?shù)谌娖叫畔榈碗娖叫畔r(shí),則第四電平信息為低電平信息;當(dāng)?shù)谌娖叫畔楦唠娖叫畔r(shí),則第四電平信息為低電平信息。

在步驟203中,判斷該第一電平信息與該第三電平信息是否相同。

其中第三電平信息是預(yù)先設(shè)置的正??ㄍ胁迦胍苿?dòng)終端時(shí)的電平信息,也即是該GPIO被配置為在正??ㄍ胁迦朐撘苿?dòng)終端時(shí)的電平信息和第三電平信息是相同的。因此,當(dāng)獲取到的該卡托插入移動(dòng)終端時(shí)的第一電平信息和該第三電平信息不相同時(shí),則說(shuō)明該卡托是故障卡托,移動(dòng)終端停止測(cè)試;當(dāng)該第一電平信息和第三電平信息相同時(shí),則可以確定該卡托在插入移動(dòng)終端的狀態(tài)下是正常的,之后,移動(dòng)終端可以通過(guò)步驟204和步驟205對(duì)卡托進(jìn)行拔出移動(dòng)終端狀態(tài)下的測(cè)試。

在步驟204中,獲取該卡托拔出移動(dòng)終端時(shí)該GPIO的第二電平信息。

可選地,技術(shù)人員將卡托拔出移動(dòng)終端,并輸入卡托拔出檢測(cè)指令,該卡托拔出檢測(cè)指令用于指示移動(dòng)終端檢測(cè)卡托拔出移動(dòng)終端時(shí)卡托是否正常。移動(dòng)終端根據(jù)該卡托拔出檢測(cè)指令,通過(guò)該移動(dòng)終端的處理器獲取該GPIO的第二電平信息。該第二電平信息可以為高電平信息,也可以為低電平信息。

在步驟205中,判斷該第二電平信息與該第四電平信息是否相同。

其中,第四電平信息是預(yù)先設(shè)置的正??ㄍ邪纬鲆苿?dòng)終端時(shí)的電平信息,也即是該GPIO被配置為在正??ㄍ邪纬鲈撘苿?dòng)終端時(shí)的電平信息和第四電平信息是相同的。如果獲取到的卡托拔出該移動(dòng)終端時(shí)的第二電平信息與第四電平信息相同,且第一電平信息與第三電平信息也相同時(shí),則可以確定該在卡托插入該移動(dòng)終端和拔出該移動(dòng)終端時(shí)都是正常的,從而可以確定該卡托正常。

在本發(fā)明實(shí)施例中,對(duì)卡托進(jìn)行檢測(cè)時(shí),既可以先進(jìn)行卡托插入移動(dòng)終端時(shí)的檢測(cè),也可以先進(jìn)行卡托拔出移動(dòng)終端時(shí)的檢測(cè),即以上步驟的執(zhí)行順序也可以依次為步驟204,步驟202,步驟205,步驟201,步驟203。

在本發(fā)明實(shí)施例中,移動(dòng)終端通過(guò)獲取卡托插入移動(dòng)終端時(shí)通用輸入輸出GPIO的第一電平信息和該卡托拔出該移動(dòng)終端時(shí)該GPIO的第二電平信息,并將該第一電平信息和該第二電平信息分別與正??ㄍ胁迦朐撘苿?dòng)終端時(shí)的第三電平信息和正??ㄍ邪纬鲈撘苿?dòng)終端時(shí)的第四電平信息進(jìn)行比較,從而確定卡托是否正常。這樣,相較于相關(guān)技術(shù)中采用檢測(cè)卡是否存在和監(jiān)聽拔出事件來(lái)檢測(cè)卡托的方法,縮短了檢測(cè)時(shí)長(zhǎng),提高了生產(chǎn)效率。同時(shí),由于不同項(xiàng)目中GPIO的預(yù)設(shè)信息不一致,且移動(dòng)終端的MP與AP之間沒有接口可以調(diào)用,因此相關(guān)技術(shù)中在使用GPIO的預(yù)設(shè)信息時(shí)需要人為參與確認(rèn);為了解決該問(wèn)題,本技術(shù)方案通過(guò)在移動(dòng)終端中自行擴(kuò)展第一接口,并通過(guò)該第一接口獲取第三電平信息和第四電平信息,減少了人為參與,降低了檢測(cè)時(shí)的錯(cuò)誤率。

參見圖3A,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種卡托檢測(cè)裝置,該裝置包括:

第一獲取模塊301,用于獲取卡托插入移動(dòng)終端時(shí)通用輸入輸出GPIO的第一電平信息和該卡托拔出該移動(dòng)終端時(shí)該GPIO的第二電平信息,該GPIO為該移動(dòng)終端的處理器用于連接卡托的引腳,且第一電平信息與第二電平信息不同;

判斷模塊302,用于根據(jù)該第一電平信息和該第二電平信息確定該卡托是否正常。

可選地,判斷模塊302根據(jù)該第一電平信息和該第二電平信息確定該卡托是否正常,包括:

判斷所述第一獲取模塊獲取的第一電平信息和第三電平信息是否相同,所述第三電平信息是正常卡托插入所述移動(dòng)終端時(shí)GPIO的預(yù)設(shè)電平信息;當(dāng)所述第一獲取模塊獲取的第一電平信息和所述第三電平信息相同時(shí),判斷所述第二電平信息和第四電平信息是否相同,所述第四電平信息是正??ㄍ邪纬鏊鲆苿?dòng)終端時(shí)所述GPIO的預(yù)設(shè)電平信息;當(dāng)所述第一獲取模塊獲取的第二電平信息和所述第四電平信息相同時(shí),確定所述卡托正常;或者,

判斷所述第一獲取模塊獲取的第二電平信息和第四電平信息是否相同;當(dāng)所述第一獲取模塊獲取的第二電平信息和所述第四電平信息相同時(shí),判斷所述第一電平信息和第三電平信息是否相同;當(dāng)所述第一獲取模塊獲取的第一電平信息和所述第三電平信息相同時(shí),確定所述卡托正常。

可選地,參見圖3B,該裝置還包括:

第二獲取模塊303,用于通過(guò)第一接口從該移動(dòng)終端的調(diào)制解調(diào)處理器MP中獲取該GPIO的第三電平信息和第四電平信息。

可選地,參見圖3C,該裝置還包括:

第三獲取模塊304,用于獲取該GPIO的標(biāo)識(shí)信息;

所述第二獲取模塊303通過(guò)第一接口從該移動(dòng)終端的調(diào)制解調(diào)處理器MP中獲取該GPIO的第三電平信息和第四電平信息,包括:

根據(jù)該第三獲取模塊獲取的GPIO的標(biāo)識(shí)信息,通過(guò)第一接口從該移動(dòng)終端的MP中獲取該GPIO的第三電平信息和第四電平信息。

綜上所述,在本發(fā)明實(shí)施例中,移動(dòng)終端通過(guò)獲取卡托插入移動(dòng)終端時(shí)通用輸入輸出GPIO的第一電平信息和該卡托拔出該移動(dòng)終端時(shí)該GPIO的第二電平信息,并將該第一電平信息和該第二電平信息分別與正??ㄍ胁迦朐撘苿?dòng)終端時(shí)的第三電平信息和正??ㄍ邪纬鲈撘苿?dòng)終端時(shí)的第四電平信息進(jìn)行比較,從而確定卡托是否正常。這樣,相較于相關(guān)技術(shù)中采用檢測(cè)卡是否存在和監(jiān)聽拔出事件來(lái)檢測(cè)卡托的方法,縮短了檢測(cè)時(shí)長(zhǎng),提高了生產(chǎn)效率。同時(shí),由于不同項(xiàng)目中GPIO的預(yù)設(shè)信息不一致,且移動(dòng)終端的MP與AP之間沒有接口可以調(diào)用,因此相關(guān)技術(shù)中在使用GPIO的預(yù)設(shè)信息時(shí)需要人為參與確認(rèn);為了解決該問(wèn)題,本技術(shù)方案通過(guò)在移動(dòng)終端中自行擴(kuò)展第一接口,并通過(guò)該第一接口獲取第三電平信息和第四電平信息,減少了人為參與,降低了檢測(cè)時(shí)的錯(cuò)誤率。

需要說(shuō)明的是:上述實(shí)施例提供的卡托檢測(cè)裝置在進(jìn)行卡托檢測(cè)時(shí),僅以上述各功能模塊的劃分進(jìn)行舉例說(shuō)明,實(shí)際應(yīng)用中,可以根據(jù)需要而將上述功能分配由不同的功能模塊完成,即將設(shè)備的內(nèi)部結(jié)構(gòu)劃分成不同的功能模塊,以完成以上描述的全部或者部分功能。另外,上述實(shí)施例提供的卡托檢測(cè)裝置卡托檢測(cè)方法實(shí)施例屬于同一構(gòu)思,其具體實(shí)現(xiàn)過(guò)程詳見方法實(shí)施例,這里不再贅述。

本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例的全部或部分步驟可以通過(guò)硬件來(lái)完成,也可以通過(guò)程序來(lái)指令相關(guān)的硬件完成,所述的程序可以存儲(chǔ)于一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中,上述提到的存儲(chǔ)介質(zhì)可以是只讀存儲(chǔ)器,磁盤或光盤等。

以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例,并不用以限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。

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