測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種測試系統(tǒng)包括一測試箱、一客戶端以及一服務器端。測試箱設置至少一待測物?？蛻舳司哂幸豢刂蒲b置?？刂蒲b置耦接待測物。服務器端具有一主機裝置，用以控制測試箱的溫度，并根據(jù)一預設信息，提供一設定信息文件予客戶端?？刂蒲b置根據(jù)設定信息文件，決定待測物執(zhí)行測試程序的次數(shù)。由于本發(fā)明可同時對不同種類的產(chǎn)品同時地進行老化測試及各種指定測試項目，因此，可大幅降低產(chǎn)品出廠前的測試時間。此外，對產(chǎn)品進行老化測試及指定的測試時，只需依據(jù)規(guī)劃的老化測試行程，進行參數(shù)設定，不需再對各種指定測試項目的測試次數(shù)進行參數(shù)設定，因此，可降低控制人員的工作時間及成本。
【專利說明】測試系統(tǒng)
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測試系統(tǒng)，尤其涉及一種可對不同種類的待測物進行老化測試的測試系統(tǒng)。
【背景技術】
[0002]一般而言，任何產(chǎn)品在出廠前，必需經(jīng)過多道的測試程序，而老化測試(burn in)就是產(chǎn)品的測試項目之一。老化測試的方式是將產(chǎn)品置于測試箱(chamber)中，通過控制測試箱的溫度變化，以模擬產(chǎn)品的老化現(xiàn)象，并作為后續(xù)的老化分析。然而，老化測試與其它測試項目，如傳輸率測試、信號強度測試等，是分開進行的。通常需等到老化測試完成后，才會進行其它測試項目，或是其它測試項目完成后，才進行老化測試。
[0003]再者，公知的測試箱僅能針對單一種產(chǎn)品進行測試，若有多種產(chǎn)品欲進行老化測試時，必需輪流測試。然而，由于每一產(chǎn)品的老化測試時間很長，因此，大幅增加產(chǎn)品出廠前的測試時間。此外，對產(chǎn)品進行老化測試及對產(chǎn)品進行指定的測試時，必須依據(jù)規(guī)劃的老化測試行程及各種指定測試項目分別進行參數(shù)設定，而增加控制人員的工作時間及成本。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]為了克服現(xiàn)有技術的缺陷，本發(fā)明提供一種測試系統(tǒng)，包括一測試箱、一客戶端以及一服務器端。測試箱設置至少一待測物?？蛻舳司哂幸豢刂蒲b置?？刂蒲b置耦接待測物，用以令待測物執(zhí)行一測試程序。服務器端具有一主機裝置，用以控制測試箱的溫度，并根據(jù)一預設信息，提供一設定信息文件予客戶端?？刂蒲b置根據(jù)設定信息文件，決定待測物執(zhí)行測試程序的次數(shù)。
[0005]綜上所述，由于本發(fā)明可同時對不同種類的產(chǎn)品同時地進行老化測試及各種指定測試項目，因此，可大幅降低產(chǎn)品出廠前的測試時間。此外，對產(chǎn)品進行老化測試及指定的測試時，只需依據(jù)規(guī)劃的老化測試行程，進行參數(shù)設定，不需再對各種指定測試項目的測試次數(shù)進行參數(shù)設定，因此，可降低控制人員的工作時間及成本。
[0006]為讓本發(fā)明的特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉出較佳實施例，并配合附圖，作詳細說明如下。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0007]圖1為本發(fā)明的測試系統(tǒng)的示意圖。
[0008]圖2A為本發(fā)明的預設信息的一可能實施例。
[0009]圖2B為本發(fā)明的設定信息文件的一可能實施例。
[0010]圖3為本發(fā)明的客戶端的一可能操作示意圖。
[0011]圖4為步驟S320的一可能實施例。
[0012]其中，附圖標記說明如下:
[0013]100:測試系統(tǒng)；[0014]110:測試箱;
[0015]131 ~133:待測物；
[0016]120:切換裝置；
[0017]200:預設信息；
[0018]210:溫度曲線;
[0019]CI1~CI6:客戶端；
[0020]SV:服務器端；
[0021]FMl ~FM6:測試架；
[0022]ΡCI-Ρ06:控制裝置；
[0023]CNf CN6:連接裝置；
[0024]HS:主機裝置；
[0025]SSET:設定信息文件；
[0026]S0~S7:期間；
[0027]CT1、CT2:老化期間；
[0028]TP131 ~TP133:行程時間；
[0029]S310~S330:步驟。
【具體實施方式】
[0030]圖1為本發(fā)明實施例的測試系統(tǒng)的示意圖。如圖所示,測試系統(tǒng)100包括，一測試箱110、客戶端CIfCie以及一服務器端SV。服務器端sv通過測試箱ιιο，對待測物進行老化測試。在本實施例中，測試箱110具有測試架FMfFM6，但并非用以限制本發(fā)明。在其它實施例中，測試箱110具有其它數(shù)量的測試架。
[0031]測試箱110內(nèi)的每一測試架FMfFM6具有至少一待測物。本發(fā)明并不限定每一測試架的待測物的數(shù)量及種類。在一實施例中，測試架FMfFM6的一個的待測物數(shù)量可能相同或不同于測試架FMfFM6的另一個的待測物數(shù)量。另外，在本實施例中，同一測試架具有相同種類的待測物，而不同測試架具有不同種類的待測物。在其它實施例中，同一測試架具有不同種類的待測物。
[0032]在本實施例中，測試系統(tǒng)100具有客戶端Cl f CI6，但并非用以限制本發(fā)明。在其它實施例中，測試系統(tǒng)100具有至少一客戶端。在本實施例中，相同種類的待測物置放于同一測試架上。因此，客戶端CIf CI6分別耦接一相對應的測試架FMf FM6，用以控制測試架FMfFM6的待測物。在其它實施例中，同一測試架可能具有不同種類的待測物。在此例中，多個客戶端將耦接同一測試架，不過，不同客戶端控制不同種類的待測物。
[0033]在本實施例中，客戶端CIf CI6各自具有一控制裝置以及一連接裝置。在一可能實施例中，控制裝置可以是電腦、控制器、控制電路、處理器等，但不用以限定本發(fā)明。每一控制裝置通過相對應的連接裝置，控制相對應的測試架上的待測物。以客戶端CI2為例，客戶端CI2具有一控制裝置PC2以及一連接裝置CN2?？刂蒲b置PC2通過連接裝置CN2控制測試架FM2上的所有待測物。
[0034]在本實施例中，控制裝置PC2令測試架FM2上的所有待測物執(zhí)行同一測試程序。在其它實施例中，控制裝置PC1~PC6可通過同一連接裝置，耦接測試架FM1~FM6。[0035]本發(fā)明實施例不限定待測物所執(zhí)行的測試程序。在一可能實施例中，測試架FMfFM6的一個的待測物所執(zhí)行測試程序可能相同或不同于測試架FMfFM6的另一個的待測物所執(zhí)行測試程序。在不同的測試程序中，測試的項目、時間、順序并不相同。
[0036]本發(fā)明實施例并不限制連接裝置CNf CN6與待測物之間的傳輸介面的種類。在一可能實施例中，連接裝置CNf CN6通過有線方式(如RS-232、USB)或是無線方式(如紅外線、藍牙)的傳輸介面，傳送信號予測試架FMfFM6上的待測物。在其它實施例中，連接裝置CNf CN6的一個耦接待測物的傳輸介面不同于連接裝置CNf CN6的另一個耦接待測物的傳輸介面。
[0037]服務器端SV具有一主機裝置HS。主機裝置HS根據(jù)一預設信息控制測試箱110的溫度，并對應該預設信息，提供一設定信息文件SSET予客戶端CIf CI6。需說明的是，在本實施例中，預設信息在服務器端SV的作用是控制測試箱，而設定信息文件SSET在客戶端CIfCie則是用來定義老化期間及在各老化期間中測試程序的執(zhí)行次數(shù)。
[0038]本發(fā)明并不限定預設信息的來源。在一可能實施例中，預設信息由一規(guī)劃人員事先規(guī)劃，再輸入至主機裝置HS。另外，本發(fā)明亦不限定主機裝置HS如何根據(jù)該預設信息，提供一設定信息文件SSET予客戶端CIf CI6。在一可能實施例中，只要與主機裝置HS的供電時間有關的信息，均可作為設定信息文件SSET。在另一可能實施例中，主機裝置HS直接將預設信息作為一設定信息文件SSET，再提供予控制裝置PCf PC6。
[0039]在本實施例中，主機裝置HS根據(jù)預設信息，決定是否供電予測試箱110內(nèi)的待測物。在一可能實施例中，主機裝置HS同時供電予測試箱110內(nèi)的所有待測物，或是同時不供電予測試箱110內(nèi)的所有待測物。在主機裝置HS供電后，客戶端CIf CI6令待測物執(zhí)行相對應的測試程序。因此，在本實施例中，可同時對待測物進行一老化測試以及其它項目的測試。
[0040]本發(fā)明不限定服務器端sv與客戶端cifcie或是與測試箱ιιο間的傳輸介面。在本實施例中，主機裝置HS通過切換裝置120，以線材(cable)的方式，提供設定信息文件SSET予客戶端Cl1~CΙ6,或是通過切換裝置120，接收來自客戶端Cl1~CΙ6的信息。在一可能實施例中，切換裝置120是以太網(wǎng)絡交換器，因此服務器端SV可通過以太網(wǎng)絡(Ethernet)與測試箱110及切換裝置120進行通信。在其它實施例中，切換裝置120可以是無線存取裝置，例如無線路由器或無線存取點，因此主機裝置HS與切換裝置120間的傳輸方式為無線通信傳輸，或是切換裝置120與客戶端CIfCie間的傳輸方式為無線通信傳輸，如依據(jù)IEEE802.11或W1-FI無線通信標準的無線通信傳輸技術。
[0041 ] 控制裝置PCf PC6根據(jù)主機裝置HS所告知的設定信息文件SSET，決定相對應待測物執(zhí)行測試程序的次數(shù)。舉例而言，由于待測物131及133為相同種類的待測物，但不同于待測物132，因此，控制裝置PC2根據(jù)設定信息文件SSET，決定待測物131及133執(zhí)行一第一測試程序的次數(shù)，控制裝置PC6根據(jù)設定信息文件SSET，決定待測物132執(zhí)行一第二測試程序的次數(shù)。
[0042]在本實施例中，雖然待測物131及132執(zhí)行不同的測試程序，但待測物131及132執(zhí)行測試程序的次數(shù) 可能相同或不同，其依照測試程序執(zhí)行一次測試行程的時間長短而定。在其它實施例中，待測物131及133屬相同種類的產(chǎn)品，但因其內(nèi)部元件的效能不同，故待測物131與133執(zhí)行測試程序的次數(shù)不一定相同。[0043]圖2A為服務器端所接收到的預設信息的一可能實施例。主機裝置HS根據(jù)預設信息200，設定測試箱110的溫度，并供電或不供電予待測物。在一可能實施例中，預設信息200由一規(guī)劃人員提供予主機裝置HS。在本實施例中，預設信息200包括參數(shù)信息組0-7，但并非用以限制本發(fā)明。在其它實施例中，參數(shù)信息組的數(shù)量可能大于或小于8。
[0044]在本實施例中，每一參數(shù)信息組包括一供電狀態(tài)參數(shù)P (η)、一溫度參數(shù)T (η)、一等待時間參數(shù)WT(n)以及一維持時間參數(shù)MT (η)，其中O S n S 7。于本實施例中，該供電狀態(tài)參數(shù)Ρ(η)包括第一及第二狀態(tài)，第一狀態(tài)為供電狀態(tài)；第二狀態(tài)為停止供電狀態(tài)。舉例而言，由于參數(shù)信息組O中的供電狀態(tài)參數(shù)P(O)為第一狀態(tài)，因此，主機裝置HS供電予待測物，并且根據(jù)溫度參數(shù)T (O)，將測試箱110的溫度控制在25°C。主機裝置HS根據(jù)等待時間參數(shù)WT (O)，等待60分鐘，再根據(jù)維持時間參數(shù)MT (O)，將測試箱110的溫度維持在25°C，并維持120分鐘。
[0045]在其它實施例中，當主機裝置HS根據(jù)參數(shù)信息組O控制測試箱的溫度時，控制裝置pcrpce令待測物執(zhí)行相對應的測試程序，用以擷取待測物執(zhí)行測試程序所需的行程時間。在另一實施例中，待測物執(zhí)行測試程序所需的行程時間為事先預設，并且主機裝置HS通過設定信息文件SSET，將待測物執(zhí)行測試程序所需的行程時間告知控制裝置PCfPC-6。在其它實施例中，控制裝置PCf PC-6在未取得設定信息文件SSET前，先令待測物依據(jù)測試程序執(zhí)行至少一次的測試行程，并計時該測試行程的執(zhí)行時間，用以得知待測物執(zhí)行測試程序所需的行程時間。
[0046]另外，請參考圖2A，參數(shù)信息組I中的供電狀態(tài)參數(shù)P(I)為第二狀態(tài)，因此，主機裝置HS停止供電予待測物，并且根據(jù)溫度參數(shù)T(I)，令測試箱110的溫度由25°C變化至_40°C。當測試箱110的溫度開始變化時，主機裝置HS根據(jù)等待時間參數(shù)WT (I)，等待40分鐘，并在40分鐘后，根據(jù)維持時間參數(shù)MT (I)，令測試箱110的溫度維持在_40°C，并維持30分鐘。
[0047]在一可能實施例中，當測試箱110的溫度太快或太慢到達_40°C時，表示測試箱110不穩(wěn)定，因此，主機裝置HS將發(fā)出一警示信息，用以提醒測試人員。舉例而言，當主機裝置HS依據(jù)溫度參數(shù)T(I)，控制測試箱110的溫度由25°C變化至_40°C時，主機裝置HS將等待40分鐘，并在40分鐘后，判斷測試箱110的溫度是否已達_40°C。若測試箱110的溫度不等于預設溫度，表示測試箱110發(fā)生異常，主機裝置HS發(fā)出一警示信息，用以提醒測試人員，并發(fā)出一中斷信息予控制裝置PCf PC6，用以令所有待測物停止執(zhí)行相對應的測試程序，并且主機裝置HS立即停止供電予所有待測物。在另一可能實施例中，當主機裝置HS控制測試箱110的溫度由25°C變化至_40°C時，若于一預定時間之內(nèi)，測試箱溫度超過一預設溫度時，判定測試箱110發(fā)生異常，例如爆炸事件發(fā)生，主機裝置HS發(fā)出一警示信息，用以提醒測試人員，并發(fā)出一中斷信息予控制裝置PCf PC6，用以令所有待測物停止執(zhí)行相對應的測試程序，并立即停止供電予所有待測物，其中，該預定時間由等待時間參數(shù)WT(I)乘以一預設百分比(例如10%)取得；而該預設溫度由溫度參數(shù)T(I)乘以一預設數(shù)值(例如5)取得，需說明的是，該預設數(shù)值可依測試箱內(nèi)的容許溫度做適當調(diào)整。于另一實施例中，測試箱溫度只要測試箱110的溫度一達到_40°C，主機裝置HS不再等待，并立即維持測試箱110的溫度。
[0048]在本實施例中，通過圖2A所示的預設信息200，便可推測出每一老化期間的持續(xù)時間。舉例而言，當主機裝置HS接收到參數(shù)信息組O時，供電予待測物并維持120分鐘。由于當主機裝置HS接收到參數(shù)信息組I時，不再供電予待測物，因此，第一老化期間的長度為120分鐘。
[0049]同樣地，請參考參數(shù)信息組2及3，由于主機裝置HS供電予待測物的總維持時間為MT(2)+MT(3) =290分鐘，因此，第二老化期間的長度為290分鐘。在參數(shù)信息組5及6中，由于主機裝置HS供電予待測物的總維持時間為MT(5)+MT(6)=425分鐘，因此，第三老化期間的持續(xù)時間為425分鐘。在另一實施例中，上述主機裝置HS推測每一老化期間的持續(xù)時間由控制裝置PCf PC6執(zhí)行，因此，服務器端SV的主機裝置HS將預設信息200作為設定信息文件SSET (預設信息200等同設定信息文件SSET)傳送至客戶端CI1?CI6，控制裝置pcrpce可取得每一老化期間的持續(xù)時間，【具體實施方式】請參考圖3及其說明。
[0050]在上述實施例中，老化期間并未包含等待時間。然而，在其它實施例中，老化期間還包含等待時間。舉例而言，第一老化期間的持續(xù)時間為WT(0)+MT(0)=180分鐘。第二老化期間的持續(xù)時間為MT (2) +WT (3) +MT (3) =350分鐘。第三老化期間的持續(xù)時間為MT (5) +WT (6) +MT (6) =525 分鐘。
[0051]主機裝置HS根據(jù)預設信息200，產(chǎn)生一設定信息文件SSET予控制單元PCf PC6，用以告知供電時間，好讓控制單元pcfpce決定待測物執(zhí)行測試時間的次數(shù)。
[0052]圖2B為設定信息文件SSET的一可能實施例。在本實施例中，設定信息文件SSET在客戶端cifcie的作用則是用來定義老化期間的長度及待測物執(zhí)行測試程序的次數(shù)。于本實施例中，控制裝置PCf PC6根據(jù)主機裝置HS所告知的設定信息文件SSET，可推得溫度曲線210，再由溫度曲線210，便可得知老化期間CT1?CT3的持續(xù)時間，也就是主機裝置HS供電的時間。
[0053]控制裝置PCf PC6根據(jù)老化期間CTf CT3的持續(xù)時間，決定相對應待測物執(zhí)行相對應測試程序的次數(shù)。舉例而言，假設，待測物131執(zhí)行測試程序所需的行程時間為TP131?？刂蒲b置PC2將老化期間CTl的持續(xù)時間除以待測物131的行程時間TP131，便可得知在老化期間CTl內(nèi)，待測物131可執(zhí)行I次測試程序。
[0054]由于老化期間CT2的持續(xù)時間大于老化期間CTl的持續(xù)時間，因此，在老化期間CT2中，待測物131執(zhí)行測試程序的次數(shù)(4次)大于在老化期間CTl中，待測物131執(zhí)行測試程序的次數(shù)(I次)。其它的待測物的測試次數(shù)依此類推。
[0055]本發(fā)明并不限定每一待測物執(zhí)行測試程序的次數(shù)。在一可能實施例中，針對同一待測物(如131)而言，在不同的老化期間(CTfCT3)中，執(zhí)行不同次數(shù)的測試程序(如I次、4次、6次)。在另一可能實施例中，針對不同種類的待測物(如131、132)而言，在同一老化期間(CT2)中，執(zhí)行不同次數(shù)的測試程序(4次、2次)。在其它實施例中，針對相同種類的待測物(如131、133)而言，在同一老化期間(CT2)中，執(zhí)行不同次數(shù)的測試程序(4次、3次)。
[0056]由于測試系統(tǒng)100具有多個客戶端，因此，可自動且同時對多個不同類型的機種產(chǎn)品進行老化測試，而不需測試人員再重新設定。另外，在進行老化測試的同時，亦可一并對待測物進行其它的測試項目，以達到單位時間內(nèi)進行多項測試，縮短待測物所需的測試時間，并提供簡單的行程規(guī)劃方法。
[0057]圖3為本發(fā)明的客戶端的一可能操作示意圖。請配合本發(fā)明圖1，由于客戶端CIfCie的操作原理均相同，故以下以客戶端CI2為例。如圖3所示，首先，接收一設定信息文件SSET (步驟S310)。本發(fā)明并不限定設定信息文件SSET的接收方式。舉例而言，客戶端CIfCie可利用有線或無線方式，接收設定信息文件SSET。本發(fā)明亦不限定設定信息文件SSET的內(nèi)容。只要能夠讓客戶端CIf CI6得知主機裝置HS供電時間的信息，均可作為設定信息文件SSET。
[0058]在另一可能實施例中，在接收設定信息文件SSET前，客戶端CI2先判斷是否接收到一開機信息(boot-up message)。若否,則再繼續(xù)判斷是否接收到開機信息,直到確實接收到開機信息。在一可能實施例中，開機信息由待測物131所提供，客戶端根據(jù)此開機信息，接收設定信息文件SSET。另外，客戶端CIl亦可在開機信息后，擷取待測物131執(zhí)行測試程序的行程時間TP131。在其它實施例中，待測物131的行程時間亦含括在設定信息文件SSET 中。
[0059]計算待測物131執(zhí)行測試程序的次數(shù)(步驟S320)。在一可能實施例中，客戶端CI2根據(jù)設定信息文件SSET，便可得知主機裝置HS供電的時間，即老化期間CTf CT3的持續(xù)時間。
[0060]在本實施例中，只要根據(jù)老化期間CTfCT3的持續(xù)時間以及待測物131的行程時間TP131，便可決定出待測物131在老化期間CTf CT3執(zhí)行測試程序的次數(shù)。在一可能實施例中，將老化期間CTl的持續(xù)時間除以行程時間TP131，便可得知待測物131在老化期間CTl內(nèi)的執(zhí)行次數(shù)。在其它實施例中，亦可利用其它的運算公式，計算化期間CTl的持續(xù)時間以及行程時間TP131。
[0061]依據(jù)設定的行程規(guī)劃，執(zhí)行測試程序(步驟S330)。在一可能實施例中，客戶端CI2的控制裝置PC2具有一測試軟體，根據(jù)設定信息文件SSET，便可設定測試軟體的參數(shù)，用以規(guī)劃待測物131的測試行程，因此，當控制裝置PC2執(zhí)行測試軟體后，便可令待測物131執(zhí)行測試程序。
[0062]在本實施例中，待測物131執(zhí)行測試程序的同時，待測物131亦同時接受老化測試。因此，大幅降低測試時間。再者，當待測物131進行測試時，另一種類的待測物(132)亦同時進行測試，因此，測試人員不需等待測物131完成測試后，再能開始進行待測物132的測試。
[0063]圖4為步驟S320的一可能實施方式。首先，初始化系數(shù)n、i及CTi (步驟S410)。在本實施例中，經(jīng)初始化后，n=0, i=l, CTi=O。
[0064]判斷供電狀態(tài)參數(shù)P(n)是否為一第一狀態(tài)(步驟S420)。如圖2A所示，供電狀態(tài)參數(shù)P(O)為第一狀態(tài)，即供電狀態(tài)，因此，執(zhí)行步驟S421。在步驟S421中，〇1'1=(:11+11'(0)=0+120=120。接著，判斷供電狀態(tài)參數(shù)？(1)是否為一第一狀態(tài)(步驟S430)。
[0065]如圖2A所示，供電狀態(tài)參數(shù)P(I)為第二狀態(tài)，即不供電狀態(tài)，因此，執(zhí)行步驟S440，計算待測物在老化期間CTl中，執(zhí)行測試程序的次數(shù)Ni。在本實施例中，步驟S440將老化期間CTl除以待測物執(zhí)行測試程序的時間TP，用以得到一第一計算結(jié)果NI。
[0066]接著，判斷供電狀態(tài)參數(shù)P (I)是否為空值(步驟S450)。由圖2A可知，供電狀態(tài)參數(shù)P (I)并非為空值，因此，執(zhí)行步驟S452，將系數(shù)i設定成2，以及執(zhí)行步驟S423，將系數(shù)η設定成1，再回到步驟S420。
[0067]步驟S420判斷供電狀態(tài)參數(shù)P(I)是否為第一狀態(tài)。由圖2Α可知，供電狀態(tài)參數(shù)P(I)為一第二狀態(tài)(即不供電狀態(tài))，因此，執(zhí)行步驟S422，判斷供電狀態(tài)參數(shù)P(2)是否為空值。由圖2A可知，供電狀態(tài)參數(shù)P(2)并非空值，因此，執(zhí)行步驟S423，將η設定成2，再回到步驟S420。
[0068]在步驟S420中，判斷供電狀態(tài)參數(shù)Ρ(2)是否為第一狀態(tài)。由圖2Α可知，供電狀態(tài)參數(shù)P(2)為第一狀態(tài)，因此，執(zhí)行步驟S421，CT2=CTi+MT(2) =0+90=90。接著，判斷供電狀態(tài)參數(shù)P(3)是否為第一狀態(tài)(步驟S430)。由圖2A可知，供電狀態(tài)參數(shù)P(3)為第一狀態(tài)，因此，執(zhí)行步驟S423，將系數(shù)η設定成3，再執(zhí)行步驟S420。
[0069]在步驟S420中，判斷供電狀態(tài)參數(shù)Ρ(3)是否為第一狀態(tài)。由圖2Α可知，供電狀態(tài)參數(shù)P (3)為第一狀態(tài)，因此，執(zhí)行步驟S421，將先前所計算出的CT2再加上參數(shù)MT (3)，便求得新的老化期間CT2。因此新CT2=先前CT2+MT (3) =90+200=290。
[0070]接著，判斷供電狀態(tài)參數(shù)Ρ(4)是否為第一狀態(tài)(步驟S430)。由圖2Α可知，供電狀態(tài)參數(shù)Ρ(4)為一第二狀態(tài)(即不供電狀態(tài))，因此，執(zhí)行步驟S440，將老化期間CT2除以待測物執(zhí)行測試程序的時間ΤΡ，用以得到一第二計算結(jié)果Ν2。接著，判斷供電狀態(tài)參數(shù)P (4)是否為空值(步驟S450)。由圖2Α可知，參數(shù)P (4)并非為空值，因此，執(zhí)行步驟S452，將系數(shù)i設定成3，并將η系數(shù)設定成4 (步驟S423)，再執(zhí)行步驟S420。
[0071]步驟S420判斷供電狀態(tài)參數(shù)P (4)是否為第一狀態(tài)。由圖2Α可知，供電狀態(tài)參數(shù)P(4)為一第二狀態(tài)(即不供電狀態(tài))，因此，執(zhí)行步驟S422，判斷供電狀態(tài)參數(shù)Ρ(5)是否為空值(步驟S422)。由圖2Α可知，供電狀態(tài)參數(shù)Ρ(5)并非空值，因此，執(zhí)行步驟S423，將系數(shù)η設定成5，再執(zhí)行步驟S420。
[0072]在步驟S420中，判斷供電狀態(tài)參數(shù)Ρ(5)是否為第一狀態(tài)。由圖2Α可知，供電狀態(tài)參數(shù)P (5)為第一狀態(tài)，因此，執(zhí)行步驟S421，CT3=CTi+MT (5) =0+150=150ο接著，判斷供電狀態(tài)參數(shù)P (6)是否為第一狀態(tài)。由圖2A可知，供電狀態(tài)參數(shù)P (6)為第一狀態(tài)，因此，執(zhí)行步驟S423，將系數(shù)η設定成6，再執(zhí)行步驟S420。
[0073]在步驟S420中，判斷供電狀態(tài)參數(shù)Ρ(6)是否為第一狀態(tài)。由圖2Α可知，供電狀態(tài)參數(shù)P (6)為第一狀態(tài)，因此，執(zhí)行步驟S421，將先前所計算出的CT3再加上參數(shù)MT (6)，便求得新的老化期間CT3。在本實施例中，新CT3=先前CT3+MT6=150+275=425。
[0074]接著，判斷供電狀態(tài)參數(shù)P(7)是否為第一狀態(tài)(步驟S430)。由圖2A可知，供電狀態(tài)參數(shù)P(7)為一第二狀態(tài)(即不供電狀態(tài))，因此，執(zhí)行步驟S440，將老化期間CT3除以待測物執(zhí)行測試程序的時間TP，用以得到一第三計算結(jié)果N3。接著，判斷供電狀態(tài)參數(shù)P (7)是否為空值(步驟S450)。由圖2A可知，供電狀態(tài)參數(shù)P(7)并非為空值，因此，執(zhí)行步驟S452，將系數(shù)i設定成4，然后再執(zhí)行步驟S423，將η設定成7，再執(zhí)行步驟S420。
[0075]在步驟S420中，判斷供電狀態(tài)參數(shù)Ρ(7)是否為第一狀態(tài)。由圖2Α可知，供電狀態(tài)參數(shù)Ρ(7)為第二狀態(tài)，因此，執(zhí)行步驟S422，判斷供電狀態(tài)參數(shù)Ρ(8)是否為空值。由于圖2Α并未具有供電狀態(tài)參數(shù)P (8)，因此，判定供電狀態(tài)參數(shù)P (8)空值，并執(zhí)行步驟S451，結(jié)束測試次數(shù)的計算。
[0076]綜上所述，由于本發(fā)明可同時對不同種類的產(chǎn)品同時地進行老化測試及各種指定測試項目，因此，可大幅降低產(chǎn)品出廠前的測試時間。此外，對產(chǎn)品進行老化測試及指定的測試時，只需依據(jù)規(guī)劃的老化測試行程，進行參數(shù)設定，不需再對各種指定測試項目的測試次數(shù)進行參數(shù)設定，因此，可降低控制人員的工作時間及成本。[0077]除非另作定義，在此所有詞匯(包含技術與科學詞匯)均屬本領域普通技術人員的一般理解。此外，除非明白表示，詞匯于一般字典中的定義應解釋為與其相關【技術領域】的文章中意義一致，而不應解釋為理想狀態(tài)或過分正式的語態(tài)。
[0078]雖然本發(fā)明已以較佳實施例揭示如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何本領域普通技術人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當可作些許的更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護范圍當視所附的權利要求所界定的范圍為準。
【權利要求】
1.一種測試系統(tǒng),包括:一測試箱，設置至少一待測物；一客戶端，具有一控制裝置，耦接該待測物，用以令該待測物執(zhí)行一測試程序；以及一服務器端，具有一主機裝置，用以控制該測試箱的溫度，并根據(jù)一預設信息，提供一設定信息文件予該客戶端；其中該控制裝置根據(jù)該設定信息文件，決定該待測物執(zhí)行該測試程序的次數(shù)。
2.如權利要求1所述的測試系統(tǒng)，其中該主機裝置根據(jù)該預設信息，決定一老化期間的持續(xù)時間，并在該老化期間，通過該測試箱，供電予該待測物。
3.如權利要求2所述的測試系統(tǒng)，其中該設定信息文件包括一第一參數(shù)信息組、一第二參數(shù)信息組以及一第三參數(shù)信息組；該控制裝置判斷該第一參數(shù)信息組中的一第一供電狀態(tài)參數(shù)是否為一預設狀態(tài)，當該第一供電狀態(tài)參數(shù)為該預設狀態(tài)，該控制裝置擷取該第一參數(shù)信息組中的一第一維持時間參數(shù)，并判斷該第二參數(shù)信息組中的一第二供電狀態(tài)參數(shù)是否為該預設狀態(tài)。
4.如權利要求3所述的測試系統(tǒng)，其中當該第二供電狀態(tài)參數(shù)不為該預設狀態(tài)，該控制裝置將該第一維持時間參數(shù)作為該老化期間的持續(xù)時間。
5.如權利要求3所述的測試系統(tǒng)，其中當該第一供電狀態(tài)參數(shù)為該預設狀態(tài)，該控制裝置還擷取該第一參數(shù)信息組中的一第一等待時間參數(shù)，當該第二供電狀態(tài)參數(shù)不為該預設狀態(tài)，該控制裝置將該第一維持時間參數(shù)及該第一等待時間參數(shù)的一總合做為該老化期間的持續(xù)時間。
6.如權利要求3所述的測試系統(tǒng)，其中當該第二供電狀態(tài)參數(shù)為該預設狀態(tài)時，該控制裝置擷取該第二參數(shù)信息組中的一第二維持時間參數(shù)，并判斷該第三參數(shù)信息組中的一第三供電狀態(tài)參數(shù)是否為該預設狀態(tài)。
7.如權利要求6所述的測試系統(tǒng)，其中當該第三供電狀態(tài)參數(shù)不為該預設狀態(tài)，該控制裝置將該第一及第二維持時間參數(shù)的一總合作為該老化期間的持續(xù)時間。
8.如權利要求7所述的測試系統(tǒng)，其中當該第一供電狀態(tài)參數(shù)為該預設狀態(tài)，該控制裝置還擷取該第一參數(shù)信息組中的一第一等待時間參數(shù)，當該第二供電狀態(tài)參數(shù)為該預設狀態(tài)，該控制裝置還擷取該第二參數(shù)信息組中的一第二等待時間參數(shù)，當該第三供電狀態(tài)參數(shù)不為該預設狀態(tài)時，該控制裝置將該第一維持時間參數(shù)、該第一等待時間參數(shù)、該第二維持時間參數(shù)、該第二等待時間參數(shù)的一總合做為該老化期間的持續(xù)時間。
9.如權利要求2所述的測試系統(tǒng)，其中該控制裝置根據(jù)該設定信息文件，得知該待測物執(zhí)行該測試程序所需的一測試時間，并將該老化期間的持續(xù)時間除以該測試時間，用以決定該待測物執(zhí)行該測試程序的次數(shù)。
10.如權利要求2所述的測試系統(tǒng)，其中在一啟始期間，該控制裝置令該待測物執(zhí)行該測試程序，并擷取該待測物執(zhí)行該測試程序所需的一測試時間，并將該老化期間的持續(xù)時間除以該測試時間，用以決定該待測物在該老化期間內(nèi)，執(zhí)行該測試程序的次數(shù)。
【文檔編號】G01R31/00GK103592527SQ201210341395
【公開日】2014年2月19日 申請日期:2012年9月14日 優(yōu)先權日:2012年8月14日
【發(fā)明者】王宜銘, 辛承緯, 林克勤, 黃建軒, 賴建名 申請人:智邦科技股份有限公司