本發(fā)明涉及晶體封裝技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的方法及裝置。
背景技術(shù):
目前,閃爍晶體大量用于對(duì)高能射線進(jìn)行探測(cè)與顯示。在對(duì)閃爍晶體進(jìn)行陣列封裝時(shí),減小陣列晶體塊之間的間距可以顯著提高檢測(cè)的分辨率與降低余輝,但閃爍晶體之間間隙較小時(shí)由于膠體流動(dòng)性較差,在過(guò)程中易產(chǎn)生灌膠氣孔;切斷面封裝時(shí)依靠手工打磨不易保證尺寸精度,易造成打磨量不足或打磨過(guò)量等各類(lèi)型的缺陷,降低了封裝的成功率。此外,受制于灌膠的流動(dòng)性與均一性,當(dāng)前閃爍晶體的封裝規(guī)模較小,需要將小塊的封裝晶體大量堆積后才能供實(shí)際使用,進(jìn)一步提高了實(shí)際制造成本。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
有鑒于此,本發(fā)明提供了一種對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的方法及裝置,其利用光固化3d打印技術(shù),能夠提高對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的成品率,從而更加適于實(shí)用。
為了達(dá)到上述第一個(gè)目的,本發(fā)明提供的對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的方法的技術(shù)方案如下:
本發(fā)明提供的對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的方法應(yīng)用3d打印機(jī)實(shí)現(xiàn),所述對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的方法包括以下步驟:
將待封裝晶體塊陣列按照封裝尺寸的要求排列在所述3d打印機(jī)的基板上;
對(duì)樹(shù)脂液面進(jìn)行調(diào)整,使得所述3d打印機(jī)的打印平臺(tái)上表面與所述樹(shù)脂液面平齊;
降低所述3d打印機(jī)的打印平臺(tái)高度,使得所述樹(shù)脂自然流入到所述待封裝晶體陣列中;
使流入到所述待封裝晶體陣列中的樹(shù)脂固化;
調(diào)整所述樹(shù)脂液面的高度,使得所述樹(shù)脂液面的與所述待封裝晶體塊上表面持平,得到中間產(chǎn)物;
將所述中間產(chǎn)物從所述3d打印機(jī)的基板上取下后烘干,得到封裝后閃爍晶體。
本發(fā)明提供的對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的方法還可采用以下技術(shù)措施進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。
作為優(yōu)選,所述待封裝晶體塊的高度與所述封裝后的閃爍晶體的厚度相同。
作為優(yōu)選,所述將待封裝晶體塊陣列按照封裝尺寸的要求排列在所述3d打印機(jī)的基板上的過(guò)程中,應(yīng)用透光材質(zhì)制成的壓板對(duì)所述待封裝晶體塊陣列進(jìn)行固定。
作為優(yōu)選,所述使流入到所述待封裝晶體陣列中的樹(shù)脂固化時(shí),應(yīng)用光源照射所述待封裝晶體陣列的區(qū)域,所述區(qū)域包括輪廓最外層。
作為優(yōu)選,所述調(diào)整所述樹(shù)脂液面的高度,使得所述樹(shù)脂液面的與所述待封裝晶體塊上表面持平的步驟之后,還包括以下步驟:
當(dāng)所述3d打印機(jī)的打印平臺(tái)下降的距離≥所述待封裝晶體塊的高度時(shí),將所述3d打印機(jī)的基板降低一層厚度,并流入到所述待封裝晶體陣列中的樹(shù)脂刮平的步驟;
當(dāng)所述3d打印機(jī)的打印平臺(tái)下降的距離<所述待封裝晶體塊的高度時(shí),繼續(xù)降低所述3d打印機(jī)的打印平臺(tái)高度,使得所述樹(shù)脂自然流入到所述待封裝晶體陣列中。
作為優(yōu)選,所述調(diào)整所述樹(shù)脂液面的高度,使得所述樹(shù)脂液面的與所述待封裝晶體塊上表面持平的步驟過(guò)程中,還包括以下步驟:
當(dāng)樹(shù)脂液面高度與制定封裝高度相差≥所述3d打印機(jī)的一個(gè)打印層厚度時(shí),執(zhí)行以下步驟:
當(dāng)所述3d打印機(jī)的打印平臺(tái)下降的距離≥所述待封裝晶體塊的高度時(shí),將所述3d打印機(jī)的基板降低一層厚度,并流入到所述待封裝晶體陣列中的樹(shù)脂刮平的步驟;
當(dāng)所述3d打印機(jī)的打印平臺(tái)下降的距離<所述待封裝晶體塊的高度時(shí),繼續(xù)降低所述3d打印機(jī)的打印平臺(tái)高度,使得所述樹(shù)脂自然流入到所述待封裝晶體陣列中;
當(dāng)樹(shù)脂液面高度與制定封裝高度相差<所述3d打印機(jī)的一個(gè)打印層厚度時(shí),執(zhí)行以下步驟:
將所述中間產(chǎn)物從所述3d打印機(jī)的基板上取下后烘干,得到封裝后閃爍晶體。
作為優(yōu)選,所述樹(shù)脂液面與所述待封裝晶體塊表面的高度差通過(guò)光電液位傳感器進(jìn)行探測(cè)。
作為優(yōu)選,調(diào)整所述樹(shù)脂液面的高度,使得所述樹(shù)脂液面的與所述待封裝晶體塊上表面持平的步驟中,通過(guò)刮刀將所述樹(shù)脂刮平。
作為優(yōu)選,將所述中間產(chǎn)物從所述3d打印機(jī)的基板上取下與烘干的步驟之間,還包括將所述待封裝晶體塊陣列表面粘黏附的未固化的樹(shù)脂清洗掉的步驟。
作為優(yōu)選,所述將所述待封裝晶體塊陣列表面粘黏附的未固化的樹(shù)脂清洗掉的步驟選用的清洗劑為酒精。
為了達(dá)到上述第二個(gè)目的,本發(fā)明提供的對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的裝置的技術(shù)方案如下:
本發(fā)明提供的對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的裝置包括:
3d打印機(jī),包括基板和打印平臺(tái),所述基板用于放置待封裝晶體塊陣列;
升降機(jī)構(gòu),用于調(diào)整打印平臺(tái)的高度;
第一容器,用于容置液態(tài)樹(shù)脂,所述容器上設(shè)有通孔,通過(guò)所述通孔,所述液態(tài)樹(shù)脂能夠流入到置于所述基板上的待封裝晶體陣列快。
本發(fā)明提供的對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的裝置還可采用以下技術(shù)措施進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。
作為優(yōu)選,所述對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的裝置還包括壓板,所述壓板應(yīng)用透光材質(zhì)制成,所述壓板用于將所述待封裝晶體塊陣列固定在所述3d打印機(jī)的基板上。
作為優(yōu)選,所述對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的裝置還包括光源,用于照射所述液態(tài)樹(shù)脂,使所述液態(tài)樹(shù)脂固化。
作為優(yōu)選,所述對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的裝置還包括刮刀,所述刮刀用于對(duì)處于所述待封裝晶體塊上表面的樹(shù)脂進(jìn)行刮平操作。
作為優(yōu)選,所述對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的裝置還包括光電液位傳感器,用于對(duì)所述樹(shù)脂液面與所述待封裝晶體塊表面的高度差進(jìn)行探測(cè)。
作為優(yōu)選,所述光電液位傳感器與所述升降機(jī)構(gòu)之間能夠通信,以根據(jù)所述樹(shù)脂液面與所述待封裝晶體塊表面的高度差對(duì)所述打印平臺(tái)的高度進(jìn)行調(diào)節(jié)。
本發(fā)明提供的對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的方法及裝置利用光固化3d打印技術(shù),因?yàn)槭侵饘庸袒?,膠體無(wú)需一次性填充滿晶體塊之間的所有間隙,單次填充量非常小,降低了產(chǎn)生氣孔的概率,且光固化3d打印單層厚度及平面內(nèi)打印精度均可以保持在數(shù)十微米的量級(jí),因此對(duì)于尺寸的控制更加精確。
附圖說(shuō)明
通過(guò)閱讀下文優(yōu)選實(shí)施方式的詳細(xì)描述,各種其他的優(yōu)點(diǎn)和益處對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員將變得清楚明了。附圖僅用于示出優(yōu)選實(shí)施方式的目的,而并不認(rèn)為是對(duì)本發(fā)明的限制。而且在整個(gè)附圖中,用相同的參考符號(hào)表示相同的部件。在附圖中:
圖1為本發(fā)明提供的對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的方法的概括步驟流程圖;
圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的方法的具體操作步驟流程圖。
具體實(shí)施方式
本發(fā)明為解決現(xiàn)有技術(shù)存在的問(wèn)題,提供一種對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的方法及裝置,其利用光固化3d打印技術(shù),能夠提高對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的成品率,從而更加適于實(shí)用。
為更進(jìn)一步闡述本發(fā)明為達(dá)成預(yù)定發(fā)明目的所采取的技術(shù)手段及功效,以下結(jié)合附圖及較佳實(shí)施例,對(duì)依據(jù)本發(fā)明提出的對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的方法及裝置,其具體實(shí)施方式、結(jié)構(gòu)、特征及其功效,詳細(xì)說(shuō)明如后。在下述說(shuō)明中,不同的“一實(shí)施例”或“實(shí)施例”指的不一定是同一實(shí)施例。此外,一或多個(gè)實(shí)施例中的特定特征、結(jié)構(gòu)、或特點(diǎn)可由任何合適形式組合。
本文中術(shù)語(yǔ)“和/或”,僅僅是一種描述關(guān)聯(lián)對(duì)象的關(guān)聯(lián)關(guān)系,表示可以存在三種關(guān)系,例如,a和/或b,具體的理解為:可以同時(shí)包含有a與b,可以單獨(dú)存在a,也可以單獨(dú)存在b,能夠具備上述三種任一種情況。
參見(jiàn)附圖1和附圖2,本發(fā)明實(shí)施例提供的對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的方法應(yīng)用3d打印機(jī)實(shí)現(xiàn),對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的方法包括以下步驟:
步驟s1:將待封裝晶體塊陣列按照封裝尺寸的要求排列在3d打印機(jī)的基板上;
步驟s2:對(duì)樹(shù)脂液面進(jìn)行調(diào)整,使得3d打印機(jī)的打印平臺(tái)上表面與樹(shù)脂液面平齊;
步驟s3:降低3d打印機(jī)的打印平臺(tái)高度,使得樹(shù)脂自然流入到待封裝晶體陣列中;
步驟s5:使流入到待封裝晶體陣列中的樹(shù)脂固化;
步驟s6:調(diào)整樹(shù)脂液面的高度,使得樹(shù)脂液面的與待封裝晶體塊上表面持平,得到中間產(chǎn)物;
步驟s7:將中間產(chǎn)物從3d打印機(jī)的基板上取下后烘干,得到封裝后閃爍晶體。
本發(fā)明采用3d打印逐層曝光的方式對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝,分別使用液面?zhèn)鞲衅骱筒竭M(jìn)電機(jī)及其減速機(jī)構(gòu)對(duì)膠體液面高度進(jìn)行探測(cè)和控制,可以精確控制膠體每層固化的高度,極大程度上減少了傳統(tǒng)灌膠工藝中出現(xiàn)氣孔的概率、且可以精確控制膠體整體高度,可以保證封裝后膠體更部位厚度的高度一致性,無(wú)需進(jìn)行二次打磨加工。此外,通過(guò)加大打印基板的尺寸,在原理上可實(shí)現(xiàn)大規(guī)模閃爍晶體的封裝,而無(wú)需對(duì)小塊封裝晶體進(jìn)行堆積,進(jìn)一步提升生產(chǎn)效率與產(chǎn)品的穩(wěn)定性,克服了傳統(tǒng)灌膠封裝的工藝局限。
其中,待封裝晶體塊的高度與封裝后的閃爍晶體的厚度相同。在這種情況下,晶體塊高度(h)即為封裝后產(chǎn)品的厚度,無(wú)需再次進(jìn)行切割處理,使用透光材質(zhì)壓板固定住晶體塊陣列。
其中,將待封裝晶體塊陣列按照封裝尺寸的要求排列在3d打印機(jī)的基板上的過(guò)程中,應(yīng)用透光材質(zhì)制成的壓板對(duì)待封裝晶體塊陣列進(jìn)行固定,在這種情況下,采用光源照射晶體陣列區(qū)域,光線能夠透過(guò)透光材質(zhì),使樹(shù)脂固化。
其中,使流入到待封裝晶體陣列中的樹(shù)脂固化時(shí),應(yīng)用光源照射待封裝晶體陣列的區(qū)域,區(qū)域包括輪廓最外層。
其中,步驟s6,調(diào)整樹(shù)脂液面的高度,使得樹(shù)脂液面的與待封裝晶體塊上表面持平的步驟之后,還包括以下步驟:
當(dāng)3d打印機(jī)的打印平臺(tái)下降的距離≥待封裝晶體塊的高度時(shí),將3d打印機(jī)的基板降低一層厚度,并流入到待封裝晶體陣列中的樹(shù)脂刮平的步驟;
當(dāng)3d打印機(jī)的打印平臺(tái)下降的距離<待封裝晶體塊的高度時(shí),繼續(xù)降低3d打印機(jī)的打印平臺(tái)高度,使得樹(shù)脂自然流入到待封裝晶體陣列中。
其中,調(diào)整樹(shù)脂液面的高度,使得樹(shù)脂液面的與待封裝晶體塊上表面持平的步驟過(guò)程中,還包括以下步驟:
當(dāng)樹(shù)脂液面高度與制定封裝高度相差≥3d打印機(jī)的一個(gè)打印層厚度時(shí),執(zhí)行以下步驟:
當(dāng)3d打印機(jī)的打印平臺(tái)下降的距離≥待封裝晶體塊的高度時(shí),將3d打印機(jī)的基板降低一層厚度,并流入到待封裝晶體陣列中的樹(shù)脂刮平的步驟;
當(dāng)3d打印機(jī)的打印平臺(tái)下降的距離<待封裝晶體塊的高度時(shí),繼續(xù)降低3d打印機(jī)的打印平臺(tái)高度,使得樹(shù)脂自然流入到待封裝晶體陣列中;
當(dāng)樹(shù)脂液面高度與制定封裝高度相差<3d打印機(jī)的一個(gè)打印層厚度時(shí),執(zhí)行以下步驟:
將中間產(chǎn)物從3d打印機(jī)的基板上取下后烘干,得到封裝后閃爍晶體。
其中,樹(shù)脂液面與待封裝晶體塊表面的高度差通過(guò)光電液位傳感器進(jìn)行探測(cè)。
其中,調(diào)整樹(shù)脂液面的高度,使得樹(shù)脂液面的與待封裝晶體塊上表面持平的步驟中,通過(guò)刮刀將樹(shù)脂刮平。
其中,將中間產(chǎn)物從3d打印機(jī)的基板上取下與烘干的步驟之間,還包括將待封裝晶體塊陣列表面粘黏附的未固化的樹(shù)脂清洗掉的步驟。
其中,將待封裝晶體塊陣列表面粘黏附的未固化的樹(shù)脂清洗掉的步驟選用的清洗劑為酒精。
本發(fā)明實(shí)施例提供的對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的裝置的技術(shù)方案如下:
本發(fā)明提供的對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的裝置包括:
3d打印機(jī),包括基板和打印平臺(tái),基板用于放置待封裝晶體塊陣列;
升降機(jī)構(gòu),用于調(diào)整打印平臺(tái)的高度;
第一容器,用于容置液態(tài)樹(shù)脂,容器上設(shè)有通孔,通過(guò)通孔,液態(tài)樹(shù)脂能夠流入到置于基板上的待封裝晶體陣列快。
其中,對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的裝置還包括壓板,壓板應(yīng)用透光材質(zhì)制成,壓板用于將待封裝晶體塊陣列固定在3d打印機(jī)的基板上。
其中,對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的裝置還包括光源,用于照射液態(tài)樹(shù)脂,使液態(tài)樹(shù)脂固化。
其中,對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的裝置還包括刮刀,刮刀用于對(duì)處于待封裝晶體塊上表面的樹(shù)脂進(jìn)行刮平操作。
其中,對(duì)閃爍晶體進(jìn)行封裝的裝置還包括光電液位傳感器,用于對(duì)樹(shù)脂液面與待封裝晶體塊表面的高度差進(jìn)行探測(cè)。其中,光電液位傳感器精度可以達(dá)到0.01mm,配合平臺(tái)電機(jī)的位置反饋,可以容易的計(jì)算出樹(shù)脂液面與晶體塊表面的高度差,從而精確的控制平臺(tái)的下降高度,進(jìn)行曝光固化。
其中,光電液位傳感器與升降機(jī)構(gòu)之間能夠通信,以根據(jù)樹(shù)脂液面與待封裝晶體塊表面的高度差對(duì)打印平臺(tái)的高度進(jìn)行調(diào)節(jié)。
盡管已描述了本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例,但本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員一旦得知了基本創(chuàng)造性概念,則可對(duì)這些實(shí)施例作出另外的變更和修改。所以,所附權(quán)利要求意欲解釋為包括優(yōu)選實(shí)施例以及落入本發(fā)明范圍的所有變更和修改。
顯然,本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣,倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi),則本發(fā)明也意圖包含這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。