一種ict測(cè)試針床的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種ICT測(cè)試針床，包括天板（1）、壓棒固定板（3）、支撐板（7）以及工作臺(tái)（4），所述支撐板（7）為多個(gè)間隔分布于工作臺(tái)（4）上，其中所述壓棒固定板（3）還分別設(shè)有多個(gè)用于分隔壓緊所述多個(gè)支撐板（7）的壓桿（5），該壓棒固定板（3）上分別設(shè)有與所述多個(gè)支撐板（7）配合用于壓緊定位待檢測(cè)PCB板（6）的壓棒（8），本實(shí)用新型在采用了上述方案后，其最大優(yōu)點(diǎn)在于通過(guò)工作臺(tái)上設(shè)有的多個(gè)用于安裝放置待檢測(cè)PCB板的支撐板，同時(shí)與壓棒固定板底面上設(shè)有的多個(gè)壓棒分別對(duì)所述多個(gè)支撐板上的待檢測(cè)PCB板進(jìn)行壓緊定位檢測(cè)，可以提高針床的PCB檢測(cè)效率。
【專利說(shuō)明】一種ICT測(cè)試針床
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及PCB板測(cè)試【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及到一種用于測(cè)試PCB板的ICT測(cè)試針床。
【背景技術(shù)】
[0002]目前的ICT(為測(cè)試治具的英文縮寫)測(cè)試針床主要應(yīng)用于在線對(duì)電子元器件的檢測(cè)，具體而言是用來(lái)測(cè)試檢查電子元器件的生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種測(cè)試設(shè)備，可以在線檢查單個(gè)電子元器件以及各點(diǎn)路網(wǎng)的開/短路情況。但是目前的ICT測(cè)試針床多數(shù)只是針對(duì)單個(gè)的PCB板進(jìn)行檢測(cè)，測(cè)試效率低，無(wú)法滿足使用測(cè)試的要求，不利于生產(chǎn)效率的提聞。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實(shí)用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種設(shè)計(jì)合理、穩(wěn)定可靠、可同時(shí)檢測(cè)多個(gè)的PCB板的ICT測(cè)試針床。
[0004]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型所提供的技術(shù)方案為:一種ICT測(cè)試針床，包括天板、壓棒固定板、支撐板以及工作臺(tái)，所述支撐板為多個(gè)間隔分布于工作臺(tái)上，其中所述壓棒固定板還分別設(shè)有多個(gè)用于分隔壓緊所述多個(gè)支撐板的壓桿，該壓棒固定板上分別設(shè)有與所述多個(gè)支撐板配合用于壓緊定位待檢測(cè)PCB板的的壓棒。
[0005]進(jìn)一步的，所述天板與壓棒固定板之間通過(guò)多個(gè)間隔分布的連接棒固定相連，其中所述連接棒直徑為10mm-15mm之間。
[0006]進(jìn)一步的，所述支撐板與待檢測(cè)PCB板貼合時(shí)，該待檢測(cè)PCB板其四側(cè)可以切除的PCB板廢邊分別延伸至該支撐板四周外側(cè)向外伸出。
[0007]本實(shí)用新型在采用了上述方案后，其最大優(yōu)點(diǎn)在于通過(guò)工作臺(tái)上設(shè)有的多個(gè)用于安裝放置待檢測(cè)PCB板的支撐板，同時(shí)與壓棒固定板底面上設(shè)有的多個(gè)壓棒分別對(duì)所述多個(gè)支撐板上的待檢測(cè)PCB板進(jìn)行壓緊定位檢測(cè)，可以提高針床的PCB檢測(cè)效率；同時(shí)本實(shí)用新型還通過(guò)各支撐板側(cè)邊上設(shè)有的壓桿與待檢測(cè)的PCB板可切除的廢邊相貼合實(shí)現(xiàn)對(duì)PCB板的壓緊，可以有效保護(hù)PCB檢測(cè)過(guò)程中其上的電子元器件，以防檢測(cè)過(guò)程中被損壞。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0008]圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0009]下面結(jié)合具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說(shuō)明:
[0010]參見附圖1所示，本實(shí)施例所述的一種用于測(cè)試PCB板上電子元器件性能的ICT針床，該針床包括天板1，四周通過(guò)四個(gè)連接棒2與所述天板I固定相連的壓棒固定板3，其中所述連接棒2直徑為10mm-15mm。該ICT針床的工作臺(tái)4上還設(shè)有多個(gè)間隔均勻分布的支撐板7 (本實(shí)施例中為兩個(gè))，每一支撐板7分別通過(guò)各自的檢測(cè)探針套筒9與工作臺(tái)4相連，工作臺(tái)4通過(guò)檢測(cè)探針套筒9內(nèi)的檢測(cè)探針與支撐板7上放置的PCB板6電性測(cè)試點(diǎn)相接觸，實(shí)現(xiàn)對(duì)PCB板6上的電子元器件進(jìn)行性能檢測(cè)。相應(yīng)的，壓棒固定板3底端面上還設(shè)有用于壓緊置于支撐板7上的待檢測(cè)PCB板6的壓桿5，其中所述壓桿5與待檢測(cè)的PCB板6的四側(cè)可以切除的PCB板廢邊10相接觸，實(shí)現(xiàn)對(duì)PCB板6的壓緊固定。該中壓緊方式可以有效保證待檢測(cè)PCB板6上的電子元器件在檢測(cè)使用過(guò)程中不止被損壞，提高檢測(cè)設(shè)備的合理性。同時(shí)，為了進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)對(duì)待檢測(cè)PCB板6的壓緊定位，壓棒固定板3底端面上還設(shè)有多個(gè)用于對(duì)待檢測(cè)PCB板6壓緊定位的壓棒8，防止待檢測(cè)PCB板6晃動(dòng)。
[0011]為了方便PCB板的下壓，支撐板7與待檢測(cè)PCB板6貼合時(shí)，該待檢測(cè)PCB板6其四側(cè)可以切除的PCB板廢邊10分別延伸至該支撐板7四周外側(cè)向外伸出。
[0012]以上所述之實(shí)施例子只為本實(shí)用新型之較佳實(shí)施例，并非以此限制本實(shí)用新型的實(shí)施范圍，故凡依本實(shí)用新型之形狀、原理所作的變化，均應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種ICT測(cè)試針床，包括天板(I)、壓棒固定板(3)、支撐板(7)以及工作臺(tái)(4)，其特征在于:所述支撐板(7)為多個(gè)間隔分布于工作臺(tái)(4)上，其中所述壓棒固定板(3)還分別設(shè)有多個(gè)用于分隔壓緊所述多個(gè)支撐板(7)的壓桿(5)，該壓棒固定板(3)上分別設(shè)有與所述多個(gè)支撐板(7 )配合用于壓緊定位待檢測(cè)PCB板(6 )的的壓棒(8 )。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種ICT測(cè)試針床，其特征在于:所述天板(I)與壓棒固定板(3)之間通過(guò)多個(gè)間隔分布的連接棒(2)固定相連,其中所述連接棒(2)直徑為10mm-15mm之間。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種ICT測(cè)試針床，其特征在于:所述支撐板(7)與待檢測(cè)PCB板(6)貼合時(shí)，該待檢測(cè)PCB板(6)其四側(cè)可以切除的PCB板廢邊(10)分別延伸至該支撐板(7)四周外側(cè)向外伸出。
【文檔編號(hào)】G01R31/00GK203745573SQ201420033650
【公開日】2014年7月30日 申請(qǐng)日期:2014年1月20日 優(yōu)先權(quán)日:2014年1月20日
【發(fā)明者】翁朝輝, 程慧娟, 高水保, 唐嬌 申請(qǐng)人:佛山市中格威電子有限公司