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測(cè)試治具的制作方法

文檔序號(hào):6160013閱讀:302來(lái)源:國(guó)知局
測(cè)試治具的制作方法
【專(zhuān)利摘要】一種測(cè)試治具包括一本體,該本體的第一表面上設(shè)有兩收容孔;兩個(gè)插針,每個(gè)插針的第一端收容于一收容孔內(nèi);兩根導(dǎo)線,每一根導(dǎo)線的第一端分別與一插針的第一端電性相連,兩根導(dǎo)線的另一端分別用于與待測(cè)裝置的測(cè)試點(diǎn)及參考點(diǎn)焊接,每一插針的第二端用于將待測(cè)裝置的測(cè)試點(diǎn)及參考點(diǎn)的信號(hào)導(dǎo)出。本發(fā)明測(cè)試治具的正極探棒及該電壓表的正極通過(guò)一導(dǎo)線及一插針與測(cè)試點(diǎn)相連,進(jìn)而有效地提高了測(cè)試的準(zhǔn)確度。
【專(zhuān)利說(shuō)明】測(cè)試治具
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測(cè)試治具,特別涉及一種用于測(cè)試內(nèi)存條電氣特性的測(cè)試治具?!颈尘凹夹g(shù)】
[0002]現(xiàn)在對(duì)內(nèi)存芯片的電氣特性進(jìn)行測(cè)試時(shí),需測(cè)試者手握著示波器的正極探棒以與一測(cè)試點(diǎn)相連,還需握著不波器的負(fù)極探棒以與一參考點(diǎn)相連。同時(shí),還需將一電壓表的正極與負(fù)極分別連接至該測(cè)試點(diǎn)及參考點(diǎn),以獲得該測(cè)試點(diǎn)與參考點(diǎn)的電壓。然而,若該測(cè)試點(diǎn)與參考點(diǎn)的距離較遠(yuǎn),用戶(hù)需雙手分別握著一探棒,當(dāng)需要調(diào)試儀器時(shí),用戶(hù)則無(wú)法空出手來(lái)調(diào)試,進(jìn)而給測(cè)試帶來(lái)不便。另外,由于一個(gè)測(cè)試點(diǎn)需同時(shí)與該正極探棒及該電壓表的正極相連,一個(gè)參考點(diǎn)需同時(shí)與該負(fù)極探棒及該電壓表的負(fù)極相連,而一般的測(cè)試點(diǎn)或參考點(diǎn)的接觸面積較小,因而有可能在測(cè)試時(shí)因無(wú)法充分接觸而導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]鑒于以上內(nèi)容,有必要提供一種方便測(cè)試的測(cè)試治具。
[0004]一種測(cè)試治具包括:
一本體,該本體的第一表面上設(shè)有兩收容孔;
兩個(gè)插針,每個(gè)插針的第一端收容于一收容孔內(nèi);
兩根導(dǎo)線,每一根導(dǎo)線的第一端分別與一插針的第一端電性相連,兩根導(dǎo)線的另一端分別用于與待測(cè)裝置的測(cè)試點(diǎn)及參考點(diǎn)焊接,每一插針的第二端用于將待測(cè)裝置的測(cè)試點(diǎn)及參考點(diǎn)的信號(hào)導(dǎo)出。
[0005]上述測(cè)試治具通過(guò)將探棒的兩探針?lè)謩e與該兩插針相連,同時(shí)將電壓表的兩接線端與該兩插針相連,避免了在該接觸面積較小的測(cè)試點(diǎn)上同時(shí)連接探棒及電壓表的接線端而致使測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確的不足。
【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0006]圖1是本發(fā)明測(cè)試治具的較佳實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)圖。
[0007]圖2是本發(fā)明測(cè)試治具的使用狀態(tài)圖。
[0008]主要元件符號(hào)說(shuō)明
【權(quán)利要求】
1.一種測(cè)試治具包括: 一本體,該本體的第一表面上設(shè)有兩收容孔; 兩個(gè)插針,每個(gè)插針的第一端收容于一收容孔內(nèi); 兩根導(dǎo)線,每一根導(dǎo)線的第一端分別與一插針的第一端電性相連,兩根導(dǎo)線的另一端分別用于與待測(cè)裝置的測(cè)試點(diǎn)及參考點(diǎn)焊接,每一插針的第二端用于將待測(cè)裝置的測(cè)試點(diǎn)及參考點(diǎn)的信號(hào)導(dǎo)出。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試治具,其特征在于:該本體的每一收容孔內(nèi)設(shè)有一中空的金屬件,該金屬件的內(nèi)壁上設(shè)有螺紋,每一插針的第一端設(shè)有與該金屬件的內(nèi)壁上的螺紋相配合的外螺紋。
3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試治具,其特征在于:該本體的第二表面上設(shè)有一對(duì)卡腳,該對(duì)卡腳用于將該測(cè)試治具固定于該待測(cè)裝置上。
4.如權(quán)利要求1或2或3所述的測(cè)試治具,其特征在于:每一插針呈Z形,每一插針的中央形成一彎折部,以連接該電壓表的接線端。
【文檔編號(hào)】G01R1/04GK103513065SQ201210220983
【公開(kāi)日】2014年1月15日 申請(qǐng)日期:2012年6月29日 優(yōu)先權(quán)日:2012年6月29日
【發(fā)明者】王太誠(chéng), 楊雷雷, 李月姣 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(武漢)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司
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