專利名稱：一種激光器測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及測(cè)試設(shè)備領(lǐng)域，更具體的說涉及一種對(duì)激光器進(jìn)行性能測(cè)試的測(cè)
試裝置。
背景技術(shù)：
世界通信領(lǐng)域發(fā)展最快的是光纖通信技術(shù)和無線通信技術(shù)，而半導(dǎo)體激光器是光纖通信用的主要光源，其為光電子元器件的核心器件，目前IOG半導(dǎo)體激光器更是超長距離、超大容量光纖通信系統(tǒng)的關(guān)鍵器件。由于在激光器的生產(chǎn)過程中其不可避免會(huì)存在一些影響產(chǎn)品一致性的因素，其使得制造出來的激光器在質(zhì)量性能參數(shù)上仍會(huì)存在一定的浮動(dòng)，由此在激光器成品出廠前，其必須要對(duì)其進(jìn)行性能測(cè)試，從而保證產(chǎn)品投入市場的一致性。但是，由于目前對(duì)激光器進(jìn)行測(cè)試時(shí)，其普遍采用的為人工握持以及人工接線的方式來實(shí)現(xiàn)，從而具有勞動(dòng)強(qiáng)度大以及測(cè)試效率低的缺陷，由此大大降低了激光器成品的出廠速度。有鑒于此，本發(fā)明人針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)在對(duì)激光器進(jìn)行測(cè)試時(shí)的上述缺陷深入研究，遂有本案產(chǎn)生。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于提供一種激光器測(cè)試裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)在對(duì)激光器進(jìn)行測(cè)試時(shí)具有勞動(dòng)強(qiáng)度大以及測(cè)試效率低的缺陷。為了達(dá)成上述目的，本實(shí)用新型的解決方案是一種激光器測(cè)試裝置，其中，包括底座；電路板樣板，其上形成有可與待測(cè)試激光器對(duì)應(yīng)相連的發(fā)射測(cè)試端口和接收測(cè)試端口 ；下頂塊，與底座固定相連并使電路板樣板定位于下頂塊與底座之間；卡座，固定在底座上，該卡座上還形成有可與待測(cè)試激光器外形匹配的卡槽；壓緊機(jī)構(gòu)，用于壓緊待測(cè)試激光器。進(jìn)一步，該壓緊機(jī)構(gòu)包括固定桿、壓塊和壓頭，該固定桿與下頂塊可拆裝式相連，該壓塊固定在下頂塊上并沿水平方向延伸，該壓頭可拆卸式固定在壓塊下方，該壓頭位于待測(cè)試激光器測(cè)試端口的上方位置。進(jìn)一步，該下頂塊端部還形成有呈相對(duì)設(shè)置的第一樞耳和第二樞耳，該第一樞耳和第二樞耳上分別形成有第一穿孔和第二穿孔，該壓塊在遠(yuǎn)離固定桿的端部還形成有通孔，該壓緊機(jī)構(gòu)還包括連接銷，該連接銷依次通過第一穿孔、通孔與第二穿孔而由一螺帽螺接固定。進(jìn)一步,該測(cè)試裝置還包括底板,該底板設(shè)置在卡座與底座之間，并與卡座和底座均固定相連。采用上述結(jié)構(gòu)后， 本實(shí)用新型涉及的一種激光器測(cè)試裝置，其通過卡座上的卡槽而對(duì)待測(cè)試激光器進(jìn)行初步限位，接著再通過下頂塊而將電路板樣板上的發(fā)射測(cè)試端口和接收測(cè)試端口均與待測(cè)試激光器上的相應(yīng)端口相連通，最后再通過壓緊機(jī)構(gòu)確保整個(gè)待測(cè)試激光器處于一個(gè)平穩(wěn)的狀態(tài)。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型通過采用上述測(cè)試裝置，可以迅速準(zhǔn)確地定位待測(cè)試激光器，并同時(shí)實(shí)現(xiàn)與線路的接通，從而能大大提高測(cè)試效率，提高產(chǎn)品的出廠效率。

圖I為本實(shí)用新型涉及的一種激光器測(cè)試裝置較佳實(shí)施例的組合示意圖；圖2為圖I的立體分解圖。圖中測(cè)試裝置100底座I安裝孔11電路板樣板2發(fā)射測(cè)試端口21接收測(cè)試端口22下頂塊3第一樞耳31第一穿孔311第二樞耳32第二穿孔321卡座4卡槽41壓緊機(jī)構(gòu)5固定桿51壓塊52通孔521螺帽522壓頭53連接銷54底板6待測(cè)試激光器200。
具體實(shí)施方式
為了進(jìn)一步解釋本實(shí)用新型的技術(shù)方案，下面通過具體實(shí)施例來對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)闡述。如圖I和圖2所示，本實(shí)用新型涉及的一種激光器測(cè)試裝置100較佳實(shí)施例。該測(cè)試裝置100包括底座I、電路板樣板2、下頂塊3、卡座4以及壓緊機(jī)構(gòu)5，其中該底座I，為整個(gè)測(cè)試裝置100的承載主體；該電路板樣板2，其上形成有可與待測(cè)試激光器200對(duì)應(yīng)相連的發(fā)射測(cè)試端口 21和接收測(cè)試端口 22 ；該下頂塊3，與底座I固定相連，從而使得電路板樣板2能被定位于下頂塊3與底座I之間，從而使得電路板樣板2上的發(fā)射測(cè)試端口 21和接收測(cè)試端口 22能穩(wěn)定地與待測(cè)試激光器200上的外接端口相導(dǎo)通；該卡座4，固定在底座I上，該卡座4上還形成有可與待測(cè)試激光器200外形匹配的卡槽41 ;更具體地，在本實(shí)施例中，該測(cè)試裝置100還包括底板6，該底板6設(shè)置在卡座4與底座I之間，并與卡座4和底座I均固定相連。[0039]該壓緊機(jī)構(gòu)5，用于壓緊待測(cè)試激光器200。這樣，本實(shí)用新型通過卡座4上的卡槽41而對(duì)待測(cè)試激光器200進(jìn)行初步限位，接著再通過下頂塊3而將電路板樣板2上的發(fā)射測(cè)試端口 21和接收測(cè)試端口 22均與待測(cè)試激光器200上的相應(yīng)端口相連通，最后再通過壓緊機(jī)構(gòu)5而使整個(gè)待測(cè)試激光器200能處于一個(gè)平穩(wěn)的狀態(tài)，從而能提高測(cè)試的準(zhǔn)確性。由上可知，與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型可以迅速準(zhǔn)確地定位待測(cè)試激光器200，并同時(shí)實(shí)現(xiàn)與線路的接通，從而能大大提高測(cè)試效率，并提高產(chǎn)品的出廠效率。 作為該壓緊機(jī)構(gòu)5的較佳實(shí)施例，該壓緊機(jī)構(gòu)5包括固定桿51、壓塊52和壓頭53，該固定桿51與下頂塊3可拆裝式相連，具體的，在本實(shí)施例中，該固定桿51沿豎直方向延伸，該壓塊52固定在下頂塊3上并沿水平方向延伸，該壓頭53可拆卸式固定在壓塊52下方，該壓頭53位于待測(cè)試激光器發(fā)射測(cè)試端口 21或接收測(cè)試端口 22的上方位置。該壓頭53優(yōu)選采用的為橡皮壓頭53，從而能對(duì)待測(cè)試激光器200進(jìn)行充分的抵頂。為了進(jìn)一步提高整個(gè)壓緊機(jī)構(gòu)5的穩(wěn)定性，該下頂塊3端部還形成有呈相對(duì)設(shè)置的第一樞耳31和第二樞耳32，該第一樞耳31和第二樞耳32上分別形成有第一穿孔311和第二穿孔321，該壓塊52在遠(yuǎn)離固定桿51的端部還形成有通孔521，該壓緊機(jī)構(gòu)5還包括連接銷54，該連接銷54依次通過第一穿孔311、通孔521與第二穿孔321而由一螺帽522螺接固定。需要說明的是，該底座I上還可以形成有多組安裝孔11，從而可以讓下頂塊3以及底板6進(jìn)行選擇性固定，從而可以對(duì)下頂塊3和底板6的位置進(jìn)行調(diào)整，從而使電路板2能選擇性地讓發(fā)射測(cè)試端口 21或接收測(cè)試端口 22與激光器200上的端口相對(duì)應(yīng)。上述實(shí)施例和圖式并非限定本實(shí)用新型的產(chǎn)品形態(tài)和式樣，任何所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員對(duì)其所做的適當(dāng)變化或修飾，皆應(yīng)視為不脫離本實(shí)用新型的專利范疇。
權(quán)利要求1.一種激光器測(cè)試裝置，其特征在于，包括 底座； 電路板樣板，其上形成有可與待測(cè)試激光器對(duì)應(yīng)相連的發(fā)射測(cè)試端口和接收測(cè)試端n ； 下頂塊，與底座固定相連并使電路板樣板定位于下頂塊與底座之間； 卡座，固定在底座上，該卡座上還形成有可與待測(cè)試激光器外形匹配的卡槽； 壓緊機(jī)構(gòu)，用于壓緊待測(cè)試激光器。
2.如權(quán)利要求I所述的一種激光器測(cè)試裝置，其特征在于，該壓緊機(jī)構(gòu)包括固定桿、壓塊和壓頭，該固定桿與下頂塊可拆裝式相連，該壓塊固定在下頂塊上并沿水平方向延伸，該壓頭可拆卸式固定在壓塊下方，該壓頭位于待測(cè)試激光器測(cè)試端口的上方位置。
3.如權(quán)利要求2所述的一種激光器測(cè)試裝置，其特征在于，該下頂塊端部還形成有呈相對(duì)設(shè)置的第一樞耳和第二樞耳，該第一樞耳和第二樞耳上分別形成有第一穿孔和第二穿孔，該壓塊在遠(yuǎn)離固定桿的端部還形成有通孔，該壓緊機(jī)構(gòu)還包括連接銷，該連接銷依次通過第一穿孔、通孔與第二穿孔而由一螺帽螺接固定。
4.如權(quán)利要求I所述的一種激光器測(cè)試裝置，其特征在于，該測(cè)試裝置還包括底板，該底板設(shè)置在卡座與底座之間，并與卡座和底座均固定相連。
專利摘要本實(shí)用新型公開一種激光器測(cè)試裝置，包括底座、電路板樣板、下頂塊、卡座以及壓緊機(jī)構(gòu)；該電路板樣板上形成有可與待測(cè)試激光器對(duì)應(yīng)相連的發(fā)射測(cè)試端口和接收測(cè)試端口；該下頂塊與底座固定相連并使電路板樣板定位于下頂塊與底座之間；該卡座固定在底座上，該卡座上還形成有可與待測(cè)試激光器外形匹配的卡槽；該壓緊機(jī)構(gòu)用于壓緊待測(cè)試激光器。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型通過采用上述測(cè)試裝置，可以迅速準(zhǔn)確地定位待測(cè)試激光器，并同時(shí)實(shí)現(xiàn)與線路的接通，從而能大大提高測(cè)試效率，提高產(chǎn)品的出廠效率。
文檔編號(hào)G01M11/00GK202382925SQ20112048737
公開日2012年8月15日 申請(qǐng)日期2011年11月30日 優(yōu)先權(quán)日2011年11月30日
發(fā)明者曾延華, 江曉, 陳國祥 申請(qǐng)人:廈門三優(yōu)光電股份有限公司