專利名稱：數(shù)字成像式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種測(cè)量機(jī)械。
背景技術(shù)：
在物品檢測(cè)中常使用一種叫“三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)”的測(cè)量機(jī)械。這種“三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)”主要是探測(cè)物品表面點(diǎn)三維坐標(biāo)的測(cè)量機(jī)器，通過(guò)多個(gè)點(diǎn)的坐標(biāo)來(lái)精確描述物品的形狀、輪廓、尺寸等參數(shù)。該測(cè)量機(jī)由主體機(jī)構(gòu)、探測(cè)頭、電測(cè)控制箱等組成。主體機(jī)構(gòu)主要由三個(gè)相互垂直正交的運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌軸即X軸、Y軸、Z軸組成，探測(cè)頭安裝在測(cè)量機(jī)主體的Y向?qū)к壿S上，可以同時(shí)在三個(gè)坐標(biāo)方向運(yùn)動(dòng)，并完成對(duì)物品的探測(cè)。探測(cè)頭的精確位置坐標(biāo)和探測(cè)到的信號(hào)經(jīng)電測(cè)控制箱進(jìn)行處理，最終得到通用格式的數(shù)據(jù)集并可形成可視圖形。探測(cè)頭是“三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)”的關(guān)鍵部件，它的功能強(qiáng)弱和精度高低很大程度上決定著測(cè)量機(jī)的性能指標(biāo)。目前，國(guó)內(nèi)所采用的探測(cè)頭是單個(gè)點(diǎn)的探測(cè)或線掃描探測(cè)，缺點(diǎn)是速度慢，效率低，得到的點(diǎn)云密度低，分布不均勻，精度差。單個(gè)點(diǎn)的探測(cè)頭一般為接觸式測(cè)頭，它加在物品上的探測(cè)力會(huì)影響到探測(cè)精度，特別不適合較軟易變形或易碎的物品。探測(cè)頭的磨損也對(duì)探測(cè)精度有影響。而一般的線掃描探測(cè)頭采用的是激光掃描技術(shù)，安全性差，對(duì)人眼有害。
實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是克服現(xiàn)有“三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)”的上述缺點(diǎn)，提供一種檢測(cè)速度快、精確度高的數(shù)字成像式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。
實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型目的的數(shù)字成像式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的構(gòu)成包括由三個(gè)相互垂直正交的X、Y、Z運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌軸組成的主體機(jī)構(gòu)、安裝在主體機(jī)構(gòu)的Y軸上的探測(cè)頭、確定探測(cè)頭坐標(biāo)位置的電測(cè)控制箱，其特征是所述的探測(cè)頭為數(shù)字成像式探測(cè)頭，在數(shù)字成像式探測(cè)頭的信號(hào)輸出端接有一成像測(cè)控處理器，所述的成像測(cè)控處理器的一輸入端與電測(cè)控制箱的輸出端相接。
本測(cè)量機(jī)的工作原理如下
同原有的“三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)”一樣，由主體機(jī)構(gòu)完成數(shù)字成像式探測(cè)頭的移動(dòng)，數(shù)字成像式探測(cè)頭利用光學(xué)三維掃描技術(shù)，對(duì)物品進(jìn)行多方位、多角度的快速拍攝，所得的數(shù)字信號(hào)傳輸?shù)匠上駵y(cè)控處理器，同時(shí)電測(cè)控制箱將探測(cè)頭的精確位置坐標(biāo)信號(hào)也傳輸?shù)匠上駵y(cè)控處理器，兩組信號(hào)通過(guò)成像測(cè)控處理器中的專用測(cè)量軟件高速運(yùn)算完成數(shù)據(jù)處理，生成全面、統(tǒng)一的彩色三維型面點(diǎn)云數(shù)據(jù)，從而完成對(duì)物品的三維空間測(cè)量、測(cè)繪。對(duì)大型物體，可適當(dāng)逐部位拍攝，由成像測(cè)控處理器將信號(hào)進(jìn)行拼接整合完成，實(shí)現(xiàn)大型物體的方便檢測(cè)。
與前述現(xiàn)有同類產(chǎn)品相比，本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)是1.改原來(lái)的點(diǎn)、線探測(cè)為面探測(cè)，數(shù)據(jù)采集方便快速，極大提高了工作效率，特別適用于對(duì)大型物品的檢測(cè)或需要大量點(diǎn)云數(shù)據(jù)的場(chǎng)合。
2.點(diǎn)云密度高，分布均勻，保證了數(shù)據(jù)良好的重復(fù)性、再現(xiàn)性；3.先進(jìn)的數(shù)字成像式快速三維掃描技術(shù)，采用對(duì)人體無(wú)害的白光，安全可靠；4.非接觸式的探測(cè)方式，不損物品，探頭無(wú)磨損，特別適用于對(duì)易碎、易變形物品的測(cè)量。
5.數(shù)據(jù)處理能力強(qiáng)，速度快，拼接整合精度高。
本實(shí)用新型的內(nèi)容結(jié)合以下實(shí)施例作更進(jìn)一步的說(shuō)明，但本實(shí)用新型的內(nèi)容不僅限于實(shí)施例中所涉及的內(nèi)容。


圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖具體實(shí)施方式
如圖1所示，本數(shù)字成像式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的構(gòu)成包括由三個(gè)相互垂直正交的運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌軸X軸3、Y軸4、Z軸5組成的主體機(jī)構(gòu)1、安裝在主體機(jī)構(gòu)的Y軸4上的探測(cè)頭2、確定探測(cè)頭2坐標(biāo)位置的電測(cè)控制箱6，所述的探測(cè)頭2為數(shù)字成像式探測(cè)頭，在數(shù)字成像式探測(cè)頭2的信號(hào)輸出端接有一成像測(cè)控處理器7，所述的成像測(cè)控處理器7的輸入端與電測(cè)控制箱6的輸出端相接。圖中8為顯示器，9為放置被測(cè)物品的工作平臺(tái)。
權(quán)利要求1.數(shù)字成像式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，包括由三個(gè)相互垂直正交的X、Y、Z運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌軸組成的主體機(jī)構(gòu)、安裝在主體機(jī)構(gòu)的Y軸上的探測(cè)頭、確定探測(cè)頭坐標(biāo)位置的電測(cè)控制箱，其特征是所述的探測(cè)頭為數(shù)字成像式探測(cè)頭，在數(shù)字成像式探測(cè)頭的信號(hào)輸出端接有一成像測(cè)控處理器，所述的成像測(cè)控處理器的一輸入端與電測(cè)控制箱的輸出端相接。
專利摘要本數(shù)字成像式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)涉及一種測(cè)量機(jī)械。其構(gòu)成包括由三個(gè)相互垂直正交的X、Y、Z運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌軸組成的主體機(jī)構(gòu)、安裝在主體機(jī)構(gòu)的Y軸上的探測(cè)頭、確定探測(cè)頭坐標(biāo)位置的電測(cè)控制箱，本實(shí)用新型的特征是所述的探測(cè)頭為數(shù)字成像式探測(cè)頭，在數(shù)字成像式探測(cè)頭的信號(hào)輸出端接有一成像測(cè)控處理器，所述的成像測(cè)控處理器的一輸入端與電測(cè)控制箱的輸出端相接。利用光學(xué)三維掃描技術(shù)，改原來(lái)的點(diǎn)、線探測(cè)為面探測(cè)，數(shù)據(jù)采集方便快速，極大提高了工作效率。特別適用于對(duì)大型物品的檢測(cè)或需要大量點(diǎn)云數(shù)據(jù)的場(chǎng)合。
文檔編號(hào)G01B11/03GK2814332SQ20052003503
公開(kāi)日2006年9月6日 申請(qǐng)日期2005年8月5日 優(yōu)先權(quán)日2005年8月5日
發(fā)明者劉寧 申請(qǐng)人:四川中測(cè)量?jī)x有限公司