專利名稱：一種移動通信數(shù)據(jù)終端電路板的調(diào)試裝置及其方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種小型移動終端的電路板裝置及其生產(chǎn)方法，尤其涉及 的是一種小型移動通信數(shù)據(jù)終端電路板的調(diào)試裝置及其處理方法。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有技術(shù)中，手機(jī)等小型移動終端在無限上網(wǎng)卡的生產(chǎn)過程中，其電
路板在生產(chǎn)完成后，裝配之前通常要進(jìn)行JTAG測試和調(diào)試。JTAG(Joint Test Action Group,聯(lián)合測試行動小組)是一種國際標(biāo)準(zhǔn)測試協(xié)議(IEEE 1149.1兼容)，主要用于芯片內(nèi)部測試?，F(xiàn)在多數(shù)的高級器件都支持 JTAG協(xié)議，如DSP、 FPGA器件等。標(biāo)準(zhǔn)的JTAG接口是4線TMS、 TCK、 TDI、 TDO，分別為模式選擇、時鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線。
JTAG最初是用來對芯片進(jìn)行測試的，基本原理是在器件內(nèi)部定義一 個TAP ( Test Access Port;測試訪問口 )通過專用的JTAG測試工具對進(jìn)行 內(nèi)部節(jié)點(diǎn)進(jìn)行測試。JTAG測試允許多個器件通過JTAG接口串聯(lián)在一 起，形成一個JTAG鏈，能實(shí)現(xiàn)對各個器件分別測試。現(xiàn)在，JTAG接口 還常用于實(shí)現(xiàn)ISP (In-Systemrogrammable;在線編程)，對FLASH等器件 進(jìn)行編程。
JTAG編程方式是在線編程，傳統(tǒng)生產(chǎn)流程中需要先對芯片進(jìn)行預(yù)編 程，再裝到電路板上。芯片會因此而改變，簡化的流程為先固定器件到電 路板上，再用JTAG編程，從而大大加快工程進(jìn)度。JTAG接口可對PSD 芯片內(nèi)部的所有部件進(jìn)行編程.關(guān)于JTAG仿真器，是針對某些特殊的單片 機(jī)或CPU而言的，這類片子使用符合JTAG接口標(biāo)準(zhǔn)定義的數(shù)據(jù)線與數(shù)據(jù)
時序來實(shí)現(xiàn)在線程序下載(ISP)或程序仿真。
現(xiàn)今的小型移動通信數(shù)據(jù)終端設(shè)備中，JTAG調(diào)試點(diǎn)及測試點(diǎn)均放在 PCB的表面，JTAG調(diào)試點(diǎn)及測試點(diǎn)的數(shù)量一般在IO個以上，這樣對體積 要求非常嚴(yán)格的小型移動通信數(shù)據(jù)終端設(shè)備來說，保留JTAG測試接口單 元是一個巨大的開銷，甚至必須要靠增加PCB面積或產(chǎn)品體積來實(shí)現(xiàn)，這 樣就會極大地影響產(chǎn)品的整體策劃，極大地影響產(chǎn)品的市場竟?fàn)幜Α?br> 由于小型移動通信數(shù)據(jù)終端的空間非常緊張，JTAG等調(diào)試及測試點(diǎn) 要占用較大的PCB空間，這樣在無形之中就加大了無線小型設(shè)備的電路板 大小，對小型化起到阻礙作用。
因此，現(xiàn)有技術(shù)還有待于改進(jìn)和發(fā)展。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種移動通信數(shù)據(jù)終端電路板的調(diào)試裝置及其 方法，在進(jìn)行JTAG調(diào)試及測試之后實(shí)現(xiàn)不占電路板空間，以實(shí)現(xiàn)在 JTAG現(xiàn)場編程后生產(chǎn)較小體積的電路板。
本發(fā)明的技術(shù)方案包括
一種移動通信數(shù)據(jù)終端電路板的調(diào)試裝置，其包括一電路板，用于移 動通信終端中；其中，所述電路板上設(shè)置有JTAG測試接口單元；所述 JTAG測試接口單元與所述電路板一體設(shè)置，并與所述電路板之間設(shè)置有 易折連接結(jié)構(gòu)，用于在所述電路板測試通過后將所述JTAG測試接口單元 折斷去除。
所述的測試裝置，其中，所述易折連接結(jié)構(gòu)為一排數(shù)個郵票孔結(jié)構(gòu)。 所述的測試裝置，其中，所述JTAG測試接口單元設(shè)置有JTAG調(diào)試
點(diǎn)及測試點(diǎn)，所述JTAG調(diào)試點(diǎn)及測試點(diǎn)與有效的電路板區(qū)域之間的連線
通過所述郵票孔結(jié)構(gòu)之間的間隙穿越。
所述的測試裝置，其中，所述易折連接結(jié)構(gòu)為一 V型槽。
所述的測試裝置，其中，所述JTAG測試接口單元中設(shè)置有才莫式選 擇、時鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線接口。
所述移動通信數(shù)據(jù)終端電路板調(diào)試裝置的調(diào)試方法，其包括以下步
驟
A、 通過在電路板上預(yù)先一體設(shè)置的JTAG測試接口單元進(jìn)行JTAG測
試；
B、 對通過測試的電路板將所述JTAG測試接口單元從該電路板上分離。
所述的調(diào)試方法，其中，所述步驟B還包括預(yù)先設(shè)置所述JTAG測 試接口單元與電路板通過郵票孔結(jié)構(gòu)連接，則將所述JTAG測試接口單元 與所述電路板折斷。
所述的調(diào)試方法，其中，所述步驟B還包括預(yù)先設(shè)置所述JTAG測 試接口單元與電路板之間通過V型槽結(jié)構(gòu)連接，則將所述JTAG測試接口 單元與所述電路板折斷。
所述的調(diào)試方法，其中，所述JTAG測試接口單元通過一切割工具切 斷與所述電路板的連4姿。
本發(fā)明所提供的一種移動通信數(shù)據(jù)終端電路板的調(diào)試裝置及其方法， 由于采用了電路板設(shè)計(jì)及生產(chǎn)工藝流程實(shí)現(xiàn)JTAG調(diào)試及測試點(diǎn)在測試及 現(xiàn)場編程后從電路板上去除的方案，生產(chǎn)后的成品不占電路板空間，同時 又能滿足研發(fā)階段及生產(chǎn)流程的JTAG調(diào)試及相關(guān)測試，而且產(chǎn)品出廠后 不會通過JTAG調(diào)試*接口單元泄密軟件。


圖l為本發(fā)明移動通信數(shù)據(jù)終端電路板的調(diào)試裝置示意圖2為本發(fā)明移動通信數(shù)據(jù)終端電路板的調(diào)試裝置局部放大示意圖3為本發(fā)明移動通信數(shù)據(jù)終端電路板的調(diào)試方法流程圖。
具體實(shí)施例方式
以下結(jié)合附圖，將對本發(fā)明的各較佳實(shí)施例進(jìn)行更為詳細(xì)的說明。 本發(fā)明的移動通信數(shù)據(jù)終端電路板的調(diào)試裝置及其方法中，所述調(diào)試
裝置包括一電路板110，如圖l和圖2所示的，所述電路板110用于移動通 信終端中，如手機(jī)等，在生產(chǎn)過程中，所述電路板IIO上設(shè)置有JTAG測試接 口單元120，所述JTAG測試接口單元120與所述電路板IIO—體設(shè)置，并 與所述電路板之間設(shè)置有易折連接結(jié)構(gòu)，用于在所述電路板IIO測試通過 后將所述JTAG測試接口單元折斷去除。
所述JTAG測試接口單元120為現(xiàn)有技術(shù)所熟知，在此不再贅述；所述 易折連接結(jié)構(gòu)可以:沒置為一排數(shù)個郵票孔結(jié)構(gòu)121，如圖l所示；也可以 是沿折斷線位置的一 V型槽。所述JTAG測試接口單元120的JTAG調(diào)試 點(diǎn)及測試點(diǎn)122，如圖2所示，通過電路板4妄線穿過所述郵票孔之間連接 到電路板110的主電路。這樣，本發(fā)明所述電路板IIO在生產(chǎn)過程中，當(dāng) 通過電路測試后，即JTAG測試接口單元120上的JTAG調(diào)試點(diǎn)及測試點(diǎn) 采用專用信號測試后，所述電路板110如果通過測試，則在出廠時將所述 JTAG測試接口單元120折斷去除即可。
為實(shí)現(xiàn)通過JTAG測試接口單元120的測試，在所述JTAG測試接口 單元120中設(shè)置有模式選擇、時鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線接口等。本發(fā) 明所述移動通信凄t據(jù)終端電路板調(diào)試裝置的調(diào)試方法，如圖3所示，其包 括以下步驟
301、 通過在電聘^反上預(yù)先一體設(shè)置的JTAG測試接口單元進(jìn)行JTAG 測試；
302、 如果測試通過，對通過測試的電路^1將所述JTAG測試接口單元 從該電路板上分離。
為實(shí)現(xiàn)本發(fā)明上述調(diào)試方法，在本發(fā)明電路板的生產(chǎn)過程中，需要預(yù) 先設(shè)置所述JTAG測試接口單元與電路板通過郵票孔結(jié)構(gòu)或V型槽等易折 連接結(jié)構(gòu)連接，可將所述JTAG測試接口單元與所述電路板折斷。當(dāng)然， 也可以通過一切割工具切斷所述JTAG測試接口單元與所述電路板的連 接，以去除所述JTAG測試接口單元。
由于在測試完成后，本發(fā)明所述電路板上的所述JTAG測試接口單元 已經(jīng)沒有作用，保留在電路板中需要占用電路板的體積，導(dǎo)致裝配后的移 動終端提交較大。而本發(fā)明的調(diào)試裝置及方法，可以不占用電路板的空 間。
同時，本發(fā)明移動通信數(shù)據(jù)終端電路板的調(diào)試裝置及其方法通過PCB 設(shè)計(jì)及生產(chǎn)工藝流^i實(shí)現(xiàn)JTAG調(diào)試及測試點(diǎn)不占PCB空間，同時又能滿 足研發(fā)階段及生產(chǎn)流程的JTAG的調(diào)試及相關(guān)測試，同時產(chǎn)品出廠后不會 通過JTAG泄密軟件，該發(fā)明使產(chǎn)品一舉三得節(jié)省PCB空間，對軟件保 密，滿足各種調(diào)試及測試。
為了節(jié)省PCB空間，JTAG調(diào)試點(diǎn)及測試點(diǎn)均放在有效PCB范圍之 外，如圖l所示；所述JTAG調(diào)試點(diǎn)及測試點(diǎn)區(qū)域與有效PCB區(qū)域的分界 線用郵票孔或V型槽隔開，郵票孔之間的間距要適中。
本發(fā)明所述JTAG調(diào)試點(diǎn)及測試點(diǎn)與有效電路板PCB區(qū)域的連線通過 郵票孔之間的間隙，而且要錯位，在調(diào)試、測試或用JTAG下載程序時， 可直接進(jìn)行，主要用于研發(fā)和生產(chǎn)的特殊工位；在生產(chǎn)的合適工位進(jìn)行分 板，把多出JTAG調(diào)試點(diǎn)及測試點(diǎn)的所述JTAG測試接口單元從郵票孔 (或V型槽)處從所述電路板上分開，這樣上市的產(chǎn)品就不含JTAG接 口，對程序保密加了一道防火墻，JTAG接口用于研發(fā)階段，對消費(fèi)者無 任何意義，這樣從原理上及實(shí)際實(shí)現(xiàn)上均是可行的。
應(yīng)當(dāng)理解的是，上述針對本發(fā)明較佳實(shí)施例的描述較為具體，并不能 因此而認(rèn)為是對本發(fā)明專利保護(hù)范圍的限制，本發(fā)明的專利保護(hù)范圍應(yīng)以 所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1、一種移動通信數(shù)據(jù)終端電路板的調(diào)試裝置，其包括一電路板，用于移動通信終端中；其特征在于，所述電路板上設(shè)置有JTAG測試接口單元；所述JTAG測試接口單元與所述電路板一體設(shè)置，并與所述電路板之間設(shè)置有易折連接結(jié)構(gòu)，用于在所述電路板測試通過后將所述JTAG測試接口單元折斷去除。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述易折連接結(jié) 構(gòu)為 一排數(shù)個郵票孔結(jié)構(gòu)。
3、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征在于，所述JTAG測試接 口單元設(shè)置有JTAG調(diào)試點(diǎn)及測試點(diǎn)，所述JTAG調(diào)試點(diǎn)及測試點(diǎn)與有效
4、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述易折連接結(jié) 構(gòu)為一 V型槽。
5、 根據(jù)權(quán)利要求1至4任一所述的測試裝置，其特征在于，所述 JTAG測試接口單元中設(shè)置有模式選擇、時鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線接 d 。
6、 一種如權(quán)利要求1所述移動通信數(shù)據(jù)終端電路板調(diào)試裝置的調(diào)試 方法，其包括以下步驟A、 通過在電路板上預(yù)先一體設(shè)置的JTAG測試接口單元進(jìn)行JTAG 測試；B、 對通過測試的電路板將所述JTAG測試接口單元從該電路板上分離。
7、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的調(diào)試方法，其特征在于，所述步驟B還包 括預(yù)先設(shè)置所述JTAG測試接口單元與電路板通過郵票孔結(jié)構(gòu)連接，則 將所述JTAG測試接口單元與所述電路板折斷。
8、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的調(diào)試方法，其特征在于，所述步驟B還包 括預(yù)先設(shè)置所述JTAG測試接口單元與電路板之間通過V型槽結(jié)構(gòu)連 接，則將所述JTAG測試接口單元與所述電路板折斷。
9、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的調(diào)試方法，其特征在于，所述JTAG測試接 口單元通過一切割工具切斷與所述電路板的連接。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種移動通信數(shù)據(jù)終端電路板的調(diào)試裝置及其方法，所述調(diào)試裝置包括一電路板，用于移動通信終端中；其特征在于，所述電路板上設(shè)置有JTAG測試接口單元；所述JTAG測試接口單元與所述電路板一體設(shè)置，并與所述電路板之間設(shè)置有易折連接結(jié)構(gòu)，用于在所述電路板測試通過后將所述JTAG測試接口單元折斷去除。本發(fā)明調(diào)試裝置及其方法由于采用了電路板設(shè)計(jì)及生產(chǎn)工藝流程實(shí)現(xiàn)JTAG調(diào)試及測試點(diǎn)在測試及現(xiàn)場編程后從電路板上去除的方案，生產(chǎn)后的成品不占電路板空間，同時又能滿足研發(fā)階段及生產(chǎn)流程的JTAG調(diào)試及相關(guān)測試，而且產(chǎn)品出廠后不會通過JTAG調(diào)試接口單元泄密軟件。
文檔編號G01R31/28GK101359032SQ20081014206
公開日2009年2月4日 申請日期2008年8月21日 優(yōu)先權(quán)日2008年8月21日
發(fā)明者薛紅喜, 趙士青 申請人:Tcl天一移動通信(深圳)有限公司