專利名稱：一種測(cè)試探針支撐架的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及測(cè)試系統(tǒng)，尤其一種測(cè)試系統(tǒng)中的測(cè)試探針支撐架。
背景技術(shù)：
太陽能電池行業(yè)及半導(dǎo)體行業(yè)的制成過程中，經(jīng)常會(huì)用到測(cè)試系統(tǒng)，工件擺放在平臺(tái)上，通過探針與工件的電極快速連接，組成簡(jiǎn)易測(cè)試線路，通過測(cè)試儀測(cè)量出工件的各項(xiàng)電性能。探針支架就是探針與測(cè)試儀線路的連接媒體。隨著新技術(shù)的研發(fā)，現(xiàn)在出現(xiàn)了分段式電極。這時(shí)我們?cè)械奶结樦Ъ埽湍苓_(dá)不到使探針與電池片電極充分連接的目的。探針與電極的接觸不充分，會(huì)導(dǎo)致測(cè)試數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是為克服上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種新型測(cè)試探針支撐架，其能解決探針與工件電極連接不充分的問題，杜絕測(cè)試數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確的事故。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用下述技術(shù)方案。一種測(cè)試探針支撐架，包括絕緣的支架板，支架板上設(shè)有探針夾持孔，探針夾持孔具貫穿支架板，所述探針夾持孔上固定有導(dǎo)電的孔具；所述探針夾持孔的上方設(shè)有固定探針的導(dǎo)電板。作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述探針夾持孔有24個(gè)。
所述支架板上有上凸臺(tái)階或下凹臺(tái)階，帶有上凸臺(tái)階的支架板可以和帶有下凹臺(tái)階的支架板配合，若干個(gè)支架板可以整體使用。所述支架板為絕緣的PCB板(鋼性)，厚度為3mm。所述孔具為銅質(zhì),直徑為1.7mm。所述導(dǎo)電板為焊接板，米用金屬銅板并在表面鍍有錫層，尺寸為137*4*0.5mm3。本實(shí)用新型的有益效果是，可以通過對(duì)探針的選擇取舍，兼容多種形式的電極，達(dá)到一勞永逸的效果。一方面保證探針與電池電極位置的匹配，充分接觸，減少接觸電阻 ’另一方面，該支架制作工藝簡(jiǎn)單，制作成本低，操作便捷，實(shí)用性強(qiáng)。因此，使用新型探針支架可以以最低成本投入，有效的配合分段式電極，杜絕因探針接觸不充分而造成的測(cè)試數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確現(xiàn)象。

圖1是帶有上凸臺(tái)階的本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是帶有下凹臺(tái)階的本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。圖3是本實(shí)用新型的工作位置示意圖。其中，1、焊接板；2、孔具；3、探針；4、PCB板；5、上凸臺(tái)階；6、下凹臺(tái)階；7、安裝工位；8連續(xù)式電池片。
具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖與實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說明。如圖1-2所示，一種測(cè)試探針支撐架，包括厚度為3mm的、絕緣的剛性PCB板4，PCB板4上設(shè)有24個(gè)探針夾持孔，探針夾持孔具貫穿PCB板4，所述探針夾持孔上用絕緣膠水固定有銅質(zhì)、直徑為1.7mm的孔具2 ;所述探針夾持孔的上方設(shè)有固定探針3用的、尺寸為137*4*0.5mm3的、在表面鍍有錫層的銅質(zhì)的焊接板I。所述PCB板4有若干個(gè)，一部分帶有上凸臺(tái)階5，另一部分帶有下凹臺(tái)階6，上凸臺(tái)階5和下凹臺(tái)階6相互配合。如圖3所示，使用時(shí)，將本實(shí)用新型放置到連續(xù)式電池片8的安裝工位7上。上述雖然結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式
進(jìn)行了描述，但并非對(duì)本實(shí)用新型保護(hù)范圍的限制，所屬領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該明白，在本實(shí)用新型的技術(shù)方案的基礎(chǔ)上，本領(lǐng)域技術(shù)人員不需要付出創(chuàng) 造性勞動(dòng)即可做出的各種修改或變形仍在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍以內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種測(cè)試探針支撐架，包括絕緣的支架板，其特征是，所述支架板上設(shè)有探針夾持孔，探針夾持孔具貫穿支架板，所述探針夾持孔上固定設(shè)有導(dǎo)電的孔具；所述探針夾持孔的上方設(shè)有固定探針的導(dǎo)電板。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試探針支撐架，其特征是，所述探針夾持孔有24個(gè)。
3.如權(quán)利要求1或2所述的測(cè)試探針支撐架，其特征是，所述支架板上有上凸臺(tái)階或下凹臺(tái)階。
4.如權(quán)利 要求1所述的測(cè)試探針支撐架，其特征是，所述支架板為絕緣的PCB板。
5.如權(quán)利要求1或4所述的測(cè)試探針支撐架，其特征是，所述支架板的厚度為3mm。
6.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試探針支撐架，其特征是，所述孔具為銅質(zhì)。
7.如權(quán)利要求1或6所述的測(cè)試探針支撐架，其特征是，所述孔具直徑為1.7mm。
8.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試探針支撐架，其特征是，所述導(dǎo)電板為焊接板，采用金屬銅板并在表面鍍有錫層。
9.如權(quán)利要求1或8所述的測(cè)試探針支撐架，其特征是，所述導(dǎo)電板尺寸為137*4*0.5mm3n
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種測(cè)試探針支撐架，包括絕緣的支架板，所述支架板上設(shè)有探針夾持孔，探針夾持孔具貫穿支架板，所述探針夾持孔上固定設(shè)有導(dǎo)電的孔具；所述探針夾持孔的上方設(shè)有固定探針的導(dǎo)電板。本實(shí)用新型利用多探針位，以達(dá)到與分段式電極的匹配。通過對(duì)探針位的選擇使用，使探針有效的與電極接觸，去除電極外的探針。從而一方面保證測(cè)試電路的充分連接，保證測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性；另一方面去除多余不使用的探針，有效節(jié)省探針的使用量。
文檔編號(hào)G01R1/04GK203148975SQ201320119749
公開日2013年8月21日 申請(qǐng)日期2013年3月15日 優(yōu)先權(quán)日2013年3月15日
發(fā)明者張春亮, 周布甲, 黃衛(wèi)紅, 邢國政, 楊雷, 陳斌, 王步峰 申請(qǐng)人:潤(rùn)峰電力有限公司