專利名稱：測繪儀器檢校臺微調(diào)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種檢測儀器，尤其涉及一種測繪儀器檢校臺中用于調(diào)整光管的測繪儀器檢校臺微調(diào)裝置。
背景技術(shù)：
測繪儀器檢校臺中的光管，是安裝在檢校臺的兩個固定的套圈中，在套圈與光管之間設(shè)有十字對角的四支調(diào)整螺桿將其固定在套圈中，還可以通過四支調(diào)整螺桿調(diào)節(jié)光管與套圈的相對位置，從而起到調(diào)節(jié)光管中軸線的作用。這種調(diào)整方法存在調(diào)節(jié)精度低、誤差大的缺陷。

實用新型內(nèi)容為了克服現(xiàn)有技術(shù)的上述缺點，本實用新型提供一種調(diào)節(jié)范圍大，安裝緊湊、精度高、誤差小，而且結(jié)構(gòu)合理、操縱簡單和工作效率高的測繪儀器檢校臺微調(diào)裝置。本實用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方法是一種測繪儀器檢校臺微調(diào)裝置，包括機架，在該機架上設(shè)有安裝孔，在安裝孔的兩邊設(shè)有固定螺桿，所述安裝孔中套裝有軸，在該軸上連接基座，在基座上通過軸頭和張緊插銷連接有基板，在基板兩端安裝有套圈，在套圈中裝有光管，所述套圈的周邊設(shè)有調(diào)節(jié)螺桿。所述軸頭與基座間設(shè)有微調(diào)手輪。本實用新型的有益效果是將光管通過可以調(diào)整的基座安裝在測繪儀器檢校臺的機架上，在增加光管的調(diào)節(jié)范圍大，而且安裝緊湊、精度高、誤差小，具有結(jié)構(gòu)合理、操縱簡單和工作效率高的優(yōu)點，適用各種測繪儀器檢校臺的應(yīng)用。

圖1是本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是圖1的右視圖。圖中1-機架、2-軸、3-基座、4-軸頭、5-張緊插銷、6_基板、7_套圈、8_光管、 9-調(diào)節(jié)螺桿、10-微調(diào)手輪、11-安裝孔、12-固定螺桿。
具體實施方式

以下結(jié)合附圖和實施例對本實用新型進一步說明。參見圖1和圖2，一種測繪儀器檢校臺微調(diào)裝置，有機架1，在該機架1的安裝孔11 中套裝有軸2和固定螺桿12，其中軸2的上端連接有基座3，在基座3上再通過軸頭4和張緊插銷5連接有基板6，在基板6兩端安裝有套圈7，在套圈7的周邊設(shè)有調(diào)節(jié)螺桿9，在套圈7中裝有光管8，如圖2中所示，上述調(diào)節(jié)螺桿9，不但起到固定光管8的作用，還起到調(diào)整光管8中軸線的作用；如圖2中所示，上述軸頭4與基座3間設(shè)有微調(diào)手輪10，通過該微調(diào)手輪10能有效和精度更準確地對光管8中軸線的調(diào)整。將光管8通過可以調(diào)整的基座2 安裝在測繪儀器檢校臺的機架1的安裝孔11上，在增加光管8的調(diào)節(jié)范圍大，而且安裝緊湊、精度高、誤差小，本實用新型具有結(jié)構(gòu)合理、操縱簡單和工作效率高的優(yōu)點，適用各種測繪儀器檢校臺的應(yīng)用。
權(quán)利要求1.一種測繪儀器檢校臺微調(diào)裝置，包括機架，其特征是在該機架上設(shè)有安裝孔，在安裝孔的兩邊設(shè)有固定螺桿，所述安裝孔中套裝有軸，在該軸上連接基座，在基座上通過軸頭和張緊插銷連接有基板，在基板兩端安裝有套圈，在套圈中裝有光管，所述套圈的周邊設(shè)有調(diào)節(jié)螺桿。
2.如權(quán)利要求1所述的測繪儀器檢校臺微調(diào)裝置，其特征是所述軸頭與基座間設(shè)有微調(diào)手輪。
專利摘要本實用新型涉及一種測繪儀器檢校臺微調(diào)裝置，包括機架，在該機架上設(shè)有安裝孔，在安裝孔的兩邊設(shè)有固定螺桿，所述安裝孔中套裝有軸，在該軸上連接基座，在基座上通過軸頭和張緊插銷連接有基板，在基板兩端安裝有套圈，在套圈中裝有光管，所述套圈的周邊設(shè)有調(diào)節(jié)螺桿。將光管通過可以調(diào)整的基座安裝在測繪儀器檢校臺的機架上，在增加光管的調(diào)節(jié)范圍大，而且安裝緊湊、精度高、誤差小，具有結(jié)構(gòu)合理、操縱簡單和工作效率高的優(yōu)點，適用各種測繪儀器檢校臺的應(yīng)用。
文檔編號G01C25/00GK202182723SQ20112032072
公開日2012年4月4日 申請日期2011年8月30日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月30日
發(fā)明者文亞昌 申請人:三準測繪設(shè)備廠