專利名稱：可測(cè)試精密電阻的萬(wàn)用測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型為一種可測(cè)試精密電阻的萬(wàn)用測(cè)試裝置，特別是指于利用測(cè) 試盤的導(dǎo)接點(diǎn)與預(yù)先定義相對(duì)應(yīng)且獨(dú)立的編號(hào)萬(wàn)用測(cè)試機(jī)的測(cè)試點(diǎn)相連接， 在通過(guò)依不同料號(hào)所制作的轉(zhuǎn)接盒與測(cè)試盤相組合，使被測(cè)試點(diǎn)的電性信號(hào) 可確實(shí)借由測(cè)試部連接至四線式電阻測(cè)量機(jī)(或功能相同的電子電路)上進(jìn) 行精密電阻的測(cè)量，以達(dá)到減少專用測(cè)試治具制作成本的目的測(cè)試裝置。
背景技術(shù)：
請(qǐng)參見圖1至圖4所示， 一般電路板測(cè)試用的萬(wàn)用測(cè)試機(jī)針盤A上的復(fù) 數(shù)電子檢測(cè)點(diǎn)Al是成點(diǎn)矩陣排列，其整體構(gòu)造是由被測(cè)物的被測(cè)點(diǎn)和多層導(dǎo) 引板B所組成，其導(dǎo)引板多層導(dǎo)引板B間有間隔支柱B1隔開一段距離，且 治具上面插有線針，所述的線針被導(dǎo)引板B導(dǎo)引成垂直或傾斜的導(dǎo)引到萬(wàn)用 測(cè)試機(jī)的點(diǎn)矩陣電子檢測(cè)點(diǎn)上。
而現(xiàn)有的萬(wàn)用測(cè)試機(jī)針盤A的電子檢測(cè)點(diǎn)Al制作方法大多區(qū)分為下列 兩種；其中一種是先制作出一點(diǎn)矩陣排列的針盤A，再通過(guò)電線把探針A2與 電子檢測(cè)卡片C上的檢測(cè)點(diǎn)C1，形成一連結(jié)(如圖3所示)。另一種制作方 法是將電子檢測(cè)卡片C上的檢測(cè)點(diǎn)Cl制作成點(diǎn)矩陣的排列狀，再將所述的電 子檢測(cè)卡片C 一片一片的排列并相連結(jié)組合，借以形成一更大面積的點(diǎn)矩陣 檢測(cè)點(diǎn)(請(qǐng)參見圖4所示)。
上述現(xiàn)有萬(wàn)用測(cè)試機(jī)雖可測(cè)量一般電路板，但并無(wú)法測(cè)量精密電阻的原 因如下
因測(cè)試精密電阻時(shí)需使用四線式的測(cè)試方法，也就是在一個(gè)測(cè)試點(diǎn)D上 需要扎(連接)兩根探針D1， 一條導(dǎo)線上具有兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)，所以必須扎(連接)四根探針D1 (如圖5所示)連接至四線式電阻測(cè)量電表E。而現(xiàn)今萬(wàn)用 測(cè)試機(jī)上的電子檢測(cè)點(diǎn)是通過(guò)晶體管來(lái)做開關(guān)切換，把要測(cè)量電阻用的電表
或電路通過(guò)晶體管開關(guān)F的切換動(dòng)作，切換到要測(cè)量的點(diǎn)上(如圖6所示)。
但由于晶體管的物理特性，會(huì)有漏電流現(xiàn)象及阻抗等問題產(chǎn)生，所以電表測(cè) 量到的被測(cè)線路阻值就不是很準(zhǔn)。
如果要從改良萬(wàn)用測(cè)試機(jī)上來(lái)達(dá)到可進(jìn)行測(cè)量四線式電阻的目的，實(shí)際 上有相當(dāng)?shù)睦щy度及不便，因?yàn)槿f(wàn)用測(cè)試機(jī)上的點(diǎn)矩陣檢測(cè)點(diǎn)在制作時(shí)己作 好且鎖在機(jī)臺(tái)上，如果要從某些測(cè)試點(diǎn)上來(lái)進(jìn)行四線式電阻測(cè)量，需從萬(wàn)用 測(cè)試機(jī)的機(jī)臺(tái)上的點(diǎn)矩陣檢測(cè)點(diǎn)拉線到四線式電阻測(cè)量電表(或電路)。而且每 個(gè)被測(cè)料號(hào)的被測(cè)點(diǎn)地址都不盡相同，每當(dāng)測(cè)試到不同料號(hào)時(shí)就必須把線材 重復(fù)的拆裝，導(dǎo)致在實(shí)際上改裝上增加許多困難度，所以在業(yè)界幾乎不太可 能采取此等做法，即利用現(xiàn)有萬(wàn)用測(cè)試機(jī)上點(diǎn)矩陣檢測(cè)點(diǎn)把欲測(cè)試的線路拉 線到四線式電阻測(cè)量電表(或電路)。
為解決四線式電阻測(cè)量問題則必須依照每組不同的料號(hào)來(lái)制作出專用的 測(cè)試治具， 一般測(cè)試動(dòng)作完成后，再將被測(cè)物移到四線式電阻測(cè)量專用測(cè)試 治具上來(lái)進(jìn)行測(cè)試。但專用測(cè)試治具在開?；蛑谱鞯某杀鞠喈?dāng)高，實(shí)際上對(duì) 于測(cè)試業(yè)在成本上造成相當(dāng)?shù)呢?fù)擔(dān)，為解決專用測(cè)試治具的高成本或?qū)τ跍y(cè) 試結(jié)構(gòu)、方法進(jìn)行改良，實(shí)為產(chǎn)業(yè)界一個(gè)相當(dāng)重要的課題。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的主要目的系提供一種可測(cè)試精密電阻的萬(wàn)用測(cè)試裝置，利 用測(cè)試盤將萬(wàn)用測(cè)試機(jī)臺(tái)上的被測(cè)點(diǎn)轉(zhuǎn)換至轉(zhuǎn)接盒，通過(guò)轉(zhuǎn)接盒連接至四線 式電阻測(cè)量機(jī)進(jìn)行測(cè)試，使所述的萬(wàn)用測(cè)試機(jī)臺(tái)可測(cè)試一般電路外亦可測(cè)試 精密電阻值，可大大降低制作專用測(cè)試治具(設(shè)備)的成本。
為達(dá)上述目的，本實(shí)用新型為一種可測(cè)試精密電阻的萬(wàn)用測(cè)試裝置，其
包含有
5一針盤組， 一端與測(cè)試設(shè)備連接，其針盤組上布設(shè)有矩陣排列的測(cè)試點(diǎn)， 每一測(cè)試點(diǎn)上預(yù)先定義有獨(dú)立編號(hào)。
一測(cè)試盤，其上布設(shè)有復(fù)數(shù)導(dǎo)接點(diǎn)，每一導(dǎo)接點(diǎn)上預(yù)先定義有獨(dú)立編號(hào)， 用以與針盤組上相同編號(hào)的測(cè)試點(diǎn)連接。
一轉(zhuǎn)接盒，其底座設(shè)有與測(cè)試盤導(dǎo)接點(diǎn)對(duì)應(yīng)的轉(zhuǎn)接部，其一端設(shè)有測(cè)試 部，所述的轉(zhuǎn)接點(diǎn)與測(cè)試部依測(cè)試料號(hào)的不同而電性導(dǎo)接。
其中，所述的針盤組上可進(jìn)一步設(shè)置復(fù)數(shù)的導(dǎo)引板，每一導(dǎo)引板間以間 隔支柱來(lái)區(qū)隔，每一片導(dǎo)引板上設(shè)有對(duì)應(yīng)的孔洞，并布設(shè)有不同尺寸的線針， 用于對(duì)應(yīng)被測(cè)物(電路板)上的被測(cè)試點(diǎn)。
所述的針盤組上測(cè)試點(diǎn)可進(jìn)一步延伸一探針，供連接導(dǎo)線及測(cè)試設(shè)備用。
在一較佳實(shí)施例中，所述的導(dǎo)接點(diǎn)可進(jìn)一步延伸一探針，供連接導(dǎo)線至針盤 組。且所述的導(dǎo)接點(diǎn)為一凹槽或孔洞狀，供轉(zhuǎn)接盒轉(zhuǎn)接點(diǎn)可對(duì)應(yīng)置入結(jié)合。
在一理想實(shí)例中，所述的轉(zhuǎn)接部為一探針或棒狀導(dǎo)電體，以利對(duì)應(yīng)導(dǎo)接 點(diǎn)置入結(jié)合。
所述的測(cè)試部一端以外接線材、排線或連接器的其一連接至四線式電阻 測(cè)量機(jī)供進(jìn)行測(cè)量。
在一可行實(shí)例中，所述的轉(zhuǎn)接盒其底座外可進(jìn)一步加設(shè)一外蓋，供保護(hù) 內(nèi)部線路。
為使貴審查委員能了解本實(shí)用新型的技;i、內(nèi)容，及所能達(dá)成的功效，現(xiàn)
配合附圖列舉諸較佳實(shí)施例詳細(xì)說(shuō)明如后。
本實(shí)用新型提供的測(cè)試裝置不僅可測(cè)試一般電路，亦可同時(shí)用于測(cè)量精 密電阻，可大大減少制作專用測(cè)試治具成本。

圖l，為現(xiàn)有萬(wàn)用測(cè)試針盤上的測(cè)試點(diǎn)布設(shè)示意圖2，為現(xiàn)有萬(wàn)用測(cè)試治具結(jié)構(gòu)示意圖3，為現(xiàn)有針盤與電子式檢測(cè)卡連接的示意6圖4，為現(xiàn)有電子式檢測(cè)卡相互組合連接的示意圖； 圖5，為現(xiàn)有四線式電阻測(cè)量電表的測(cè)試示意圖； 圖6，為現(xiàn)有萬(wàn)用測(cè)試機(jī)電表的測(cè)試示意圖； 圖7，為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)的示意圖8，為本實(shí)用新型針盤組與測(cè)試盤構(gòu)造及連接的示意圖;
圖9，為本實(shí)用新型測(cè)試盤與轉(zhuǎn)接盒的構(gòu)造示意圖10，為本實(shí)用新型轉(zhuǎn)接盒的構(gòu)造示意圖ll，為本實(shí)用新型轉(zhuǎn)接盒與測(cè)試盤的組合示意圖12，為本實(shí)用新型的測(cè)試示意圖。
附圖標(biāo)號(hào)
A針盤Al電子檢測(cè)點(diǎn)
A2探針B導(dǎo)引板
Bl間隔支柱C電子檢測(cè)卡片
Cl檢測(cè)點(diǎn)D測(cè)試點(diǎn)
Dl探針E四線式電阻測(cè)il電表
F晶體管開關(guān)H控制電路
1針盤組11測(cè)試點(diǎn)
111探針12導(dǎo)引板
121間隔支柱2測(cè)試盤
21導(dǎo)接點(diǎn)22探針
轉(zhuǎn)接盒31底座
311轉(zhuǎn)接點(diǎn)32測(cè)試部
33外蓋4四線式電阻測(cè)it機(jī)
切換開關(guān)6電表
7計(jì)算機(jī)8被測(cè)物具體實(shí)施方式
為便于貴審查委員能更進(jìn)一步對(duì)本實(shí)用新型的構(gòu)造、使用及其特征有更 深一層，明確、詳實(shí)的認(rèn)識(shí)與了解，創(chuàng)作人舉出較佳的實(shí)施例，配合附圖詳 細(xì)說(shuō)明如下
請(qǐng)參考圖7至圖IO所示，本實(shí)用新型的可測(cè)試精密電阻的萬(wàn)用測(cè)試裝置， 包含有
一針盤組l， 一端與測(cè)試設(shè)備連接，其針盤組1上布設(shè)有矩陣排列的測(cè)試 點(diǎn)ll，每一測(cè)試點(diǎn)ll上預(yù)先定義有獨(dú)立編號(hào)。
一測(cè)試盤2，其上布設(shè)有復(fù)數(shù)導(dǎo)接點(diǎn)21，每一導(dǎo)接點(diǎn)21上預(yù)先定義有獨(dú) 立編號(hào)，用以與針盤組l上相同編號(hào)的測(cè)試點(diǎn)ll連接。
一轉(zhuǎn)接盒3，其底座31設(shè)有與測(cè)試盤2導(dǎo)接點(diǎn)21對(duì)應(yīng)的轉(zhuǎn)接部31，其 一端設(shè)有測(cè)試部32，所述的轉(zhuǎn)接點(diǎn)31與測(cè)試部32依測(cè)試料號(hào)的不同而電性 導(dǎo)接。
其中，所述的針盤組1上可進(jìn)一步設(shè)置復(fù)數(shù)的導(dǎo)引板12，每一導(dǎo)引板12 間以間隔支柱121來(lái)區(qū)隔，每一片導(dǎo)引板12上設(shè)有對(duì)應(yīng)的孔洞，并布設(shè)有不 同尺寸的線針，用于對(duì)應(yīng)被測(cè)物(電路板)上的被測(cè)點(diǎn)(請(qǐng)參考圖12所示)。 所述的測(cè)試點(diǎn)11可進(jìn)一步延伸一探針111，供連接導(dǎo)線及測(cè)試設(shè)備用。 在一較佳實(shí)施例中，所述的導(dǎo)接點(diǎn)21可進(jìn)一步延伸一探針22，供連接導(dǎo) 線至針盤組1。且所述的導(dǎo)接點(diǎn)21為一凹槽或孔洞狀，供轉(zhuǎn)接盒3轉(zhuǎn)接點(diǎn)311 可對(duì)應(yīng)置入結(jié)合。
在一理想實(shí)例中，所述的轉(zhuǎn)接部311為一探針或棒狀導(dǎo)電體，以利對(duì)應(yīng) 導(dǎo)接點(diǎn)21置入結(jié)合。
所述的測(cè)試部32 —端以外接線材、排線或連接器的其一連接至四線式電 阻測(cè)量機(jī)供進(jìn)行測(cè)量。
在一可行實(shí)例中，所述的轉(zhuǎn)接盒3其底座31外可進(jìn)一步加設(shè)一外蓋33， 供保護(hù)內(nèi)部線路。本實(shí)用新型于測(cè)試前需先組合，其中針盤組1上布設(shè)的測(cè)試點(diǎn)11底部利 用導(dǎo)線連接至測(cè)試設(shè)備。為使測(cè)試精密電阻值時(shí)不致發(fā)生測(cè)試點(diǎn)誤接的問題， 需于每個(gè)待測(cè)用的測(cè)試點(diǎn)11預(yù)先定義獨(dú)立標(biāo)號(hào)，以避免后續(xù)與導(dǎo)接點(diǎn)21連 接產(chǎn)生誤接的現(xiàn)象(參后續(xù)說(shuō)明)。
再者，通過(guò)測(cè)試盤2來(lái)連接針盤組1上全部的測(cè)試點(diǎn)11，而測(cè)試盤2在
制作時(shí)需與針盤組1相對(duì)應(yīng)，其中所述的測(cè)試盤2包含復(fù)數(shù)的導(dǎo)接點(diǎn)21，所 述的導(dǎo)接點(diǎn)21排列方式可用任何方式或態(tài)樣排列，只需明確界定出每一點(diǎn)測(cè)
試點(diǎn)的相對(duì)地址即可，為使被測(cè)試點(diǎn)導(dǎo)接時(shí)不致發(fā)生錯(cuò)誤，可進(jìn)一步將每個(gè)
導(dǎo)接點(diǎn)21都編上一獨(dú)立的編號(hào)，其目的就是要利用導(dǎo)線拉到針盤組1相同號(hào) 碼的測(cè)試點(diǎn)11上，使所述的檢測(cè)盤2在連接萬(wàn)用測(cè)試機(jī)時(shí)可以對(duì)應(yīng)到相同的 待測(cè)試點(diǎn)，而且適用每個(gè)測(cè)試料號(hào)的待測(cè)物。
其范例可參照?qǐng)D8所示，針盤組1有復(fù)數(shù)的測(cè)試點(diǎn)11，舉例而言，將測(cè) 試點(diǎn)ll預(yù)先編號(hào)有l(wèi)、 5、 9、 13的編號(hào)，所述的測(cè)試盤2上亦具有相同編號(hào) 的導(dǎo)接點(diǎn)21 ，利用導(dǎo)線連接使其電性導(dǎo)通(如圖面表示相同編號(hào)的測(cè)試點(diǎn) 11及導(dǎo)接點(diǎn)21相互連接)。在本實(shí)施例中利用探針111及22以導(dǎo)線作電性 導(dǎo)接，且針盤組1所有測(cè)試點(diǎn)11與測(cè)試盤2的導(dǎo)接點(diǎn)21電性導(dǎo)接僅在首次 制作時(shí)完成所述的導(dǎo)接動(dòng)作，無(wú)須重復(fù)進(jìn)行。
一般而言，針盤組1上的的點(diǎn)矩陣排列的測(cè)試點(diǎn)11在測(cè)試被測(cè)物時(shí)不見 得每一個(gè)測(cè)試點(diǎn)11都會(huì)被使用，且一般測(cè)試時(shí)所使用到的測(cè)試點(diǎn)11又不見 得每一個(gè)點(diǎn)都需要進(jìn)行四線式電阻測(cè)量，通常在測(cè)量四線式電阻測(cè)量的檢測(cè) 點(diǎn)數(shù)沒有針盤組1上所布設(shè)的測(cè)試點(diǎn)111那么多，有鑒于此，本實(shí)用新型的 另一重點(diǎn)是通過(guò)轉(zhuǎn)接盒3來(lái)針對(duì)要進(jìn)行測(cè)四線式電阻測(cè)量的待測(cè)試點(diǎn)作一轉(zhuǎn) 接動(dòng)作。
請(qǐng)參圖9及圖10所示，本實(shí)用新型的轉(zhuǎn)接盒3其目的是用于轉(zhuǎn)接要檢測(cè) 四線式電阻測(cè)量的點(diǎn)，因待測(cè)物型號(hào)不同所需測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)也會(huì)有差異，所 以本案轉(zhuǎn)接盒3的設(shè)計(jì)為具有一底座31及一覆蓋于底座31上的外蓋33，所述的底座31上布設(shè)有但單一料(型)號(hào)的轉(zhuǎn)接點(diǎn)311。
在本實(shí)施例中，其中所述的測(cè)試部32設(shè)置于外蓋33上，以便于用來(lái)外 接導(dǎo)線或排線連接至四線式電阻測(cè)量機(jī)4進(jìn)行測(cè)量，所述的轉(zhuǎn)接點(diǎn)311以導(dǎo) 線連接至測(cè)試部32，形成測(cè)試時(shí)電性信號(hào)導(dǎo)通的路徑。
但為了對(duì)應(yīng)待測(cè)物型號(hào)不同，所述的轉(zhuǎn)接盒3底座31的轉(zhuǎn)接點(diǎn)311的位 置及所對(duì)應(yīng)編號(hào)需與測(cè)試盤2—致，舉例而言如果四線式電阻測(cè)量機(jī)4 (或有 此功能的電子電路)的第一點(diǎn)要測(cè)試萬(wàn)用測(cè)試機(jī)針盤組1上第100號(hào)電性測(cè) 試點(diǎn)111，轉(zhuǎn)接盒3其轉(zhuǎn)接點(diǎn)311要與測(cè)試盤2第100號(hào)的導(dǎo)接點(diǎn)21相對(duì)應(yīng) (如圖11所示)。而轉(zhuǎn)接盒3其測(cè)試部32則利用外接導(dǎo)線或排線連接至四 線式電阻測(cè)量機(jī)4進(jìn)行測(cè)量。
由上述可知，所述的轉(zhuǎn)接盒3會(huì)因?yàn)闇y(cè)試料號(hào)的不同而必需將每個(gè)待測(cè) 料號(hào)都制做一個(gè)轉(zhuǎn)接盒3 (其內(nèi)線路及測(cè)試點(diǎn)都不同)，整體來(lái)說(shuō)，為對(duì)應(yīng)每 個(gè)待測(cè)料號(hào)而制作的轉(zhuǎn)接盒3成本都大大低于制作一測(cè)量精密電阻的專用治 具或測(cè)試機(jī)臺(tái)。
請(qǐng)參圖ll所示，為本實(shí)用新型轉(zhuǎn)接盒3與測(cè)試盤2組合的示意圖。為使 在測(cè)試過(guò)程中測(cè)試到正確的信號(hào)，轉(zhuǎn)接盒3與測(cè)試盤2組合時(shí)系可利用夾具 夾固或螺絲等組接零件使轉(zhuǎn)接盒3緊密結(jié)合于測(cè)試盤2，使轉(zhuǎn)接盒3上轉(zhuǎn)接點(diǎn) 311向下對(duì)應(yīng)到測(cè)試盤2上導(dǎo)接點(diǎn)21,例如第100號(hào)轉(zhuǎn)接點(diǎn)311使其確實(shí)接 觸到測(cè)試盤2上第100號(hào)導(dǎo)接點(diǎn)21位置，方可確保待測(cè)點(diǎn)可正確導(dǎo)接。
請(qǐng)配合圖12所示，本實(shí)用新型測(cè)試精密電阻的步驟如下所述的萬(wàn)用測(cè) 試機(jī)針盤組1的接線會(huì)有兩個(gè)不同的連接路徑， 一條是接往萬(wàn)用測(cè)試機(jī)切換 開關(guān)5并與計(jì)算機(jī)7相連接，所述的切換開關(guān)5系由晶體管所制成的。而另 一路徑系接往測(cè)試盤2，將萬(wàn)用測(cè)試機(jī)針盤組1上相同編號(hào)的測(cè)試點(diǎn)11與測(cè) 試盤2上的導(dǎo)接點(diǎn)21預(yù)先以導(dǎo)線相連接，在利用轉(zhuǎn)接盒3正確導(dǎo)接至測(cè)試盤 2上，借由轉(zhuǎn)接盒3上的測(cè)試部32外接排線或連接器至四線式電阻測(cè)量機(jī)4 (或有此功能的電子電路)，進(jìn)而使萬(wàn)用測(cè)試機(jī)上的待測(cè)點(diǎn)可將電性信號(hào)傳遞至四線式電阻測(cè)量機(jī)4。
于測(cè)試前需先將復(fù)數(shù)的導(dǎo)引板12置放于萬(wàn)用測(cè)試機(jī)的針盤組1上，當(dāng)被
測(cè)物8放在導(dǎo)引板12時(shí)，測(cè)試機(jī)壓床下壓就把被測(cè)物8緊密的與導(dǎo)引板12 結(jié)合在一起，并與線針相接觸(因線針為導(dǎo)引板12上本身即有的導(dǎo)電介面， 且非本案的重點(diǎn)，故圖示未繪制，僅以文字說(shuō)明之)。在本實(shí)施例中，如果 要測(cè)量被測(cè)物8第1、 2號(hào)被測(cè)點(diǎn)，則計(jì)算機(jī)7就先控制切換開關(guān)5切換要測(cè) 量的點(diǎn)，使電表6(或有此功能的電子電路)的檢測(cè)點(diǎn)通過(guò)電線到切換開關(guān)5， 再通過(guò)導(dǎo)線到萬(wàn)用測(cè)試機(jī)針盤組1檢測(cè)點(diǎn)11，因?yàn)獒槺P組1檢測(cè)點(diǎn)11有被導(dǎo) 引板12上的線針一端接觸到，而線針的另一端接觸到被測(cè)點(diǎn)，如此即形成一 條可導(dǎo)通的電路，使電表6可以檢測(cè)到被測(cè)物，而電表6檢測(cè)完成的結(jié)果通 過(guò)數(shù)據(jù)傳輸給計(jì)算機(jī)7，此時(shí)計(jì)算機(jī)7即會(huì)進(jìn)行第一次初步判斷，判斷結(jié)果有 2種，例如連結(jié)被測(cè)物第l、 2被測(cè)點(diǎn)的線若是斷線，那計(jì)算機(jī)7即不會(huì)再進(jìn) 行四線式電阻精密測(cè)量的相關(guān)動(dòng)作，若判斷結(jié)果線路無(wú)斷線現(xiàn)象，則計(jì)算機(jī) 就通知四線式電阻測(cè)量機(jī)進(jìn)行被測(cè)物電阻精密測(cè)量。
而四線式電阻測(cè)量機(jī)4的其檢測(cè)點(diǎn)是通過(guò)外接排線或連接器連接到轉(zhuǎn)接 盒3的測(cè)試部，再通過(guò)轉(zhuǎn)接盒3連接到測(cè)試盤2，利用測(cè)試盤2與針盤組1檢 測(cè)點(diǎn)ll相導(dǎo)接，借由導(dǎo)引板l的線針接觸到被測(cè)物上的被測(cè)點(diǎn)，如此一來(lái)即 可形成導(dǎo)通通路，供四線式電阻測(cè)量機(jī)4來(lái)對(duì)被測(cè)物進(jìn)行電阻精密測(cè)量，待 測(cè)量完的結(jié)果通過(guò)數(shù)據(jù)傳輸至計(jì)算機(jī)7，供工程人員判讀。
綜上述，本實(shí)用新型利用測(cè)試盤2的導(dǎo)接點(diǎn)21與萬(wàn)用測(cè)試機(jī)針盤組1測(cè) 試點(diǎn)11相連接，因所述的導(dǎo)接點(diǎn)21及測(cè)試點(diǎn)11已預(yù)先定義相對(duì)應(yīng)且獨(dú)立的 編號(hào)，而可確保被測(cè)試點(diǎn)的正確性，在通過(guò)依不同料號(hào)所制作的轉(zhuǎn)接盒3與 測(cè)試盤2相組合，使被測(cè)試點(diǎn)的電性信號(hào)可確實(shí)借由測(cè)試部32連接至四線式 電阻測(cè)量機(jī)4上，來(lái)進(jìn)行精密電阻的測(cè)量，使萬(wàn)用測(cè)試機(jī)不僅可測(cè)試一般電 路，亦可同時(shí)用于測(cè)量精密電阻，可大大減少制作專用測(cè)試治具的成本。
以上所述，僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，不能以此限定本實(shí)用新型實(shí)施的范圍，即大凡依本實(shí)用新型權(quán)利要求書及實(shí)用新型說(shuō)明書內(nèi)容所作 的簡(jiǎn)單的等效變化與修飾，皆應(yīng)仍屬本實(shí)用新型專利涵蓋的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種可測(cè)試精密電阻的萬(wàn)用測(cè)試裝置，其特征在于，所述的可測(cè)試精密電阻的萬(wàn)用測(cè)試裝置包含有一針盤組，一端與測(cè)試設(shè)備連接，其針盤組上布設(shè)有矩陣排列的測(cè)試點(diǎn)，每一測(cè)試點(diǎn)上預(yù)先定義有獨(dú)立編號(hào)；一測(cè)試盤，其上布設(shè)有復(fù)數(shù)導(dǎo)接點(diǎn)，每一導(dǎo)接點(diǎn)上預(yù)先定義有獨(dú)立編號(hào)，用以與針盤組上相同編號(hào)的測(cè)試點(diǎn)連接；一轉(zhuǎn)接盒，其底座設(shè)有與測(cè)試盤導(dǎo)接點(diǎn)對(duì)應(yīng)的轉(zhuǎn)接部，其一端設(shè)有測(cè)試部，所述的轉(zhuǎn)接點(diǎn)與測(cè)試部依測(cè)試料號(hào)的不同而電性導(dǎo)接。
2. 如權(quán)利要求1所述的可測(cè)試精密電阻的萬(wàn)用測(cè)試裝置，其特征在于， 其中所述的針盤組上可進(jìn)一步設(shè)置復(fù)數(shù)的導(dǎo)引板，每一導(dǎo)引板間以間隔支柱 來(lái)區(qū)隔，每一片導(dǎo)引板上設(shè)有對(duì)應(yīng)的孔洞，并布設(shè)有不同尺寸的探針，用于 對(duì)應(yīng)被測(cè)物上的被測(cè)試點(diǎn)。
3. 如權(quán)利要求1所述的可測(cè)試精密電阻的萬(wàn)用測(cè)試裝置，其特征在于， 其中所述的測(cè)試點(diǎn)可進(jìn)一步延伸一探針，供連接導(dǎo)線及測(cè)試設(shè)備用。
4. 如權(quán)利要求1所述的可測(cè)試精密電阻的萬(wàn)用測(cè)試裝置，其特征在于， 其中所述的導(dǎo)接點(diǎn)可進(jìn)一步延伸一探針，供連接導(dǎo)線至針盤組。
5. 如權(quán)利要求1所述的可測(cè)試精密電阻的萬(wàn)用測(cè)試裝置，其特征在于， 其中所述的導(dǎo)接點(diǎn)為一凹槽或孔洞狀，供轉(zhuǎn)接盒轉(zhuǎn)接點(diǎn)可對(duì)應(yīng)置入結(jié)合。
6. 如權(quán)利要求1所述的可測(cè)試精密電阻的萬(wàn)用測(cè)試裝置，其特征在于， 其中所述的轉(zhuǎn)接部為一探針或棒狀導(dǎo)電體，以利對(duì)應(yīng)導(dǎo)接點(diǎn)置入結(jié)合。
7. 如權(quán)利要求1所述的可測(cè)試精密電阻的萬(wàn)用測(cè)試裝置，其特征在于， 其中測(cè)試部一端以外接線材、排線或連接器的其一連接至四線式電阻測(cè)量機(jī) 供進(jìn)行測(cè)量。
8. 如權(quán)利要求1所述的可測(cè)試精密電阻的萬(wàn)用測(cè)試裝置，其特征在于， 其中所述的轉(zhuǎn)接盒其底座外可進(jìn)一步加設(shè)一外蓋，供保護(hù)內(nèi)部線路。^^^7^^^^ 式錢，辦征在于， 其中所述麵鄉(xiāng)設(shè)針外蓋，,于賊外接導(dǎo)線或排鵬錢四線式電
專利摘要本實(shí)用新型為一種可測(cè)試精密電阻的萬(wàn)用測(cè)試裝置，其包含有一針盤組，一端與測(cè)試設(shè)備連接，其針盤組上布設(shè)有矩陣排列的測(cè)試點(diǎn)，每一測(cè)試點(diǎn)上預(yù)先定義有獨(dú)立編號(hào)。一測(cè)試盤，其上布設(shè)有復(fù)數(shù)導(dǎo)接點(diǎn)，每一導(dǎo)接點(diǎn)上預(yù)先定義有獨(dú)立編號(hào)，用以與針盤組上相同編號(hào)的測(cè)試點(diǎn)連接。一轉(zhuǎn)接盒，其底座設(shè)有與測(cè)試盤導(dǎo)接點(diǎn)對(duì)應(yīng)的轉(zhuǎn)接部，其一端設(shè)有測(cè)試部，所述的轉(zhuǎn)接點(diǎn)與測(cè)試部依測(cè)試料號(hào)的不同而電性導(dǎo)接。測(cè)試裝置不僅可測(cè)試一般電路，亦可同時(shí)用于測(cè)量精密電阻，可大大減少制作專用測(cè)試治具成本。
文檔編號(hào)G01R27/02GK201159757SQ200820002799
公開日2008年12月3日 申請(qǐng)日期2008年1月21日 優(yōu)先權(quán)日2008年1月21日
發(fā)明者吳美惠 申請(qǐng)人:吳美惠