專利名稱：面板缺陷測量尺的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種測量尺，尤其涉及一種測量有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷的測量尺。
背景技術(shù)：
有機(jī)發(fā)光顯示器(OLED)的面板缺陷測量一般需要測量一下幾項(xiàng)(1)測量切割后 的的OLED顯示屏基片玻璃棱角處缺陷大小；(2)測量切割后的OLED顯示屏后蓋玻璃棱角 處缺陷大小；C3)測量OLED顯示屏基片玻璃與IC (驅(qū)動(dòng)模塊)綁定的邊沿處缺陷大小；(4) 測量OLED顯示屏基片玻璃另外3邊沿處的缺陷大??；( 測量OLED顯示屏基片與后蓋玻 璃粘合時(shí)UV膠線壓合后的寬度；(6)測量基片及后蓋玻璃的表面缺陷大小(主要為凹坑)； (7)測量OLED顯示屏偏光片的缺陷大小。傳統(tǒng)工序中測量時(shí)，往往采用普通的測量工具(如 米尺、量角器等)，通過測量基片玻璃、后蓋玻璃和偏光片上的缺陷的長和寬，看其長與寬是 否在規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)缺陷允許范圍內(nèi)，從而判斷給有機(jī)發(fā)光顯示器的面板是否合格。然而，使用普通測量工具測量有機(jī)發(fā)光顯示器(0LED顯示器)的面板缺陷，每次測 量時(shí)均需核對標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)，而且測量并不方便，測量步驟多、人為誤差大。因此，急需一種使用 方便、人為誤差小的面板缺陷測量工具。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種使用方便、人為誤差小的面板缺陷測量尺。為了實(shí)現(xiàn)上有目的，本實(shí)用新型公開了一種面板缺陷測量尺，用于有機(jī)發(fā)光顯示 器的面板缺陷測量，所述面板缺陷測量尺的尺面上標(biāo)示有有機(jī)發(fā)光顯示器面板的缺陷圖 樣，所述缺陷圖樣包括測量切割后的基片玻璃棱角處缺陷的第一缺陷圖樣、測量切割后的 后蓋玻璃棱角處缺陷的第二缺陷圖樣、測量基片玻璃與驅(qū)動(dòng)模塊綁定的邊沿處缺陷的第三 缺陷圖樣、測量基片玻璃未切割的邊沿處缺陷的第四缺陷圖樣、測量基片與后蓋玻璃粘合 時(shí)膠線壓合后寬度的長度圖樣、測量基片和后蓋玻璃的表面缺陷的第五缺陷圖樣，以及測 量有機(jī)發(fā)光顯示器的顯示屏偏光片缺陷的第六缺陷圖樣。較佳地，所述缺陷圖樣由一組透明缺陷圖樣和一組陰暗缺陷圖樣組成。采用透明 的和不透明的兩組圖樣作為缺陷圖樣，可以更好的、更加直觀的測量OLED面板的缺陷。較佳地，所述第一缺陷圖樣呈長為2毫米，寬為1. 5毫米的長方形；所述第二缺陷 圖樣呈長為2毫米，寬為1. 5毫米的長方形；所述第三缺陷圖樣呈長為3毫米，寬為0. 5毫 米的長方形；所述第四缺陷圖樣呈長為4毫米，寬為1毫米的長方形；所述長度圖樣呈長 為1. 4毫米的帶狀；所述第五缺陷圖樣由三個(gè)并行排列的直徑分別為0. 5毫米、1. 0毫米和 1. 5毫米的圓形組成；所述第六缺陷圖樣由五個(gè)并行排列的直徑分別為0. 05毫米、0. 1毫 米、0. 15毫米、0. 2毫米和0. 3毫米的圓形組成。上述缺陷圖樣的規(guī)格大小是通過對OLED 生產(chǎn)過程中實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的分析總結(jié)得到的，使用上述缺陷圖樣可以準(zhǔn)確的測量處OLED顯示 器面板是否可用。[0008]較佳地，所述面板缺陷測量尺的邊緣標(biāo)示有刻度。使得本實(shí)用新型具有常用的長 度尺的功能，可以適用于多種場合，更加全面的測量面板的缺陷。較佳地，所述面板缺陷測量尺包括角度尺。在面板缺陷測量尺的尺面上標(biāo)示有角 度尺，使得本實(shí)用新型具有測量角度功能，可以適用于多種場合，更加全面的測量面板的缺 陷。本實(shí)用新型面板缺陷測量尺上標(biāo)示有機(jī)發(fā)光顯示器面板的缺陷圖樣，所述缺陷圖 樣是本領(lǐng)域技術(shù)人員通過對OLED生產(chǎn)過程中實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的分析總結(jié)設(shè)置的，測量面板缺陷 時(shí)，直接將面板上的缺陷與面板缺陷測量尺上對應(yīng)的缺陷圖樣比對，若該缺陷的投影的邊 界超出缺陷圖樣的區(qū)域，則該OLED顯示屏不可用，反之合格。與現(xiàn)有技術(shù)中使用長度尺和 角度尺等普通測量工具相比，本實(shí)用新型實(shí)現(xiàn)OLED顯示器面板缺陷測量的專業(yè)化，其操作 簡單，人為誤差小。

圖1是本實(shí)用新型面板缺陷測量尺的示意圖。圖2是圖1中A部分的放大示意圖。圖3是圖1中B部分的放大示意圖。圖4是待測基片玻璃的缺陷示意圖。圖fe-圖恥是使用本實(shí)用新型測量缺陷的示意圖。
具體實(shí)施方式
為詳細(xì)說明本實(shí)用新型的技術(shù)內(nèi)容、構(gòu)造特征、所實(shí)現(xiàn)目的及效果，以下結(jié)合實(shí)施 方式并配合附圖詳予說明。參考圖1，本實(shí)用新型面板缺陷測量尺100采用透明材料制成，其邊緣處表示有刻 度，右上角處標(biāo)示有角度尺(Angle meterUO，與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型面板缺陷測量 尺100的尺面上標(biāo)示有有機(jī)發(fā)光顯示器(OLED顯示器)面板的缺陷圖樣。參考圖1，所述缺陷圖樣包括第一缺陷圖樣(EL CORNER) 11，用于測量切割后的 OLED顯示屏基片玻璃棱角處缺陷，所述第一缺陷圖樣11包括透明缺陷圖樣和陰暗缺陷圖 樣。其中，該第一缺陷圖樣11呈大小為2*1. 5mm的長方形，測量時(shí)，將缺陷與尺面上的第一 缺陷圖樣11相對比，如果缺陷的投影邊界超出第一缺陷圖樣11的區(qū)域，則不可用。參考圖1，所述缺陷圖樣包括第二缺陷圖樣(C/G CORNER) 12，用于測量切割后的 OLED顯示屏后蓋玻璃棱角處缺陷，所述第二缺陷圖樣12包括透明缺陷圖樣和陰暗缺陷圖 樣。其中，該第二缺陷圖樣12呈大小為2*1. 5mm的長方形，測量時(shí)，將缺陷與尺面上的第二 缺陷圖樣12相對比，如果缺陷的投影邊界超出第二缺陷圖樣12的區(qū)域，則不可用。參考圖1，所述缺陷圖樣包括第三缺陷圖樣(PAD 3*0. 5mm, ) 13，用于測量OLED顯 示屏基片玻璃與驅(qū)動(dòng)模塊(IC)綁定的邊沿處缺陷，所述第三缺陷圖樣13包括透明缺陷圖 樣和陰暗缺陷圖樣。其中，該第三缺陷圖樣13呈大小為3*0. 5mm的長方形，測量時(shí)，將缺陷 與尺面上的第三缺陷圖樣13相對比，如果缺陷的投影邊界超出第三缺陷圖樣13的區(qū)域，則 不可用。參考圖1，所述缺陷圖樣包括第四缺陷圖樣(Panel Side&Dummy Pad) 14，用于測量OLED顯示屏基片玻璃另外3邊沿處的缺陷，第四缺陷圖樣14包括透明缺陷圖樣和陰暗缺陷 圖樣。其中，該第四缺陷圖樣14呈大小為4*lmm的長方形，測量時(shí)，將缺陷與尺面上的第四 缺陷圖樣14相對比，如果缺陷的投影邊界超出第四缺陷圖樣14的區(qū)域，則不可用。參考圖1，所述缺陷圖樣包括長度圖樣(Resin Width) 15，用于測量OLED顯示屏基 片與后蓋玻璃粘合時(shí)UV膠線壓合后的寬度，所述長度圖樣15包括透明缺陷圖樣和陰暗缺 陷圖樣。其中，該長度圖樣15呈長為1.4毫米的帶狀，測量時(shí)，如果膠線寬度小于量尺上標(biāo) 示寬度1. 4mm，則不可用。參考圖1，所述缺陷圖樣包括第五缺陷圖樣16，用于測量基片及后蓋玻璃的表面 缺陷(主要為凹坑)，所述第五缺陷圖樣16包括透明缺陷圖樣和陰暗缺陷圖樣。所述第五 缺陷圖樣16由三個(gè)并行排列的直徑分別為0. 5毫米、1. 0毫米和1. 5毫米的圓形組成，測量 時(shí)，將缺陷與尺面上的第五缺陷圖樣16相對比，如果缺陷的投影邊界超出第五缺陷圖樣16 的區(qū)域，則不可用。參考圖1-圖3，所述缺陷圖樣包括第六缺陷圖樣17，用于測量OLED顯示屏偏光片 的缺陷，所述第六缺陷圖樣17包括透明缺陷圖樣和陰暗缺陷圖樣。所述第六缺陷圖樣17 由五個(gè)并行排列的圓形組成，上述五個(gè)圓形的直徑分別為0. 05毫米、0. 1毫米、0. 15毫米、 0. 2毫米和0. 3毫米。測量時(shí)，將缺陷與尺面上的第六缺陷圖樣17相對比，如果缺陷的投影 邊界超出第六缺陷圖樣17的區(qū)域，則不可用。參考圖4，基片玻璃20的缺陷示意圖，基片20上具有切割后的基片玻璃棱角處的 缺陷21，基片玻璃另外三邊沿處的缺陷22，基片玻璃的表面缺陷(圖中為凹坑)23。以缺 陷22為例，測量基片玻璃20，將本實(shí)用新型面板缺陷測量尺上的第一缺陷圖樣11的透明 缺陷圖樣放置在基片玻璃20的缺陷22上方，參考圖5a，如果缺陷22在尺面上的投影邊界 超出第四缺陷圖樣14的透明缺陷圖樣的區(qū)域，該基片玻璃20不可用；參考圖5b，如果缺陷 22在尺面上的投影在所述第四缺陷圖樣14的透明缺陷圖樣的區(qū)域內(nèi)，該基片玻璃20的缺 陷22在允許誤差內(nèi)。其他幾種OLED顯示器面板上的缺陷測量方法與上述測量缺陷21的 測量方法類似，再次就不予詳述。以上所揭露的僅為本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例而已，當(dāng)然不能以此來限定本實(shí)用新 型之權(quán)利范圍，因此依本實(shí)用新型申請專利范圍所作的等同變化，仍屬本實(shí)用新型所涵蓋 的范圍。
權(quán)利要求1.一種面板缺陷測量尺，用于有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷測量，其特征在于所述面 板缺陷測量尺的尺面上標(biāo)示有有機(jī)發(fā)光顯示器面板的缺陷圖樣，所述缺陷圖樣包括測量切 割后的基片玻璃棱角處缺陷的第一缺陷圖樣、測量切割后的后蓋玻璃棱角處缺陷的第二缺 陷圖樣、測量基片玻璃與驅(qū)動(dòng)模塊綁定的邊沿處缺陷的第三缺陷圖樣、測量基片玻璃未切 割的邊沿處缺陷的第四缺陷圖樣、測量基片與后蓋玻璃粘合時(shí)膠線壓合后寬度的長度圖 樣、測量基片和后蓋玻璃的表面缺陷的第五缺陷圖樣，以及測量有機(jī)發(fā)光顯示器的顯示屏 偏光片缺陷的第六缺陷圖樣。
2.如權(quán)利要求1所述的面板缺陷測量尺，其特征在于所述缺陷圖樣由一組透明缺陷 圖樣和一組陰暗缺陷圖樣組成。
3.如權(quán)利要求1所述的面板缺陷測量尺，其特征在于所述第一缺陷圖樣呈長2毫米， 寬1. 5毫米的長方形；所述第二缺陷圖樣呈長2毫米，寬1. 5毫米的長方形；所述第三缺陷 圖樣呈長3毫米，寬0. 5毫米的長方形；所述第四缺陷圖樣呈長4毫米，寬1毫米的長方形； 所述長度圖樣呈長1. 4毫米的帶狀；所述第五缺陷圖樣由三個(gè)并行排列的直徑分別為0. 5 毫米、1.0毫米和1.5毫米的圓形組成；所述第六缺陷圖樣由五個(gè)并行排列的直徑分別為 0. 05毫米、0. 1毫米、0. 15毫米、0. 2毫米和0. 3毫米的圓形組成。
4.如權(quán)利要求1所述的面板缺陷測量尺，其特征在于所述面板缺陷測量尺的邊緣標(biāo) 示有刻度。
5.如權(quán)利要求1所述的面板缺陷測量尺，其特征在于所述面板缺陷測量尺包括角度尺。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種面板缺陷測量尺，用于有機(jī)發(fā)光顯示器的面板缺陷測量，該面板缺陷測量尺的尺面上標(biāo)示有有機(jī)發(fā)光顯示器面板的缺陷圖樣，上述缺陷圖樣包括七種，分別用于測量切割后的基片玻璃棱角處缺陷、切割后的后蓋玻璃棱角處缺陷、基片玻璃與驅(qū)動(dòng)模塊綁定的邊沿處缺陷、基片玻璃未切割的邊沿處缺陷、基片與后蓋玻璃粘合時(shí)膠線壓合后寬度的長度、基片和后蓋玻璃的表面缺陷，以及有機(jī)發(fā)光顯示器的顯示屏偏光片缺陷。本實(shí)用新型直接將OLED顯示器面板上的缺陷與尺面上的缺陷圖樣比對，若缺陷的投影邊界超出缺陷圖樣的區(qū)域，則不可用。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型實(shí)現(xiàn)了面板缺陷測量的專業(yè)化，操作簡單，人為誤差小。
文檔編號(hào)G01B3/14GK201917282SQ20102063648
公開日2011年8月3日 申請日期2010年12月1日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月1日
發(fā)明者劉惠森, 楊明生, 王勇, 王學(xué)敬, 王曼媛, 范繼良 申請人:東莞宏威數(shù)碼機(jī)械有限公司