專利名稱：一種雜光測(cè)試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種雜光測(cè)試儀，特別涉及一種測(cè)試光學(xué)鏡頭雜光系數(shù)的雜光測(cè)試儀。
技術(shù)背景雜光系數(shù)這項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)是評(píng)價(jià)光學(xué)鏡頭成像質(zhì)量的一個(gè)比較重要的指標(biāo)。如果雜光系數(shù) 大將使像面的像對(duì)比降低，像對(duì)比低就意味著光學(xué)鏡頭目標(biāo)傳遞質(zhì)量的下降，成像質(zhì)量差。 所以雜光系數(shù)的檢測(cè)結(jié)果是否準(zhǔn)確至關(guān)重要?，F(xiàn)有的雜光測(cè)試儀包括積分球，可變光欄，探測(cè)器，調(diào)整架，兩維移動(dòng)機(jī)構(gòu)；光源安裝 在積分球外殼上，并且在積分球的內(nèi)表面涂有漫反射材料，積分球內(nèi)的目標(biāo)板、積分球上與 目標(biāo)板相對(duì)一側(cè)的可變光欄、被測(cè)光學(xué)系統(tǒng)和探測(cè)器在同一光軸上順序放置；被測(cè)光學(xué)系統(tǒng) 和調(diào)整架都安置在兩維移動(dòng)機(jī)構(gòu)的導(dǎo)軌上，探測(cè)器坐在調(diào)整架上，在平行于光軸的導(dǎo)軌上可 以做直線滑動(dòng)。該雜光測(cè)試儀存在的問(wèn)題是探測(cè)器只能在兩維(X、 Y)方向上作長(zhǎng)距離 直線移動(dòng)，在Y軸方向上僅靠調(diào)整架作微小的移動(dòng)，因而僅適用于像面小的光學(xué)系統(tǒng)雜光測(cè) 試；由于調(diào)整架與導(dǎo)軌之間采用的是滑動(dòng)接觸，滑動(dòng)面間距還要很小，時(shí)間久了潤(rùn)滑脂會(huì)凝 固，所以移動(dòng)時(shí)阻力大、導(dǎo)軌易產(chǎn)生晃動(dòng)，往往造成探測(cè)器晃動(dòng)量大，帶來(lái)測(cè)量誤差，被測(cè) 光學(xué)系統(tǒng)體積和重量越大，誤差越大；被測(cè)光學(xué)系統(tǒng)和調(diào)整架都安置在兩維移動(dòng)機(jī)構(gòu)的導(dǎo)軌 上，降低了檢測(cè)調(diào)整效率和降低測(cè)量精度。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種探測(cè)器可以在四維移動(dòng)機(jī)構(gòu)上作三維(X、 Y、 Z) 方向平移，并且在水平方向可繞Y軸旋轉(zhuǎn)的雜光測(cè)試儀。不僅能夠?qū)崿F(xiàn)小像面的光學(xué)系統(tǒng)雜 光系數(shù)的測(cè)試，還可以對(duì)像面照度進(jìn)行均勻性測(cè)試和實(shí)現(xiàn)大像面的光學(xué)系統(tǒng)雜光系數(shù)的測(cè) 試。本發(fā)明的雜光測(cè)試儀包括積分球，光源，目標(biāo)板，可變光欄，探測(cè)器，調(diào)整架，四維 移動(dòng)機(jī)構(gòu)；探測(cè)器在四維移動(dòng)機(jī)構(gòu)上可以作三維(X、 Y、 Z)方向平移，并且在水平方向可 繞Y軸旋轉(zhuǎn)。在對(duì)像面照度進(jìn)行均勻性測(cè)試和對(duì)大像面的光學(xué)系統(tǒng)雜光系數(shù)進(jìn)行測(cè)量時(shí)，可 以使探測(cè)器在三維(X、 Y、 Z)方向上平移，逐漸對(duì)整個(gè)像面進(jìn)行測(cè)試。調(diào)整架繞Y軸旋 轉(zhuǎn)，就可以對(duì)球面像面的光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行雜光測(cè)試。所述四維移動(dòng)機(jī)構(gòu)包括X軸方向?qū)к?、Y軸方向?qū)к?、Z軸方向?qū)к?、支架、調(diào)整 架；X軸方向?qū)к壒潭ㄔ谥Ъ苌?；Z軸方向?qū)к壟cX軸方向?qū)к壜?lián)接，Z軸方向?qū)к壙梢?沿X軸方向?qū)к壸髦本€移動(dòng)；Y軸方向?qū)к壍捻敹伺cZ軸方向?qū)к壜?lián)接，Y軸方向?qū)к?可以沿Z軸方向?qū)к壸髦本€移動(dòng)；Y軸方向?qū)к壙梢砸云漭S線為中心軸旋轉(zhuǎn)；調(diào)整架與Y 軸方向?qū)к壜?lián)接，調(diào)整架即可以沿Y軸方向?qū)к壸髦本€移動(dòng)，又可以隨Y軸方向?qū)к壚@Y 軸旋轉(zhuǎn)；探測(cè)器安裝在調(diào)整架上，可以隨調(diào)整架移動(dòng)和旋轉(zhuǎn)。所述X軸方向?qū)к墶軸方向?qū)к墶軸方向?qū)к壓驼{(diào)整架之間的聯(lián)接全部采用滾珠機(jī) 構(gòu)，因而探測(cè)器的平移和轉(zhuǎn)動(dòng)阻力小、運(yùn)行平穩(wěn)、測(cè)量誤差小，能夠?qū)Υ篌w積、大負(fù)荷的被 測(cè)光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)量。下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。


圖l、為本發(fā)明雜光測(cè)試儀結(jié)構(gòu)示意圖，也是摘要附圖。圖中l(wèi)-積分球，2-光源，3-目 標(biāo)板，5-可變光欄，6-被測(cè)光學(xué)系統(tǒng)，7-探測(cè)器，8-支架，9-X軸方向粗調(diào)導(dǎo)軌，10-X軸 方向細(xì)調(diào)導(dǎo)軌，ll-Y軸方向?qū)к墸?2-Z軸方向粗調(diào)導(dǎo)軌，13-轉(zhuǎn)臺(tái)，14-Z軸方向細(xì)調(diào)導(dǎo)軌， 15-調(diào)整架。圖2為四維移動(dòng)機(jī)構(gòu)右視結(jié)構(gòu)示意圖。圖中7-探測(cè)器，8-支架，9-X軸方向粗調(diào)導(dǎo)軌， IO-X軸方向細(xì)調(diào)導(dǎo)軌，ll-Y軸方向?qū)к墸?2-Z軸方向粗調(diào)導(dǎo)軌，13-轉(zhuǎn)臺(tái)，14-Z軸方向細(xì)調(diào)導(dǎo)軌。圖3為本發(fā)明四維移動(dòng)機(jī)構(gòu)三維坐標(biāo)示意圖。
具體實(shí)施方式
如圖1所示，本發(fā)明的雜光測(cè)試儀包括積分球1，光源2，目標(biāo)板3，可變光欄5，探 測(cè)器7，調(diào)整架13和四維移動(dòng)機(jī)構(gòu)；探測(cè)器7在四維移動(dòng)機(jī)構(gòu)上可以作三維(X、 Y、 Z) 方向平移，并且在水平方向可繞Y軸旋轉(zhuǎn)360度。在對(duì)像面照度進(jìn)行均勻性測(cè)試和對(duì)大像面 的光學(xué)系統(tǒng)雜光系數(shù)進(jìn)行測(cè)量時(shí)，可以使探測(cè)器7在三維(X、 Y、 Z)方向上平移，逐漸對(duì) 整個(gè)像面進(jìn)行測(cè)試。使調(diào)整架13繞Y軸方向?qū)к?1旋轉(zhuǎn)，就可以對(duì)球面像面的光學(xué)系統(tǒng)進(jìn) 行雜光測(cè)試。X軸方向?qū)к墶軸方向?qū)к塴l、 Z軸方向?qū)к壓驼{(diào)整架13之間的聯(lián)接全部采用滾珠 機(jī)構(gòu)，因而探測(cè)器7的平移和轉(zhuǎn)動(dòng)阻力小、運(yùn)行平穩(wěn)、測(cè)量誤差小，能夠?qū)Υ篌w積、大負(fù)荷 的被測(cè)光學(xué)系統(tǒng)6進(jìn)行測(cè)量。X軸方向?qū)к壈╔軸粗調(diào)導(dǎo)軌9和X軸細(xì)調(diào)導(dǎo)軌10， X軸粗調(diào)導(dǎo)軌9和X軸細(xì)調(diào) 導(dǎo)軌10分別固定在支架8上；Z軸方向?qū)к壈╖軸位置粗調(diào)導(dǎo)軌12和Z軸位置細(xì)調(diào)導(dǎo)軌 14， Z軸位置粗調(diào)導(dǎo)軌12與X軸粗調(diào)導(dǎo)軌9通過(guò)滾珠機(jī)構(gòu)聯(lián)接，轉(zhuǎn)臺(tái)13與Z軸位置粗調(diào)導(dǎo) 軌12通過(guò)滾珠軸承聯(lián)接，Z軸位置細(xì)調(diào)導(dǎo)軌14與轉(zhuǎn)臺(tái)13固定聯(lián)接；Y軸方向?qū)к塴l的頂 端與Z軸位置細(xì)調(diào)導(dǎo)軌14通過(guò)滾珠機(jī)構(gòu)聯(lián)接，Y軸方向?qū)к?1可以沿Z軸位置細(xì)調(diào)導(dǎo)軌 14作短距離移動(dòng)，并且Z軸位置細(xì)調(diào)導(dǎo)軌14和Y軸方向?qū)к?1可以隨轉(zhuǎn)臺(tái)13繞Y軸旋 轉(zhuǎn)。這樣探測(cè)器7在調(diào)整架15上可以實(shí)現(xiàn)兩維(X、 Z軸)精調(diào)節(jié)。探測(cè)器7在調(diào)整架上， 沿X軸粗調(diào)導(dǎo)軌9作直線移動(dòng)，被測(cè)光學(xué)系統(tǒng)6安置在X軸細(xì)調(diào)導(dǎo)軌10上，可以沿X軸細(xì) 調(diào)導(dǎo)軌10作直線移動(dòng)，因而探測(cè)器7和被測(cè)光學(xué)系統(tǒng)6的位置可以分別調(diào)整，互不影響， 調(diào)整效率高。利用平行光管對(duì)被測(cè)光學(xué)系統(tǒng)6發(fā)射平行光束，將調(diào)整架13旋轉(zhuǎn)一個(gè)角度，可以對(duì)放 置于地面上的大體積、大負(fù)荷的光學(xué)系統(tǒng)透過(guò)率進(jìn)行測(cè)量。
權(quán)利要求
1、 一種雜光測(cè)試儀，包括積分球，光源，目標(biāo)板，可變光欄，探測(cè)器，調(diào)整架，其特 征在于還包括四維移動(dòng)機(jī)構(gòu)；探測(cè)器(7)在四維移動(dòng)機(jī)構(gòu)上可以作三維方向平移，并且在 水平方向可繞Y軸旋轉(zhuǎn)。
2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的雜光測(cè)試儀，其特征在于四維移動(dòng)機(jī)構(gòu)包括X軸方向?qū)к墶?Y軸方向?qū)к?11)、 Z軸方向?qū)к?、支?8)、調(diào)整架(15); X軸方向?qū)к壒潭ㄔ谥Ъ?8) 上；Z軸方向?qū)к壟cX軸方向?qū)к壜?lián)接，Z軸方向?qū)к壙梢匝豖軸方向?qū)к壸髦本€移動(dòng)； Y軸方向?qū)к?11)的頂端與Z軸方向?qū)к壜?lián)接，Y軸方向?qū)к?11)可以沿Z軸方向?qū)?軌作直線移動(dòng)；Y軸方向?qū)к?11)可以以其軸線為中心軸旋轉(zhuǎn)；調(diào)整架(15)與Y軸方 向?qū)к?11)聯(lián)接，調(diào)整架(15)可以沿Y軸方向?qū)к?11)作直線移動(dòng)；探測(cè)器(7)安 裝在調(diào)整架(15)上。
3、根據(jù)權(quán)利要求2所述的雜光測(cè)試儀，其特征在于X軸方向?qū)к墶軸方向?qū)к?11 )、 Z軸方向?qū)к壓驼{(diào)整架(13)之間的聯(lián)接全部采用滾珠機(jī)構(gòu)。
4、根據(jù)權(quán)利要求3所述的雜光測(cè)試儀，其特征在于X軸方向?qū)к壈╔軸粗調(diào)導(dǎo)軌(9) 和X軸細(xì)調(diào)導(dǎo)軌(10)， X軸粗調(diào)導(dǎo)軌(9)和X軸細(xì)調(diào)導(dǎo)軌(10)分別固定在支架(8)上； Z軸方向?qū)к壈╖軸位置粗調(diào)導(dǎo)軌(12)和Z軸位置細(xì)調(diào)導(dǎo)軌(14)， Z軸位置粗調(diào)導(dǎo)軌 (12)與X軸粗調(diào)導(dǎo)軌(9)通過(guò)滾珠機(jī)構(gòu)聯(lián)接，轉(zhuǎn)臺(tái)(13)與Z軸位置粗調(diào)導(dǎo)軌(12)通 過(guò)滾珠軸承聯(lián)接，Z軸位置細(xì)調(diào)導(dǎo)軌(14)與轉(zhuǎn)臺(tái)(13)固定聯(lián)接；Y軸方向?qū)к?11)的 頂端與Z軸位置細(xì)調(diào)導(dǎo)軌(14)通過(guò)滾珠機(jī)構(gòu)聯(lián)接，Y軸方向?qū)к?11)可以沿Z軸位置細(xì) 調(diào)導(dǎo)軌(14)作短距離移動(dòng)，并且Z軸位置細(xì)調(diào)導(dǎo)軌(14)和Y軸方向?qū)к?11)可以隨 轉(zhuǎn)臺(tái)(13)繞Y軸旋轉(zhuǎn)；被測(cè)光學(xué)系統(tǒng)(6)安置在X軸細(xì)調(diào)導(dǎo)軌(10)上，可以沿X軸細(xì) 調(diào)導(dǎo)軌(10)作直線移動(dòng)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種雜光測(cè)試儀，該雜光測(cè)試儀包括積分球，光源，目標(biāo)板，可變光欄，探測(cè)器，調(diào)整架，四維移動(dòng)機(jī)構(gòu)；探測(cè)器可以在四維移動(dòng)機(jī)構(gòu)上作三維(X、Y、Z)方向平移，并且在水平方向可繞Y軸旋轉(zhuǎn)的。本發(fā)明即可以對(duì)像面照度進(jìn)行均勻性測(cè)試，又可以實(shí)現(xiàn)像面是平面的和球面的光學(xué)系統(tǒng)雜光系數(shù)的測(cè)試。
文檔編號(hào)G01M11/00GK101144750SQ20071005615
公開(kāi)日2008年3月19日 申請(qǐng)日期2007年10月11日 優(yōu)先權(quán)日2007年10月11日
發(fā)明者張曉輝, 王立朋, 谷立山 申請(qǐng)人:中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所