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一種小截面金屬試樣直讀光譜分析系統(tǒng)的制作方法

文檔序號:6127035閱讀:555來源:國知局
專利名稱:一種小截面金屬試樣直讀光譜分析系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型屬于冶金分析檢測技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種小截面金屬試樣直讀光譜分析系統(tǒng)。
背景技術(shù)
直讀光譜分析由于其方便、迅速、準(zhǔn)確、分析范圍寬等諸多特點,在鋼鐵生產(chǎn)檢驗上得到廣泛應(yīng)用。然而,直讀光譜分析對試樣的形狀有一定要求。由于直讀光譜儀激發(fā)孔直徑為 12 16mm,對于直徑小于12mm的小試樣成分分析是個非常棘手的問題。這類小截面金屬試樣大部分細(xì)小不規(guī)則,表面生繡、污濁、較難磨樣或磨樣時不易把握角度,通常會使磨面傾斜,導(dǎo)致分析準(zhǔn)確度降低。特別是試樣小在使用直讀光譜儀分析時分析面不能密封激發(fā)孔使得火花臺面嚴(yán)重漏氣,達(dá)不到儀器正常分析要求,分析結(jié)果偏差大。如使用便攜式光譜分析,其分析精度有限,某些重要元素如碳含量等不能分析,樣品表面生銹、污濁不便磨制,亦使分析偏差極大;如使用化學(xué)分析,元素逐個分析周期長、繁瑣,不能及時提供數(shù)據(jù),而且化學(xué)分析取樣也困難,不適合煉鋼在線生產(chǎn)過程中適時分析控制。目前,對于小截面金屬試樣的直讀光譜分析一般借助小夾具,但大多數(shù)直讀光譜儀隨機(jī)附贈的小試樣夾具與試樣相匹配的程度低,如要購買或自制成本較高,即使相匹配,還需保證小截面金屬試樣位于夾具中心,否則所測結(jié)果精度較低,較難控制。

實用新型內(nèi)容本實用新型的主要目的在于提供一種小截面金屬試樣直讀光譜分析系統(tǒng),該分析系統(tǒng)解決了小截面金屬試樣磨樣不方便及分析時火花臺漏氣等問題,無需使用小夾具,具有操作簡單,快速及精準(zhǔn)的優(yōu)點。本實用新型的上述技術(shù)目的是通過以下技術(shù)方案得以實現(xiàn)的一種小截面金屬試樣直讀光譜分析系統(tǒng),包括小截面金屬試樣、制樣裝置、直讀光譜儀,其特征在于所述小截面金屬試樣經(jīng)敲打成平板狀后由制樣裝置制備成一圓柱形試樣,經(jīng)清洗裝置清洗再用直讀光譜儀分析;所述制樣裝置由金相試樣鑲嵌機(jī)和光譜磨樣機(jī)組成;所述直讀光譜儀還包括一將直讀光譜儀的激發(fā)升降控制裝置與火花臺連通的導(dǎo)電棒;所述圓柱形試樣的一端面中心部位為金屬試樣,外圍為熱固性塑料。一般直讀光譜儀激發(fā)孔直徑為12 16mm,直讀光譜儀型號不同其相應(yīng)的激發(fā)孔不同,本實用新型所述的小截面金屬試樣的最大截面直徑小于直讀光譜激發(fā)孔的直徑。相應(yīng)地,常規(guī)大截面試樣為截面直徑大于直讀光譜激發(fā)孔直徑的試樣。所述圓柱形試樣的直徑為20mnT25mm,在該范圍下不僅能滿足直讀光譜分析測定, 且所用的鑲嵌料少。所述光譜磨樣機(jī)對所述圓柱形試樣的金屬試樣面進(jìn)行磨制,可除去金屬表面污濁,確保金屬面平整光滑、無氧化物。[0009]所述清洗裝置為超聲波清洗裝置,溶劑可使用乙醇、丙酮中的一種或兩種,以除去試樣金屬外露面可能殘留的鑲嵌料。所述鑲嵌料為熱固性塑料,優(yōu)選膠木粉,因其對后續(xù)光譜分析的影響最小。所述導(dǎo)電棒上端靠在激發(fā)升降控制裝置上,下端與火花臺接觸,從而保證所測試樣激發(fā)狀態(tài)。綜上所述,本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比,具有以下突出優(yōu)點及有益效果1、解決了小樣品在光譜磨樣機(jī)上不方便制樣的問題;2、解決了小截面金屬試樣在直讀光譜分析時不能密封火花臺面激發(fā)孔造成火花臺漏氣的問題;3、本實用新型對小截面金屬試樣進(jìn)行分析無需使用小夾具,操作簡單,短周期內(nèi)可快速精準(zhǔn)地分析出試樣中所有重要的元素。將標(biāo)準(zhǔn)鋼,鋼種為lCrl8M9Ti按常規(guī)大截面試樣直讀光譜分析系統(tǒng)分析其成分,再切成小截面試樣后按本發(fā)明所述分析系統(tǒng)測定其成分,對照結(jié)果結(jié)果見表1。表1準(zhǔn)確度測試
權(quán)利要求1.一種小截面金屬試樣直讀光譜分析系統(tǒng),包括小截面金屬試樣(1)、制樣裝置、直讀光譜儀(3),其特征在于所述小截面金屬試樣(1)敲打成平板狀后由制樣裝置制備成一圓柱形試樣(4),經(jīng)清洗裝置(2)清洗再用直讀光譜儀(3)分析;所述制樣裝置由金相試樣鑲嵌機(jī)(5)和光譜磨樣機(jī)(6)組成;所述直讀光譜儀(3)還包括一將直讀光譜儀(3)的激發(fā)升降控制裝置與火花臺連通的導(dǎo)電棒;所述圓柱形試樣(4)的一端面中心部位為金屬試樣 (7),外圍為熱固性塑料(8)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種小截面金屬試樣直讀光譜分析系統(tǒng),其特征在于所述小截面金屬試樣(1)的最大截面直徑小于直讀光譜儀的激發(fā)孔直徑。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種小截面金屬試樣直讀光譜分析系統(tǒng),其特征在于所述清洗裝置(2)為超聲波清洗裝置。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種小截面金屬試樣直讀光譜分析系統(tǒng),其特征在于所述圓柱形試樣(4)的直徑為20mnT25mm。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種小截面金屬試樣直讀光譜分析系統(tǒng),其特征在于所述光譜磨樣機(jī)(6)對所述圓柱形試樣(4)的金屬試樣(7)面進(jìn)行磨制。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種小截面金屬試樣直讀光譜分析系統(tǒng),其特征在于所述導(dǎo)電棒上端靠在激發(fā)升降控制裝置上,下端與火花臺接觸。
專利摘要本實用新型涉及一種小截面金屬試樣直讀光譜分析系統(tǒng),解決了小截面試樣磨樣不方便及分析時火花臺漏氣等問題,該分析系統(tǒng)包括小截面金屬試樣、制樣裝置、清洗裝置、直讀光譜儀,制樣裝置由金相試樣鑲嵌機(jī)和光譜磨樣機(jī)組成,直讀光譜儀還包括一將激發(fā)升降控制裝置與火花臺連通的導(dǎo)電棒,小截面金屬試樣敲打成平板狀后由制樣裝置制備成一圓柱形試樣,經(jīng)清洗裝置清洗后再用直讀光譜儀分析。本實用新型無需使用小夾具,具有操作簡單、快速、精準(zhǔn)的優(yōu)點,適宜在鋼鐵生產(chǎn)檢驗中推廣。
文檔編號G01N1/32GK202145195SQ20112025314
公開日2012年2月15日 申請日期2011年7月18日 優(yōu)先權(quán)日2011年7月18日
發(fā)明者丁斌華, 馮惠偉, 吳明華, 孫健, 汪雯, 王建勇 申請人:永興特種不銹鋼股份有限公司
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