對罐體中的高衰材料進行材料評價的超聲波評價方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種對罐體中的高衰材料進行材料評價的超聲波評價方法，，方法步驟如下：步驟一：將多組一發(fā)一收的探頭根據(jù)罐體的曲率半徑均勻的放至于空罐體表面上；步驟二：將接收到的超聲波記錄下來，然后通過計算公式計算超聲波在沒有裝入材料時超聲波的衰減系數(shù)；步驟三：再將多組一發(fā)一收的探頭根據(jù)罐體的曲率半徑均勻的放至于裝入材料的罐體表面上；步驟四：記錄接收到的超聲波信號，然后通過計算公式來計算出超聲波在裝有材料的罐體的衰減系數(shù)；步驟五：最后對衰減系數(shù)進行分析，根據(jù)分析結果來評價材料中空氣存在率。其檢測任意曲率半徑的大型罐體中的高衰減材料的孔隙率。
【專利說明】對罐體中的高衰材料進行材料評價的超聲波評價方法

【技術領域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種材料檢測方法，尤其涉及一種對高衰減材料進行超聲材料評價方 法。

【背景技術】
[0002] 超聲波在材料無損檢測獲得廣泛應用，如檢測應力、損傷。通過分析超聲波在材料 中衰減系數(shù)來評價材料中空氣存在率的方法，其原理是：當超聲波在材料中傳播一段距離 時，由于材料對超聲波的作用，使得超聲波的能量衰減。而材料性質的不同對超聲波的衰減 大小也會不同。本方法的原理就是通過分析超聲波在不同位置的衰減系數(shù)來判定材料中空 氣存在率。對于不同曲率半徑的大型罐體中高衰減材料進行空氣存在率的評價，用常規(guī)無 損檢測方法比較困難。


【發(fā)明內容】

[0003] 本發(fā)明的目的在于提供一種對任意曲率半徑的大型罐體中的高衰減材料進行超 聲材料評價方法，本方法解決了使用常規(guī)檢測技術無法對任意曲率半徑的大型罐體中高衰 減材料進行評價的問題。
[0004] 本發(fā)明是這樣來實現(xiàn)的，一種對任意曲率半徑的大型罐體中的高衰減材料進行超 聲材料評價方法，其步驟為： 步驟一：將多組一發(fā)一收的探頭根據(jù)罐體的曲率半徑均勻的放至于空罐體表面上； 步驟二：將接收到的超聲波記錄下來，然后通過計算公式計算超聲波在沒有裝入材料 時超聲波的衰減系數(shù)Ov，其中計算衰減系數(shù)I.的計算公式如下所示：

【權利要求】
1. 對罐體中的高衰材料進行材料評價的超聲波評價方法，其特征在于，步驟為： 步驟一：將多組一發(fā)一收的探頭根據(jù)罐體的曲率半徑均勻的放至于空罐體表面上； 步驟二：將接收到的超聲波記錄下來，然后通過計算公式計算超聲波在沒有 裝入材料時超聲波的衰減系數(shù)A，其中計算衰減系數(shù)的計算公式如下所示：
其中：B,(f)--對第一次接收到的超聲波進行FFT變換； B2if)--對第二次接收到的超聲波進行FFT變換；h--為兩探頭的距離，即罐體外徑； 步驟三：再將多組一發(fā)一收的探頭根據(jù)罐體的曲率半徑均勻的放至于裝入材料的罐體 表面上； 步驟四：記錄接收到的超聲波信號，然后通過計算公式來計算出超聲波在材 料中超聲波的衰減系數(shù)冰/);其中計算衰減系數(shù)負/)的計算公式如下所示：
其中
--罐體所用材料的聲阻抗；2V--罐體中材料的聲阻抗； A(f)--在超聲波穿過空罐體時，對第一次接收到的超聲波信號進行FFT變換； B(f)--在超聲波穿過裝有材料的罐體時，對第一次接收到的超聲波信號進行FFT變換； h--超聲波穿過材料的厚度，即罐體的內徑； 步驟五：最后對所得到的不同位置處材料的衰減系數(shù)〇(/)進行分析。
2. 根據(jù)權利要求1所述的對罐體中的高衰材料進行材料評價的超聲波評價方法，其特 征在于，超聲檢測所使用的探頭為柔性探頭。
【文檔編號】G01N29/11GK104407048SQ201410749344
【公開日】2015年3月11日 申請日期:2014年12月10日 優(yōu)先權日:2014年12月10日
【發(fā)明者】?？〗? 魏強, 盧超 申請人:南昌航空大學