專利名稱：掉落測試裝置及其使用方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種機器或結(jié)構(gòu)部件的靜或動平衡的測試，特別是涉及一種半導(dǎo)體晶
片封裝產(chǎn)品的掉落測試裝置及其使用方法。
背景技術(shù)：
為了確保產(chǎn)品在使用者操作環(huán)境及運送過程中能維持原有設(shè)計的品質(zhì)，例如晶片 封裝結(jié)構(gòu)在封裝完成之后，通常會進行最終成品測試，例如老化試驗、電性試驗、拉力試驗、 焊球接合強度試驗等，以確保其品質(zhì)與可靠性，再進行組裝成存儲器(存儲器即記憶體，本 文均稱為存儲器)模塊(或稱為模塊)等電子產(chǎn)品，可模塊化結(jié)合應(yīng)用于一般日常用品中 常見的電腦主機、行動電話、數(shù)位相機、PDA等等，故對撞擊與抵抗應(yīng)力的特性要求更高，相 關(guān)必要測試變得更為重要。因此，業(yè)界在計算晶片封裝結(jié)構(gòu)或存儲器模塊的耐震度上，乃制 訂一套嚴格的測試標準，例如根據(jù)封裝業(yè)界標準的聯(lián)合電子設(shè)備工程會議(JEDEC)所制訂 的掉落試驗(drop test)，以計算電子產(chǎn)品從高空掉落時的耐震能力。
檢視現(xiàn)有習知的掉落試驗過程中，可發(fā)現(xiàn)幾個現(xiàn)象 1、試驗的重復(fù)性低。難以手動定位待測試物件的高度與角度，造成每次落下的角
度及碰撞的區(qū)域可能都不相同，因此每次試驗可能得到完全不相同的結(jié)果。 2、實驗的成本偏高，準備時間費時由于試驗的重復(fù)性低，可能需準備許多測試
品，而每次設(shè)計變更后，又必需再次準備測試品，特別是產(chǎn)品開發(fā)階段，每一測試品成本單
價較高，且掉落試驗屬于破壞性實驗，因此反復(fù)的測試將是一項材料成本負擔。 3、掉落試驗過程中可能發(fā)生碰撞現(xiàn)象，待測試物件掉落時可能發(fā)生非線性現(xiàn)象。 4、現(xiàn)有習知的掉落測試裝置僅能適用單一測試條件所規(guī)范的標準，其測試參數(shù)為
固定值，例如在一固定高度H下，測試撞擊時所產(chǎn)生的沖擊波(impulse)。當待測試物件
的封裝類型不同或應(yīng)用環(huán)境不同時，無法改變測試條件，尤其各家廠商所使用的掉落試驗
標準不相同，故每改變一種測試條件，需另行添購一套掉落測試裝置，造成測試成本居高不下。 由此可見，上述現(xiàn)有的掉落測試裝置及其使用方法在產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、測試方法與使用 上，顯然仍存在有不便與缺陷，而亟待加以進一步改進。為了解決上述存在的問題，相關(guān)廠 商莫不費盡心思來謀求解決之道，但長久以來一直未見適用的設(shè)計被發(fā)展完成，而一般產(chǎn) 品及方法又沒有適切的結(jié)構(gòu)及方法能夠解決上述問題，此顯然是相關(guān)業(yè)者急欲解決的問 題。因此如何能創(chuàng)設(shè)一種新的掉落測試裝置及其使用方法，實屬當前重要研發(fā)課題之一，亦 成為當前業(yè)界極需改進的目標。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于，克服現(xiàn)有的掉落測試裝置存在的缺陷，而提供一種新的 掉落測試裝置，所要解決的技術(shù)問題是使其能適用于不同尺寸的待測試物件、測試不同角 度的掉落表面，并且能調(diào)整不同的測試條件。
本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題是采用以下技術(shù)方案來實現(xiàn)的。依據(jù)本發(fā)明提出
的掉落測試裝置，包含一固定架、一掉落角度設(shè)定治具以及一夾具。該固定架是設(shè)有一滑 座，并且該滑座是具有一水平滑軌。該掉落角度設(shè)定治具是設(shè)置于該滑座上并連接有一可 調(diào)整升降的試樣架，該試樣架是提供一第一基準面，而該掉落角度設(shè)定治具是提供一第二 基準面，該試樣架的升降移動使得該第一基準面移動在一第一設(shè)定位置與一第一退離位置 之間，當該掉落角度設(shè)定治具在該水平滑軌的導(dǎo)引下作水平向移動，該第二基準面是移動 在一第二設(shè)定位置與一第二退離位置之間。當該夾具夾設(shè)一待測試物件時，在第一設(shè)定位 置的該第一基準面是可供貼觸該待測試物件的一第一表面，在第二設(shè)定位置的該第二基準 面是可供貼觸該待測試物件的一第二表面。 本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還可采用以下技術(shù)措施進一步實現(xiàn)。 在前述掉落測試裝置中，該滑座的一側(cè)緣是可設(shè)有一第一觸止塊，該掉落角度設(shè)
定治具的一側(cè)緣是連接設(shè)有一第二觸止塊，當該第二觸止塊接觸該第一觸止塊，該第二基
準面是移動至該第二設(shè)定位置。 在前述掉落測試裝置中，該第二觸止塊是可設(shè)有一緊迫固定件，用以固定該掉落 角度設(shè)定治具與該滑座的相對位置。 在前述掉落測試裝置中，該掉落角度設(shè)定治具是可具有一調(diào)整桿與一彈性元件， 該彈性元件是提供該試樣架移動朝向該第一設(shè)定位置的彈力，該調(diào)整桿是限制該試樣架朝 向該第一設(shè)定位置的移動程度。 在前述掉落測試裝置中，該試樣架的兩側(cè)可各連接有一滑件，該掉落角度設(shè)定治 具的兩側(cè)是各設(shè)有一供該滑件垂直滑移的垂直滑軌。 在前述掉落效 滑軌的水平面。
在前述掉落領(lǐng)
在前述掉落領(lǐng)
在前述掉落領(lǐng)
在前述掉落效
l試裝置中，該固定架的底部是可設(shè)有多個調(diào)整腳，用以調(diào)整該水平
J試裝置中，該待測試物件是可為長條狀的存儲器模塊。 J試裝置中，該第一基準面與該第二基準面是可互為垂直。 J試裝置中，可另包含有一夾持座，用以結(jié)合該夾具。 B式裝置中，該夾具是可具有倒L形外形，以提供一第一夾面與一第
二夾面，其中該第一夾面的夾合間隙小于該第二夾面的夾合間隙并且該第一夾面相對遠離 該第一基準面。 在前述掉落測試裝置中，在第一設(shè)定位置的該第一基準面與在第二設(shè)定位置的該 第二基準面之間是可形成有一夾縫。 本發(fā)明還揭示適用于前述掉落測試裝置的使用方法，依序包含以下步驟首先，調(diào) 整該試樣架與該掉落角度設(shè)定治具，以使該第一基準面移動至該第一設(shè)定位置，該第二基 準面是移動至該第二設(shè)定位置。接著，放置一待測試物件于該掉落角度設(shè)定治具，該待測試 物件的一第一表面是貼觸于該第一基準面，該待測試物件的一第二表面是貼觸于該第二基 準面。之后，以該夾具固定該待測試物件。之后，下降該試樣架，以使該第一基準面移動至 第一退離位置而不與該待測試物件貼觸，但該待測試物件仍與該掉落角度設(shè)定治具的該第 二基準面貼觸。之后，橫移該掉落角度設(shè)定治具，以使該第二基準面是移動至第二退離位置 而不與該待測試物件貼觸。最后，釋放該待測試物件。 借由上述技術(shù)方案，本發(fā)明掉落測試裝置及其使用方法至少具有下列優(yōu)點及有益
—、提供待測試物件測試各種不同的掉落表面及適用于不同尺寸的待測試物件。
二、在測試時能維持相同的高度、角度及位置，提高試驗的重復(fù)性，進而降低實驗 的成本。 三、可以快速地、精準地與穩(wěn)固地控制待測試物件的高度、角度及位置。 四、當滑座移動時不會與待測試物件產(chǎn)生摩擦且待測試物件不會隨著滑座移動而
改變位置。 五、藉由緊迫固定件及觸止塊的設(shè)計，可使掉落角度設(shè)定治具快速地與穩(wěn)固地回 到基準位置。 六、藉由調(diào)整腳的設(shè)計，可使掉落測試裝置的試樣架能維持水平面狀態(tài)，使得待測 試物件能直線掉落，量測到準確的數(shù)據(jù)。 七、無論待測試物件以豎立或橫置角度進行掉落測試時，都不需要調(diào)整夾具的高 度，也不需要調(diào)整夾持座的相對高度。 綜上所述，本發(fā)明是有關(guān)于一種掉落測試裝置及其使用方法。該掉落測試裝置，主 要特征在于一掉落角度設(shè)定治具可水平滑移地設(shè)置于一固定架上，能對準一待測試物件在 預(yù)定角度，以被一夾具正確、快速及安全地夾固。治具提供一第二基準面并連接有一可調(diào)整 升降的試樣架，由試樣架提供一第一基準面。在夾具夾設(shè)待測試物件之后，可以退離治具而 不會對待測試物件造成摩擦，且待測試物件不會移動。因此，待測試物件能準確定位。此外， 利用滑軌與觸止塊的設(shè)計，治具能快速且安全地退回到參考位置。本發(fā)明在技術(shù)上有顯著 的進步，并具有明顯的積極效果，誠為一新穎、進步、實用的新設(shè)計。 上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段， 而可依照說明書的內(nèi)容予以實施，并且為了讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點能夠 更明顯易懂，以下特舉較佳實施例，并配合附圖，詳細說明如下。


圖1是本發(fā)明第一具體實施例的掉落測試裝置的立體示意圖。 圖2是本發(fā)明第一具體實施例的掉落測試裝置的掉落角度設(shè)定治具移動至設(shè)定 位置并放置一待測試物件的局部放大立體示意圖。 圖3是本發(fā)明第一具體實施例的掉落測試裝置的掉落角度設(shè)定治具移動至退離 位置的局部放大立體示意圖。 圖4是本發(fā)明第一具體實施例的該掉落測試裝置的調(diào)整腳的立體示意圖。 圖5A至圖5F是本發(fā)明第一具體實施例的掉落測試裝置在使用方法步驟中的元件
側(cè)面示意圖。 圖6是本發(fā)明第一具體實施例的掉落測試裝置的掉落角度設(shè)定治具移動至設(shè)定
位置并放置一待測試物件呈第二調(diào)整掉落角度的局部放大立體示意圖。 圖7是本發(fā)明第一具體實施例的掉落測試裝置的掉落角度設(shè)定治具移動至設(shè)定
位置并放置一待測試物件呈第三調(diào)整掉落角度的局部放大立體示意圖。 圖8是掉落測試裝置的掉落角度設(shè)定治具移動至設(shè)定位置并可放置另一種待測
試物件的局部放大立體示意圖。
6
圖9是本發(fā)明第二具體實施例的一種掉落測試裝置的的局部放大立體示意圖。
圖IOA至圖IOC是本發(fā)明第二具體實施例的掉落測試裝置的掉落角度設(shè)定治具移動至設(shè)定位置并放置一待測試物件呈豎立、橫置與橫躺擺放等多種不同調(diào)整掉落角度的局部放大立體示意圖。 圖IIA至圖IIC是本發(fā)明第二具體實施例的掉落測試裝置的掉落角度設(shè)定治具移動至設(shè)定位置并放置另一待測試物件呈豎立、橫置與橫躺擺放等多種不同調(diào)整掉落角度的局部放大立體示意圖。10 :待測試物件11 :第一表面12 :第二表面20 :待測試物件21 :第一表面22 :第二表面100:掉落測試裝置110 :固定架110A:直立架110B :底部框111:滑座112 :水平滑軌113:第一觸止塊114 :調(diào)整腳115:第三觸止塊120 :掉落角度設(shè)定治具121:試樣架122 :第一基準面123:第二基準面124 :第二觸止塊125:緊迫固定件126 :調(diào)整桿127:彈性元件128 :滑件129:垂直滑軌130 :夾具231:第一夾面232 :第二夾面240:夾持座G:夾縫
具體實施例方式
為更進一步闡述本發(fā)明為達成預(yù)定發(fā)明目的所采取的技術(shù)手段及功效，以下結(jié)合附圖及較佳實施例，對依據(jù)本發(fā)明提出的掉落測試裝置及其使用方法其具體實施方式
、結(jié)構(gòu)、使用方法、步驟、特征及其功效，詳細說明如后。 以下將配合所附圖示詳細說明本發(fā)明的實施例，然應(yīng)注意的是，該些圖示均為簡
化的示意圖，僅以示意方法來說明本發(fā)明的基本架構(gòu)或?qū)嵤┓椒?，故僅顯示與本案有關(guān)的
元件與組合關(guān)是，圖中所顯示的元件并非以實際實施的數(shù)目、形狀、尺寸做等比例繪制，某
些尺寸比例與其他相關(guān)尺寸比例或已夸張或是簡化處理，以提供更清楚的描述。實際實施
的數(shù)目、形狀及尺寸比例為一種選置性的設(shè)計，詳細的元件布局可能更為復(fù)雜。 請參閱圖1所示，是本發(fā)明的第一具體實施例的掉落測試裝置的立體示意圖。本
發(fā)明第一具體實施例的掉落測試裝置100，主要包含一固定架110、一掉落角度設(shè)定治具
120以及一夾具130，用以進行一待測試物件10由高處落下時的掉落試驗，以檢測其耐震性。 上述的待測試物件10是可為長條狀的存儲器模塊，例如DI匪存儲器模塊(DualIn-Line Memory Modules)或S0-DI匪存儲器模塊(Small OutlineDual In-Line MemoryModules)。該待測試物件10亦可為其他的電子產(chǎn)品，其類型可不限定，亦可為覆晶封裝結(jié)構(gòu)、導(dǎo)線架封裝結(jié)構(gòu)、多晶片封裝結(jié)構(gòu)或其他常用的晶片封裝結(jié)構(gòu)等。由于晶片封裝的類型種類繁多，各家廠商的所使用的測試標準不同，因此本發(fā)明乃設(shè)計一可調(diào)整的掉落測試裝置，可適用于多種不同測試條件的標準，以降低測試成本。 請同時參閱圖2所示，是本發(fā)明第一具體實施例的掉落測試裝置的掉落角度設(shè)定治具移動至設(shè)定位置并放置一待測試物件的局部放大立體示意圖。 上述的固定架110是設(shè)有一滑座lll，并且該滑座111是具有一水平滑軌112。該固定架110是可由一直立架110A與一底部框IIOB所構(gòu)成，該直立架110A是直立固定于該底部框IIOB上，該固定架110的該底部框IIOB是占據(jù)一定的面積，可使該固定架110保持穩(wěn)固而不易傾倒。在本實施例中，該底部框llOB是呈n型，其內(nèi)圍住掉落試驗的擊落點(如圖1所示)。該滑座111是設(shè)置在該固定架110的一懸臂上，而位于一預(yù)定高度，例如30cm、50cm、60cm甚至120cm，以供設(shè)定該掉落角度設(shè)定治具120的高度。
請同時參閱圖3所示，是本發(fā)明第一具體實施例的掉落測試裝置的掉落角度設(shè)定治具移動至退離位置的局部放大立體示意圖。 上述的掉落角度設(shè)定治具120是設(shè)置于該滑座111上并連接有一可調(diào)整升降的試樣架121 (如圖3所示)，該試樣架121是提供一第一基準面122，可為水平或傾斜。該掉落角度設(shè)定治具120是提供一第二基準面123，可為垂直或傾斜。該掉落角度設(shè)定治具120可藉由該水平滑軌112的導(dǎo)引下作水平向移動。較佳地，該第一基準面122與該第二基準面123是可互為垂直，以提供待測試物件的定位。 該試樣架121的升降移動使得該第一基準面122移動在一第一設(shè)定位置與一第一退離位置之間。該第一設(shè)定位置是指該試樣架121是位于一上升位置(如圖5A所示)，該第一退離位置是指該試樣架121是位于一下降位置(如圖5B所示)。 當該掉落角度設(shè)定治具120在該水平滑軌112的導(dǎo)引下作水平向移動，該第二基準面123是移動在一第二設(shè)定位置與一第二退離位置之間。該第二設(shè)定位置是為該第二基準面123往前移動以遠離該固定架110的位置(如圖5A與圖5B所示)，該第二退離位置是為該第二基準面123往后移動以接近該固定架110的位置(如圖5D所示)。
如圖2所示，當上述的夾具130夾設(shè)該待測試物件10時，該待測試物件10的一第一表面11是貼觸于在第一設(shè)定位置的該第一基準面122，即將該待測試物件10放置在該試樣架121上；該待測試物件10的一第二表面12是貼觸于在第二設(shè)定位置的該第二基準面123(如圖2及圖3所示)。在本實施例中，該第一表面11是為存儲器模塊的長側(cè)表面，第二表面12是為存儲器模塊的基板表面或是元件設(shè)置面。 當放置好該待測試物件10時，該待測試物件10的第一表面11以及第二表面12是分別貼觸在該第一基準面122以及該第二基準面123，并以該夾具130夾設(shè)該待測試物件10時的兩側(cè)。在本實施例中，該待測試物件io被夾固的表面是為存儲器模塊的短側(cè)表面。因此，可以快速地、精準地與穩(wěn)固地設(shè)置該待測試物件10的掉落高度、掉落初始角度以及位置，且能維持相同的高度及角度，不會產(chǎn)生偏移。具體而言，該夾具130的兩端(圖未繪出)是可連接于該直立架110A上并可上下調(diào)整高度，此外，該夾具130是可伸縮而夾住大小不一的待測試物件10，而能適用于不同尺寸的待測試物件。 具體而言，如圖2及圖3所示，該滑座111的一側(cè)緣是可設(shè)有一第一觸止塊113，該掉落角度設(shè)定治具120的一側(cè)緣是連接設(shè)有一第二觸止塊124。其中，該滑座111的該側(cè)緣與該掉落角度設(shè)定治具120的該側(cè)緣是位于同一側(cè)邊，當往后水平移動該掉落角度設(shè)定治具120時，該第二觸止塊124會接觸到該第一觸止塊113，便使該第二基準面123移動至該第二退離位置(如圖3及圖5D所示)。此外，該滑座111的該側(cè)緣是可另設(shè)有一第三觸止塊115，當往前水平移動該掉落角度設(shè)定治具120時，該第二觸止塊124會接觸到該第三觸止塊115，便使該第二基準面123移動至該第二設(shè)定位置。因此，該第二設(shè)定位置與該第二退離位置能得到清楚定義。 詳細而言，如圖2所示，該第二觸止塊124是可設(shè)有一緊迫固定件125，用以固定該掉落角度設(shè)定治具120與該滑座111的相對位置，使其不再滑動。 此外，如圖3所示，該掉落角度設(shè)定治具120是可具有一調(diào)整桿126與一彈性元件127，該彈性元件127是提供該試樣架121移動朝向該第一設(shè)定位置的彈力，該調(diào)整桿126是限制該試樣架121朝向該第一設(shè)定位置的移動程度。利用該調(diào)整桿126旋入深度的上死點以及該彈性元件127的回復(fù)彈力，該試樣架121的第一基準面122能準確到達該第一設(shè)定位置。利用該調(diào)整桿126旋入深度的下死點以及該彈性元件127的回復(fù)彈力，該試樣架121的第一基準面122能準確到達該第一退離位置。因此，該第一設(shè)定位置與該第一退離位置能得到清楚定義。此外，該試樣架121的兩側(cè)可各連接有一滑件128，該掉落角度設(shè)定治具120的兩側(cè)是各設(shè)有一供該滑件128垂直滑移的垂直滑軌129，利用該調(diào)整桿126的旋轉(zhuǎn)可使該試樣架121在該垂直滑軌129的導(dǎo)引下作垂直向移動。 更細部而言，如圖1與圖4所示，該固定架110的底部是可設(shè)有多個調(diào)整腳114，該些調(diào)整腳114是可位于該固定架110的該底部框110B的其中兩個或四個角落，用以調(diào)整該水平滑軌112的水平面，可使該掉落測試裝置100的該試樣架121能維持水平面狀態(tài)，使得該待測試物件20能直線掉落，量測到準確的數(shù)據(jù)。 本發(fā)明進一步說明該掉落測試裝置100的使用方法，以彰顯本案的功效。請參閱圖5A至圖5F所示，是本發(fā)明第一具體實施例的掉落測試裝置在使用方法步驟中的元件側(cè)面示意圖。首先，如圖5A所示，調(diào)整該試樣架121與該掉落角度設(shè)定治具120，以使該第一基準面122移動至該第一設(shè)定位置，該第二基準面123是移動至該第二設(shè)定位置。該第一設(shè)定位置是為該試樣架121的第一基準面122位在一上升位置，該第二設(shè)定位置是為該第二基準面123是移動在一前方位置。該第二基準面123與該第一基準面122之間是可構(gòu)成90度直角。接著，如圖5A的斜向箭頭所指處，放置一待測試物件10于該掉落角度設(shè)定治具120的該試樣架121上，該待測試物件10的一第一表面11是貼觸于該第一基準面122，該待測試物件10的一第二表面12是貼觸于該第二基準面123(可參閱圖5C所示)。之后，以該夾具130夾住固定該待測試物件10的兩側(cè)邊(如圖2所示)，故可以快速的、精準的與穩(wěn)固的控制該待測試物件10的高度及角度，且維持相同的高度及角度，不會產(chǎn)生偏移。
之后，如圖5B所示，可利用旋轉(zhuǎn)該調(diào)整桿126的方式下降該試樣架121，以使該第一基準面122移動至第一退離位置而不與該待測試物件10的該第一表面11貼觸，但該待測試物件10的該第二表面12仍與該掉落角度設(shè)定治具120的該第二基準面123貼觸。其中，前述旋轉(zhuǎn)該調(diào)整桿126的方向可如圖5B順時針旋轉(zhuǎn)的箭頭。前述下降的方向是如圖5B往下指的箭頭。 之后，如圖5C所示，橫移該掉落角度設(shè)定治具120，以使該第二基準面123是移動至第二退離位置而不與該待測試物件10貼觸。其中，前述橫移的方向是如圖5C往左指的箭頭。此時，該第二觸止塊124會接觸到該第一觸止塊113，再利用該緊迫固定件125固定該掉落角度設(shè)定治具120與該滑座111的相對位置，使其不再滑動。前述固定的方法可為如圖5C中逆時鐘旋轉(zhuǎn)的箭頭方向旋轉(zhuǎn)該緊迫固定件125。在該掉落角度設(shè)定治具120往后的水平移動過程，由于該待測試物件10的該第一表面11已不與該第一基準面122貼觸，故當該滑座111移動時不會與該待測試物件10產(chǎn)生摩擦且該待測試物件10不會隨著該滑座111移動而改變位置。而該待測試物件10則藉由該夾具130夾住兩側(cè)而呈現(xiàn)騰空現(xiàn)象。
之后，如圖5D的斜向箭頭所指處，以該夾具130釋放該待測試物件10以使其該第一表面11朝下的方式往下掉落，撞擊到地面以測得數(shù)據(jù)。前述掉落的方向是如圖5D往下指的箭頭。 當欲進行下一個待測試物件10的測試時，如圖5E所示，可使該掉落角度設(shè)定治具120水平移動并回復(fù)到該第二設(shè)定位置，其中，前述水平移動的方向是如圖5E往右指的箭頭。此時，該第二觸止塊124會接觸到該第三觸止塊115，該掉落角度設(shè)定治具120會停止移動。再利用該緊迫固定件125固定該掉落角度設(shè)定治具120與該滑座111的相對位置，使其不再滑動。前述固定的方法可為如圖5E中順時針旋轉(zhuǎn)的箭頭方向旋轉(zhuǎn)該緊迫固定件125。 之后，如圖5F所示，旋轉(zhuǎn)該調(diào)整桿126使該試樣架121的該水平基準面123上升
以回復(fù)到該第一設(shè)定位置(即預(yù)設(shè)的測試高度)。前述旋轉(zhuǎn)該調(diào)整桿126的方向可如圖5F
中旋轉(zhuǎn)箭頭，而前述該水平基準面123的上升方向是如圖5F中往上指的箭頭。 之后，再重復(fù)進行如圖5A至圖5F所示的步驟，以逐一測試待測試物件10。在測試
過程中待測試物件10都能維持相同的掉落高度與位置并能調(diào)整掉落的初始角度，提高試
驗的重復(fù)性與準確性，進而降低實驗的成本。 值得一提的，本發(fā)明的該掉落測試裝置100提供待測試物件10測試各種不同的掉落初始角度并可適用于不同尺寸的待測試物件。如圖6所示，該待測試物件10是可以橫躺方式而置放在該試樣架121。具體而言，如圖3與圖5F所示，在第一設(shè)定位置的該第一基準面122與在第二設(shè)定位置的該第二基準面123之間是形成有一夾縫G，該夾縫G約大于該待測試物件10的厚度。當該待測試物件10為橫躺時，該待測試物件10可局部塞入該夾縫G，可不需要調(diào)整該夾具130的夾設(shè)高度，更可易于固定。此時，該待測試物件10貼觸于該第一基準面122的第一表面11是為存儲器模塊的基板表面或是元件設(shè)置面，以放置在該試樣架121上。該待測試物件10的第二表面12是為存儲器模塊的長側(cè)表面，其是可嵌入上述形成在該第二基準面123與該試樣架121之間的夾縫G。故該夾具130能夾設(shè)存儲器模塊的短側(cè)表面。 或者，如圖7所示，該待測試物件10亦可以直立方式置放在該試樣架121。該待測試物件10的該第一表面11是貼觸于該第一基準面122，該待測試物件10的該第二表面12是貼觸于該第二基準面123。該待測試物件10的該第一表面11是為存儲器模塊的短側(cè)表面。該待測試物件10的第二表面12是為存儲器模塊的基板表面或是元件設(shè)置面。故該夾具130能夾設(shè)存儲器模塊的長側(cè)表面。 此外，如圖8所示，本發(fā)明的該掉落測試裝置IO亦可放置另一種尺寸或不同產(chǎn)品類型的待測試物件20，該待測試物件20的一第一表面21是貼觸于該第一基準面122，相對地，該待測試物件20的一第二表面22是貼觸于該第二基準面123 (如圖7所示)。并利用伸縮調(diào)整該夾具130之間夾合間隙，以夾住不同尺寸的待測試物件20，以同一掉落測試裝置10進行各種不同尺寸的待測試物件的掉落試驗。 請參閱圖9所示，是本發(fā)明的第二具體實施例的掉落測試裝置的立體示意圖。本發(fā)明的第二具體實施例的掉落測試裝置主要包含一固定架110、一掉落角度設(shè)定治具120以及一夾具130。其中與第一實施例相同的主要元件將以相同符號標示，并具有相同或類似的作用與功效，在此不再予以贅述。 在本實施例中，該掉落測試裝置另包含有一夾持座240，用以結(jié)合該夾具130。該夾持座240是可與該固定架110為面對面擺放，并以橫桿連結(jié)該夾具130。該夾具130是具有倒L形外形，以提供一第一夾面231與一第二夾面232，其中該第一夾面231的夾合間隙小于該第二夾面232的夾合間隙并且該第一夾面231相對遠離該第一基準面122，其功效為進行不同掉落角度的掉落測試時，不需要調(diào)整該夾具130與該夾持座240的高度，即不需要升降該夾持座240。當該夾具130在每一側(cè)部件中的該第一夾面231與該第二夾面232的水平矩離差恰好為一待測試物件10的長側(cè)表面與短側(cè)表面長度差值的二分之一時，則該夾具130能以相同的夾合行程夾固呈豎立擺置、橫置擺置與橫躺擺置方式的待測試物件IO。 可進行不同掉落角度的掉落測試舉例說明如圖IOA至圖IOC所示。如圖IOA所示，當該待測試物件10以豎立方式擺放在該試樣架121時，該待測試物件10的該第一表面11可貼觸于該第一基準面122，該待測試物件10的該第二表面12可貼觸于該第二基準面123。其中該第一表面11是為存儲器模塊的短側(cè)表面，該第二表面12是為存儲器模塊的基板表面或是元件設(shè)置面。調(diào)整該夾具130的該第一夾面231的夾合間隙，使其約等于存儲器模塊的短側(cè)表面的長度時，該夾具130的該第一夾面231便能夾設(shè)存儲器模塊的長側(cè)表面中間處，無需調(diào)整該夾具130的高度。 當該待測試物件10橫置擺放在該試樣架121時(如圖10B所示)，該待測試物件10的該第一表面11可貼觸于該第一基準面122，該待測試物件10的該第二表面可貼觸于該第二基準面。其中該第一表面11是為存儲器模塊的長側(cè)表面，該第二表面是為存儲器模塊的基板表面或是元件設(shè)置面。調(diào)整該夾具130的該第二夾面232的夾合間隙，使其約等于存儲器模塊的長側(cè)表面的長度時，該夾具130的該第二夾面232便能夾設(shè)存儲器模塊的
短側(cè)表面。 當該待測試物件10橫躺擺放在該試樣架121時(如圖10C所示)，該待測試物件10可局部塞入該夾縫G(如圖9所示)，可不需要調(diào)整該夾具130的夾設(shè)高度，更可易于固定。此時，該待測試物件10貼觸于該第一基準面122的第一表面11是為存儲器模塊的基板表面或是元件設(shè)置面，以放置在該試樣架121上。該待測試物件10的其中的一長側(cè)表面，可嵌入上述形成在該第二基準面123與該試樣架121之間的夾縫G。故該夾具130能夾設(shè)存儲器模塊的短側(cè)表面。 因此，無論該待測試物件10以豎立、橫置或橫躺角度進行掉落測試時，都不需要調(diào)整該夾具130與該夾持座240的高度，而能對同一類待測試物件10進行多種掉落角度(包含豎立擺置、橫置擺置與橫躺擺置方式)的掉落測試，可供統(tǒng)計分析。甚至于，可利用該第一夾面231的夾合間隙與該第二夾面232的夾合間隙的差異值，能在夾合呈豎立擺置、橫置擺置與橫躺擺置方式的待測試物件10的過程中有相同的夾合行程。 此外，如圖IIA至圖IIC所示，本發(fā)明的第二具體實施例的掉落測試裝置亦可放置另一種尺寸或不同產(chǎn)品類型的待測試物件20，可更長或更大于前述的待測試物件10。其中，該夾具130是具有倒L形外形，以提供該第一夾面231與該第二夾面232。如圖IIA所示，該待測試物件20可為豎立方式擺放在該試樣架121。該待測試物件20貼觸于該第一基準面122的第一表面21是為存儲器模塊的短側(cè)表面，該待測試物件20貼觸于該第二基準面123的第二表面22是為存儲器模塊的基板表面或是元件設(shè)置面。該夾具130的該第一夾面231便能夾設(shè)存儲器模塊的長側(cè)表面處，以進行豎立擺放方式掉落角度的掉落測試。
如圖11B所示，該待測試物件20可為橫置方式擺放在該試樣架121。該待測試物件20貼觸于該第一基準面122的第一表面21是為存儲器模塊的長側(cè)表面，該待測試物件20貼觸于該第二基準面123的第二表面22是為存儲器模塊的基板表面或是元件設(shè)置面。該夾具130的該第二夾面232便能夾設(shè)存儲器模塊的短側(cè)表面處，以進行橫置擺放方式掉落角度的掉落測試。 如圖11C所示，該待測試物件20可為橫躺方式擺放在該試樣架121。該待測試物件20貼觸于該第一基準面的第一表面21是為存儲器模塊的基板表面或是元件設(shè)置面，另將該待測試物件20的第二表面22是局部塞入該夾縫G(可參照如圖9所示)，該第二表面22是為存儲器模塊的長側(cè)表面。該夾具130的該第二夾面232便能夾設(shè)存儲器模塊的短側(cè)表面處，以進行橫躺擺放方式掉落角度的掉落測試。 因此，同一類型的待測試物件20無論是以豎立、橫置或橫躺擺放方式等多種掉落角度進行掉落測試時，不需要調(diào)整該夾具130與該夾持座240的高度。利用前述實施例的掉落測試裝置內(nèi)包含的掉落角度設(shè)定治具120以及其結(jié)合關(guān)系，能使測試條件的再現(xiàn)性良好，不會有手動固定待測試物件的人為誤差。 以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實施例而已，并非對本發(fā)明作任何形式上的限制，雖然本發(fā)明已以較佳實施例揭露如上，然而并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉本項技術(shù)者，在不脫離本發(fā)明的技術(shù)范圍內(nèi)，所作的任何簡單修改、等效性變化與修飾，均仍屬于本發(fā)明的技術(shù)范圍內(nèi)。
1權(quán)利要求
一種掉落測試裝置，其特征在于其包含一固定架，是設(shè)有一滑座，該滑座具有一水平滑軌；一掉落角度設(shè)定治具，是設(shè)置于該滑座上，并連接有一調(diào)整升降的試樣架，該試樣架提供一第一基準面，該掉落角度設(shè)定治具提供一第二基準面，該試樣架的升降移動使得該第一基準面移動在一第一設(shè)定位置與一第一退離位置之間，該掉落角度設(shè)定治具在該水平滑軌的導(dǎo)引下作水平向移動，該第二基準面是移動在一第二設(shè)定位置與一第二退離位置之間；以及一夾具，當該夾具夾設(shè)一待測試物件時，在第一設(shè)定位置的該第一基準面是供貼觸該待測試物件的一第一表面，在第二設(shè)定位置的該第二基準面是供貼觸該待測試物件的一第二表面。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的掉落測試裝置，其特征在于其中所述的滑座的一側(cè)緣是設(shè)有 一第一觸止塊，該掉落角度設(shè)定治具的一側(cè)緣是連接設(shè)有一第二觸止塊，當該第二觸止塊 接觸該第一觸止塊，該第二基準面是移動至該第二設(shè)定位置。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的掉落測試裝置，其特征在于其中所述的第二觸止塊是設(shè)有一 緊迫固定件，用以固定該掉落角度設(shè)定治具與該滑座的相對位置。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的掉落測試裝置，其特征在于其中所述的掉落角度設(shè)定治具具 有一調(diào)整桿與一彈性元件，該彈性元件是提供該試樣架移動朝向該第一設(shè)定位置的彈力， 該調(diào)整桿是限制該試樣架朝向該第一設(shè)定位置的移動程度。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的掉落測試裝置，其特征在于其中所述的試樣架的兩側(cè)各 連接有一滑件，該掉落角度設(shè)定治具的兩側(cè)各設(shè)有一供該滑件垂直滑移的垂直滑軌。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的掉落測試裝置，其特征在于其中所述的固定架的底部是設(shè)有 多個調(diào)整腳，用以調(diào)整該水平滑軌的水平面。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的掉落測試裝置，其特征在于其中所述的待測試物件是長條狀 的存儲器模塊。
8. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的掉落測試裝置，其特征在于其中所述的第一基準面與該第二 基準面是互為垂直。
9. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的掉落測試裝置，其特征在于其還包含有一夾持座，用以結(jié)合 該夾具。
10. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的掉落測試裝置，其特征在于其中所述的夾具是具有倒L形外 形，以提供一第一夾面與一第二夾面，其中該第一夾面的夾合間隙小于該第二夾面的夾合 間隙并且該第一夾面相對遠離該第一基準面。
11. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的掉落測試裝置，其特征在于其中所述的在第一設(shè)定位置的 該第一基準面與在第二設(shè)定位置的該第二基準面之間是形成有一夾縫。
12. —種如權(quán)利要求1所述的掉落測試裝置的使用方法，其特征在于其包括以下步驟 調(diào)整該試樣架與該掉落角度設(shè)定治具，以使該第一基準面移動至該第一設(shè)定位置，該第二基準面是移動至該第二設(shè)定位置；放置一待測試物件于該掉落角度設(shè)定治具，該待測試物件的一第一表面是貼觸于該第 一基準面，該待測試物件的一第二表面是貼觸于該第二基準面；以該夾具固定該待測試物件；下降該試樣架，以使該第一基準面移動至第一退離位置而不與該待測試物件貼觸，但 該待測試物件仍與該掉落角度設(shè)定治具的該第二基準面貼觸；橫移該掉落角度設(shè)定治具，以使該第二基準面移動至第二退離位置而不與該待測試物 件貼觸；以及釋放該待測試物件。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的掉落測試裝置的使用方法，其特征在于其中所述的試樣架 的下降步驟以及上述該掉落角度設(shè)定治具的橫移步驟中，該待測試物件是固定不動并且不 與該試樣架及該掉落角度設(shè)定治具產(chǎn)生磨擦。
全文摘要
本發(fā)明是有關(guān)一種掉落測試裝置及其使用方法。該掉落測試裝置，其包含一固定架，設(shè)有一滑座，該滑座具有一水平滑軌；一掉落角度設(shè)定治具，設(shè)置于該滑座上，連接有一調(diào)整升降的試樣架，該試樣架提供一第一基準面，該治具提供一第二基準面，該試樣架的升降移動使得該第一基準面移動在一第一設(shè)定位置與一第一退離位置之間，該治具在該水平滑軌的導(dǎo)引下作水平向移動，該第二基準面是移動在一第二設(shè)定位置與一第二退離位置之間；以及一夾具，該夾具夾設(shè)一待測試物件。本發(fā)明的能適用于不同尺寸的待測試物件、測試不同角度的掉落表面，并且能調(diào)整不同的測試條件。
文檔編號G01M7/00GK101738298SQ200810175549
公開日2010年6月16日 申請日期2008年11月7日 優(yōu)先權(quán)日2008年11月7日
發(fā)明者蘇庭鋒 申請人:力成科技股份有限公司