專利名稱：一種試管x射線照相輔助裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型屬于X射線照相檢驗技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種X射線照相檢驗輔助裝置。
背景技術(shù)：
X射線照相檢驗是工業(yè)制作一種主要檢驗方法之一，對于試管X射線照相檢驗，應(yīng)根據(jù)試管的規(guī)格選取不同的照相方法和照相數(shù)量，為了得到精確的試管內(nèi)部情況，運用此X
射線照相裝置可以得到精準(zhǔn)的試管內(nèi)部質(zhì)量情況，并且大大提高工作效率。目前對于試管X射線照相方法是運用普通的照相方法，根據(jù)試管的規(guī)格和驗收標(biāo)準(zhǔn)要求，在試管上畫出平均分度等分線，確定照相的位置，再按照常規(guī)的方法進(jìn)行X射線照相檢驗，這種方法對于試管數(shù)量較少時可以使用。但是當(dāng)有大批試管需要進(jìn)行X射線照相時其工作量太大就顯現(xiàn)出來了。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的是解決上述問題而提供了一種試管X射線照相輔助裝置。該裝置可以對試管進(jìn)行大批量的X射線照相。本實用新型所采用的技術(shù)方案是一種試管X射線照相輔助裝置，包括基座，所述基座上固定有分度盤，所述基座中心處固定有軸，所述軸上安裝有夾具，所述夾具在所述分度盤的上方，所述軸穿過所述分度盤和所述夾具，所述夾具的邊緣安裝有指針。優(yōu)選地，所述分度盤為360°分度盤。更優(yōu)選地，所述分度盤的材料為鋼或者鋁。進(jìn)一步地，所述軸通過焊接的方式固定在所述基座中心處。優(yōu)選地，所述夾具為可調(diào)三爪卡盤。進(jìn)一步地，所述指針長度與所述分度盤的邊緣對齊。進(jìn)一步地，所述指針與所述分度盤之間的間距蘭3mm。本實用新型具有以下優(yōu)點本裝置結(jié)構(gòu)簡單，生產(chǎn)成本低。利用該裝置可以對試管進(jìn)行大批量的X射線照相，同時可以有效的減小X射線照相的誤差，操作簡單方便，大大提高了工作效率。
以下結(jié)合附圖
和實施方式對本實用新型作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。圖I為本實用新型實施例提供的一種試管X射線照相輔助裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本實用新型實施例提供的一種試管X射線照相輔助裝置中分度盤、夾具和指針的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
參照圖I和圖2, —種試管X射線照相輔助裝置主要包括基座1，基座I為一塊Φ30Χ20πιπι的鋼板。基座I上固定有分度盤2，分度盤2為一塊Φ600X3mm的鋁板，上面已經(jīng)做好360°分度?；鵌中心處焊接有一根Φ 50 X 150mm的軸3。軸3上安裝有夾具4，夾具4在分度盤2的上方，夾具4為可調(diào)三爪卡盤，軸3穿過分度盤2和夾具4，夾具4能夠繞軸3自由轉(zhuǎn)動。夾具4的邊緣安裝有指針5，指針5長度與分度盤2的邊緣對齊，指針與分度盤之間的間距3 3_。當(dāng)本裝置工作時，將試管X射線照相輔助裝置放入到射線透照室內(nèi)，根據(jù)試管6的規(guī)格，按照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)計算出透照的次數(shù)。然后用夾具4將試管6夾緊，旋轉(zhuǎn)夾具4到分度盤2的要求數(shù)值。最后進(jìn)行X射線照相。利用試管X射線照相輔助裝置，可以在分度盤2上直接讀出數(shù)值，不用在每個試管6上畫等分線，減少測量誤差，操作簡單方便，大大提高工作效率。最后所應(yīng)說明的是，以上實施例僅用以說明本實用新型的技術(shù)方案而非限制，盡管參照較佳實施例對本實用新型進(jìn)行了詳細(xì)說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對本實用新型的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換，而不脫離本實用新型技術(shù)方案的精神和范圍，其均應(yīng)涵蓋在本實用新型的權(quán)利要求范圍當(dāng)中。
權(quán)利要求1.一種試管X射線照相輔助裝置，其特征在于，包括基座，所述基座上固定有分度盤，所述基座中心處固定有軸，所述軸上安裝有夾具，所述夾具在所述分度盤的上方，所述軸穿過所述分度盤和所述夾具，所述夾具的邊緣安裝有指針。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的試管X射線照相輔助裝置，其特征在于，所述分度盤為360°分度盤。
3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的試管X射線照相輔助裝置，其特征在于，所述分度盤的材料為鋼或者招。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的試管X射線照相輔助裝置，其特征在于，所述軸通過焊接的方式固定在所述基座中心處。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的試管X射線照相輔助裝置，其特征在于，所述夾具為可調(diào)三爪卡盤。
6.根據(jù)權(quán)利要求I所述的試管X射線照相輔助裝置，其特征在于，所述指針長度與所述分度盤的邊緣對齊。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的試管X射線照相輔助裝置，其特征在于，所述指針與所述分度盤之間的間距蘭3mm。
專利摘要本實用新型公開了一種試管X射線照相輔助裝置，屬于X射線照相檢測技術(shù)領(lǐng)域。該裝置包括基座，所述基座上固定有分度盤，所述基座中心處固定有軸，所述軸上安裝有夾具，所述夾具在所述分度盤的上方，所述軸穿過所述分度盤和所述夾具，所述夾具的邊緣安裝有指針。該裝置可以對試管進(jìn)行大批量的X射線照相。
文檔編號G01N23/04GK202583094SQ20122020160
公開日2012年12月5日 申請日期2012年5月7日 優(yōu)先權(quán)日2012年5月7日
發(fā)明者劉國波, 秦健, 金勇 , 黃坤利, 彭潤平, 李志利, 熊雯 申請人:武漢鋼鐵(集團(tuán))公司