專利名稱：一種燈性能檢測系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種燈性能檢測系統(tǒng)，特別涉及一種除了對燈性能進行常規(guī)檢測外，還 能進行光學檢測的系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
燈在人們的生活中具有重要的作用，其中，燈照無疑是最重要的一塊。燈照有各種不同 的需要，對燈的要求也不盡相同，為此，需要對燈的亮度進行檢測。
現(xiàn)有對燈的檢測只是通過對燈導(dǎo)通時所通過的電流進行檢測，這樣不能夠很好地反映燈 的發(fā)光性能，為此，需要一種能夠更好的反映燈的發(fā)光性能的系統(tǒng)。我們現(xiàn)在的系統(tǒng)既可以 通過對其實際的電流檢測也可以通過對其發(fā)光光圈的大小檢測來綜合分析燈的性能。

實用新型內(nèi)容
本實用新型的目的是提供一種除了傳統(tǒng)的常規(guī)的能夠根據(jù)通過燈的電流來檢測燈的發(fā)光 情況的外，還能夠根據(jù)燈的發(fā)光光圈來更好的判斷燈的發(fā)光情況的系統(tǒng)。
一種燈性能檢測系統(tǒng)，包括獲取燈的發(fā)光圖像的攝像模塊；固定燈，產(chǎn)生系統(tǒng)初始信 號的工裝模塊；控制整個系統(tǒng)有效運行的控制與數(shù)據(jù)采集模塊；分析所述燈的發(fā)光圖像信息 或數(shù)據(jù)，加以判斷并顯示結(jié)果的上位機分析顯示模塊。
所述攝像模塊與所述上位機分析顯示模塊相連，所述工裝模塊與所述控制與數(shù)據(jù)采集模 塊相連，所述上位機分析顯示模塊與所述控制與數(shù)據(jù)采集模塊相連。
所述上位機分析顯示模塊對所分析判斷的圖像信息或數(shù)據(jù)的顯示是實時的。所述上位機分 析顯示模塊對攝像模塊拍攝的燈的發(fā)光圖像數(shù)據(jù)或信息作出分析，找到燈的發(fā)光光圈，通過 對所述發(fā)光光圈的半徑的大小分析可以判斷燈發(fā)光的強度，再結(jié)合所述控制與數(shù)據(jù)采集模塊 傳輸?shù)男畔⒒驍?shù)據(jù)，通過一個檢測光圈的伐值來判斷燈的發(fā)光強度是否達到標準，從而來判 斷此燈的發(fā)光性能是否滿足要求。除了對燈進行光學檢測外，還能通過所述控制與數(shù)據(jù)采集 模塊采集燈的電流電壓等常規(guī)信息或數(shù)據(jù)，并傳輸給所述上位機分析顯示模塊進行分析顯示。
本實用新型的有益效果在于本實用新型的系統(tǒng)較傳統(tǒng)的檢測方式多了個檢測保證，即 對燈的發(fā)光亮度的檢測，發(fā)光亮度是通過攝像模塊捕獲的燈的發(fā)光光圈的大小來判斷的。本實用新型的系統(tǒng)解決了傳統(tǒng)方式對燈的電流檢測的不可靠性，更好地進行對燈的發(fā)光性能的 檢測。


圖1為本實用新型一較佳實施例的系統(tǒng)框圖。
圖2為本實用新型一較佳實施例的攝像模塊與工裝模塊的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖詳細說明本實用新型的優(yōu)選實施例。 在本實施例中，以LED燈為例。
請參閱圖l,整個燈性能光學檢測系統(tǒng)有四部分構(gòu)成，包括攝像模塊l、工裝模塊2、控 制與數(shù)據(jù)采集模塊3和上位機分析顯示模塊4。所述攝像模塊1與所述上位機分析顯示模塊4 相連，所述工裝模塊2與所述控制與數(shù)據(jù)采集模塊3相連，所述上位機分析顯示模塊4與所 述控制與數(shù)據(jù)采集模塊3相連。
攝像模塊1用于創(chuàng)造攝像環(huán)境，滿足攝像環(huán)境時，觸發(fā)工裝模塊2上開始檢測的信號， 并在上位機控制模塊的控制下拍攝LED的圖像，將所拍攝的信息或數(shù)據(jù)傳回上位機控制模塊；
工裝模塊2用于固定LED,受攝像模塊l觸發(fā)產(chǎn)生開始檢測的信號，對不通的LED產(chǎn)生 不同的信號，并將上述信號送控制與數(shù)據(jù)采集模塊3處理，在得到信號送控制與數(shù)據(jù)采集模 塊3發(fā)出的LED合格的信號后，對LED進行打章；
在本實施例中，控制與數(shù)據(jù)采集模塊3控制整個系統(tǒng)的有效運行，從工裝模塊2處得到 開始檢測的信號與LED型號信號以后，控制系統(tǒng)開始LED的高紅檢測、低紅檢測、系統(tǒng)的電 壓檢測等等，并通知上位機分析顯示模塊4控制攝像模塊1拍攝LED在高紅和低紅時的圖像;
上位機分析顯示模塊4接收控制與數(shù)據(jù)采集模塊3的信息，控制攝像模塊1拍攝LED在 高紅和低紅時的圖像，并接收所述圖像信息或數(shù)據(jù)，對所述信息或數(shù)據(jù)進行處理分析，找到 LED的發(fā)光光圈，通過對光圈的半徑的大小分析可以判斷LED發(fā)光的強度，再通過一個檢測光 圈的伐值來判斷LED發(fā)光強度是否達到標準，從而來判斷此LEDLED的發(fā)光性能是否滿足要求， 并對結(jié)果實時顯示。
請參閱圖1及圖2，所述攝像模塊1包括攝像頭12和暗箱11,所述工裝模塊2包括抽屜 21、底座22、打章器25、型號判別按鍵組24及開始檢測按鍵23。攝像頭12位于暗箱11頂部，暗箱11 一側(cè)開一扇門，暗箱11中裝有一抽屜21，所述抽 屜21的一側(cè)有一開始檢測按鍵23，抽屜21上安裝有一底座22，底座22的底部的邊具有型 號判別按鍵組24，信號判別按鍵組具有至少兩個型號判別按鍵，打章器25設(shè)置在抽屜21或 底座22或暗箱11上。
當LED放入底座22時，會擠壓型號判別按鍵組24中的一個，被擠壓的型號判別按鍵會 產(chǎn)生一型號判別信號，傳輸給控制與數(shù)據(jù)采集模塊3，所述控制與數(shù)據(jù)采集模塊3通過所述信 號，判斷LED型號。關(guān)上暗箱ll的門，隔絕外部的光線干擾，抽屜21閉合，開始檢測按鍵 23背抽屜21的邊緣擠壓處于閉合狀態(tài)，這樣單片機的一個引腳會獲得開始檢測按鍵23閉合 的信號，所述型號判別信號與開始檢測按鍵23閉合的信號通稱為初始信號。系統(tǒng)自動進行LED 的性能檢測，在檢測過程中，控制與數(shù)據(jù)采集模塊3通過自身的繼電器切換高紅和低紅狀態(tài)， 并需要采集不同情況下的電壓信號和高紅和低紅狀態(tài)下的電流信號，進行常規(guī)的電流檢測， 同時，單片機每控制系統(tǒng)改變一次狀態(tài)，就給上位機控制分析模塊發(fā)送一次信號，上位機控 制分析模塊就控制攝像頭12拍攝LED的圖像，攝像頭12將LED圖像的數(shù)據(jù)或信息傳輸給上 位機控制分析模塊，上位機控制分析模塊通過對圖像的數(shù)據(jù)或信息進行分析找到LED發(fā)光的 光圈，通過對光圈的半徑的大小分析可以判斷LED發(fā)光的強度，再結(jié)合控制與數(shù)據(jù)采集模塊 3傳輸來的LED型號的信息，通過一個檢測光圈的伐值來判斷LED發(fā)光強度是否達到標準， 從而來判斷此LED的發(fā)光性能是否滿足要求，若滿足要求，則發(fā)送滿足要求的信息至控制與 數(shù)據(jù)采集模塊3，控制與數(shù)據(jù)采集模塊3控制打章機對LED進行打章。
在本實施例中，上位機為PC機，控制與數(shù)據(jù)采集模塊3為ST的ST7561單片機芯片，打 章器25用的是VND5012驅(qū)動芯片，攝像頭12采用的是大恒的工業(yè)數(shù)字攝像頭型號為 DH-HV1300FC，并加上特定濾波頻率的濾波鏡一塊，能改善通過CCD攝像頭在高紅和低紅狀態(tài) 時抓獲圖片的能力。
在其他實施例中，開始檢測的信號也可以通過別的方式實現(xiàn)，例如在暗箱外設(shè)置一按 鈕，或設(shè)置一光檢測器，當暗度足夠時，開始檢測等等。
以上實施例僅用以說明而非限制本實用新型的技術(shù)方案。不脫離本實用新型精神和范圍 的任何修改或局部替換，均應(yīng)涵蓋在本實用新型的權(quán)利要求范圍當中。
權(quán)利要求1、一種燈性能檢測系統(tǒng)，其特征在于，包括攝像模塊，用以獲取燈的發(fā)光圖像；工裝模塊，用以固定燈，產(chǎn)生系統(tǒng)初始信號；控制與數(shù)據(jù)采集模塊，用以控制整個系統(tǒng)有效運行；上位機分析顯示模塊，用以分析所述燈的發(fā)光圖像信息或數(shù)據(jù)，加以判斷并顯示結(jié)果；所述攝像模塊與所述上位機分析顯示模塊相連，所述工裝模塊與所述控制與數(shù)據(jù)采集模塊相連，所述上位機分析顯示模塊與所述控制與數(shù)據(jù)采集模塊相連。
2、 如權(quán)利要求1所述的燈性能檢測系統(tǒng)，其特征在于所述上位機分析顯示模塊對 所分析判斷的圖像信息或數(shù)據(jù)的顯示是實時的。
3、 如權(quán)利要求1所述的燈性能檢測系統(tǒng)，其特征在于通過所述控制與數(shù)據(jù)采集模 塊采集燈的電流電壓常規(guī)信息或數(shù)據(jù)，并傳輸給所述上位機分析顯示模塊進行分析顯示。
4、 如權(quán)利要求1所述的燈性能檢測系統(tǒng)，其特征在于所述攝像模塊包括攝像頭和 暗箱，所述攝像頭安裝在所述暗箱頂部；所述攝像頭具有一特定濾波頻率的濾波鏡。
5、 如權(quán)利要求1所述的燈性能檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述工裝模塊包括抽屜、 底座、開始檢測按鍵、型號判別按鍵組及打章器。
6、 如權(quán)利要求5所述的燈性能檢測系統(tǒng)，其特征在于所述抽屜之上設(shè)置所述底座， 所述底座底部設(shè)置有型號判別按鍵組，所述抽屜的一側(cè)設(shè)置有所述開始檢測按鍵，所述打章 器設(shè)置在所述抽屜上或所述底座上或所述攝像模塊內(nèi)。
7、 如權(quán)利要求6所述的燈性能檢測系統(tǒng)，其特征在于固定燈至底座，燈擠壓所述 型號判別按鍵組中的一個，產(chǎn)生一型號判別信號，送至控制與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。
8、 如權(quán)利要求6所述的燈性能檢測系統(tǒng)，其特征在于所述攝像模塊包括攝像頭和 暗箱，所述暗箱的一側(cè)具有一門，當所述門關(guān)閉時，所述開始檢測按鍵受到擠壓，產(chǎn)生開始 檢測閉合的信號，送至所述控制與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。
9、 如權(quán)利要求6所述的燈性能檢測系統(tǒng)，其特征在于所述打章器采用了 VND5012 驅(qū)動芯片，所述控制與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)為單片機。
專利摘要本實用新型提供了一種燈檢測系統(tǒng)，包括獲取燈的發(fā)光圖像的攝像模塊；固定燈，產(chǎn)生系統(tǒng)初始信號的工裝模塊；控制整個系統(tǒng)有效運行的控制與數(shù)據(jù)采集模塊；分析所述燈的發(fā)光圖像信息或數(shù)據(jù)，加以判斷并顯示結(jié)果的上位機分析顯示模塊；所述攝像模塊與所述上位機分析顯示模塊相連，所述工裝模塊與所述控制與數(shù)據(jù)采集模塊相連，所述上位機分析顯示模塊與所述控制與數(shù)據(jù)采集模塊相連。本實用新型提供的系統(tǒng)，解決了傳統(tǒng)方式對燈的電流檢測的不可靠性，更好地進行對燈的發(fā)光性能的檢測。
文檔編號G01J1/12GK201314843SQ200820152709
公開日2009年9月23日 申請日期2008年9月4日 優(yōu)先權(quán)日2008年9月4日
發(fā)明者懿 朱, 楊曉鋒, 王永和, 童祖德, 雯 趙 申請人:上海信耀電子有限公司