多通道光纖插回損測試儀及測試校準方法
【專利摘要】公開了一種多通道光纖插回損測試儀，包括光源組、多個光分路器、偏振控制器、內(nèi)置探測器多路光功率計、主控器和與主控器線路連接的外置探測器參考光功率計；具有1個或2個正向輸出測試端口和多個正向輸入測試端口，正向輸出、輸入測試端口分別通過測試用跳線與被測試器件連接；主控器分別與多光源組、光開關(guān)組、多路光開關(guān)、偏振控制器、內(nèi)置多路光功率計線路連接；還公開了一種測試校準方法。本發(fā)明消除了因連接損耗不確定引起的誤差；多通道插回損、偏振相關(guān)損耗實時測量，測量效率高。
【專利說明】多通道光纖插回損測試儀及測試校準方法[0001]
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0002]本發(fā)明屬于光電通訊【技術(shù)領(lǐng)域】，具體涉及一種光纖插回損測試儀及測試校準方法。
【背景技術(shù)】
[0003]隨著社會的進步，通信技術(shù)獲得很大的發(fā)展，F(xiàn)TTH(光纖到戶)已成為光纖接入網(wǎng)發(fā)展的一種最終形式，光分路器作為FTTH的核心器件市場需求越來越大。光分路器一般包含I個或2個輸入端口和多個輸出端口，技術(shù)指標(biāo)主要包括:插入損耗IL和偏振相關(guān)損耗PDL以及回波損耗RL，其中IL和PDL為正向測試，而RL既要正向測試又需反向測試。傳統(tǒng)上對光分器等元器件技術(shù)參數(shù)的測試，主要使用單一功能的插損測試儀、回損測試儀及偏振控制器來完成。目前市面上開發(fā)的光纖插回損測試儀可以完成正向多通道插入損耗測試，或反向多通道回波損耗測試，不能實現(xiàn)正反向一次測試，同時因為實現(xiàn)正反向一次測試時儀表的測試端口需外接測試用跳線與被測元器件連接，每次儀表連接外接測試用跳線時的連接損耗的不確定性會造成插入損耗IL測試的直接誤差，導(dǎo)致測量數(shù)據(jù)不準確。
[0004]
【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]針對上述技術(shù)缺陷，本發(fā)明的目的是提供一種集插入損耗、回波損耗及偏振相關(guān)損耗高效測試于一體，具有校準功能從而解決插入損耗測量因連接損耗的不確定性導(dǎo)致測試誤差的多通道光纖插回損測試儀；還提供一種多通道光纖插回損測試儀測試校準方法。
[0006]實現(xiàn)上述發(fā)明目的的技術(shù)方案如下:
多通道光纖插回損測試儀，包括光源組、多個光分路器、偏振控制器、內(nèi)置探測器多路光功率計、主控器和與主控器線路連接的外置探測器參考光功率計；光源組的光源依次經(jīng)光開關(guān)組、光分路器、偏振控制器、正向輸出測試端口，被測試器件、正向輸入測試端口、光分路器及內(nèi)置多路光功率計構(gòu)成正向測試通道；光源依次經(jīng)光開關(guān)組、多路光開關(guān)、光分路器、正向輸入測試端口、被測試器件、正向輸出測試端口、偏振控制器、光分路器及內(nèi)置多路光功率計構(gòu)成反向測試通道；正向輸出、輸入測試端口分別通過測試用跳線與被測試器件連接；主控器分別與多光源組、光開關(guān)組、多路光開關(guān)、偏振控制器、內(nèi)置探測器多路光功率計線路連接。
[0007]所述正向測試端口的數(shù)量為I個或2個。
[0008]所述反向測試端口的數(shù)量為多個。
[0009]多通道光纖插回損測試儀測試校準方法，包括如下步驟:
首先進行校準步驟，測試用跳線與正向輸出/輸入測試端口連接的一端為第一連接端，另一端為第二連接端；將將要與輸出/輸入測試端口連接的測試用跳線的第二連接端接至光源組，測試用跳線的第一連接端連接至外置探測器參考光功率計，測出其功率值P.;將該測試用跳線的第一連接端接至需連接的測試端口，通過與該測試端口連接的內(nèi)置多路光功率計測出其功率Pi;主控器將得到校準值Pi ^J=P1-P #進行保存；將所有輸出/輸入測試端口用到的測試用跳線按以上步驟連接校準；
其次進行插入損耗測試步驟，本發(fā)明多通道光纖插回損測試儀接入被測試器件構(gòu)成的正/反向測試通道中，與被測試器件輸入端連接的部分稱為測試輸出通道，與被測試器件輸出端連接的部分稱為測試輸入通道； 光源組的光源從測試輸出通道輸出，將連接正向輸出測試端口的測試用跳線的第二連接端連接至外置探測器參考光功率計，測試歸零值P# ;然后將被測試器件的輸入、輸出端分別與連接本測試儀的測試輸出、輸入通道的測試用跳線連接，通過內(nèi)置探測器多路光功率計測出其輸出功率值Pui，主控器接收數(shù)據(jù)并運算，測試通道的插損值ILi=PfPi3a+Pie。
[0010]本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明多通道光纖插回損測試儀，具有正、反向測試通道并設(shè)有外置探測器參考光功率計，光源組、光開關(guān)和偏振控制器均由主控板控制，同時內(nèi)置探測器多路光功率計和外置探測器參考光功率計測得的光功率數(shù)據(jù)均由主控器進行處理，多通道插回損、偏振相關(guān)損耗實時測量，測試效率高。
[0011]使用本發(fā)明多通道光纖插回損測試儀進行的測試校準方法，可以
消除了因連接損耗不確定引起的測量誤差，解決了【技術(shù)領(lǐng)域】內(nèi)存在的技術(shù)缺陷。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0012]下面結(jié)合附圖和具體實施例對本發(fā)明進一步說明:
圖1為本發(fā)明結(jié)構(gòu)框圖。
【具體實施方式】
[0013]如圖1所示，
多通道光纖插回損測試儀，包括光源組、多個光分路器、偏振控制器、內(nèi)置探測器多路光功率計、主控器和與主控器線路連接的外置探測器參考光功率計；光源組的光源依次經(jīng)光開關(guān)組、光分路器、偏振控制器、正向輸出測試端口，被測試器件、正向輸入測試端口、光分路器及內(nèi)置探測器多路光功率計構(gòu)成正向測試通道；光源依次經(jīng)光開關(guān)組、多路光開關(guān)、光分路器、正向輸入測試端口、被測試器件、正向輸出測試端口、偏振控制器、光分路器及內(nèi)置探測器多路光功率計構(gòu)成反向測試通道；正向輸出、輸入測試端口分別通過測試用跳線與被測試器件連接；主控器分別與多光源組、光開關(guān)組、多路光開關(guān)、偏振控制器、內(nèi)置探測器多路光功率計線路連接。
[0014]正向測試端口的數(shù)量為I個或2個。
[0015]所述反向測試端口的數(shù)量為多個，一般采用8個或16個。
[0016]多通道光纖插回損測試儀測試校準方法，包括如下步驟:
首先進行校準步驟，測試用跳線與正向輸出/輸入測試端口連接的一端為第一連接端，另一端為第二連接端；
將將要與輸出/輸入測試端口連接的測試用跳線的第二連接端接至光源組，測試用跳線的第一連接端連接至外置探測器參考光功率計，測出其功率值P.;將該測試用跳線的第一連接端接至需連接的測試端口，通過與該測試端口連接的內(nèi)置多路光功率計測出其功率Pi;主控器將得到校準值Pi ^J=P1-P #進行保存；將所有輸出/輸入測試端口用到的測試用跳線按以上步驟連接校準；
其次進行插入損耗測試步驟，本發(fā)明多通道光纖插回損測試儀接入被測試器件構(gòu)成的正/反向測試通道中，與被測試器件輸入端連接的部分稱為測試輸出通道，與被測試器件輸出端連接的部分稱為測試輸入通道；
光源組的光源從測試輸出通道輸出，將連接正向輸出測試端口的測試用跳線的第二連接端連接至外置探測器參考光功率計，測試歸零值P# ;然后將被測試器件的輸入、輸出端分別與連接本測試儀的測試輸出、輸入通道的測試用跳線連接，通過內(nèi)置多路光功率計測出其輸出功率值匕《，主控器接收數(shù)據(jù)并運算，測試通道的插損值ILeP^-P^+Pi^
[0017]將所有測試通道按以上步驟連接上光測試跳線進行校準后再進行測試步驟，消除了因連接損耗不確定引起的誤差。[0018]本發(fā)明光源組、光開關(guān)和偏振控制器均由主控板控制，內(nèi)置探測器多路光功率計和外置探測器參考光功率計測得的光功率數(shù)據(jù)由主控板進行處理，多通道插回損、偏振相關(guān)損耗實時測量，效率高。
【權(quán)利要求】
1.多通道光纖插回損測試儀，其特征是:包括光源組、多個光分路器、偏振控制器、內(nèi)置探測器多路光功率計、主控器和與主控器線路連接的外置探測器參考光功率計；光源組的光源依次經(jīng)光開關(guān)組、光分路器、偏振控制器、正向輸出測試端口，被測試器件、正向輸入測試端口、光分路器及內(nèi)置多路光功率計構(gòu)成正向測試通道；光源依次經(jīng)光開關(guān)組、多路光開關(guān)、光分路器、正向輸入測試端口、被測試器件、正向輸出測試端口、偏振控制器、光分路器及內(nèi)置探測器多路光功率計構(gòu)成反向測試通道；正向輸出、輸入測試端口分別通過測試用跳線與被測試器件連接；主控器分別與多光源組、光開關(guān)組、多路光開關(guān)、偏振控制器、內(nèi)置探測器多路光功率計線路連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多通道光纖插回損測試儀，其特征是:所述正向測試端口的數(shù)量為I個或2個。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多通道光纖插回損測試儀，其特征是:所述反向測試端口的數(shù)量為多個。
4.一種根據(jù)權(quán)利要求1所述的多通道光纖插回損測試儀的測試校準方法，包括如下步驟: 首先進行校準步驟，測試用跳線與輸出/輸入測試端口連接的一端為第一連接端，另一端為第二連接端； 將將要與輸出/輸入測試端口連接的測試用跳線的第二連接端接至光源組，測試用跳線的第一連接端連接至外置探測器參考光功率計，測出其功率值P.;將該測試用跳線的第一連接端接至需連接的測試端口，通過與該測試端口連接的內(nèi)置探測器多路光功率計測出其功率Pi ;主控器將得到校準值Pi；R =P1-P#進行保存；將所有輸出/輸入測試端口用到的測試用跳線按以上步驟連接校準； 其次進行插入損耗測試步驟，本發(fā)明多通道光纖插回損測試儀接入被測試器件構(gòu)成的正/反向測試通道中，與被測試器件輸入端連接的部分稱為測試輸出通道，與被測試器件輸出端連接的部分稱為測試輸入通道； 光源組的光源從測試輸出通道輸出，將連接正向輸出測試端口的測試用跳線的第二連接端連接至外置探測器參考光功率計，測試歸零值P#;將被測試器件的輸入、輸出端分別與連接本測試儀的測試輸出、輸入通道的測試用跳線連接，通過內(nèi)置多路光功率計測出其輸出功率值Pi?],主控器接收數(shù)據(jù)并運算，測試通道的插損值ILi=P^-Pi +Pi校。
【文檔編號】G01M11/02GK103630331SQ201210317728
【公開日】2014年3月12日 申請日期:2012年8月31日 優(yōu)先權(quán)日:2012年8月27日
【發(fā)明者】尹曉民 申請人:上海光之虹光電通訊設(shè)備有限公司