專利名稱：新型emi(電磁屏蔽)產(chǎn)品壓縮力測試方法--拐點判定法的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種EMI (電磁屏蔽)產(chǎn)品的壓縮力測試新方法。
背景技術(shù)：
目前，EMI產(chǎn)品的壓縮力測試通用方法是通過測量產(chǎn)品的原始高度、計算產(chǎn)品壓縮量然 后通過測試儀繪制的壓縮力與壓縮量的測試數(shù)據(jù)二維坐標圖(其中壓縮量為橫坐標，壓
縮力為縱坐標)得到。這樣的產(chǎn)品壓縮力測試方法存在諸多缺點如，產(chǎn)品的變形、軟
件里入口力的設(shè)置值、產(chǎn)品原始高度的測試誤差對測試結(jié)果都會產(chǎn)生很大的影響。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決目前EMI產(chǎn)品的壓縮力測試所存在的以上諸多缺點，本發(fā)明提供一種新型的壓縮 力測試方法，該測試方法可以完全消除以上三個因素對測試結(jié)果的影響，從而大幅提高壓縮 力測試結(jié)果的精確度和準確性。
本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是增加一個測試槽，槽的深度可調(diào)整至客戶 所需的測試壓縮深度要求；每一次測試，產(chǎn)品需先放在該槽中，然后使力傳感器壓縮至槽的 頂部；由于力傳感器壓縮至槽的頂部時，壓縮量不變，而壓縮力急劇增加；所以在測試儀所 繪制的壓縮量一壓縮力二維坐標圖中(壓縮量為橫坐標，壓縮力為縱坐標)，會出現(xiàn)一個明顯 的突然急劇上升的拐點，而該拐點的縱坐標值就是測試所需的最終結(jié)果數(shù)值，這就是拐點判 定法(如圖l).
拐點判定法優(yōu)于普通測試方式的基本原理說明入口力是一個軟件開始采點的信號。在 測試過程中，當壓縮力值到達入口力值時，軟件對壓縮量(橫坐標)清零并以此位置為零點 開始采點繪圖。通用方法是利用二維坐標圖通過計算壓縮量(橫坐標值)來獲取壓縮力(縱 坐標)值，EMI產(chǎn)品具有良好的彈性，當力傳感器對其施壓至入口力時，其已經(jīng)被壓縮了一定 的壓縮量，而軟件把此時壓縮量作為零點，必然導(dǎo)致壓縮量的定位偏差，壓縮量定位偏差則 必然導(dǎo)致最終壓縮力值偏差；樣品變形后，形狀會有一定的彎曲，當其被壓縮至入口力時， 樣品彎曲部分與測試平臺依然會有空隙，軟件在此時清零采點也必然會導(dǎo)致壓縮量的定位偏 差，所得最終壓縮力值也必然會有偏差；EMI產(chǎn)品具有良好的彈性，這給其高度的精確測量帶
3來很大的困難，高度的測量誤差同樣會導(dǎo)致二維坐標圖中壓縮量(橫坐標)的定位不準，進 而導(dǎo)致壓縮力(縱坐標)的值偏差。本發(fā)明可以直接測試出樣品被壓縮至規(guī)定高度后的實際 壓縮力，不通過定位壓縮量(橫坐標)來獲取壓縮力(縱坐標)，壓縮力的定位偏差對本方法 沒有絲毫影響，因此可以從根本上完全避免以上3種因素的影響，從而大幅提高測試結(jié)果的精 確度和準確性。


下面結(jié)合附圖和實施例對本使用新型進一步說明。 附圖中
圖l力-位移曲線圖
圖2案例①導(dǎo)電泡棉普通測試方法二維圖 圖3案例①導(dǎo)電泡棉拐點判定法二維圖
圖4案例②簧片普通測試方法二維圖 圖5案例②簧片拐點判定法二維圖
圖6拐點判定法測試平臺①力傳感器②連接于力傳感器的夾具③測試槽 測試平臺 圖7測試槽⑤測試槽⑥產(chǎn)品
具體實施例方式
如圖6、 7在測試平臺④上增加一個測試槽③，槽的深度滿足客戶所需的測試壓縮深度要
求；每一次測試，產(chǎn)品⑥需先放在測試槽③中，然后使力傳感器1壓縮至測試槽③的頂部。 實施例一新的測試方法——拐點判定法消除軟件入口力對測試結(jié)果的影響。
取50mm長EMI導(dǎo)電泡棉D(zhuǎn)04產(chǎn)品，產(chǎn)品高度為3.6mm，設(shè)置壓縮量1.6mm。采取通用測試方 法，設(shè)置不同入口力。測試結(jié)果如圖2:
測得數(shù)據(jù)如下表所示
曲線編號入口力值(N)測試結(jié)果(kgf)
10. 11.01
20.21.20
30.51.31
411.39
521. 52
以上平均值1.286,最大偏差為21.5%。
另取一個50ram長EMI導(dǎo)電泡棉D(zhuǎn)04產(chǎn)品，測試槽深度設(shè)置為2mm，設(shè)置不同入口力。采 用新的測試方法——拐點判定法測試結(jié)果如圖3:
4測得數(shù)據(jù)見下表所示:
曲線編號入口力值(N)測試結(jié)果(kgf)
10. 10. 90
20.20. 90
30.50. 90
410. 90
520. 90
以上平均值0.9，偏差為O
實施例二新的測試方法——拐點判定法消除樣品的變形對測試結(jié)果的影響。
取50mm長EMI H06簧片，高度2. 75mm，采用通用方法，設(shè)置壓縮量為O. 75，測試變形前后 結(jié)果，如圖4
測得數(shù)據(jù)如下表所示
曲線編號測試結(jié)果(kgf)
l變形前1.03
2變形后0. 86
以上平均值0.945，最大偏差為9%。
另取50mm長EMI H06簧片，測試槽深度設(shè)置為2mm，采用新的測試方法——拐點判定法測 試變形前后結(jié)果，如圖5
測得數(shù)據(jù)如下表所示
編號測試結(jié)果(kgf)
l變形前1.91
2變形后1.91
以上平均值1.91，最大偏差為O。
權(quán)利要求
1. 一種新型EMI產(chǎn)品的壓縮力測試方法，其特征是增加了一個產(chǎn)品壓縮力專用測試槽，該測試槽的深度滿足客戶要求的壓縮深度。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的壓縮力測試方法，其特征是產(chǎn)品壓縮力是通過壓縮量與壓縮力的 二維坐標中的圖形拐點進行讀數(shù)。
全文摘要
一種在EMI產(chǎn)品，能夠完全避免“產(chǎn)品的變形”、“入口力的設(shè)置”以及“產(chǎn)品的原始高度的測試誤差”對產(chǎn)品壓縮力測試結(jié)果的影響的新型壓縮力測試方法--拐點判定法。它主要是通過增加一個測試槽，槽的深度能調(diào)整至客戶所需的測試壓縮深度；每一次測試，產(chǎn)品需先放在該槽中，然后使力傳感器壓縮至槽的頂部；由于壓縮至槽的頂部時，壓縮量不變，而壓縮力急劇增加；所以在測試儀所繪制的二維坐標圖中(壓縮量為橫坐標，壓縮力為縱坐標)，會出一個明顯的拐點，而該拐點的縱坐標值就是測試所需的最終結(jié)果數(shù)值。這種拐點判定法能有效大幅提高產(chǎn)品壓縮力測試結(jié)果的精確度和準確性。
文檔編號G01L1/00GK101487746SQ20081014173
公開日2009年7月22日 申請日期2008年8月29日 優(yōu)先權(quán)日2008年8月29日
發(fā)明者王小寶 申請人:深圳市飛榮達科技有限公司