專利名稱：電纜導(dǎo)體直流電阻測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及ー種電纜導(dǎo)體直流電阻測試裝置。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有的電纜導(dǎo)體直流電阻的測量已是比較成熟的試驗方法，對常規(guī)的導(dǎo)線、圓形絞合線芯或緊壓圓形結(jié)構(gòu)的導(dǎo)體來說，采用雙臂電橋或其他電阻測試儀器測量時，用四端測量夾具或四個V字形的測試夾頭連接被測試樣，測試電纜導(dǎo)體的直流電阻基本沒有存在較大的誤差。而對于大規(guī)格異形導(dǎo)體(扇形或瓦形或緊壓預(yù)扭導(dǎo)體)結(jié)構(gòu)時，沿用這種常規(guī)的直流電阻測量方法常常得不到正確的測量數(shù)值。其中，大規(guī)格緊壓預(yù)扭導(dǎo)體的直流電阻測試發(fā)生檢測誤差的概率較大，測試數(shù)據(jù)不真實，數(shù)據(jù)波動性較大。電カ部門和質(zhì)量技術(shù)監(jiān)瞀部門現(xiàn)場抽樣檢測也經(jīng)常發(fā)生直流電阻檢測不合格現(xiàn)象。而實際電纜的截面和電阻肯定是合格的，所以經(jīng)常與電力、質(zhì)量監(jiān)瞀等部門發(fā)生爭執(zhí)。采用現(xiàn)有常規(guī)的V字形測試夾具測試大規(guī)格預(yù)扭導(dǎo)體直流電阻吋，由于大規(guī)格預(yù)扭導(dǎo)體的扇形頂角角度存在預(yù)扭節(jié)距，造成扇形頂角方向角度不同，致使導(dǎo)體與V形夾具的接觸不太良好，導(dǎo)致接觸電阻偏大。同樣的導(dǎo)體夾到夾具上的角度稍微變化一點，導(dǎo)體直流電阻的數(shù)據(jù)波動就很大，數(shù)據(jù)的分散性也較大。主要原因就是測試導(dǎo)體直流電阻時的接觸電阻偏大后，流入被測導(dǎo)體每根單絲的電流不均勻，或大或小，所以測試數(shù)據(jù)波動性較大，不能體現(xiàn)真實的導(dǎo)體直流電阻數(shù)值，經(jīng)常出現(xiàn)導(dǎo)體直流電阻測試不合格現(xiàn)象。如圖I和圖2所示，將被測導(dǎo)體I如圖方式夾持好后，接好測試儀器的電流端2、電壓端3連接線，打開測試儀器進行測試，其測試原理是測試儀器輸出固定值的直流電流與直流電壓，則電流通過導(dǎo)體與測試儀器形成一個閉合回路，此時就有電流流過測試儀器，測試儀器測量出該電流值，利用歐姆定律就可以計算出相應(yīng)的電阻值。從此圖中可以看到，由于扇形預(yù)扭緊壓導(dǎo)體在該裝置兩端分別與左右兩V形夾21的接觸不可能保持十分均勻，并且導(dǎo)體經(jīng)過預(yù)扭后，其導(dǎo)體與V形夾的接觸情況也有所改變，導(dǎo)體與V形夾的接觸不是最良好，導(dǎo)致接觸電阻偏大，從而造成測試電流不能均勻地流過每根導(dǎo)體單絲，致使實際流過的電流損失較大，最終導(dǎo)致測算出的電阻值要比實際導(dǎo)體的電阻值偏大，數(shù)據(jù)的分散性、波動性均較大，使導(dǎo)體直流電阻的測試數(shù)據(jù)不真實。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供ー種電纜導(dǎo)體直流電阻測試裝置，采用端面電流輸入法測試電纜導(dǎo)體直流電阻，避免導(dǎo)體直流電阻的測試數(shù)據(jù)不真實。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案電纜導(dǎo)體直流電阻測試裝置，包括兩個分別設(shè)于該測試裝置兩端的端面電流輸入夾具，所述端面電流輸入夾具包括ー個帽狀的基座，所述基座上設(shè)有夾持裝置和電流導(dǎo)入裝置，所述電流導(dǎo)入裝置包括設(shè)于所述基座底部的若干電流導(dǎo)入端子。作為優(yōu)選，所述電流導(dǎo)入端子為頂尖，所述頂尖具有一個尖針狀的尖部，所述頂尖的尖部由所述基座的底部內(nèi)側(cè)伸出。作為優(yōu)選，所述電流導(dǎo)入裝置還包括依次固定的前蓋板、彈簧座、彈簧蓋，所述頂尖的頭部埋設(shè)于所述前蓋板內(nèi)，所述彈簧座內(nèi)對應(yīng)所述頂尖的位置設(shè)有通孔，所述通孔內(nèi)設(shè)有頂尖彈簧。作為優(yōu)選，所述電流導(dǎo)入裝置還包括后蓋、電流導(dǎo)入螺柱，所述后蓋與所述彈簧蓋固定，所述后蓋與所述彈簧蓋之間設(shè)有ー個空腔，該空腔內(nèi)設(shè)有接線板，所述電流導(dǎo)入螺柱穿過所述后蓋與所述接線板連接，每ー個頂尖分別通過一根導(dǎo)線連接至所述接線板。作為優(yōu)選，所述電流導(dǎo)入裝置還包括調(diào)節(jié)螺母、調(diào)節(jié)彈簧，所述基座的底部延伸有螺紋部，所述調(diào)節(jié)螺母通過該螺紋部與所述基座連接，所述調(diào)節(jié)螺母的端面可與所述彈簧座的底面相抵觸，所述調(diào)節(jié)彈簧設(shè)于所述基座的底部與所述彈簧座之間。作為優(yōu)選，所述夾持裝置包括均布于所述基座ロ部的至少三顆夾持螺釘。本發(fā)明由于采用了上述技術(shù)方案，采用端面電流輸入法測試電纜導(dǎo)體直流電阻， 讓測試電流通過電流引線直接從端面電流輸入夾具進入導(dǎo)體的端面，使電流均勻進入導(dǎo)體，真正保證測試電流最大限度地流過每根單絲，減小導(dǎo)體與夾具的接觸電阻，避免導(dǎo)體直流電阻的測試數(shù)據(jù)不真實，不但穩(wěn)定了電纜產(chǎn)品質(zhì)量，還降低了電纜成本。


圖I為現(xiàn)有電纜導(dǎo)體直流電阻測試裝置的結(jié)構(gòu)示意2為圖I中V形夾的結(jié)構(gòu)示意3為本發(fā)明電纜導(dǎo)體直流電阻測試裝置一個實施例的結(jié)構(gòu)示意4為圖3中端面電流輸入夾具的結(jié)構(gòu)示意5為圖4中的A-A剖視圖
具體實施例方式下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的具體實施方式
作進ー步描述。圖3所示為本發(fā)明電纜導(dǎo)體直流電阻測試裝置，包括兩個分別設(shè)于該測試裝置兩端的端面電流輸入夾具，如圖4和圖5所示，所述端面電流輸入夾具包括一個帽狀的基座2， 所述基座2上設(shè)有夾持裝置和電流導(dǎo)入裝置，所述電流導(dǎo)入裝置包括設(shè)于所述基座2底部的16根頂尖3，所述頂尖3具有一個尖針狀的尖部，所述頂尖3的尖部由所述基座2的底部內(nèi)側(cè)伸出。頂尖3是由紫銅加工成尖針形狀，直徑3mm，長度12mm。這些頂尖形成與預(yù)扭導(dǎo)體連接的多個接觸點，這些接觸點按圓周形狀均勻排布。所述電流導(dǎo)入裝置還包括依次固定的前蓋板4、彈簧座5、彈簧蓋6，所述頂尖3的頭部埋設(shè)于所述前蓋板4內(nèi)，所述彈簧座5內(nèi)對應(yīng)所述頂尖3的位置設(shè)有通孔，所述通孔內(nèi)設(shè)有頂尖彈簧7。使端面電流輸入夾具的各根頂尖與預(yù)扭導(dǎo)體端面接觸時，弾力可以調(diào)到最大，使該夾具內(nèi)各個部位的頂尖與導(dǎo)體的接觸點達到最大限度地緊密接觸。所述電流導(dǎo)入裝置還包括后蓋8、電流導(dǎo)入螺柱9，所述后蓋8與所述彈簧蓋6固定，所述后蓋8與所述彈簧蓋6之間設(shè)有ー個空腔，該空腔內(nèi)設(shè)有接線板10，所述電流導(dǎo)入螺柱9穿過所述后蓋8與所述接線板10連接，每ー個頂尖3分別通過一根導(dǎo)線連接至所述接線板10。頂尖的外端部分通過銅制的電流導(dǎo)入螺柱9與測試的電流引線15連接，測試吋，電流就是通過該引線進入頂尖連接部位再流入導(dǎo)體端面四周部位的各根單絲，然后均勻流過整個導(dǎo)體，最大限度地減小了夾具與導(dǎo)體的接觸電阻。所述電流導(dǎo)入裝置還包括調(diào)節(jié)螺母11、調(diào)節(jié)彈簧12，所述基座2的底部延伸有螺紋部21，所述調(diào)節(jié)螺母11通過該螺紋部21與所述基座2連接，所述調(diào)節(jié)螺母11的端面可與所述彈簧座5的底面相抵觸，所述調(diào)節(jié)彈簧12設(shè)于所述基座2的底部與所述彈簧座5之間。所述夾持裝置包括均布于所述基座2 ロ部的至少三顆夾持螺釘13。電位夾具仍然采用原有夾具。測試前，將被測導(dǎo)體如圖3方式夾持在測量夾具上后，再將兩個端面電流輸入夾具分別固定于導(dǎo)體的兩端面，使該夾具的多個頂尖與導(dǎo)體端面接觸良好，觀察接觸情況后， 再根據(jù)實際適當(dāng)調(diào)整調(diào)節(jié)螺母，確保頂尖與導(dǎo)體的接觸。分別將端面電流輸入夾具、電位夾具與直流電源、測試儀器連線，接通電源后打開測試儀器就可以進行測試。從圖4中可以看到，由于電流的輸入是通過多根頂尖直接接觸到導(dǎo)體的端面上，這樣電流就會從這些接觸點均勻地流過整個導(dǎo)體，從而使流過導(dǎo)體每根單絲的電流更加均勻，實際流過導(dǎo)體的電流損失較小，較傳統(tǒng)的測試量具所輸入的電流有所提高，則測出的電阻值就更接近于該導(dǎo)體的實際直流電阻值。采用本發(fā)明電纜導(dǎo)體直流電阻測試裝置，克服了大規(guī)格緊壓預(yù)扭導(dǎo)體的直流電阻測試發(fā)生檢測誤差概率大、測試數(shù)據(jù)不真實、數(shù)據(jù)波動性較大等現(xiàn)象。導(dǎo)體直流電阻測試數(shù)據(jù)比原有試驗方法的數(shù)據(jù)平均值小了 I. 6%，體現(xiàn)了真實的導(dǎo)體直流電阻數(shù)值。據(jù)不完全統(tǒng)計像這種大規(guī)格電纜，公司一年所需銅材約12000噸，每噸按6萬元計算，一年共采購銅材 7.2億元。如果按平均計算可以節(jié)約I. 6%的銅材。為了確保導(dǎo)體直流電阻的合格率，導(dǎo)體直流電阻應(yīng)留有I %的余量，這樣還有0. 6 %的節(jié)約成本。所以，采用本發(fā)明電纜導(dǎo)體直流電阻測試裝置后，毎年可以為公司節(jié)約四百多萬元的電纜成本，能為公司創(chuàng)造較好的經(jīng)濟效益。2011年，電線電纜行業(yè)用銅量約450多萬噸，如果電纜制造企業(yè)均采用本發(fā)明電纜導(dǎo)體直流電阻測試裝置后，一年將為電纜行業(yè)節(jié)約2. 7萬多噸銅材，約合人民幣16億多元，為國家節(jié)能降耗做出積極貢獻。
權(quán)利要求
1.電纜導(dǎo)體直流電阻測試裝置，其特征在于包括兩個分別設(shè)于該測試裝置兩端的端面電流輸入夾具，所述端面電流輸入夾具包括一個帽狀的基座(2)，所述基座(2)上設(shè)有夾持裝置和電流導(dǎo)入裝置，所述電流導(dǎo)入裝置包括設(shè)于所述基座(2)底部的若干電流導(dǎo)入端子。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述電纜導(dǎo)體直流電阻測試裝置，其特征在于所述電流導(dǎo)入端子為頂尖(3)，所述頂尖(3)具有一個尖針狀的尖部，所述頂尖(3)的尖部由所述基座(2)的底部內(nèi)側(cè)伸出。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述電纜導(dǎo)體直流電阻測試裝置，其特征在于所述電流導(dǎo)入裝置還包括依次固定的前蓋板(4)、彈簧座(5)、彈簧蓋(6)，所述頂尖(3)的頭部埋設(shè)于所述前蓋板(4)內(nèi)，所述彈簧座(5)內(nèi)對應(yīng)所述頂尖(3)的位置設(shè)有通孔，所述通孔內(nèi)設(shè)有頂尖彈簧(X)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述電纜導(dǎo)體直流電阻測試裝置，其特征在于所述電流導(dǎo)入裝置還包括后蓋(8)、電流導(dǎo)入螺柱(9)，所述后蓋(8)與所述彈簧蓋(6)固定，所述后蓋(8)與所述彈簧蓋(6)之間設(shè)有一個空腔，該空腔內(nèi)設(shè)有接線板(10)，所述電流導(dǎo)入螺柱(9)穿過所述后蓋(8)與所述接線板(10)連接，每一個頂尖(3)分別通過一根導(dǎo)線連接至所述接線板(10)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述電纜導(dǎo)體直流電阻測試裝置，其特征在于所述電流導(dǎo)入裝置還包括調(diào)節(jié)螺母(11)、調(diào)節(jié)彈簧(12)，所述基座(2)的底部延伸有螺紋部(21)，所述調(diào)節(jié)螺母(11)通過該螺紋部(21)與所述基座(2)連接，所述調(diào)節(jié)螺母(11)的端面可與所述彈簧座(5)的底面相抵觸，所述調(diào)節(jié)彈簧(12)設(shè)于所述基座(2)的底部與所述彈簧座(5)之間。
6.根據(jù)權(quán)利要求I所述電纜導(dǎo)體直流電阻測試裝置，其特征在于所述夾持裝置包括均布于所述基座(2) 口部的至少三顆夾持螺釘(13)。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種電纜導(dǎo)體直流電阻測試裝置，包括兩個分別設(shè)于該測試裝置兩端的端面電流輸入夾具，所述端面電流輸入夾具包括一個帽狀的基座，所述基座上設(shè)有夾持裝置和電流導(dǎo)入裝置，所述電流導(dǎo)入裝置包括設(shè)于所述基座底部的若干電流導(dǎo)入端子。本發(fā)明由于采用了上述技術(shù)方案，采用端面電流輸入法測試電纜導(dǎo)體直流電阻，讓測試電流通過電流引線直接從端面電流輸入夾具進入導(dǎo)體的端面，使電流均勻進入導(dǎo)體，真正保證測試電流最大限度地流過每根單絲，減小導(dǎo)體與夾具的接觸電阻，避免導(dǎo)體直流電阻的測試數(shù)據(jù)不真實，不但穩(wěn)定了電纜產(chǎn)品質(zhì)量，還降低了電纜成本。
文檔編號G01R27/08GK102608428SQ20121007055
公開日2012年7月25日 申請日期2012年3月16日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月16日
發(fā)明者吳長順, 楊士東, 金金元, 陳建平 申請人:國家電線電纜質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心, 浙江晨光電纜股份有限公司