專利名稱：利用能級(jí)法確定放射性同位素在井中的徑向位置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及油田放射性同位素示蹤法測(cè)井。
目前油田廣泛應(yīng)用的放射性同位素示蹤法找漏和注液剖面測(cè)井，采用的是碘化鈉晶體和光電倍增管為探測(cè)器的伽馬測(cè)井儀，碘化鈉晶體接收放射性同位素射入的伽馬射線并產(chǎn)生光脈沖，然后經(jīng)光電倍增管轉(zhuǎn)換成電脈沖信號(hào)，再經(jīng)電路轉(zhuǎn)換通過測(cè)井電纜傳輸?shù)降孛鎯x記錄。用于確定同位素所在徑向位置的專利和文獻(xiàn)未曾查詢到。由于存在同位素沾污和注入到射孔層徑向深度不同等問題，嚴(yán)重影響了測(cè)井結(jié)果的準(zhǔn)確性。
本發(fā)明涉及一種能夠確定注入的同位素所在典型徑向位置的方法。
本方法在光電倍增管輸出的脈沖信號(hào)未經(jīng)處理成方波之前，把信號(hào)按不同的電路門檻級(jí)別，分別輸入到并行的同樣的處理電路，門檻設(shè)置成2到3級(jí)并且要使輸出的信號(hào)具有明顯的差別，采取在模擬井中實(shí)際刻度的方法，找出同位素所在不同徑向位置時(shí)，不同門檻級(jí)別輸出信號(hào)的對(duì)應(yīng)值，通過對(duì)測(cè)井結(jié)果的比較分析，判定同位素所在徑向位置，也就是同位素在油管及工具的內(nèi)壁、油管及工具的外壁及套管的內(nèi)壁、套管的外壁、水泥環(huán)外側(cè)、同位素注入到地層的徑向深度。
實(shí)施例1最簡(jiǎn)潔的情況是采用雙能級(jí)輸出，能級(jí)1在同位素注入前后所測(cè)曲線分別為Q01、Q11；能級(jí)2在同位素注入前后所測(cè)曲線分別為Q02、Q12。對(duì)井下一個(gè)單層段，Q11與Q01疊合后得到面積為S1，Q12與Q02疊合后得到面積為S2，則有K＝S1/S2，同位素所在徑向位置不同，K值也會(huì)不同，通過與模擬井中實(shí)際刻度的特征值對(duì)照，就可以確定同位素在井中不同的徑向位置。
實(shí)施例2當(dāng)同位素在不同的徑向位置K值有混淆時(shí)，將采用三能級(jí)輸出，能級(jí)1在同位素注入前后所測(cè)曲線分別為Q01、Q11；能級(jí)2在同位素注入前后所測(cè)曲線分別為Q02、Q12；能級(jí)3在同位素注入前后所測(cè)曲線分別為Q03、Q13。對(duì)井下一個(gè)單層段，Q11與Q01疊合后面積為S1，Q12與Q02疊合后面積為S2，Q13與Q03疊合后面積為S3，則有K1j＝S1/S2，K2j＝S1/S3。模擬井刻度特征值如下表
表中同位素所在每一個(gè)特定徑向位置，都同時(shí)對(duì)應(yīng)一對(duì)模擬井刻度特征值K，實(shí)際測(cè)井結(jié)果計(jì)算后兩個(gè)K值同時(shí)滿足模擬井中實(shí)際刻度的某一對(duì)特征值時(shí)，就可以確定同位素在井中的徑向位置。
權(quán)利要求
利用能級(jí)法確定放射性同位素在井中的徑向位置，是將井下探測(cè)器信號(hào)經(jīng)電路處理后輸出并記錄，其特征是在脈沖信號(hào)未處理成方波之前，把信號(hào)按2至3個(gè)不同的門檻級(jí)別，分別輸入到并行的同樣的處理電路，通過對(duì)并行輸出的測(cè)井結(jié)果對(duì)比分析，判定出同位素所在徑向位置。
全文摘要
利用能級(jí)法確定放射性同位素在井中的徑向位置，是油田測(cè)試中的放射性測(cè)井方法。采用在光電倍增管輸出的脈沖信號(hào)在未處理成方波之前，把信號(hào)按不同的電路門檻級(jí)別，分別輸入到并行的同樣的處理電路，門檻設(shè)置成2到3級(jí)并且要使輸出的信號(hào)具有明顯的差別，采取在模擬井中實(shí)際刻度的方法，找出同位素所在不同徑向位置時(shí)，不同門檻級(jí)別輸出信號(hào)的對(duì)應(yīng)值，通過對(duì)測(cè)井結(jié)果的比較分析，判定同位素所在徑向位置。
文檔編號(hào)G01V5/00GK101029567SQ200610067209
公開日2007年9月5日 申請(qǐng)日期2006年3月4日 優(yōu)先權(quán)日2006年3月4日
發(fā)明者安占中 申請(qǐng)人:安占中