專利名稱：檢測(cè)結(jié)構(gòu)以及檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明有關(guān)于一種檢測(cè)結(jié)構(gòu)以及檢測(cè)方法。
背景技術(shù)：
請(qǐng)參閱圖1，圖1為現(xiàn)有檢測(cè)結(jié)構(gòu)10的示意圖，現(xiàn)有用以檢測(cè)圖像傳感 器20的檢測(cè)結(jié)構(gòu)IO包括平行光源11、電路板12、針腳13以及缺口 14，圖 像傳感器20通過(guò)檢測(cè)板22以電連接的方式設(shè)置于晶片21上，電路板12與 針腳13電連接，并且電路板12上設(shè)有缺口 14以作為光束通道，平行光源 11與圖像傳感器20分別相對(duì)應(yīng)地設(shè)于電路板12的上、下二側(cè)，當(dāng)利用檢測(cè) 結(jié)構(gòu)10檢測(cè)圖像傳感器20時(shí)，平行光源11會(huì)先發(fā)出一平行光，該平行光 以圖1中箭頭A方向進(jìn)入缺口 14中，另外檢測(cè)結(jié)構(gòu)10的針腳13會(huì)與檢測(cè) 板22電連接，而圖像傳感器20接收到光信號(hào)后，會(huì)產(chǎn)生一電信號(hào)，通過(guò)針 腳13將此電信號(hào)回傳至檢測(cè)結(jié)構(gòu)10的電路板，借以判定圖像傳感器20是 否能夠正常使用。
現(xiàn)有檢測(cè)結(jié)構(gòu)IO在提供檢測(cè)時(shí)通常提供平行光進(jìn)入圖像傳感器20中， 然而，平常使用者在使用圖像傳感器20時(shí)，外在環(huán)境的光線條件不可能為 檢測(cè)時(shí)的平行光，故利用現(xiàn)有檢測(cè)結(jié)構(gòu)10檢測(cè)出的結(jié)果，并不能貼近一般 使用狀態(tài)下的結(jié)果，即現(xiàn)有檢測(cè)結(jié)構(gòu)10無(wú)法仿真圖像傳感器在最終端使用 時(shí)的光源，導(dǎo)致檢測(cè)結(jié)果有誤差或是在使用圖像傳感器20前必須重新調(diào)校。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用以檢測(cè)圖像傳感器，圖像傳感器電連接于 晶片上并且圖像傳感器與晶片之間設(shè)有檢測(cè)板，檢測(cè)結(jié)構(gòu)包括平行光源、針 腳以及濾光片，平行光源發(fā)射平行光，針腳與檢測(cè)板電連接，濾光片位于平 行光源以及針腳之間，其中，平行光源發(fā)射的平行光通過(guò)濾光片到達(dá)晶片以 及圖像傳感器上。
上述的檢測(cè)結(jié)構(gòu)，其中優(yōu)選地，其還包括一承載件，該承載件位于該濾 光片以及該針腳之間。
上述的檢測(cè)結(jié)構(gòu)，其中優(yōu)選地，其還包括一透鏡，該透鏡通過(guò)該承載件 設(shè)置于該濾光片以及該針腳之間。
上述的檢測(cè)結(jié)構(gòu)，其中優(yōu)選地，該承載件包括一調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)，該調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu) 包括一容置槽以及一微調(diào)螺絲，該容置槽用以容置該透鏡，并且該微調(diào)螺絲 與該透鏡連接，轉(zhuǎn)動(dòng)該微調(diào)螺絲時(shí)可使該透鏡移動(dòng)。
上述的檢測(cè)結(jié)構(gòu)，其中優(yōu)選地，該容置槽的孔徑略大于該透鏡的直徑。
上述的檢測(cè)結(jié)構(gòu)，其中優(yōu)選地，其還包括一電路板，該電路板與該針腳 電連接。
本發(fā)明還提供一種檢測(cè)方法，用以檢測(cè)圖像傳感器，圖像傳感器電連接 于晶片上，并且圖像傳感器與晶片之間設(shè)有檢測(cè)板，檢測(cè)方法的步驟包括提
供一檢測(cè)結(jié)構(gòu)，該檢測(cè)結(jié)構(gòu)包括一平行光、 一針腳、 一濾光片以及一透鏡; 使該平行光通過(guò)該濾光片;通過(guò)該濾光片后的該平行光變成一漫射光;以及成 像于該圖像傳感器上。
上述的檢測(cè)方法，其中優(yōu)選地，檢測(cè)方法的步驟還包括使漫射光通過(guò)透鏡。
上述的檢測(cè)方法，其中優(yōu)選地，檢測(cè)方法的步驟還包括使針腳與檢測(cè)板 電連接。
通過(guò)本發(fā)明的檢測(cè)方法，可仿真圖像傳感器在終端使用時(shí)的自然光(漫射 光)，仿真終端使用環(huán)境來(lái)檢測(cè)以增加檢測(cè)的準(zhǔn)確性，另外，由于圖像傳感器 在終端使用時(shí)常常與透鏡一起搭配使用，故使漫射光再通過(guò)透鏡，可更加貼 近圖像傳感器在終端使用的環(huán)境，增加檢測(cè)時(shí)的準(zhǔn)確性。


圖1為現(xiàn)有檢測(cè)結(jié)構(gòu)的示意圖2為本發(fā)明檢測(cè)結(jié)構(gòu)的示意圖3為本發(fā)明檢測(cè)結(jié)構(gòu)的另一實(shí)施例示意圖4為本發(fā)明的承載件及透鏡的另一實(shí)施例示意圖5為應(yīng)用本發(fā)明檢測(cè)結(jié)構(gòu)檢測(cè)方法的流程圖。
其中，附圖標(biāo)記ij
現(xiàn)有技術(shù)
10~檢測(cè)結(jié)構(gòu)
13~針腳
21~晶片
本發(fā)明
20 圖像傳感器 30、 40 檢測(cè)結(jié)構(gòu) 33、 43~針腳 46、 56~承載件 564 微調(diào)螺絲 B、 C 箭頭
口下
11-平行光源
14~缺口
22~檢測(cè)板
21~晶片
31、 41~平行光源 34、 44~濾光片 562-調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu) Dl 孔徑
12~電路板 20 圖像傳感器
22 檢測(cè)板 32、 42~電路板 45、 55 透鏡 563 容置槽 D2 直徑
具體實(shí)施例方式
為讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征、和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉
出較佳實(shí)施例，并配合附圖，作詳細(xì)說(shuō)明如下
請(qǐng)參閱圖2，圖2為本發(fā)明檢測(cè)結(jié)構(gòu)30的示意圖，本實(shí)施例的檢測(cè)結(jié)構(gòu) 30用以檢測(cè)圖像傳感器20，圖像傳感器20電連接于晶片21上，并且圖像 傳感器20與晶片21之間設(shè)有檢測(cè)板22，其中，檢測(cè)結(jié)構(gòu)30包括平行光源 31、電路板32、針腳33以及濾光片34，平行光源31發(fā)射平行光，針腳33 與電路板32電連接，而濾光片34位于平行光源31以及針腳33之間，其中， 平行光以箭頭B方向通過(guò)濾光片34后，即變成漫射光(如箭頭C所示)，之 后到達(dá)圖像傳感器20，另夕卜，檢測(cè)結(jié)構(gòu)30的針腳33會(huì)接觸到檢測(cè)板22并 且彼此電連接，到達(dá)圖像傳感器20后的漫射光會(huì)促使圖像傳感器20以及晶 片21傳遞出一電信號(hào)，該電信號(hào)經(jīng)針腳33傳回至檢測(cè)結(jié)構(gòu)30的電路板32， 以判定圖像傳感器20是否能夠正常使用，本實(shí)施例的檢測(cè)結(jié)構(gòu)30通過(guò)增設(shè) 濾光片34以仿真圖像傳感器20在終端使用時(shí)的自然光(漫射光)，仿真終端 使用環(huán)境來(lái)檢測(cè)以增加檢測(cè)的準(zhǔn)確性，應(yīng)注意的是，本發(fā)明的圖像傳感器20 可為電荷耦合元件(CCD)或接觸式圖像傳感器(CIS)。
請(qǐng)參閱圖3，圖3為本發(fā)明檢測(cè)結(jié)構(gòu)40的另一實(shí)施例示意圖，本實(shí)施例
的檢測(cè)結(jié)構(gòu)40用以檢測(cè)圖像傳感器20，圖像傳感器20電連接于晶片21上， 并且圖像傳感器20與晶片21之間設(shè)有檢測(cè)板22，其中，檢測(cè)結(jié)構(gòu)40包括 平行光源41、電路板42、針腳43、濾光片44、透鏡45以及承載件46，平 行光源41發(fā)射平行光，針腳43與電路板42電連接，而濾光片44位于平行 光源41以及針腳43之間，承載件46用以承載透鏡45，并且承載件46位于 濾光片44以及針腳43之間，其中，平行光以箭頭B方向通過(guò)濾光片34后， 即變成漫射光(如箭頭C所示)，漫射光會(huì)通過(guò)透鏡45使圖像聚焦后再到達(dá)圖 像傳感器20，另外，檢測(cè)結(jié)構(gòu)40的針腳43會(huì)接觸到檢測(cè)板22并且彼此電 連接，到達(dá)圖像傳感器20后的漫射光會(huì)促使圖像傳感器20以及晶片21傳 遞出一電信號(hào)，該電信號(hào)經(jīng)針腳43傳回至檢測(cè)結(jié)構(gòu)40的電路板42，以判定 圖像傳感器20是否能夠正常使用，本實(shí)施例的檢測(cè)結(jié)構(gòu)40通過(guò)增設(shè)濾光片 34以仿真圖像傳感器20在終端使用時(shí)的自然光(漫射光)，仿真終端使用環(huán) 境來(lái)檢測(cè)以增加檢測(cè)的準(zhǔn)確性，另外，由于圖像傳感器20在終端使用時(shí)常 常與透鏡45 —起搭配使用，故本實(shí)施例還于濾光片44及針腳43之間增設(shè) 透鏡45，可更加貼近圖像傳感器20在終端使用的環(huán)境，增加檢測(cè)時(shí)的準(zhǔn)確 性，應(yīng)注意的是，本發(fā)明的圖像傳感器20可為電荷耦合元件(CCD)或接觸式 圖像傳感器(CIS)。
再請(qǐng)參閱圖4，圖4為本發(fā)明的承載件56及透鏡55的另一實(shí)施例示意 圖，其中承載件56包括調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)562，調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)562包括容置槽563以及微 調(diào)螺絲564，容置槽563用以容置透鏡55，并且微調(diào)螺絲564與透鏡55連 接，轉(zhuǎn)動(dòng)微調(diào)螺絲564時(shí)可使透鏡55移動(dòng)，應(yīng)注意的是，容置槽563的孔 徑Dl略大于透鏡55的直徑D2。
最后請(qǐng)搭配參考圖5，圖5為應(yīng)用本發(fā)明檢測(cè)結(jié)構(gòu)40檢測(cè)方法的流程圖， 其用以檢測(cè)圖像傳感器20，請(qǐng)搭配參閱圖3，圖像傳感器20電連接于晶片 21上，并且圖像傳感器20與晶片21之間設(shè)有一檢測(cè)板22，檢測(cè)方法的步 驟包括首先，步驟1提供檢測(cè)結(jié)構(gòu)40，檢測(cè)結(jié)構(gòu)40包括平行光、針腳43、 濾光片44以及透鏡45，接著，步驟b.使平行光通過(guò)濾光片44，步驟c.通過(guò) 濾光片44后的平行光變成一漫射光，步驟d.使漫射光通過(guò)透鏡45 ，步驟e.使 針腳43與檢測(cè)板22電連接，最后，步驟f.成像于該圖像圖像傳感器20上， 通過(guò)本發(fā)明的檢測(cè)方法可仿真圖像傳感器20在終端使用時(shí)的自然光(漫射
光)，仿真終端使用環(huán)境來(lái)檢測(cè)以增加檢測(cè)的準(zhǔn)確性，另外，由于圖像傳感器
20在終端使用時(shí)常常與透鏡45 —起搭配使用，故使漫射光再通過(guò)透鏡45， 可更加貼近圖像傳感器20在終端使用的環(huán)境，增加檢測(cè)時(shí)的準(zhǔn)確性，應(yīng)注 意的是，本發(fā)明的圖像傳感器20可為電荷耦合元件(CCD)或接觸式圖像傳感 器(CIS)。
雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例揭示如上，然而其并非用以限定本發(fā)明，任 何本領(lǐng)域技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，仍可作些許的更動(dòng)與 潤(rùn)飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視權(quán)利要求所界定的范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種檢測(cè)結(jié)構(gòu)，用以檢測(cè)一圖像傳感器，該圖像傳感器電連接于一晶片上并且該圖像傳感器與該晶片之間設(shè)有一檢測(cè)板，該檢測(cè)結(jié)構(gòu)包括一平行光源，發(fā)射一平行光；一針腳，該針腳與該檢測(cè)板電連接；以及一濾光片，該濾光片位于該平行光源以及該針腳之間；其中該平行光源發(fā)射的該平行光通過(guò)該濾光片到達(dá)該圖像傳感器以及該晶片上。
2. 如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)結(jié)構(gòu)，其還包括一承載件，該承載件位于該 濾光片以及該針腳之間。
3. 如權(quán)利要求2所述的檢測(cè)結(jié)構(gòu)，其還包括一透鏡，該透鏡通過(guò)該承載 件設(shè)置于該濾光片以及該針腳之間。
4. 如權(quán)利要求3所述的檢測(cè)結(jié)構(gòu)，其中該承載件包括一調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)，該調(diào) 節(jié)機(jī)構(gòu)包括一容置槽以及一微調(diào)螺絲，該容置槽用以容置該透鏡，并且該微 調(diào)螺絲與該透鏡連接，轉(zhuǎn)動(dòng)該微調(diào)螺絲時(shí)可使該透鏡移動(dòng)。
5. 如權(quán)利要求4所述的檢測(cè)結(jié)構(gòu)，其中該容置槽的孔徑略大于該透鏡的 直徑。
6. 如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)結(jié)構(gòu)，其還包括一電路板，該電路板與該針 腳電連接。
7. —種檢測(cè)方法，用以檢測(cè)一圖像傳感器，該圖像傳感器電連接于一晶 片上并且該圖像傳感器與該晶片之間設(shè)有一檢測(cè)板，其步驟包括提供一檢測(cè)結(jié)構(gòu)，該檢測(cè)結(jié)構(gòu)包括一平行光、 一針腳、 一濾光片以及一 透鏡；使該平行光通過(guò)該濾光片；通過(guò)該濾光片后的該平行光變成一漫射光;以及成像于該圖像傳感器上。
8. 如權(quán)利要求7所述的檢測(cè)方法，其步驟還包括使該漫射光通過(guò)該透鏡。
9. 如權(quán)利要求7所述的檢測(cè)方法，其步驟還包括使該針腳與該檢測(cè)板電 連接。
全文摘要
本發(fā)明提供一種檢測(cè)結(jié)構(gòu)以及檢測(cè)方法。該檢測(cè)結(jié)構(gòu)用以檢測(cè)圖像傳感器，圖像傳感器電連接于晶片上并且圖像傳感器與晶片之間設(shè)有檢測(cè)板，檢測(cè)結(jié)構(gòu)包括平行光源、針腳以及濾光片，平行光源發(fā)射平行光，針腳與檢測(cè)板電連接，濾光片位于平行光源以及針腳之間，其中，平行光源發(fā)射的平行光通過(guò)濾光片到達(dá)晶片上的圖像傳感器。通過(guò)本發(fā)明的檢測(cè)方法，可仿真圖像傳感器在終端使用時(shí)的自然光(漫射光)，仿真終端使用環(huán)境來(lái)檢測(cè)以增加檢測(cè)的準(zhǔn)確性。
文檔編號(hào)G01R31/26GK101359021SQ20071013991
公開(kāi)日2009年2月4日 申請(qǐng)日期2007年8月3日 優(yōu)先權(quán)日2007年8月3日
發(fā)明者盧笙豐, 張財(cái)盛, 秦立銘, 許仕樺, 陳士銘 申請(qǐng)人:采鈺科技股份有限公司