顯影劑容器、處理盒、裝置主體、顯影和圖像形成裝置的制造方法
【專利摘要】公開了顯影劑容器、處理盒、裝置主體、顯影和圖像形成裝置。一種顯影劑容器包括：容納腔147，包括開口145并且容納顯影劑；攪拌構(gòu)件160，包括片狀攪拌部160b以及攪拌部160b所附接到的旋轉(zhuǎn)軸160a；以及第一電極143和第二電極144，被用來檢測(cè)顯影劑的量并且被以其間有間隔的方式布置，其中，容納腔147中的第一電極143與第二電極144之間的區(qū)域X1位于攪拌構(gòu)件160的旋轉(zhuǎn)軸160a下方，并且片狀攪拌部160b由于攪拌構(gòu)件160的旋轉(zhuǎn)而與區(qū)域X1接觸。
【專利說明】
顯影劑容器、處理盒、裝置主體、顯影和圖像形成裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001] 本發(fā)明涉及顯影劑容器、顯影裝置、處理盒、裝置主體和圖像形成裝置。在這里，顯 影裝置至少包括承載顯影劑的顯影劑承載構(gòu)件?？商娲兀@影裝置也可以包括用于容納 顯影劑的框架體、用于輸送顯影劑的輸送構(gòu)件等等。盒是將多個(gè)組件集成在圖像形成裝置 中并且可以與圖像形成裝置的主體附接/可以從圖像形成裝置的主體分開的一件裝備。處 理盒至少包括承載顯影劑圖像的圖像承載構(gòu)件。具體而言，通過集成圖像承載構(gòu)件和對(duì)該 圖像承載構(gòu)件進(jìn)行作用的處理裝置而得到的盒被稱作處理盒。圖像形成裝置是在記錄材料 (轉(zhuǎn)印材料)上形成圖像的裝置，并且更具體地說是諸如復(fù)印機(jī)、打印機(jī)和傳真裝置之類的 使用電子照相系統(tǒng)或靜電記錄系統(tǒng)的圖像形成裝置。
【背景技術(shù)】
[0002] 傳統(tǒng)上，采用電子照相系統(tǒng)的圖像形成裝置設(shè)有顯影裝置，顯影裝置通過向通過 圖像承載構(gòu)件的掃描曝光形成的靜電潛像提供顯影劑來形成顯影劑圖像。此外，近年來，已 經(jīng)有顯影裝置、圖像承載構(gòu)件和處理裝置(帶電構(gòu)件等)被集成為處理盒的許多情況。通過 將多個(gè)構(gòu)件集成為處理盒并且使該處理盒能附接到(attachable)圖像形成裝置的裝置主 體/能從圖像形成裝置的裝置主體分開(detachable)，包括補(bǔ)充顯影劑在內(nèi)的維護(hù)工作可 以被容易地執(zhí)行。
[0003] 在這種處理盒系統(tǒng)中，當(dāng)顯影劑用完時(shí)，通過使用戶替換盒或者補(bǔ)充顯影劑，圖像 可以被再一次形成。因此，這種圖像形成裝置通常包括用于檢測(cè)顯影劑的消耗并且向用戶 通知替換定時(shí)的裝置，換言之，顯影劑量(developer amount)檢測(cè)裝置。作為這種顯影劑量 檢測(cè)裝置的一個(gè)示例，日本專利申請(qǐng)?zhí)亻_第2001-117346號(hào)提出了一種平板天線系統(tǒng)，其包 括一對(duì)輸入側(cè)和輸出側(cè)電極并且通過測(cè)量?jī)蓚€(gè)電極之間的電容來檢測(cè)顯影劑量。
[0004] 此外，日本專利申請(qǐng)?zhí)亻_第2003-248371號(hào)和日本專利申請(qǐng)?zhí)亻_第2007-121646號(hào) 提出了多個(gè)配置，其中顯影劑承載構(gòu)件由于向該顯影劑承載構(gòu)件施加 AC偏壓而被看作輸入 側(cè)電極，并且作為輸出側(cè)電極的電容檢測(cè)部被設(shè)在顯影裝置中與顯影劑承載構(gòu)件相對(duì)的位 置處。所有這些文檔都描述了使用在一對(duì)輸入和輸出電極之間的顯影劑的量改變時(shí)發(fā)生的 電容的變化來檢測(cè)顯影劑量的系統(tǒng)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 如在這些文檔中描述的配置中展示，因?yàn)楫?dāng)只有少量顯影劑剩余時(shí)需要顯影劑量 檢測(cè)特別精確，因此檢測(cè)部必須至少被設(shè)在當(dāng)顯影劑恰好將要用完時(shí)顯影劑量改變之處的 位置。然而，當(dāng)檢測(cè)部被設(shè)在其中顯影劑被攪拌構(gòu)件攪拌的容器中時(shí)，特別地，顯影劑的狀 態(tài)因?yàn)轱@影劑正被攪拌而不穩(wěn)定。因此，難以精確地檢測(cè)顯影劑量。
[0006] 本發(fā)明的一個(gè)目的是提供一種能夠使用設(shè)在顯影劑容納腔中的攪拌構(gòu)件和電極 來提高顯影劑量檢測(cè)的精度的技術(shù)。
[0007] 本發(fā)明的另一目的是提供一種顯影劑容器，包括：
[0008] 容納腔，包括開口并且容納顯影劑；
[0009] 攪拌構(gòu)件，包括片狀攪拌部以及該攪拌部所附接到的旋轉(zhuǎn)軸；以及
[0010] 第一電極和第二電極，被用來檢測(cè)顯影劑的量并且被以其間有間隔的方式布置， 其中
[0011] 容納腔中的第一電極與第二電極之間的區(qū)域位于攪拌構(gòu)件的旋轉(zhuǎn)軸下方，并且
[0012] 片狀攪拌部由于攪拌構(gòu)件的旋轉(zhuǎn)而與該區(qū)域接觸。
[0013] 本發(fā)明的又一目的是提供一種圖像形成裝置的裝置主體，包括容納顯影劑的容納 腔和用來檢測(cè)該容納腔中的顯影劑的量的多個(gè)電極的盒被安裝到該裝置主體并且該裝置 主體在記錄材料上形成圖像，其中
[0014] 具有不同數(shù)目的電極的多個(gè)類型的盒被配置為能附接到裝置主體/能從裝置主體 分開，
[0015] 裝置主體包括當(dāng)盒被安裝到裝置主體時(shí)與電極電連接的端子，并且
[0016] 按照等于或者大于所述多個(gè)類型的盒中分別包括的電極的數(shù)目當(dāng)中的最大數(shù)目 的數(shù)目來提供端子。
[0017] 本發(fā)明的又一目的是提供一種在記錄材料上形成圖像的圖像形成裝置，包括：
[0018] 裝置主體；
[0019]盒，包括容納顯影劑的容納腔和用來檢測(cè)該容納腔中的顯影劑的量的電極并且被 配置為能附接到裝置主體/能從裝置主體分開；以及
[0020] 端子，在盒被安裝到裝置主體時(shí)使電極和裝置主體相互電連接，其中
[0021] 裝置主體被配置為使得具有不同數(shù)目的電極的多個(gè)類型的盒能附接到裝置主體/ 能從裝置主體分開，并且
[0022] 按照與所述多個(gè)類型的盒中分別包括的電極的數(shù)目當(dāng)中的最大數(shù)目的數(shù)目相同 的數(shù)目來提供端子。
[0023]根據(jù)本發(fā)明，使用設(shè)在顯影劑容納腔中的攪拌構(gòu)件和電極的顯影劑量檢測(cè)的精度 可以被提尚。
[0024]根據(jù)以下對(duì)示例性實(shí)施例的描述(參考附圖），本發(fā)明的其他特征將變得清楚。
【附圖說明】
[0025] 圖1是根據(jù)第一實(shí)施例的顯影裝置的示意性截面圖；
[0026] 圖2是根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例的圖像形成裝置的示意性截面圖；
[0027] 圖3是根據(jù)第一實(shí)施例的處理盒的示意性截面圖；
[0028]圖4示出了根據(jù)第一實(shí)施例的顯影劑量檢測(cè)電路；
[0029] 圖5是表示當(dāng)根據(jù)第一實(shí)施例的攪拌構(gòu)件正被旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)時(shí)的電容變化的示圖；
[0030] 圖6是表示根據(jù)第一實(shí)施例的攪拌構(gòu)件的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)的示圖；
[0031] 圖7是表示根據(jù)第一實(shí)施例的電容和顯影劑量的變化的示圖；
[0032] 圖8是根據(jù)第二實(shí)施例的顯影裝置的示意性截面圖；
[0033] 圖9是表示根據(jù)第二實(shí)施例的電容和顯影劑量的變化的示圖；
[0034]圖10是根據(jù)第三實(shí)施例的顯影劑量檢測(cè)方法的順序圖；
[0035]圖11是圖像形成裝置的示意圖；
[0036]圖12是盒A2的示意圖；
[0037]圖13是盒B2的示意圖；
[0038]圖14是根據(jù)第三實(shí)施例的盒A2中的顯影劑量檢測(cè)系統(tǒng)的電路配置圖；
[0039]圖15是根據(jù)第三實(shí)施例的盒B2中的顯影劑量檢測(cè)系統(tǒng)的電路配置圖；
[0040]圖16是根據(jù)第四實(shí)施例的盒B2中的顯影劑量檢測(cè)系統(tǒng)的電路配置圖；
[0041 ]圖17是根據(jù)第四實(shí)施例的顯影劑量檢測(cè)方法的順序圖；
[0042]圖18是根據(jù)第四實(shí)施例的顯影劑量與盒B2中的電容之間的關(guān)系圖；
[0043]圖19是根據(jù)第五實(shí)施例的顯影裝置的示意圖；
[0044]圖20是根據(jù)比較示例的顯影裝置的示意圖；
[0045] 圖21是示出由攪拌構(gòu)件的旋轉(zhuǎn)引起的組合電容(combined capacitance)的變化 的示圖；
[0046] 圖22是示出第五實(shí)施例與比較示例之間的組合電容的差異的示圖；
[0047] 圖23是根據(jù)第六實(shí)施例的顯影裝置的示意圖；
[0048]圖24是根據(jù)第六實(shí)施例的顯影劑量檢測(cè)裝置的電路圖；
[0049] 圖25是示出第六實(shí)施例與比較示例之間的組合電容的差異的示圖；
[0050] 圖26A至圖26C是示出攪拌構(gòu)件上可以裝載顯影劑的空間的示圖；
[0051] 圖27A和圖27B是示出根據(jù)第七實(shí)施例與傳統(tǒng)示例的電容和顯影劑量的變化的示 圖；并且
[0052] 圖28A和圖28B是示出根據(jù)第八實(shí)施例和第九實(shí)施例的電容和顯影劑量的變化的 示圖。
【具體實(shí)施方式】
[0053] 現(xiàn)在將參考附圖基于實(shí)施例來詳細(xì)地例示性描述用于實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的各模式。將會(huì) 明白，在實(shí)施例中描述的組件的尺寸、材料、形狀、相對(duì)布置等旨在根據(jù)本發(fā)明將被應(yīng)用于 的裝置的配置和各種條件而被視情況改變。換言之，本發(fā)明的范圍并非旨在限于下面描述 的實(shí)施例。
[0054](第一實(shí)施例）
[0055] 〈圖像形成裝置和處理盒的配置和操作的概要〉
[0056] 圖2是示出根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例的圖像形成裝置的示意性配置的示意性截面 圖。圖像形成裝置是采用電子照相系統(tǒng)和可附接/可分開的處理盒系統(tǒng)的激光束打印機(jī)。打 印機(jī)通過與諸如個(gè)人計(jì)算機(jī)或圖像讀取裝置之類的外部主機(jī)裝置相連接而接收?qǐng)D像信息 并打印圖像信息。標(biāo)號(hào)101表示打印機(jī)主體(圖像形成裝置主體)并且標(biāo)號(hào)102表示可與打印 機(jī)主體101附接/可從打印機(jī)主體101分開的處理盒。
[0057]圖3是將用來描述處理盒102的根據(jù)第一實(shí)施例的處理盒的示意性截面圖。標(biāo)號(hào) 120表不作為圖像承載構(gòu)件的鼓式電子照相感光體(在下文中稱作感光鼓）。在本實(shí)施例中， 包括感光鼓120、帶電裝置130、顯影裝置140和清潔裝置150在內(nèi)的四個(gè)處理裝置被集成到 將與打印機(jī)主體101可附接/將從打印機(jī)主體101可分開的盒中。
[0058] 基于打印開始信號(hào)，感光鼓120在箭頭Rll的方向上以147.6mm/s的圓周速度(處理 速度)被順時(shí)針地旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)。使作為被施加帶電偏壓的帶電裝置130的帶電輥與感光鼓120 接觸。帶電輥130根據(jù)感光鼓120的旋轉(zhuǎn)而被旋轉(zhuǎn)地驅(qū)動(dòng)。旋轉(zhuǎn)感光鼓120的圓周面通過帶電 裝置130而被均勻地帶電為預(yù)定極性和電勢(shì)。在本實(shí)施例中，旋轉(zhuǎn)感光鼓120的圓周面被帶 電為預(yù)定負(fù)電勢(shì)。雖然本實(shí)施例中的帶電裝置130是接觸帶電帶電輥，但是取決于配置，非 接觸帶電構(gòu)件或接觸帶電刷可以被使用。
[0059]由曝光裝置(激光掃描單元）103對(duì)感光鼓120的帶電表面執(zhí)行圖像信息的激光掃 描曝光。從曝光裝置103輸出的激光進(jìn)入盒并且使感光鼓120的表面曝光。經(jīng)激光照射的感 光鼓表面的一部分(曝光明亮部分）的電勢(shì)衰減，并且與圖像信息相對(duì)應(yīng)的靜電潛像(或靜 電圖像)被形成在感光鼓表面上。本實(shí)施例采用使圖像信息部分曝光的圖像曝光系統(tǒng)。LED 等可以被用作曝光的光源。通過作為顯影裝置140的顯影劑承載構(gòu)件的顯影套筒（或顯影 輥）141上的調(diào)色劑T來使靜電潛像顯影。
[0060]同時(shí)，片材托盤構(gòu)件104的拾取輥105被按照預(yù)定控制定時(shí)驅(qū)動(dòng)，并且作為在片材 托盤構(gòu)件104中堆疊并容納的記錄介質(zhì)的一張記錄材料(紙)被分離并供給。當(dāng)記錄材料經(jīng) 由轉(zhuǎn)印引導(dǎo)件106通過轉(zhuǎn)印輥107(感光鼓120與轉(zhuǎn)印輥107相互接觸處的轉(zhuǎn)印壓合構(gòu)件)時(shí)， 感光鼓120的表面上的調(diào)色劑圖像被靜電地轉(zhuǎn)印到記錄材料的表面上。接下來，作為轉(zhuǎn)印材 料的記錄材料在定影裝置109處經(jīng)受調(diào)色劑圖像的熱和壓力定影處理，并且被排出到紙排 出托盤111。諸如未轉(zhuǎn)印調(diào)色劑之類的殘余物在片材材料的分離之后仍留在感光鼓120的表 面上。殘余物被清潔裝置150移除并清潔以便再一次被重復(fù)用于從帶電開始的圖像形成。 [0061 ]〈顯影裝置〉
[0062]圖1是根據(jù)第一實(shí)施例的顯影裝置的示意性截面圖。根據(jù)本實(shí)施例的顯影裝置140 包括其中旋轉(zhuǎn)地布置有作為顯影劑承載構(gòu)件的顯影套筒141的顯影腔146和用于容納作為 顯影劑的調(diào)色劑T的顯影劑容納腔147(在下文中稱作調(diào)色劑腔）。此外，顯影裝置140被配置 為與清潔單元分離的顯影裝置(顯影單元）。清楚的是，使用集成顯影裝置和清潔單元的處 理盒的配置也可以被采用。
[0063]調(diào)色劑腔中的磁性單組分調(diào)色劑T通過作為設(shè)在顯影腔146與調(diào)色劑腔147之間的 連通開口的調(diào)色劑供給開口 145而被攪拌構(gòu)件160輸送到顯影腔。顯影腔146中的調(diào)色劑T被 作為由顯影套筒141包封的磁體的磁鐵吸引到顯影套筒141的表面。接下來，利用顯影套筒 141在R12的方向上的旋轉(zhuǎn)，調(diào)色劑T在由彈性構(gòu)件制成的顯影刮刀142的方向上被輸送。然 后，調(diào)色劑T經(jīng)歷顯影刮刀142的摩擦電給予和層厚度約束，并且在感光鼓120的方向上在顯 影套筒141的表面上輸送。雖然磁性單組分調(diào)色劑在本實(shí)施例中被使用，但是取決于配置， 雙組分調(diào)色劑或者非磁性調(diào)色劑可以被代替使用。
[0064] 在這種情況下，通過在DC電壓（Vdc = _400V)上疊加 AC電壓（峰到峰電壓= 1500Vpp，頻率Π = 2400Ηζ)而得到的顯影偏壓被從圖像形成裝置主體施加于顯影套筒141， 并且感光鼓120被接地。因?yàn)樵诟泄夤?20和顯影套筒141彼此相對(duì)的區(qū)域中生成電場(chǎng)，因此 通過早先描述的帶電調(diào)色劑T使感光鼓120的表面上的潛像顯影。顯影方法不限于該方法， 并且取決于配置，接觸顯影可以被代替執(zhí)行。
[0065]〈使能對(duì)顯影劑量的檢測(cè)的顯影劑容器〉
[0066]接下來，將參考圖1來描述根據(jù)第一實(shí)施例的顯影劑容器。在本實(shí)施例中，形成在 顯影裝置140的框架體中的調(diào)色劑腔147的框架體部分將被稱作顯影劑容器。根據(jù)本實(shí)施例 的顯影劑容器包括可旋轉(zhuǎn)地設(shè)在調(diào)色劑腔147中（容納腔中）的攪拌構(gòu)件160,以及作為沿著 調(diào)色劑腔147的壁面(底面)設(shè)置的顯影劑量檢測(cè)部的電極的天線構(gòu)件143和144?？梢曰?天線構(gòu)件143(第一電極)與天線構(gòu)件144(第二電極)之間的電容和天線構(gòu)件143與作為電極 的顯影套筒141之間的電容的組合電容的變化來檢測(cè)顯影劑量。
[0067] 天線構(gòu)件143和天線構(gòu)件144僅需要都具有導(dǎo)電屬性，并且在本實(shí)施例中被配置為 使得導(dǎo)電片通過嵌件成型而被與容器框架體集成在一起。然而，該配置不是限制性的并且 其他導(dǎo)電構(gòu)件可以被代替使用。例如，樹脂被給予導(dǎo)電屬性的導(dǎo)電樹脂片可以被使用。在這 種情況下，因?yàn)閷?dǎo)電樹脂片的片形狀在成型等期間可以被容易地改變，因此各種形狀可以 被適應(yīng)。例如，如在本實(shí)施例的情況下，導(dǎo)電樹脂片可以被布置在曲面或者半圓面上。此外， 如果框架體由樹脂制成，因?yàn)閷?dǎo)電樹脂片也是基于樹脂制成的，因此框架體和導(dǎo)電樹脂片 可以被一體地形成，并且因?yàn)榭蚣荏w和導(dǎo)電樹脂片具有類似的由溫度變化引起的尺寸變化 率，剝落等與金屬等相比更少可能發(fā)生。另外，天線構(gòu)件143和天線構(gòu)件144被沿著容器壁面 以之間有間隔的方式布置，并且在壁面上形成的間隙Xl的距離(在攪拌構(gòu)件160的旋轉(zhuǎn)方向 上沿著壁面的距離)被設(shè)置為7mm。此外，天線構(gòu)件143和天線構(gòu)件144被布置為使得間隙Xl 被定位在垂直方向上包括調(diào)色劑腔147的壁面的最低位置VlO在內(nèi)的區(qū)域中并且被定位在 攪拌構(gòu)件160的攪拌軸160a下方的位置處。在圖1中，攪拌軸160a的中心的高度由虛線hlO示 出。此外，調(diào)色劑供給開口 145的下端位于攪拌軸160a的中心上方。以類似方式，顯影套筒的 下端位于攪拌構(gòu)件的攪拌軸上方，從而采用向上汲取配置，其中調(diào)色劑T被向上汲取并被提 供給顯影套筒。
[0068] 在這種情況下，底面指的是作為形成顯影劑容器的框架體中的調(diào)色劑腔147的壁 面上的在垂直方向上彼此相對(duì)的區(qū)域當(dāng)中的下壁面區(qū)域(與調(diào)色劑腔147的頂區(qū)域相對(duì)的 區(qū)域)并且上面載有調(diào)色劑（即使是臨時(shí)的）的部分。在本實(shí)施例中，如在圖1中示出，容器框 架體壁面上大約在虛線hlO下方的區(qū)域構(gòu)成底面。
[0069]攪拌構(gòu)件160包括攪拌軸160a和作為柔性片材構(gòu)件的攪拌部160b。攪拌軸160a被 容器框架體旋轉(zhuǎn)地支撐，并且利用攪拌軸160a的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)，攪拌部160b以攪拌軸160a作為 旋轉(zhuǎn)軸在調(diào)色劑腔147中移動(dòng)并且攪拌調(diào)色劑腔147中的調(diào)色劑T。攪拌部160b被配置為使 得其尖端側(cè)對(duì)著調(diào)色劑腔147的至少底面滑動(dòng)并且還與設(shè)置在底面上的天線構(gòu)件143和144 滑動(dòng)接觸。天線構(gòu)件143和144和間隙Xl在攪拌部160b的旋轉(zhuǎn)方向上按照天線構(gòu)件144、間隙 Xl和天線構(gòu)件143的次序來布置，攪拌部160b的旋轉(zhuǎn)方向是當(dāng)攪拌部160b位于攪拌軸160a 下方時(shí)的移動(dòng)方向。在本實(shí)施例中，天線構(gòu)件143和144被配置為在底面上暴露并且與攪拌 部160b是接觸位置關(guān)系。然而，該配置不是限制性的，并且可替代地，可以采用將天線構(gòu)件 嵌入在構(gòu)成底面的框架體內(nèi)部的配置。此外，可以采用將天線構(gòu)件從外部粘到構(gòu)成容納腔 的框架體的配置。
[0070] 在根據(jù)本實(shí)施例的配置中，調(diào)色劑供給開口被作為片材構(gòu)件的密封構(gòu)件160c密封 以保證調(diào)色劑T不從顯影裝置140中泄漏。雖然解封構(gòu)件必須被設(shè)在裝置中以解封密封構(gòu)件 160c，但是在本實(shí)施例中，攪拌構(gòu)件也起解封構(gòu)件的作用。清楚的是，解封構(gòu)件可以被單獨(dú) 提供。作為附接到顯影裝置的驅(qū)動(dòng)傳送構(gòu)件的齒輪接收來自裝置主體的驅(qū)動(dòng)力，并且作為 解封構(gòu)件的攪拌構(gòu)件接收由齒輪接收到的驅(qū)動(dòng)力并且旋轉(zhuǎn)。由于攪拌構(gòu)件的旋轉(zhuǎn)，密封構(gòu) 件被繞在攪拌構(gòu)件周圍并且與調(diào)色劑腔的壁面分離，結(jié)果，密封構(gòu)件被解封。
[0071] 圖4是根據(jù)第一實(shí)施例的設(shè)在圖像形成裝置的裝置主體中的剩余調(diào)色劑量檢測(cè)裝 置170的電路配置圖。該電路配置被設(shè)計(jì)為將用于獲取用以檢測(cè)顯影劑的量的信號(hào)的偏壓 施加于充當(dāng)電極的導(dǎo)電構(gòu)件。在本實(shí)施例中，當(dāng)預(yù)定AC偏壓被從作為顯影偏壓施加裝置的 AC電源145A輸出時(shí)，AC偏壓被分別施加于基準(zhǔn)(reference)電容器154、顯影套筒141和天線 構(gòu)件144。因此，在基準(zhǔn)電容器154上生成電壓Vll并且在天線構(gòu)件143上生成電壓V12,伴隨 的是與組合天線構(gòu)件143與顯影套筒141之間的電容和天線構(gòu)件143與天線構(gòu)件144之間的 電容的電容相對(duì)應(yīng)的電流。檢測(cè)電路155根據(jù)Vll與V12之間的電壓差生成電壓V13并且將電 壓V13輸出到AD變換部156AD變換部156將模擬電壓V13的數(shù)字變換的結(jié)果輸出到控制裝置 157(諸如CPU)?？刂蒲b置根據(jù)該結(jié)果判定剩余調(diào)色劑水平、將判定結(jié)果存儲(chǔ)在存儲(chǔ)介質(zhì)(諸 如設(shè)在裝置主體中的RAM或ROM)中，并且使顯示裝置113(諸如設(shè)在裝置主體上的顯示面板） 顯示剩余量。
[0072]在本實(shí)施例中，顯影套筒141和天線構(gòu)件144被用作用于施加用以檢測(cè)剩余調(diào)色劑 量的AC偏壓的構(gòu)件。然而，即使當(dāng)例如AC偏壓未被施加于顯影套筒141時(shí)，與本實(shí)施例類似 的效果也可以被得到。此外，AC偏壓可以被施加于天線構(gòu)件143并且天線構(gòu)件144可以被用 作顯影劑量檢測(cè)部。然而，如在本實(shí)施例中一樣，有利布置包括將作為顯影劑量檢測(cè)部的天 線構(gòu)件143布置在顯影套筒141與天線構(gòu)件144之間。由于該布置和配置，顯影套筒141與天 線構(gòu)件143之間的電容的變化和天線構(gòu)件144與天線構(gòu)件143之間的電容的變化二者可以被 以高效方式檢測(cè)。
[0073]〈顯影劑量的檢測(cè)〉
[0074]接下來，將通過對(duì)根據(jù)本實(shí)施例的顯影劑量的檢測(cè)的詳細(xì)描述來說明本實(shí)施例的 有效性。如在圖1中示出，在本實(shí)施例中，攪拌構(gòu)件160被布置為使得攪拌部160b在攪拌軸 160a的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)期間在夾在天線構(gòu)件143與天線構(gòu)件144之間的區(qū)域Al中通過。在這種情況 下，區(qū)域Al指的是調(diào)色劑腔147中的在連接天線構(gòu)件143和144的垂直方向上的相應(yīng)上端的 虛擬面(在圖1等中呈現(xiàn)的截面中的虛擬線)下方的區(qū)域。天線構(gòu)件143和144、間隙Xl和表示 底面的最低部分(最深位置)的VlO被包括在區(qū)域Al中，并且攪拌軸160a位于區(qū)域Al上方(區(qū) ±或八1外部的位置處）。
[0075]本實(shí)施例采用了其中利用顯影劑量的變化造成用作顯影劑量檢測(cè)部的天線構(gòu)件 143與天線構(gòu)件144之間的電容和天線構(gòu)件143與顯影套筒141之間的電容的組合電容的變 化這一事實(shí)來檢測(cè)顯影劑量的配置。因此，當(dāng)調(diào)色劑T利用攪拌構(gòu)件160的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)而被攪 拌時(shí)，區(qū)域Al中的調(diào)色劑的狀態(tài)改變，并且即使調(diào)色劑量不改變，指示調(diào)色劑量的視在變化 的輸出最終按照攪拌構(gòu)件160的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)周期而被得到。
[0076]鑒于此，在本實(shí)施例中，采用了一種通過將如下輸出值與預(yù)先準(zhǔn)備的輸出值和顯 影劑量之間的關(guān)系相比較來檢測(cè)顯影劑量的配置:該輸出值是攪拌構(gòu)件160的旋轉(zhuǎn)周期的 整數(shù)倍或者與在足夠長(zhǎng)的時(shí)間段上的電容的平均值相對(duì)應(yīng)。調(diào)色劑量的每單位變化量的輸 出值的變化量越大，換言之，電容的變化量越大，可被執(zhí)行的顯影劑量檢測(cè)的精度越高。相 反地，例如，在即使當(dāng)調(diào)色劑量改變時(shí)電容也幾乎不改變的情況下，顯影劑量檢測(cè)的精度可 以被認(rèn)為是低的。
[0077]此外，一般而言，因?yàn)閳?zhí)行顯影劑量檢測(cè)的主要目的之一是向用戶提供用于替換 盒的指南，因此尤其在調(diào)色劑的量小時(shí)精度是有利地高的。因此，本實(shí)施例通過尤其在調(diào)色 劑量小時(shí)增大電容的變化來提高小調(diào)色劑量情況下的顯影劑量檢測(cè)的精度。
[0078] 同時(shí)，電容Cl與兩個(gè)天線組件的面積S和距離dl之間的關(guān)系已知被描述如下。
[0079] Cl = eS/dl···表達(dá)式（1)
[0080] 然而，根據(jù)本實(shí)施例的天線構(gòu)件被沿著調(diào)色劑腔147的壁面布置，并且例如，對(duì)電 容的貢獻(xiàn)在距離dl更短的區(qū)域中增大并且對(duì)電容的貢獻(xiàn)在距離dl更長(zhǎng)的區(qū)域中減小。
[0081] 因此，對(duì)電容變化的貢獻(xiàn)在圖1中示出的間隙Xl附近更大，并且例如，貢獻(xiàn)在區(qū)域 Al的上部中是小的。本實(shí)施例的一個(gè)特征是展示電容的大變化的間隙Xl被布置得比攪拌軸 160a更低并且直接在攪拌軸160a下方。通過采用這種配置，因?yàn)檎{(diào)色劑即使在攪拌操作期 間也由于其自己的重量而落到間隙X1附近，因此電容響應(yīng)于調(diào)色劑量的變化而顯著改變。 因此，尤其在調(diào)色劑量小的狀態(tài)下，調(diào)色劑量檢測(cè)的精度可以被提高。
[0082] 為了從另一視角描述在圖1中示出的狀態(tài)，存在一位置關(guān)系，其中電極之間的最接 近的電極間線段位于攪拌軸下方并且穿過攪拌軸的重力方向上的直線與該電極間線段相 交。
[0083]在本實(shí)施例中，天線構(gòu)件143和144被布置為使得間隙Xl被形成在包括調(diào)色劑腔 147的壁面上的最低位置(V)的區(qū)域中。在該配置中，即使已經(jīng)從攪拌構(gòu)件160掉落的調(diào)色劑 的量極小，電容也顯著改變。因此，該配置對(duì)于檢測(cè)剩余調(diào)色劑量是更有利的。然而，上面描 述的配置不是限制性的，因?yàn)榇嬖谄渲兄灰g隙Xl大約直接位于攪拌軸160a下方即使間隙 Xl略微偏離調(diào)色劑腔147的壁面上的最低位置(V)也可以得到類似于本實(shí)施例的效果的情 況。
[0084] 〈顯影劑量檢測(cè)的提尚精度的驗(yàn)證〉
[0085] 首先，根據(jù)本實(shí)施例的電容和攪拌構(gòu)件的驅(qū)動(dòng)的細(xì)節(jié)將被描述。
[0086] 圖5是表示在根據(jù)本實(shí)施例的配置中當(dāng)調(diào)色劑量是40g時(shí)在攪拌構(gòu)件160的旋轉(zhuǎn)驅(qū) 動(dòng)期間的電容的變化并且圖示出電容的變化在定時(shí)til至tl5循環(huán)地發(fā)生的示圖。
[0087]圖6是根據(jù)本實(shí)施例的顯影裝置的示意性截面圖，其中攪拌部160b在調(diào)色劑腔147 中通過的定時(shí)由位置Tll至Tl 5定義。
[0088]將通過判定在圖5和圖6中示出的關(guān)系之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系來描述根據(jù)攪拌構(gòu)件160的 驅(qū)動(dòng)而發(fā)生的電容的波動(dòng)的原因。此外，雖然容器中的40g的調(diào)色劑由于攪拌構(gòu)件160的旋 轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)而可以被劃分為在容器中移動(dòng)的調(diào)色劑和在容器中不移動(dòng)的調(diào)色劑，但是因?yàn)殡娙?的變化現(xiàn)在將被描述，因此描述將限于移動(dòng)的調(diào)色劑。
[0089]作為第一點(diǎn)，在攪拌部160b通過圖6中的Tll的定時(shí)，多數(shù)的移動(dòng)調(diào)色劑被聚集在 間隙X附近?？紤]到表達(dá)式（1)所表示的關(guān)系，電容在該定時(shí)取最大值。同時(shí)，因?yàn)殡娙莸木?部極大值對(duì)應(yīng)于圖5中的til，因此判定在圖6中的Tll與圖5中的til之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系。
[0090]作為第二點(diǎn)，在攪拌部160b通過圖6中的T12的定時(shí)，因?yàn)槎鄶?shù)的移動(dòng)調(diào)色劑被從 間隙Xl移開，因此電容快速地下降。因?yàn)殡娙菰趫D5中的tl 2處快速地下降，因此判定在圖6 中的T12與圖5中的tl2之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系。
[0091]作為第三點(diǎn)，在攪拌部160b通過圖6中的T13的定時(shí)，因?yàn)槎鄶?shù)的移動(dòng)調(diào)色劑被舉 起并被從區(qū)域Al移開并且SLV上保留的調(diào)色劑被攪拌部160b刮去，因此電容取局部最小值。 在圖5中的tl3處，因?yàn)殡娙萑【植孔钚≈?，因此判定在圖6中的T13與圖5中的tl3之間的對(duì) 應(yīng)關(guān)系。
[0092]作為第四點(diǎn)，在攪拌部160b通過圖6中的T14的定時(shí)，已被攪拌部160b舉起的多數(shù) 調(diào)色劑掉下并落在間隙Xl附近。相應(yīng)地，因?yàn)殡娙菰龃蟛⑶覕嚢璨?60b此后只是在空中移 動(dòng)而不保持調(diào)色劑，因此不發(fā)生電容的變化。因?yàn)殡娙菰趖l4處增大并且隨后在圖5中的tl5 之前沒有電容的變化，因此判定在圖6中的T14與圖5中的tl4之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系。
[0093]作為第五點(diǎn)，在攪拌部160b通過圖6中的T15的定時(shí)，多數(shù)的移動(dòng)調(diào)色劑被聚集在 間隙Xl中并且電容增大。在圖5中的tl5處，因?yàn)殡娙菰龃?，因此判定在圖6中的T15與圖5中 的tl5之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系。
[0094]接下來，將對(duì)作為本實(shí)施例的一個(gè)特征的通過優(yōu)化間隙Xl與攪拌軸160a之間的位 置關(guān)系來提高尤其在調(diào)色劑的量小時(shí)的顯影劑量檢測(cè)的精度給出描述。
[0095]圖7是表示根據(jù)本實(shí)施例的調(diào)色劑量與電容之間的關(guān)系的示圖。如早先描述的，在 本實(shí)施例中，即使當(dāng)調(diào)色劑量是40g小時(shí)，通過使調(diào)色劑在攪拌操作期間留在對(duì)電容有大貢 獻(xiàn)的間隙Xl中，也得到平均電容增大的效果。由于該效果，與當(dāng)調(diào)色劑量是Og時(shí)和當(dāng)調(diào)色劑 量是200g并且電容是穩(wěn)定的時(shí)之間的作為3.6pF的電容的變化量δα〇相比，在調(diào)色劑量在 Og與40g之間時(shí)的電容的變化量δα 1是1.7pF。這說明了，由于本實(shí)施例的效果，通過使電容 在調(diào)色劑量小時(shí)響應(yīng)于調(diào)色劑量的輕微變化而顯著改變，可以以高精度檢測(cè)調(diào)色劑量。 [0096]當(dāng)圖5和圖7中的縱軸表示電容時(shí)，該電容除了電極之間的電容之外還組合了除顯 影裝置之外的裝置的測(cè)量系統(tǒng)中的電容，并且因此是依賴于測(cè)量系統(tǒng)的值。因此，在本說明 書中示出的值是受限于本發(fā)明人在實(shí)驗(yàn)等中使用的測(cè)量系統(tǒng)的數(shù)值。然而，因?yàn)殡娙莸南?對(duì)變化的比較對(duì)于驗(yàn)證本發(fā)明的效果的目的是足夠的，因此這些值被用作展示本發(fā)明的效 果的示例。
[0097] (第二實(shí)施例）
[0098] 本發(fā)明的第二實(shí)施例與第一實(shí)施例的不同之處在于顯影劑容器的配置。在下文 中，與第一實(shí)施例的差異將被描述，并且與第一實(shí)施例中的那些事項(xiàng)類似的事項(xiàng)將不被描 述。將會(huì)明白，未在這里描述的事項(xiàng)類似于在第一實(shí)施例中描述的那些。
[0099]圖8是根據(jù)第二實(shí)施例的顯影裝置180的示意性截面圖。第二實(shí)施例與第一實(shí)施例 的不同之處在于顯影劑容器具有不同的調(diào)色劑容量，并且相應(yīng)地?cái)嚢铇?gòu)件和電極已被添 加。具體而言，在根據(jù)本實(shí)施例的顯影裝置180中，兩個(gè)攪拌構(gòu)件181和185被分別可旋轉(zhuǎn)地 設(shè)在調(diào)色劑供給腔187中，并且同時(shí)，三個(gè)天線構(gòu)件182至184被設(shè)置在調(diào)色劑供給腔187的 底面上。
[0100] 根據(jù)本實(shí)施例的顯影裝置180的調(diào)色劑供給腔187的底面被配置為具有兩個(gè)在垂 直方向上向下凹陷的凹陷部。調(diào)色劑供給腔187被配置以便被凸部大約劃分為接近調(diào)劑色 供給開口 186的區(qū)域(第一容納區(qū)域)和更遠(yuǎn)離調(diào)劑色供給開口 186的深度側(cè)區(qū)域(第二容納 區(qū)域），該凸部從兩個(gè)凹陷部之間的底面在垂直方向上向上突出。
[0101] 作為攪拌構(gòu)件的第一攪拌構(gòu)件181被布置在調(diào)色劑供給腔187中的第一容納區(qū)域 中并且攪拌第一容納區(qū)域中的調(diào)色劑以使得第一容納區(qū)域中的調(diào)色劑經(jīng)由調(diào)劑色供給開 口 186而被提供給顯影套筒141。第一攪拌構(gòu)件181包括第一攪拌軸181a(第一旋轉(zhuǎn)軸)和片 狀的第一攪拌部181b。
[0102] 作為攪拌構(gòu)件的第二攪拌構(gòu)件185被布置在調(diào)色劑供給腔187中的第二容納區(qū)域 中并且攪拌第二容納區(qū)域中的調(diào)色劑以使得第二容納區(qū)域中的調(diào)色劑移動(dòng)過凸部并且移 動(dòng)到第一容納區(qū)域中。第二攪拌構(gòu)件185包括第二攪拌軸185a(第二旋轉(zhuǎn)軸)和片狀的第二 攪拌部185b。
[0103] 天線構(gòu)件182(第一電極)被設(shè)置在第一容納區(qū)域中，天線構(gòu)件184(第四電極)被設(shè) 置在第二容納區(qū)域中，并且天線構(gòu)件183被設(shè)置為橫跨凸部并且在第一容納區(qū)域和第二容 納區(qū)域兩者中延伸。在調(diào)色劑供給腔187的底面上，間隙Xl被形成在天線構(gòu)件182與天線構(gòu) 件183在第一容納區(qū)域一側(cè)的一部分(第二電極)之間，并且間隙Yl被形成在天線構(gòu)件184與 天線構(gòu)件183在第二容納區(qū)域一側(cè)的一部分(第三電極)之間。顯影套筒141充當(dāng)?shù)谖咫姌O。
[0104] 在第一容納區(qū)域中，天線構(gòu)件182和183以及間隙Xl在攪拌軸181a下方的區(qū)域中在 攪拌部181b的移動(dòng)方向（從遠(yuǎn)側(cè)朝向容器的開口側(cè))上按照天線構(gòu)件183、間隙Xl和天線構(gòu) 件182的次序來布置。
[0105]在第二容納區(qū)域中，天線構(gòu)件183和184以及間隙Yl在攪拌軸185a下方的區(qū)域中在 攪拌部185b的移動(dòng)方向（從遠(yuǎn)側(cè)朝向容器的開口側(cè))上按照天線構(gòu)件184、間隙Yl和天線構(gòu) 件183的次序來布置。
[0106] 如在圖8中示出，攪拌構(gòu)件181被布置為使得攪拌部181b在攪拌軸181a的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng) 期間在夾在天線構(gòu)件182與天線構(gòu)件183在第一容納區(qū)域一側(cè)的一部分之間的區(qū)域Al中通 過。在這種情況下，區(qū)域Al指的是調(diào)色劑腔147的第一容納區(qū)域中的在連接天線構(gòu)件182和 183的垂直方向上的相應(yīng)上端的虛擬面(在圖8中呈現(xiàn)的截面中的虛擬線）下方的區(qū)域。天線 構(gòu)件182、天線構(gòu)件183在第一容納區(qū)域一側(cè)的一部分、間隙Xl和表示第一容納區(qū)域中的底 面的最低部分的VlO被包括在區(qū)域Al中，并且攪拌軸181a位于區(qū)域Al上方(區(qū)域Al外部的位 置處）。
[0107] 如在圖8中示出，攪拌構(gòu)件185被布置為使得攪拌部185b在攪拌軸185a的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng) 期間在夾在天線構(gòu)件184與天線構(gòu)件183在第二容納區(qū)域一側(cè)的一部分之間的區(qū)域Bl中通 過。在這種情況下，區(qū)域Bl指的是調(diào)色劑腔147的第二容納區(qū)域中的位于連接天線構(gòu)件184 和183的垂直方向上的相應(yīng)上端的虛擬面(在圖8中呈現(xiàn)的截面中的虛擬線)下方的區(qū)域。天 線構(gòu)件184、天線構(gòu)件183在第二容納區(qū)域一側(cè)的一部分、間隙Yl和表示第二容納區(qū)域中的 底面的最低部分的W被包括在區(qū)域Bl中，并且攪拌軸185a位于區(qū)域Bl上方（區(qū)域Bl外部的位 置處）。
[0108] 根據(jù)本實(shí)施例的顯影裝置180被配置為使得預(yù)定AC偏壓被從AC電源145A施加于天 線構(gòu)件183和顯影套筒141。此外，天線構(gòu)件182和天線構(gòu)件184相互電連接。利用天線構(gòu)件 182與天線構(gòu)件183在第一容納區(qū)域一側(cè)的一部分之間的電容、顯影套筒141與天線構(gòu)件182 之間的電容和天線構(gòu)件184與天線構(gòu)件183在第二容納區(qū)域一側(cè)的一部分之間的電容的組 合電容的變化來執(zhí)行顯影劑量檢測(cè)。
[0109] 在本實(shí)施例中，以類似于第一實(shí)施例的方式，攪拌構(gòu)件181被配置以便在旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng) 期間穿過區(qū)域Al，并且間隙Xl被布置在攪拌構(gòu)件181的攪拌軸181a下方。在圖8中，攪拌軸 181a的中心的高度由虛線hll示出。另外，間隙Xl位于攪拌軸181a下方(正下方）。以類似方 式，攪拌構(gòu)件185被配置以便在旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)期間穿過區(qū)域Bl，并且間隙Yl被布置在攪拌構(gòu)件 185的攪拌軸下方。在圖8中，攪拌軸185a的中心的高度由虛線h 12示出。另外，間隙Yl位于攪 拌軸185a下方(正下方）。根據(jù)該配置，以類似于第一實(shí)施例的方式，因?yàn)槎鄶?shù)在攪拌操作期 間由于其自己的重量而從攪拌部落下的調(diào)色劑落到間隙Xl和Yl附近，因此反映調(diào)色劑量的 變化的電容的變化可以被進(jìn)一步增大并且檢測(cè)精度可以被提高。
[0110] 圖9是表示根據(jù)第二實(shí)施例的顯影劑量與電容的平均值之間的關(guān)系的示圖。雖然 在本實(shí)施例中得到與第一實(shí)施例類似的效果，但是在本實(shí)施例中在間隙Xl和間隙Yl兩者處 同時(shí)得到該效果。第二實(shí)施例與第一實(shí)施例的不同之處在于，當(dāng)攪拌構(gòu)件181和攪拌構(gòu)件 185都被旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)時(shí)，調(diào)色劑在區(qū)域Al和區(qū)域A2兩者中移動(dòng)。因此，雖然在第一實(shí)施例中當(dāng) 調(diào)色劑量至少是Og至40g時(shí)得到效果，但是在本實(shí)施例中，除了從Og到40g的區(qū)域之外還可 以在例如從40g到200g的區(qū)域中得到效果。
[0111] 雖然在本實(shí)施例中如在圖8中示出布置天線構(gòu)件，但是天線構(gòu)件無需一定按照該 布置。例如，可以采用其中天線構(gòu)件183被用作顯影劑量檢測(cè)部并且AC偏壓被施加于天線構(gòu) 件182和184的配置。此外，為了使用更小數(shù)目的天線構(gòu)件以高效方式檢測(cè)區(qū)域Al側(cè)和區(qū)域 Bl側(cè)兩者，天線構(gòu)件183無需一定由一片(單個(gè)電極構(gòu)件)構(gòu)成，并且可以在圖8中示出的頂 點(diǎn)處被劃分為兩片，只要這兩片是導(dǎo)電的即可。然而，諸如在本實(shí)施例中使用的布置的布置 對(duì)于使用更小數(shù)目的天線構(gòu)件以高效方式檢測(cè)顯影套筒141與天線構(gòu)件182之間的電容的 變化和區(qū)域Al與Bl之間的電容的變化是有利的。
[0112] 此外，當(dāng)圖9中的縱軸表示電容時(shí)，該電容除了電極之間的電容之外還組合了裝置 的測(cè)量系統(tǒng)中的電容并且因而是依賴于測(cè)量系統(tǒng)的值。因此，在本說明書中示出的值是受 限于本發(fā)明人在實(shí)驗(yàn)等中使用的測(cè)量系統(tǒng)的數(shù)值。然而，因?yàn)殡娙莸南鄬?duì)變化的比較對(duì)于 驗(yàn)證本發(fā)明的效果的目的是足夠的，因此這些值被用作展示本發(fā)明的效果的示例。
[0113]根據(jù)本發(fā)明，使得能夠以高精度檢測(cè)顯影劑量的顯影劑容器、顯影裝置、處理盒和 圖像形成裝置可以被提供。
[0114] (第三實(shí)施例）
[0115] 〈圖像形成裝置和圖像形成處理的配置〉
[0116] 圖11是示出根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例的圖像形成裝置的示意性配置的示意性截面 圖。圖像形成裝置是采用電子照相系統(tǒng)的激光束打印機(jī)。圖像形成裝置能夠輸出基于從諸 如個(gè)人計(jì)算機(jī)或圖像讀取裝置之類的相連接外部主機(jī)裝置發(fā)送的圖像信息的圖像。
[0117] 根據(jù)本實(shí)施例的圖像形成裝置可以通過在圖像形成裝置主體(在下文中稱作裝置 主體)2100上選擇性地安裝盒A2(圖12)和盒B2而被使用。在這種情況下，盒A2是具有小顯影 劑容納量的處理盒并且盒B2是具有大顯影劑容納量的處理盒。此外，盒A2和B2分別是集成 感光鼓201、帶電輥202、顯影裝置211(或顯影盒)和清潔裝置230的單元。這些組件按照預(yù)定 相互布置關(guān)系而被裝配在盒中。
[0118] 裝置主體2100的打開/關(guān)閉蓋2101可以如鉸軸構(gòu)件2102周圍的點(diǎn)劃線示出那樣打 開以打開裝置主體2100。該開口使得盒A2或盒B2能夠被插入并安裝到裝置主體2100中的預(yù) 定安裝位置，并且相反地，根據(jù)預(yù)定過程被從裝置主體2100中取出并移除。通過將盒A2或盒 B2安裝到裝置主體2100,創(chuàng)建盒A2或盒B2與裝置主體2100機(jī)械地且電子地耦接的狀態(tài)。相 應(yīng)地，圖像形成裝置可以形成圖像。
[0119] 作為圖像承載構(gòu)件的鼓式電子照相系統(tǒng)(在下文中，稱作感光鼓)201基于打印開 始信號(hào)在箭頭R21的方向上被以預(yù)定旋轉(zhuǎn)速度旋轉(zhuǎn)地驅(qū)動(dòng)。使施加帶電偏壓的帶電輥202與 感光鼓201接觸，并且通過帶電輥202將感光鼓201的圓周面均勻地帶電為預(yù)定極性和電勢(shì) (帶電步驟）。相對(duì)于帶電表面，通過曝光裝置(在下文中稱作掃描器)203來執(zhí)行圖像信息的 激光掃描曝光。掃描器203輸出與從主機(jī)裝置輸入的圖像信息的電信號(hào)相對(duì)應(yīng)地調(diào)制的激 光以執(zhí)行對(duì)感光鼓201的帶電表面的掃描曝光，結(jié)果，由亮區(qū)域電勢(shì)部分和暗區(qū)域電勢(shì)部分 組成的靜電潛像(靜電圖像)被形成在感光鼓201的圓周面上(曝光步驟）。該靜電潛像通過 顯影裝置211或顯影裝置221的顯影套筒204(顯影劑承載構(gòu)件)而被顯影。顯影套筒204被布 置為與感光鼓201相對(duì)并且承載顯影劑。靜電潛像通過顯影套筒204而被顯影，并且調(diào)色劑 圖像(顯影劑圖像)被形成在感光鼓201的圓周面上(顯影步驟）。
[0120] 作為輥狀轉(zhuǎn)印裝置的轉(zhuǎn)印輥205被布置為與感光鼓201相對(duì)。當(dāng)被輸送到轉(zhuǎn)印輥 205的記錄材料P2在預(yù)定控制定時(shí)通過轉(zhuǎn)印輥205時(shí)，轉(zhuǎn)印偏壓被施加于轉(zhuǎn)印輥205并且感 光鼓201的圓周面上的調(diào)色劑圖像被靜電轉(zhuǎn)印到記錄材料P2的表面(轉(zhuǎn)印步驟）。在轉(zhuǎn)印步 驟之后的記錄材料P2被輸送到包括輥狀加熱構(gòu)件和輥狀加壓構(gòu)件的定影裝置，并且定影裝 置對(duì)記錄材料P2上的調(diào)色劑圖像執(zhí)行熱和壓力定影處理以使圖像定影(定影步驟）。諸如在 轉(zhuǎn)印步驟之后留在感光鼓201的圓周面上的未轉(zhuǎn)印調(diào)色劑之類的殘余物被作為清潔裝置的 C刮刀207移除（清潔步驟）。通過重復(fù)上面描述的圖像形成處理（帶電、曝光、顯影、轉(zhuǎn)印、定 影和清潔步驟)來形成圖像。
[0121] 〈根據(jù)本實(shí)施例的配置(a)的顯影劑量檢測(cè)部〉
[0122] 圖12是盒A2的示意圖。根據(jù)本實(shí)施例的盒A2包括清潔裝置230和顯影裝置211。顯 影套筒（顯影輥)204被可旋轉(zhuǎn)地布置在顯影裝置211中，并且顯影裝置211包括容納調(diào)色劑T 的顯影劑容納構(gòu)件(在下文中稱作調(diào)色劑腔)217。
[0123] 調(diào)色劑腔217中容納的磁性單組分調(diào)色劑T通過攪拌構(gòu)件212而被從調(diào)色劑腔217 提供給顯影套筒204。所提供的調(diào)色劑T由于作為被顯影套筒204包封的磁體的磁鐵而被保 留在顯影套筒204的表面上。顯影套筒204的表面上保持的調(diào)色劑T隨著顯影套筒204在由 R22表示的方向上的旋轉(zhuǎn)而與由彈性構(gòu)件制成的顯影刮片218接觸，經(jīng)歷顯影刮片218的摩 擦電給予和層厚度約束，并被輸送到與感光鼓201相對(duì)的位置。
[0124] 作為顯影劑量檢測(cè)部，作為一對(duì)電極的天線構(gòu)件214(第二電極)和天線構(gòu)件215 (第一電極)被沿著調(diào)色劑腔217的容器壁面(底面）以之間有間隔的方式布置，作為用于檢 測(cè)調(diào)色劑量的電極。天線構(gòu)件214和215以及之間的間隙在攪拌部位于攪拌軸(旋轉(zhuǎn)軸)下方 時(shí)在作為攪拌構(gòu)件212的移動(dòng)方向的攪拌構(gòu)件212的旋轉(zhuǎn)方向上按照天線構(gòu)件215、間隙和 天線構(gòu)件214的次序來布置。攪拌構(gòu)件212的攪拌部被配置為使得其尖端側(cè)對(duì)著調(diào)色劑腔 217的至少底面滑動(dòng)并且還與設(shè)置在底面上的天線構(gòu)件215和214滑動(dòng)接觸。
[0125] 在這種情況下，底面指的是作為顯影劑容器的框架體中形成調(diào)色劑腔的壁面上的 在垂直方向上彼此相對(duì)的區(qū)域當(dāng)中的下壁面區(qū)域(與調(diào)色劑腔的頂區(qū)域相對(duì)的區(qū)域)并且 上面載有調(diào)色劑(即使是臨時(shí)的）的部分。
[0126] 天線構(gòu)件214和215具有導(dǎo)電屬性并且當(dāng)盒被安裝到裝置主體時(shí)，天線構(gòu)件變得與 裝置主體電導(dǎo)通并被用來檢測(cè)顯影劑量。向天線構(gòu)件214提供電氣連續(xù)性的觸點(diǎn)2104(第二 端子)和向天線構(gòu)件215提供電氣連續(xù)性的觸點(diǎn)2105(第一端子)被設(shè)在裝置主體2100上。向 盒B2(稍后將描述）中的天線構(gòu)件226提供電氣連續(xù)性的觸點(diǎn)2106(第三端子)被配置為浮點(diǎn) (float)。在盒A2被安裝到裝置主體2100的狀態(tài)下，電壓通過觸點(diǎn)2105而被從裝置主體2100 輸入到天線構(gòu)件215。天線構(gòu)件214將與天線構(gòu)件214和天線構(gòu)件215之間的電容相對(duì)應(yīng)的電 壓通過觸點(diǎn)2104輸出到裝置主體2100。電容與天線構(gòu)件214和天線構(gòu)件215之間的顯影劑的 量相關(guān)聯(lián)。
[0127] 此外，根據(jù)本實(shí)施例的盒B2以類似于盒A2的方式包括清潔裝置230和顯影裝置 221。顯影套筒204被可旋轉(zhuǎn)地布置在顯影裝置221中，并且顯影裝置221包括容納調(diào)色劑T的 調(diào)色劑腔227和228以及用于將調(diào)色劑從調(diào)色劑腔228(第二容納區(qū)域)提供到調(diào)色劑腔227 (第一容納區(qū)域)的連通端口 220。調(diào)色劑腔228中的調(diào)劑色T通過調(diào)色劑攪拌器223(第二攪 拌構(gòu)件)經(jīng)由連通端口 220而被從調(diào)色劑腔228輸送到調(diào)色劑腔227。調(diào)色劑腔227中的磁性 單組分調(diào)色劑T通過調(diào)色劑攪拌器222(第一攪拌構(gòu)件)而被從調(diào)色劑腔227輸送到顯影套筒 204〇
[0128] 作為顯影劑量檢測(cè)部，天線構(gòu)件224(第二電極）、天線構(gòu)件225(第一電極、第三電 極)和天線構(gòu)件226(第四電極)被沿著調(diào)色劑腔227和228的容器壁面有間隔地布置。具體而 言，天線構(gòu)件225被布置為橫跨調(diào)色劑腔227和228之間的容器壁面。因此，天線構(gòu)件225的布 置在調(diào)色劑腔227中的一部分變?yōu)橛糜跈z測(cè)調(diào)色劑腔227中的調(diào)色劑量的電極構(gòu)件(第一電 極），并且天線構(gòu)件225的布置在調(diào)色劑腔228中的一部分變?yōu)橛糜跈z測(cè)調(diào)色劑腔228中的調(diào) 色劑量的電極構(gòu)件(第三電極）。由于天線構(gòu)件225的這種配置，電極構(gòu)件的數(shù)目可以被減 少。天線構(gòu)件224和225以及之間的間隙在攪拌部位于攪拌軸(旋轉(zhuǎn)軸)下方時(shí)在作為調(diào)色劑 攪拌器222的移動(dòng)方向的調(diào)色劑攪拌器222的旋轉(zhuǎn)方向上按照天線構(gòu)件225、間隙和天線構(gòu) 件224的次序來布置。調(diào)色劑攪拌器222的攪拌部被配置為使得其尖端側(cè)對(duì)著調(diào)色劑腔227 的至少底面(第一底面)滑動(dòng)并且還與設(shè)置在底面上的天線構(gòu)件224和225滑動(dòng)接觸。此外， 天線構(gòu)件226和225以及之間的間隙在攪拌部位于攪拌軸(旋轉(zhuǎn)軸)下方時(shí)在作為調(diào)色劑攪 拌器223的移動(dòng)方向的調(diào)色劑攪拌器223的旋轉(zhuǎn)方向上按照天線構(gòu)件226、間隙和天線構(gòu)件 225的次序來布置。調(diào)色劑攪拌器223的攪拌部被配置為使得其尖端側(cè)對(duì)著調(diào)色劑腔228的 至少底面(第二底面)滑動(dòng)并且還與設(shè)置在底面上的天線構(gòu)件225和226滑動(dòng)接觸。天線構(gòu)件 224、225和226具有導(dǎo)電屬性并且當(dāng)盒被安裝到裝置主體時(shí)，天線構(gòu)件變得與裝置主體電導(dǎo) 通并被用來檢測(cè)顯影劑量。向天線構(gòu)件224提供電氣連續(xù)性的觸點(diǎn)2104、向天線構(gòu)件225提 供電氣連續(xù)性的觸點(diǎn)2105和向天線構(gòu)件226提供電氣連續(xù)性的觸點(diǎn)2106被設(shè)在裝置主體 2100上。在盒B2被安裝到裝置主體2100的狀態(tài)下，電壓通過觸點(diǎn)2105而被從裝置主體2100 輸入到天線構(gòu)件225。天線構(gòu)件224將與天線構(gòu)件224和天線構(gòu)件225之間的電容相對(duì)應(yīng)的電 壓通過觸點(diǎn)2104輸出到裝置主體2100。電容(第一電容）與天線構(gòu)件224和天線構(gòu)件225(的 調(diào)色劑腔227側(cè)部分)之間的顯影劑的量相關(guān)聯(lián)。以類似方式，天線構(gòu)件226將與天線構(gòu)件 226和天線構(gòu)件225之間的電容相對(duì)應(yīng)的電壓通過觸點(diǎn)2106輸出到裝置主體2100。電容(第 二電容)與天線構(gòu)件226和天線構(gòu)件225(的調(diào)色劑腔228側(cè)部分)之間的顯影劑的量相關(guān)聯(lián)。
[0129] 如上所述，盒A2(圖12)和B2(圖13)的不同之處在于調(diào)劑色T的容納量、顯影裝置和 顯影劑容器的容量(可容納容量）、攪拌構(gòu)件的數(shù)目以及作為顯影劑量檢測(cè)部的天線構(gòu)件的 配置和數(shù)目。其他功能等在各配置之間是相同的。天線構(gòu)件214、215、224、225和226僅需要 具有導(dǎo)電屬性，并且在本實(shí)施例中被配置為使得導(dǎo)電片通過嵌件成型而被與容器框架體集 成在一起。然而，該配置不是限制性的并且其他導(dǎo)電構(gòu)件可以被代替使用。例如，樹脂被給 予導(dǎo)電屬性的導(dǎo)電片可以被使用。在這種情況下，因?yàn)槠男螤钤诔尚偷绕陂g可以被容易 地改變，因此各種形狀可以被適應(yīng)。此外，在本實(shí)施例中，天線構(gòu)件214、215、224、225和226 被配置為在底面上暴露并且與相應(yīng)攪拌構(gòu)件是接觸位置關(guān)系。然而，該配置不是限制性的， 并且可替代地，可以采用將天線構(gòu)件嵌入在構(gòu)成底面的框架體內(nèi)部的配置。此外，可以采用 將天線構(gòu)件從外部粘到構(gòu)成容納腔的框架體的配置。
[0130] 如上所述，根據(jù)本實(shí)施例的圖像形成裝置的裝置主體2100被配置為使得具有不同 數(shù)目的天線構(gòu)件（電極)的多個(gè)類型的盒A2(圖12)和B2(圖13)可以被與裝置主體2100附接/ 從裝置主體2100分開。另外，按照與盒A2和B2中分別包括的電極的數(shù)目之間的最大數(shù)目相 同的數(shù)目來提供用于在盒A2和B2被安裝到裝置主體2100時(shí)使天線構(gòu)件和裝置主體2100相 互電連接的觸點(diǎn)（端子）。利用根據(jù)本實(shí)施例的配置，無論具有不同顯影劑容納量的多個(gè)盒 的類型如何，都可以以高精度執(zhí)行對(duì)剩余調(diào)劑色量的檢測(cè)。另外，可以按照與盒A2和B2中分 別包括的電極的數(shù)目之間的最大數(shù)目相同的數(shù)目或者比該最大數(shù)目更大的數(shù)目來提供觸 點(diǎn)(端子）。
[0131] 本發(fā)明所可以被應(yīng)用于的配置不限于根據(jù)本實(shí)施例的配置，并且本發(fā)明可以被應(yīng) 用于如下多個(gè)配置，其中顯影劑量檢測(cè)部的數(shù)目或形狀、電壓輸入的數(shù)目、電壓輸出的數(shù)目 等或其組合是不同的。例如，本發(fā)明甚至可以被應(yīng)用于其中顯影套筒204充當(dāng)用于檢測(cè)容納 腔中的顯影劑量的電極的配置。
[0132] 〈盒識(shí)別構(gòu)件〉
[0133] 如上所述，當(dāng)將盒A2(圖12)和B2(圖13)安裝到裝置主體2100時(shí)，創(chuàng)建其中盒A2和 B2與裝置主體2100機(jī)械地且電子地耦接的預(yù)定安裝狀態(tài)。相應(yīng)地，盒側(cè)被驅(qū)動(dòng)構(gòu)件進(jìn)入其 中盒側(cè)被驅(qū)動(dòng)構(gòu)件可以被裝置主體側(cè)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)的狀態(tài)。此外，偏壓可以被從裝置主體 的電源施加于盒的必要構(gòu)件。另外，盒的傳感器和存儲(chǔ)介質(zhì)變得與裝置主體的控制構(gòu)件電 氣連續(xù)。
[0134] 設(shè)在圖像形成裝置的裝置主體2100上的控制構(gòu)件(控制器）由微計(jì)算機(jī)(控制裝置 255)構(gòu)成，該微計(jì)算機(jī)包括諸如ROM或RAM之類的存儲(chǔ)器(存儲(chǔ)構(gòu)件)和CPU、各種輸入/輸出 控制電路等。
[0135] 在這種情況下，標(biāo)識(shí)盒類型的信息被分別存儲(chǔ)在作為設(shè)在盒A2和B2中的微芯片等 的存儲(chǔ)介質(zhì)219和229中。裝置主體2100的控制構(gòu)件提供與存儲(chǔ)介質(zhì)219或存儲(chǔ)介質(zhì)229的電 氣連續(xù)性，獲取與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)介質(zhì)219或存儲(chǔ)介質(zhì)229中的顯影劑容納量有關(guān)的信息，并且 在盒A2和盒B2之間進(jìn)行辨別(辨別部）。辨別結(jié)果被存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中并且在根據(jù)盒的類型計(jì) 算剩余顯影劑量時(shí)在顯影劑量檢測(cè)系統(tǒng)250中被使用。
[0136] 如上所述，在本實(shí)施例中，基于與存儲(chǔ)在附接到盒的存儲(chǔ)介質(zhì)中的顯影劑容納量 有關(guān)的信息來辨別盒的類型。然而，其他配置可以被采用，只要可以在裝置主體處辨別盒的 類型即可。示例包括基于容器形狀的差異的辨別方法、基于顯影劑量檢測(cè)部的配置差異或 數(shù)目差異的辨別方法(例如，基于電容的差異或者電氣連續(xù)性是否被提供的辨別方法)等或 者這些方法的組合中的任一個(gè)。
[0137] 〈顯影劑量檢測(cè)系統(tǒng)〉
[0138] 裝置主體2100使用盒識(shí)別構(gòu)件來判定安裝的盒的類型，并且因此改變輸出值的數(shù) 目、閾值以及顯影劑量檢測(cè)部的計(jì)算方法。
[0139] 圖14是在盒A2(圖12)被安裝到裝置主體2100的情況下顯影劑量檢測(cè)系統(tǒng)250的電 路配置圖。當(dāng)預(yù)定AC偏壓被從設(shè)在裝置主體2100上的作為偏壓施加裝置(施加部)的AC電源 251輸出時(shí)，AC偏壓被施加于基準(zhǔn)電容器252并且通過觸點(diǎn)2105而被施加于盒A2的天線構(gòu)件 215。相應(yīng)地，在基準(zhǔn)電容器252上生成電壓V20,同時(shí)伴隨與天線構(gòu)件214和215之間的電容 相對(duì)應(yīng)的電流而在天線構(gòu)件214上生成電壓V23并將其通過觸點(diǎn)2104輸出到檢測(cè)電路253 (檢測(cè)部）。檢測(cè)電路253根據(jù)V20與V23之間的電壓差異生成電壓V24并且將電壓V24輸出到 AD變換部254 變換部254將對(duì)模擬電壓V24的計(jì)算和數(shù)字變換的結(jié)果V24A輸出到控制裝 置255?？刂蒲b置255使用該結(jié)果和由盒識(shí)別構(gòu)件判定的盒類型的結(jié)果來判定顯影劑量的水 平(獲取部）。設(shè)在裝置主體2100上的諸如顯示面板之類的顯示裝置（告知裝置)256向用戶 通知由控制裝置255判定的顯影劑量水平。
[0140]圖15是在盒B2(圖13)被安裝到裝置主體2100的情況下顯影劑量檢測(cè)系統(tǒng)250的電 路配置圖。當(dāng)預(yù)定AC偏壓被從設(shè)在裝置主體2100上的AC電源251輸出時(shí)，AC偏壓被分別施加 于基準(zhǔn)電容器252并且通過觸點(diǎn)2105而被施加于盒B2的天線構(gòu)件225。相應(yīng)地，在基準(zhǔn)電容 器252上生成電壓V20,同時(shí)伴隨與天線構(gòu)件224、226和天線構(gòu)件225之間的電容相對(duì)應(yīng)的電 流而在天線構(gòu)件224和226上分別生成電壓V21和電壓V22J21和V22通過觸點(diǎn)2104和1206而 被在裝置主體2100側(cè)組合，并且作為組合電壓V23而被輸出到檢測(cè)電路253。檢測(cè)電路253根 據(jù)V20與V23之間的電壓差異生成電壓V24并且將電壓V24輸出到AD變換部254 變換部254 將對(duì)模擬電壓V24的計(jì)算和數(shù)字變換的結(jié)果V24B輸出到控制裝置255?？刂蒲b置255使用該 結(jié)果和由盒識(shí)別構(gòu)件判定的盒類型的結(jié)果來判定顯影劑量的水平。顯示裝置256向用戶通 知由控制裝置255判定的顯影劑量水平。
[0141] 〈顯影劑量檢測(cè)方法〉
[0142] 在本實(shí)施例中，盒A2和盒B2可以被安裝到裝置主體2100。盒識(shí)別構(gòu)件被分別附于 盒A2和B2,并且當(dāng)盒A2或者盒B2被安裝時(shí)，裝置主體2100提供與盒識(shí)別構(gòu)件的電氣連續(xù)性 以在盒A2和B2之間進(jìn)行辨別。此外，盒A2和盒B2彼此不同之處在于顯影劑量檢測(cè)部的配置， 并且當(dāng)被安裝到裝置主體2100時(shí)，盒A2和B2具有作為如在圖14和15中示出的顯影劑量檢測(cè) 系統(tǒng)的不同電路配置并且利用相應(yīng)的電路配置來執(zhí)行顯影劑量檢測(cè)操作。
[0143] 圖10是在盒A2(圖12)或盒B2(圖13)被安裝到裝置主體2100之后的顯影劑量檢測(cè) 操作的流程圖。將參考圖10中的流程圖來詳細(xì)描述顯影劑量檢測(cè)方法。
[0144] S701:將盒安裝到裝置主體。
[0145] S702:使用盒識(shí)別構(gòu)件來判定盒的類型，然后在盒被判定為是盒A2時(shí)前進(jìn)到S703 并且在盒被判定為是盒B2時(shí)前進(jìn)到S708。
[0146] (當(dāng)判定為是盒A2(第一盒)時(shí)）
[0147] S703:通過檢測(cè)電路253來測(cè)量檢測(cè)電壓V24。
[0148] S704:使用A/D變換構(gòu)件254來計(jì)算V24并對(duì)其進(jìn)行數(shù)字變換以生成V24A。此時(shí)，通 過A/D變換構(gòu)件254計(jì)算V24的方法在盒A2與B2之間不同。
[0149] S705:將V24A的值與預(yù)先存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的剩余顯影劑量表TA(包括檢測(cè)到的電 壓值與顯影劑量之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系的表格)相對(duì)照，并且將V24A的值變換為剩余顯影劑量Y2 [%]。在這種情況下，剩余顯影劑量表TA指的是用于盒A2的表格，該表格向V24A提供閾值并 且使剩余顯影劑量Y2[ % ]和V24A相互關(guān)聯(lián)以使得Y2[ % ]被按照1 %的增量變換。該閾值在 盒Α2與盒Β2之間不同。
[0150] S706:在顯示裝置256上顯示Υ2[%]。
[0151] S707:檢查剩余顯影劑量Υ2[ % ]是否已經(jīng)達(dá)到0%。在"否"的判定被做出時(shí)前進(jìn)到 S703并且在"是"的判定被做出時(shí)前進(jìn)到S713。
[0152] (當(dāng)判定為是盒B2(第二盒)時(shí)）
[0153] S708:通過檢測(cè)電路253來測(cè)量檢測(cè)電壓V24。
[0154] S709:使用A/D變換構(gòu)件254來計(jì)算V24并對(duì)其進(jìn)行數(shù)字變換以生成V24B。此時(shí)，通 過A/D變換構(gòu)件254計(jì)算V24的方法在盒A2與B2之間不同。
[0155] S710:將V24B的值與預(yù)先存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的剩余顯影劑量表TB相對(duì)照，并且將 V24B的值變換為剩余顯影劑量Y2[%]。在這種情況下，剩余顯影劑量表TB指的是用于盒B2 的表格，該表格向V24B提供閾值并且使剩余顯影劑量Y2[ % ]和V24B相互關(guān)聯(lián)以使得Y2[ % ] 被按照1 %的增量變換。該閾值在盒Α2與盒Β2之間不同。
[0156] S711:在顯示裝置256上顯示Υ2[%]。
[0157] S712:檢查剩余顯影劑量Υ2[ % ]是否已經(jīng)達(dá)到0%。在"否"的判定被做出時(shí)前進(jìn)到 S708并且在"是"的判定被做出時(shí)前進(jìn)到S713。
[0158] S713:結(jié)束顯影劑量檢測(cè)。
[0159] 如上所述，雖然顯影劑量檢測(cè)操作中的計(jì)算方法和閾值兩者在本實(shí)施例中根據(jù)盒 的類型而被改變，但是本發(fā)明不限于此并且改變計(jì)算方法或者閾值或者其組合的其他配置 可以被米用。
[0160] (第四實(shí)施例）
[0161] 在第三實(shí)施例中，在顯影劑量檢測(cè)系統(tǒng)中，通過將使盒Β2中的在天線構(gòu)件224處生 成的電壓V21和在天線構(gòu)件226處生成的電壓V22組合的電壓V23輸入到檢測(cè)電路253來執(zhí)行 顯影劑量檢測(cè)。
[0162] 本發(fā)明的第四實(shí)施例被配置為在不使在天線構(gòu)件224和226處分別生成的電壓V21 和V22組合的情況下執(zhí)行顯影劑量檢測(cè)。具體而言，根據(jù)剩余顯影劑量，將被輸入到檢測(cè)電 路253的電壓V21和V22中的任一個(gè)被選擇并被用來檢測(cè)剩余顯影劑量。
[0163] 在下文中，與第三實(shí)施例重疊的部分的描述將被省略并且第四實(shí)施例的特征部分 將被主要描述。將會(huì)明白，未在這里描述的事項(xiàng)類似于在第三實(shí)施例中描述的那些。
[0164] 〈根據(jù)本實(shí)施例的配置(a)的顯影劑量檢測(cè)系統(tǒng)〉
[0165] 圖16是在盒B2(圖13)被安裝到裝置主體2100的情況下顯影劑量檢測(cè)系統(tǒng)250的電 路配置圖。當(dāng)預(yù)定AC偏壓被從設(shè)在裝置主體2100上的AC電源251輸出時(shí)，AC偏壓被分別施加 于基準(zhǔn)電容器252并且通過觸點(diǎn)2105而被施加于盒B2的天線構(gòu)件225。相應(yīng)地，在基準(zhǔn)電容 器252上生成電壓V20,同時(shí)伴隨與天線構(gòu)件224、226和天線構(gòu)件225之間的電容相對(duì)應(yīng)的電 流而在天線構(gòu)件224和226上分別生成電壓V21和電壓￥22。￥21(第一電壓值)和V22(第二電 壓值)被單獨(dú)輸出到檢測(cè)電路253，V21是通過觸點(diǎn)2104輸出的并且V22是通過觸點(diǎn)2106輸出 的。檢測(cè)電路253生成作為V21與V20之間的電勢(shì)差的電壓V25和作為V22與V20之間的電勢(shì)差 的電壓V26,并且將V25和V26輸出到A/D變換構(gòu)件254<^/0變換構(gòu)件254將對(duì)模擬電壓￥25和 V26的數(shù)字變換的相應(yīng)結(jié)果V25B和V26B輸出到控制裝置255。控制裝置255根據(jù)剩余顯影劑 量來選擇V25B或V26B，并且使用由盒識(shí)別構(gòu)件判定的盒類型的結(jié)果來判定顯影劑量水平。 顯示裝置256向用戶通知由控制裝置255判定的顯影劑量水平。
[0166] 〈顯影劑量檢測(cè)方法〉
[0167] 圖17是在盒A2(圖12)或盒B2(圖13)被安裝到裝置主體2100之后的顯影劑量檢測(cè) 操作的流程圖。將參考圖17中的流程圖來詳細(xì)描述顯影劑量檢測(cè)方法。
[0168] S1301:將盒安裝到裝置主體。
[0169] S1302:使用盒識(shí)別構(gòu)件來判定盒的類型，然后在盒被判定為是盒A2時(shí)前進(jìn)到 S1303并且在盒被判定為是盒B2時(shí)前進(jìn)到S1308。
[0170](當(dāng)判定為是盒A2時(shí)）
[0171] S1303:通過檢測(cè)電路253來測(cè)量檢測(cè)電壓V25。
[0172] S1304:使用A/D變換構(gòu)件254來計(jì)算V25并對(duì)其進(jìn)行數(shù)字變換以生成V25A。此時(shí)，通 過A/D變換構(gòu)件254計(jì)算V25的方法在盒A2與B2之間不同。
[0173] S1305:將V25A的值與預(yù)先存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的剩余顯影劑量表TAl相對(duì)照，并且將 V25A的值變換為剩余顯影劑量Y2[ % ]。在這種情況下，剩余顯影劑量表TAl指的是用于盒A2 的表格，該表格向V25A提供閾值并且使剩余顯影劑量Υ2[ % ]和V25A相互關(guān)聯(lián)以使得Υ2[ % ] 被按照1 %的增量變換。該閾值在盒Α2與盒Β2之間不同。
[0174] S1306:在顯示裝置256上顯示Υ2[%]。
[0175] S1307:檢查剩余顯影劑量Υ2[%]是否已經(jīng)達(dá)到0%。在"否"的判定被做出時(shí)前進(jìn) 到S1303并且在"是"的判定被做出時(shí)前進(jìn)到S1318。
[0176](當(dāng)判定為是盒Β2時(shí)）
[0177] S1308:通過檢測(cè)電路253來測(cè)量檢測(cè)電壓V26。
[0178] Sl 309:使用A/D變換構(gòu)件254來計(jì)算V26并對(duì)其進(jìn)行數(shù)字變換以生成V26B。
[0179] S1310:將V26B的值與預(yù)先存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的剩余顯影劑量表TBl (第二表格)相對(duì) 照，并且將V26B的值變換為剩余顯影劑量Υ2[ % ]。在這種情況下，剩余顯影劑量表TBl指的 是用于盒Β2的表格（用于調(diào)色劑腔228中的剩余顯影劑量的檢測(cè)），該表格向V26B提供閾值 并且使剩余顯影劑量Υ2[ % ]和V26B相互關(guān)聯(lián)以使得Υ2[ % ]被按照1 %的增量變換。該閾值 在盒Α2與盒Β2之間不同。
[0180] S1311:在顯示裝置256上顯示Υ2[%]。
[0181] S1312:檢查剩余顯影劑量Υ2[%]是否已經(jīng)達(dá)到與200g相對(duì)應(yīng)的值(顯影劑的量是 否已經(jīng)等于預(yù)定閾值或者下降到預(yù)定閾值以下）。在"否"的判定被做出時(shí)前進(jìn)到S1308并且 在"是"的判定被做出時(shí)前進(jìn)到S1313。
[0182] S1313:通過檢測(cè)電路253來測(cè)量檢測(cè)電壓V25。
[0183] S1314:使用A/D變換構(gòu)件254來計(jì)算V25并對(duì)其進(jìn)行數(shù)字變換以生成V25B。此時(shí)，通 過A/D變換構(gòu)件254計(jì)算V25的方法在盒A2與B2之間不同。
[0184] S1315:將V25B的值與預(yù)先存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的剩余顯影劑量表TB2(第一表格)相對(duì) 照，并且將V25B的值變換為剩余顯影劑量Y2[ % ]。在這種情況下，剩余顯影劑量表TB2指的 是用于盒Β2的表格（用于調(diào)色劑腔227中的剩余顯影劑量的檢測(cè)），該表格向V25B提供閾值 并且使剩余顯影劑量Υ2[ % ]和V25B相互關(guān)聯(lián)以使得Υ2[ % ]被按照1 %的增量變換。另外，相 同閾值可以被用于盒Α2和盒Β2并且剩余顯影劑量表TAl可以被用作剩余顯影劑量表ΤΒ2。
[0185] S1316:在顯示裝置256上顯示Υ2[%]。
[0186] SI317 :檢查剩余顯影劑量Υ2[ % ]是否已經(jīng)達(dá)到0%。在"否"的判定被做出時(shí)前進(jìn) 到S1313并且在"是"的判定被做出時(shí)前進(jìn)到S1318。
[0187] S1318:結(jié)束顯影劑量檢測(cè)。
[0188] 如上所述，雖然顯影劑量檢測(cè)操作中的計(jì)算方法和閾值兩者在本實(shí)施例中根據(jù)盒 的類型而被改變，但是本發(fā)明不限于此并且改變計(jì)算方法或者閾值或者其組合的其他配置 可以被采用。
[0189] 圖18是根據(jù)第四實(shí)施例的表示顯影劑量與盒B2(圖13)中的顯影劑量檢測(cè)部的電 容之間的關(guān)系的示圖。然而，圖中的電容的絕對(duì)值由于測(cè)量環(huán)境等而出現(xiàn)誤差。在這種情況 下，測(cè)量環(huán)境等可以是固定的并且絕對(duì)值可以被用于剩余量檢測(cè)。在圖18中，一□一示出了 剩余顯影劑量與天線構(gòu)件226(第四電極)的電容(天線構(gòu)件226(第四電極)與天線構(gòu)件225 在調(diào)色劑腔228-側(cè)的一部分(第三電極)之間的電容)之間的關(guān)系。此外，在圖18中，一?一 示出了剩余顯影劑量與天線構(gòu)件224(第二電極)的電容(天線構(gòu)件224(第二電極)與天線構(gòu) 件225在調(diào)色劑腔227-側(cè)的一部分(第一電極)之間的電容)之間的關(guān)系。當(dāng)剩余顯影劑量 的范圍從200到400g時(shí)，天線構(gòu)件226的電容的變化可以被確認(rèn)，并且當(dāng)剩余顯影劑量的范 圍從0到200g時(shí)，天線構(gòu)件224的電容的變化可以被確認(rèn)。因此，通過改變?cè)谑Ｓ囡@影劑量是 200g時(shí)使用的電容的變化，可以在0到400g的整個(gè)范圍內(nèi)檢測(cè)顯影劑量。
[0190] (第五實(shí)施例）
[0191 ]現(xiàn)在將描述根據(jù)本發(fā)明的第五實(shí)施例。
[0192] 將參考圖19來描述根據(jù)第五實(shí)施例的顯影劑量檢測(cè)裝置。圖19是根據(jù)第五實(shí)施例 的顯影裝置的示意圖。在圖19中示出的用于檢測(cè)顯影劑容器中的顯影劑量的電路的示圖類 似于圖4中的示圖并且因而將被省略。顯影劑容器中容納的顯影劑的量與檢測(cè)到的組合電 容之間的關(guān)系類似于圖7中的關(guān)系并且因而將被省略。在這種情況下，組合電容指的是使天 線構(gòu)件371 (第一電極)與天線構(gòu)件372(第二電極)之間的電容（電極間電容)和顯影輥302與 天線構(gòu)件371之間的電容組合的電容。第五實(shí)施例使用將電容的變化用作用于檢測(cè)顯影劑 容器311A中容納的顯影劑的量的手段的顯影劑量檢測(cè)裝置。另外，天線構(gòu)件371和天線構(gòu)件 372構(gòu)成用于檢測(cè)顯影劑量的檢測(cè)部。
[0193] 如在圖19中示出，天線構(gòu)件371被設(shè)在顯影劑容器311A中的底面311B上并且天線 構(gòu)件372按照距離天線構(gòu)件371的間隔D而被設(shè)在底面311B上。此外，天線構(gòu)件371和天線構(gòu) 件372被布置為沿著顯影劑容器311A中的底面311B彼此相對(duì)。另外，盡管天線構(gòu)件371和天 線構(gòu)件372在第五實(shí)施例中形成導(dǎo)電片，但是天線構(gòu)件371和天線構(gòu)件372的配置不受限制， 只要具有導(dǎo)電屬性的材料被使用即可。在這種情況下，底面311B指的是作為顯影劑容器 311A中形成容納腔311S的壁面上的在垂直方向上彼此相對(duì)的區(qū)域當(dāng)中的下壁面區(qū)域(與容 納腔311S的頂面311C相對(duì)的區(qū)域)并且上面載有調(diào)色劑（即使是臨時(shí)的）的部分。
[0194] 在這種情況下，使用天線構(gòu)件371 (天線構(gòu)件372)的面積S、天線構(gòu)件371與天線構(gòu) 件372之間的距離d3和具體介電常數(shù)Κε，天線構(gòu)件371與天線構(gòu)件372之間的電容C3可以被 表示如下。
[0195] C3=KeXS/d3. . .(2)
[0196] 表達(dá)式(2)中的具體介電常數(shù)Κε根據(jù)天線構(gòu)件371與天線構(gòu)件372之間的顯影劑量 而改變。當(dāng)天線構(gòu)件371與天線構(gòu)件372之間的顯影劑量大時(shí)，具體介電常數(shù)Κε增大并且電 容C3也增大。此外，當(dāng)天線構(gòu)件371與天線構(gòu)件372之間的顯影劑量小時(shí)，具體介電常數(shù)Κε減 小并且電容C3也減小。使用該關(guān)系，可以基于使天線構(gòu)件371與天線構(gòu)件372之間的電容和 顯影輥302與天線構(gòu)件371之間的電容組合的組合電容的變化來檢測(cè)顯影劑容器311Α中的 顯影劑量。
[0197] 接下來，將參考圖19來描述用于延長(zhǎng)如下時(shí)間段的配置，在該時(shí)間段期間顯影劑 位于天線構(gòu)件371與天線構(gòu)件372之間。在本實(shí)施例中，顯影劑容器311A包括容納腔311S、天 線構(gòu)件371、天線構(gòu)件372、攪拌構(gòu)件160和接觸部313。如早先描述的，顯影輥302承載顯影劑 并且將顯影劑提供給感光鼓120。用于使靜電潛像顯影的顯影劑被容納在容納腔311S中。此 外，通過圍繞攪拌軸160a旋轉(zhuǎn)，攪拌構(gòu)件160攪拌容納腔31IS中容納的顯影劑并且將顯影劑 提供給顯影輥302。
[0198] 在這種情況下，容納腔311S中的顯影劑容器311A的頂面311C的一部分構(gòu)成能夠與 攪拌構(gòu)件160的攪拌部160b接觸的接觸部313,接觸部313能夠與攪拌構(gòu)件160的攪拌部160b 接觸。當(dāng)攪拌構(gòu)件160旋轉(zhuǎn)時(shí)，攪拌部160b與接觸部313接觸并且接觸部313推掉(push off) 攪拌部160b上的顯影劑以使得顯影劑以比因?yàn)槠渥陨碇亓繌臄嚢璨?60b掉落時(shí)更快的速 率掉到底面311B。換言之，接觸部313與攪拌構(gòu)件160接觸以逐漸使攪拌構(gòu)件160上可以裝載 顯影劑的空間變窄。如在圖26A至26C中示出，攪拌構(gòu)件160上可以裝載顯影劑的空間隨著攪 拌構(gòu)件160的旋轉(zhuǎn)而逐漸變窄（圖26A-圖26B-圖26C)。攪拌構(gòu)件160上裝載的顯影劑的量 與接觸部313未被提供的情況相比快速地減少。此外，接觸部313在攪拌構(gòu)件160的攪拌軸 160a上方的位置處與攪拌構(gòu)件160上的顯影劑接觸。
[0199] 如早先描述的，天線構(gòu)件371和天線構(gòu)件372被設(shè)在底面31IB上。在第五實(shí)施例中， 底面311B構(gòu)成凹陷部并且設(shè)在天線構(gòu)件371與天線構(gòu)件372之間的間隔D位于凹陷部的最低 部分或者位于其附近。相應(yīng)地，已經(jīng)從攪拌部160b掉落的顯影劑在設(shè)在天線構(gòu)件371與天線 構(gòu)件372之間的間隔D中聚集。另外，雖然顯影劑容器311A的頂面311C的一部分構(gòu)成本實(shí)施 例中的接觸部313，但是接觸部313可以作為與頂面31IC分開的構(gòu)件來提供。然而，接觸部 313不限于頂面并且可以具有朝底部突出的凸部的形狀。接觸部被提供以使得顯影劑高效 地掉到底部中的間隙。接觸部的長(zhǎng)度與間隔D之間的關(guān)系被有利地表不為"2 X間隔EK接觸 部< 4 X間隔D"并且被更有利地表示為"2 X間隔D <接觸部< 3 X間隔D"。
[0200] 接下來，攪拌構(gòu)件160、底面311B和接觸部313之間的位置關(guān)系將被描述。在圖19 中，長(zhǎng)度A表示從攪拌構(gòu)件160的旋轉(zhuǎn)軸到攪拌部160b的尖端160bA的長(zhǎng)度，并且距離B表示 攪拌構(gòu)件160的旋轉(zhuǎn)軸到容納腔31IS的底面31IB之間的垂直方向上的距離。此外，距離C表 示從攪拌構(gòu)件160的旋轉(zhuǎn)軸到接觸部313的最短距離。在本實(shí)施例中，長(zhǎng)度A被設(shè)置為等于或 者長(zhǎng)于距離B以使得底面311B上裝載的顯影劑被攪拌部160b輸送到顯影輥302。此外，長(zhǎng)度A 被設(shè)置為長(zhǎng)于距離C以使得旋轉(zhuǎn)攪拌構(gòu)件160的攪拌部160b鄰接接觸部313。為了使得攪拌 構(gòu)件160能夠經(jīng)由顯影劑與接觸部313接觸并且高效地使顯影劑掉到底部，距離A和距離C被 有利地按照表示為"1/3距離A <距離C < 2/3距離A"的關(guān)系來布置。
[0201] 在本實(shí)施例中，攪拌構(gòu)件160的攪拌部160b與接觸部313之間的接觸開始之處的位 置在垂直方向上位于天線構(gòu)件371和天線構(gòu)件372上方。此外，如在圖19中示出，該位置在垂 直方向上位于天線構(gòu)件371正上方。另外，攪拌部160b與接觸部313之間的接觸結(jié)束之處的 位置也在垂直方向上位于天線構(gòu)件371和天線構(gòu)件372上方。此外，如在圖19中示出，該位置 在垂直方向上位于天線構(gòu)件372正上方。以這種方式，通過將攪拌構(gòu)件160、底面311B和接觸 部313之間的位置關(guān)系設(shè)置為上述關(guān)系，可以使得攪拌部160b上的顯影劑以比當(dāng)由于其自 身重量掉落時(shí)更快的速率降到底面311B。
[0202] 接下來，攪拌構(gòu)件160的旋轉(zhuǎn)移動(dòng)與檢測(cè)到的顯影劑量之間的關(guān)系將被描述。因?yàn)?根據(jù)本實(shí)施例的顯影裝置類似于第一實(shí)施例中的顯影裝置，因此圖6將被用作根據(jù)本實(shí)施 例的顯影裝置的示意圖。此外，圖20是根據(jù)比較示例的顯影裝置的示意圖。在根據(jù)本實(shí)施例 的顯影裝置140中，如早先描述，長(zhǎng)度A等于或者長(zhǎng)于距離B并且長(zhǎng)于距離C。另一方面，在根 據(jù)比較示例的顯影裝置3111中，長(zhǎng)度A等于或者長(zhǎng)于距離B并且短于距離C。圖21是示出當(dāng)容 納腔中容納的顯影劑的量是40g時(shí)組合電容的變化的示圖。在圖21中，根據(jù)本實(shí)施例的組合 電容的變化由實(shí)線示出并且根據(jù)比較示例的組合電容由虛線示出。圖21中的t31至t35分別 表示組合電容已經(jīng)發(fā)生變化的定時(shí)。
[0203]將參考圖6、19、20和21來描述由攪拌構(gòu)件160的旋轉(zhuǎn)引起的組合電容的變化。在這 種情況下，容納腔311S內(nèi)部的40g的顯影劑可以被劃分為由于攪拌構(gòu)件160的旋轉(zhuǎn)而移動(dòng)的 顯影劑和由于攪拌構(gòu)件160的旋轉(zhuǎn)而不移動(dòng)的顯影劑。因?yàn)榻M合電容的變化現(xiàn)在將被描述， 因此注意力將被僅聚焦于在容納腔311S內(nèi)部移動(dòng)的顯影劑。
[0204]首先，在攪拌部160b通過圖6中的位置Tll的定時(shí)，大部分的顯影劑被聚集在天線 構(gòu)件371與天線構(gòu)件372之間的間隔D中。此外，在攪拌部3142通過圖20中的位置S31的定時(shí)， 大部分的顯影劑被聚集在天線構(gòu)件371與天線構(gòu)件372之間的間隔D中。組合電容的值在該 定時(shí)是最大的。在這種情況下，圖6中的位置T11和圖20中的位置S31對(duì)應(yīng)于圖21中的時(shí)刻 t31。如在圖21中示出，組合電容在時(shí)間t31處在實(shí)施例與比較示例之間沒有不同。
[0205] 在攪拌部160b通過圖6中的位置T12的定時(shí)，大部分的顯影劑從天線構(gòu)件371與天 線構(gòu)件372之間的間隔D中移開。因此，組合電容快速地下降。此外，在圖20中，以類似于圖6 的方式，在攪拌部3142通過圖20中的位置S32的定時(shí)，因?yàn)榇蟛糠值娘@影劑從間隔D中移開， 因此組合電容快速地下降。在這種情況下，圖6中的位置T12和圖20中的位置S32對(duì)應(yīng)于圖21 中的時(shí)間t32。如在圖21中示出，組合電容在時(shí)間t32處在實(shí)施例與比較示例之間也沒有不 同。
[0206]在攪拌部160b通過圖6中的位置T13的定時(shí)，大部分的顯影劑被攪拌部160b舉起。 此時(shí)，因?yàn)轱@影劑從天線構(gòu)件371與天線構(gòu)件372之間的間隔D中移開，因此組合電容變得最 小。類似地，在圖20中，因?yàn)樵跀嚢璨?142通過位置S33的定時(shí)大部分的顯影劑被攪拌部 3142舉起，因此顯影劑從間隔D中移開并且組合電容變得最小。在這種情況下，圖6中的位置 T13和圖20中的位置S33對(duì)應(yīng)于圖21中的時(shí)間t33。如在圖21中示出，組合電容在時(shí)間t33處 在實(shí)施例與比較示例之間也沒有不同。
[0207]在攪拌部160b通過圖6中的位置T14的定時(shí)，裝載在攪拌部160b上的一部分顯影劑 由于其自身重量而掉落到底面311B。因?yàn)榈袈涞娘@影劑聚集在天線構(gòu)件371與天線構(gòu)件372 之間的間隔D處，因此組合電容稍微增大。類似地，在圖20中，以類似于圖6的方式，在攪拌部 3142通過圖20中的位置S34的定時(shí)，裝載在攪拌部3142上的一部分顯影劑由于其自身重量 而掉落到底面311B并且組合電容稍微增大。在這種情況下，圖6中的位置T14和圖20中的位 置S34對(duì)應(yīng)于圖21中的時(shí)間t34。如在圖21中示出，組合電容在時(shí)間t34處在實(shí)施例與比較示 例之間也沒有不同。
[0208] 此時(shí)，在根據(jù)本實(shí)施例的顯影裝置140中，如在圖6中所示，攪拌部160b在通過位置 T14之后與接觸部313接觸。如早先描述的，接觸部313推掉攪拌構(gòu)件160上的顯影劑以使得 顯影劑比由于其自身重量而從攪拌構(gòu)件160掉落時(shí)更快的速率掉落。因此，如在圖21中示 出，在時(shí)刻t34(對(duì)應(yīng)于位置T14)左右，實(shí)施例中的組合電容變得比根據(jù)比較示例的組合電 容更大。
[0209] 另一方面，在根據(jù)比較示例的顯影裝置3111中，如在圖20中示出，攪拌部3142在通 過位置S34之后不鄰接接觸部。因此，在比較示例中，顯影劑掉落到底面311B的定時(shí)變得比 實(shí)施例中的更慢，并且如在圖21中示出，根據(jù)比較示例的組合電容在時(shí)間t34(對(duì)應(yīng)于位置 S34)左右變得比實(shí)施例中的組合電容更小。
[0210] 在攪拌部160b通過圖6中的位置T15的定時(shí)，因?yàn)檠b載在攪拌部160b上的所有顯影 劑已經(jīng)掉落到底面311B并且聚集在天線構(gòu)件371與天線構(gòu)件372之間的間隔D中，因此組合 電容稍微增大。在攪拌部3142通過圖20中的位置S35的定時(shí)，因?yàn)檠b載在攪拌部3142上的所 有顯影劑已經(jīng)掉落到底面311B并且聚集在間隔D中，因此組合電容稍微增大。在這種情況 下，圖6中的位置T15和圖20中的位置S35對(duì)應(yīng)于圖21中的時(shí)間t35。如在圖21中示出，組合電 容在時(shí)間t35處在實(shí)施例與比較示例之間也沒有不同。
[0211] 接下來，本實(shí)施例中的通過增大其間使顯影劑位于天線構(gòu)件371與天線構(gòu)件372之 間的間隔D中的時(shí)間段的顯影劑量的檢測(cè)精度的提高將被描述。圖22是表示組合電容的平 均值與顯影劑量之間的關(guān)系的示圖。在圖22中，根據(jù)本實(shí)施例的組合電容由實(shí)線示出并且 根據(jù)比較示例的組合電容由虛線示出。如在圖22中示出，實(shí)施例中的組合電容的平均值的 變化大于比較示例中的組合電容的平均值的變化。具體而言，當(dāng)容納腔311S(圖19)中的顯 影劑的量是40g左右時(shí)，組合電容的變化增大。如早先描述的，因?yàn)橄鄬?duì)于顯影劑的量的組 合電容的變化量越大，顯影劑的量可以被更精確地檢測(cè)，因此示出顯影劑量的檢測(cè)精度在 顯影劑的量是40g左右時(shí)提尚。
[0212]如上所述，在第五實(shí)施例中，接觸部推動(dòng)攪拌構(gòu)件上的顯影劑以使得顯影劑以比 當(dāng)由于其自身重量而從攪拌構(gòu)件掉落時(shí)更快的速率掉落。相應(yīng)地，攪拌構(gòu)件上的顯影劑以 比當(dāng)由于其自身重量而掉落時(shí)更快的速率掉落到容納腔的底面。此外，用于檢測(cè)顯影劑的 量的檢測(cè)部被設(shè)在容納腔的底面上，并且通過增大其中將顯影劑裝載在底面上的時(shí)間段， 即使當(dāng)顯影劑的量變小時(shí)也可以精確地檢測(cè)顯影劑量。
[0213] 此外，在第五實(shí)施例中，接觸部與攪拌構(gòu)件接觸以逐漸使攪拌構(gòu)件上可以裝載顯 影劑的空間變窄。相應(yīng)地，如早先描述，可以增大其中將顯影劑裝載在底面上的時(shí)間段并且 即使當(dāng)顯影劑的量變小時(shí)也可以精確地檢測(cè)顯影劑量。
[0214] 另外，在第五實(shí)施例中，接觸部在攪拌構(gòu)件的攪拌軸上方的位置處與攪拌構(gòu)件上 的顯影劑接觸。相應(yīng)地，攪拌構(gòu)件上的顯影劑從攪拌構(gòu)件的旋轉(zhuǎn)軸上方掉落并且容納腔中 的顯影劑被充分地?cái)嚢琛?br>[0215] 此外，在第五實(shí)施例中，當(dāng)從攪拌構(gòu)件的旋轉(zhuǎn)軸到攪拌構(gòu)件的尖端的長(zhǎng)度由A表 示，旋轉(zhuǎn)軸到容納腔的底面之間的垂直向下距離由B表示，并且旋轉(zhuǎn)軸到接觸部之間的最短 距離由C表示時(shí)，A 2 B和A>C得到滿足。相應(yīng)地，裝載在底面上的顯影劑可以被充分地?cái)嚢瑁?并且同時(shí)，即使當(dāng)顯影劑的量小時(shí)也可以精確地檢測(cè)顯影劑量。
[0216](第六實(shí)施例）
[0217]接下來，將參考圖23和圖24來描述本發(fā)明的第六實(shí)施例。圖23是根據(jù)第六實(shí)施例 的顯影裝置的示意圖。此外，圖24是根據(jù)第六實(shí)施例的顯影劑量檢測(cè)裝置的電路圖。第六實(shí) 施例中具有與第五實(shí)施例中的那些類似的功能的部分將由相同標(biāo)號(hào)表示并且其描述將被 省略。根據(jù)第六實(shí)施例的顯影劑容器3211A具有天線構(gòu)件373(第三電極）、天線構(gòu)件374(第 四電極）、天線構(gòu)件375(第五電極）、天線構(gòu)件376(第六電極）、第一容納腔3212S以及第二容 納腔3213S。此外，顯影劑容器3211A包括接觸部3214、第一攪拌構(gòu)件3410和第二攪拌構(gòu)件 3420。在這種情況下，根據(jù)第六實(shí)施例的顯影劑容器3211A以與根據(jù)第五實(shí)施例的顯影劑容 器311A類似的方式被附接到圖像形成裝置。另外，根據(jù)第六實(shí)施例的顯影劑容器3211A以與 根據(jù)第五實(shí)施例的顯影劑容器311A類似的方式被設(shè)在顯影裝置和處理盒中。在這種情況 下，天線構(gòu)件373至376構(gòu)成檢測(cè)部。
[0218] 顯影劑容器321IA內(nèi)部的容納腔包括第一容納腔3212S和第二容納腔3213S。此外， 第一攪拌構(gòu)件3410是通過將攪拌部3412附接到旋轉(zhuǎn)軸3411而構(gòu)成的并且圍繞旋轉(zhuǎn)軸3411 旋轉(zhuǎn)。第二攪拌構(gòu)件3420是通過將攪拌部3422附接到旋轉(zhuǎn)軸3421而構(gòu)成的。另外，天線構(gòu)件 373和天線構(gòu)件374被用來檢測(cè)顯影劑容器3211A中容納的顯影劑的量。天線構(gòu)件373被設(shè)在 顯影劑容器3211A在第一容納腔3212S中的底面3212B上，并且天線構(gòu)件374按照距離天線構(gòu) 件373的一定間隔而被設(shè)在底面3212B上。
[0219] 根據(jù)本實(shí)施例的顯影劑容器3211A中的底面被配置為具有兩個(gè)在垂直方向上向下 凹陷的凹陷部。顯影劑容器3211A中的空間被凸部劃分為顯影輥302近側(cè)的空間（第一容納 腔3212S)和顯影輥302遠(yuǎn)側(cè)的空間（第二容納腔3213S)，該凸部在底面上的兩個(gè)凹陷部之間 在垂直方向上向上突出。
[0220] 第一攪拌構(gòu)件3410被布置在顯影劑容器321IA中的第一容納腔3212S中并且攪拌 第一容納腔3212S內(nèi)部的調(diào)色劑以使得第一容納腔3212S內(nèi)部的調(diào)色劑被提供給顯影輥 302。此外，第二攪拌構(gòu)件3420被布置在顯影劑容器321IA中的第二容納腔3213S中并且攪拌 第二容納腔3213S中的調(diào)色劑以使得第二容納腔3213S中的調(diào)色劑移動(dòng)過凸部并且移動(dòng)到 第一容納腔3212S中。
[0221] 另外，天線構(gòu)件375和天線構(gòu)件376被用來檢測(cè)顯影劑容器321IA中容納的顯影劑 的量。天線構(gòu)件375被設(shè)在顯影劑容器3211A在第二容納腔3213S中的底面3213B上，并且天 線構(gòu)件376按照距離天線構(gòu)件375的一定間隔而被設(shè)在底面3213B上。另外，在第六實(shí)施例 中，當(dāng)顯影裝置3211未在使用中時(shí)，顯影裝置3211中容納的顯影劑的量被設(shè)置為400g。此 外，在第六實(shí)施例中，天線構(gòu)件373和天線構(gòu)件374被設(shè)在底面3212B上以彼此相對(duì)，并且天 線構(gòu)件375和天線構(gòu)件376被設(shè)在底面3213B上以彼此相對(duì)。
[0222] 接下來，將參考圖24來描述基于天線構(gòu)件373與天線構(gòu)件374之間的電容的變化和 天線構(gòu)件375與天線構(gòu)件376之間的電容的變化來獲得容納腔321IA中容納的顯影劑的量的 方法。在第六實(shí)施例中，AC偏壓被從顯影偏壓施加裝置344施加到基準(zhǔn)電容器354、顯影輥 302、天線構(gòu)件374和天線構(gòu)件375。相應(yīng)地，在基準(zhǔn)電容器354上生成電壓V31并且在天線構(gòu) 件373和天線構(gòu)件374上生成電壓V32。檢測(cè)電路355根據(jù)電壓V31與電壓V32之間的電壓差異 來生成電壓V33,并且將電壓V33輸出到A/D變換構(gòu)件356 j/D變換構(gòu)件356將對(duì)模擬電壓V33 的數(shù)字變換的結(jié)果輸出到控制裝置357,并且控制裝置357基于該結(jié)果來判定顯影劑量水 平。根據(jù)預(yù)先準(zhǔn)備的輸出值與顯影劑量之間的關(guān)系基于與電路中的組合電容相對(duì)應(yīng)的輸出 值的平均值來判定顯影劑量。
[0223]接下來，根據(jù)第六實(shí)施例的顯影裝置中的顯影劑量的檢測(cè)精度的提高的原因?qū)⒈?描述。在第六實(shí)施例中，顯影劑容器3211A中的顯影劑容器3211A的頂面3213C的一部分構(gòu)成 接觸部3214。以與第五實(shí)施例類似的方式，接觸部3214推掉攪拌構(gòu)件3420上的顯影劑以使 得顯影劑以比當(dāng)由于其自身重量而從攪拌構(gòu)件3420掉落時(shí)更快的速率掉落。
[0224] 在圖23中，長(zhǎng)度A12表示從攪拌構(gòu)件3420的旋轉(zhuǎn)軸到攪拌部3422的尖端3422A的長(zhǎng) 度，并且距離B12表示攪拌構(gòu)件3420的旋轉(zhuǎn)軸到容納腔3213S的底面3213B之間的垂直方向 上的距離。此外，距離C12表示從攪拌構(gòu)件3420的旋轉(zhuǎn)軸到接觸部3214的最短距離。在第六 實(shí)施例中，以與第五實(shí)施例類似的方式，長(zhǎng)度A12等于或者長(zhǎng)于距離B12并且長(zhǎng)度A12長(zhǎng)于距 離 C12〇
[0225] 此外，長(zhǎng)度All表示從攪拌構(gòu)件3410的旋轉(zhuǎn)軸到攪拌部3412的尖端3412A的長(zhǎng)度， 并且距離Bll表示攪拌構(gòu)件3410的旋轉(zhuǎn)軸到容納腔3212S的底面3212B之間的垂直方向上的 距離。此外，距離Cll表示從攪拌構(gòu)件3410的旋轉(zhuǎn)軸到頂面3213C的最短距離。在攪拌構(gòu)件 3410中，長(zhǎng)度Al 1等于或者長(zhǎng)于距離BI 1并且短于距離Cl 1。
[0226] 在第六實(shí)施例中，天線構(gòu)件373和天線構(gòu)件374的間隔短于天線構(gòu)件375和天線構(gòu) 件376的間隔。因此，天線構(gòu)件373與天線構(gòu)件374之間的電容的變化大于天線構(gòu)件375與天 線構(gòu)件376之間的電容的變化。在第六實(shí)施例中，為了抑制由于天線構(gòu)件375和天線構(gòu)件376 的間隔大引起的顯影劑量的檢測(cè)精度的下降，采用了旋轉(zhuǎn)的第二攪拌構(gòu)件3420鄰接作為頂 面3213C的一部分的接觸部3214的配置。另外，第六實(shí)施例采用這種配置以便當(dāng)顯影劑容器 321IA中的顯影劑量在100至200g左右時(shí)抑制顯影劑檢測(cè)精度的下降。
[0227] 圖25是根據(jù)第六實(shí)施例的示出組合電容與顯影劑容器3211A中的顯影劑量之間的 關(guān)系的示圖。在這種情況下，組合電容是使顯影輥302與天線構(gòu)件373之間的電容、天線構(gòu)件 373與天線構(gòu)件374之間的電容以及天線構(gòu)件375與天線構(gòu)件376之間的電容組合的電容。如 在圖25中示出，即使在第六實(shí)施例中，當(dāng)顯影劑容器3211A中的顯影劑量小時(shí)，組合電容的 平均輸出的變化量被增大并且顯影劑量的檢測(cè)精度被提高。
[0228] 如上所述，第六實(shí)施例能夠產(chǎn)生與第五實(shí)施例類似的效果。此外，在第六實(shí)施例 中，如早先描述可以提高當(dāng)顯影劑容器中的顯影劑量是100至200g左右時(shí)的顯影劑檢測(cè)精 度。
[0229]另外，雖然在各個(gè)實(shí)施例中基于電容的變化來檢測(cè)顯影劑容器中的顯影劑量，但 是檢測(cè)顯影劑量的方法不限于此。例如，可以通過用檢測(cè)光照射顯影劑容器的內(nèi)部來獲取 容納腔中的顯影劑量。在這種情況下，用將檢測(cè)光引導(dǎo)到容納腔中的第一導(dǎo)光構(gòu)件來替換 第一電極，并且用將被第一導(dǎo)光構(gòu)件引導(dǎo)到容納腔中的檢測(cè)光引導(dǎo)到容納腔外部的光接收 構(gòu)件的第二導(dǎo)光構(gòu)件來替換第二電極。此外，通過測(cè)量檢測(cè)光到達(dá)光接收構(gòu)件的時(shí)間來獲 取容納腔中容納的顯影劑的量。
[0230] 可替代地，可以通過測(cè)量當(dāng)攪拌構(gòu)件運(yùn)轉(zhuǎn)一圈(make one round)時(shí)電容輪廓的占 空(duty)來獲得顯影劑容器中的顯影劑量。在這種情況下，當(dāng)電容位于+信號(hào)側(cè)的時(shí)間段在 攪拌構(gòu)件運(yùn)轉(zhuǎn)一圈時(shí)是長(zhǎng)的時(shí)做出顯影劑容器中的調(diào)色劑量為大的判斷。因?yàn)榻M合電容超 過閾值的時(shí)間段根據(jù)顯影劑容器中的調(diào)色劑量而異，因此可以通過測(cè)量組合電容超過閾值 的時(shí)間段來獲得調(diào)色劑量。
[0231](第七實(shí)施例）
[0232]〈初始電容檢測(cè)方法〉
[0233]在至此描述的配置中，由于顯影劑的攪拌操作，間隙X(圖1)的區(qū)域中的顯影劑由 于攪拌而被與空氣良好混合的狀態(tài)以及空氣由于顯影劑的自身重量而已經(jīng)在顯影劑容器 中逃逸的狀態(tài)被交替地重復(fù)。此外，由于間隙Xl位于攪拌部160b下方，因此可以以更高精度 判定空氣被包括以及空氣由于顯影劑的自身重量而未被包括的狀態(tài)。然而，本配置易受以 下狀態(tài)(輕敲(tapping))影響：其中顯影劑中的空氣由于傳輸?shù)绕陂g的振動(dòng)而已經(jīng)大量逃 逸。鑒于此，在本實(shí)施例中，將對(duì)使用剩余量檢測(cè)的配置(其中位于攪拌軸下方的電極構(gòu)件 被提供)來控制對(duì)剩余量的檢測(cè)的方法給出描述，該方法還能夠降低由于運(yùn)輸?shù)绕陂g的振 動(dòng)的輕敲的影響。
[0234] 具體而言，當(dāng)由于分發(fā)所致的振動(dòng)與長(zhǎng)期放置重合從而使得顯影劑內(nèi)部的空氣在 用戶安裝之前大量逃逸時(shí)，輕敲在顯影劑容器、顯影裝置、處理盒或圖像形成裝置的運(yùn)輸期 間發(fā)生。
[0235] 當(dāng)用戶如在圖27B中示出在該狀態(tài)下執(zhí)行圖像形成時(shí)，初始剩余量檢測(cè)將在輕敲 狀態(tài)下開始。結(jié)果，利用包括在攪拌構(gòu)件下方的電極構(gòu)件的本配置，電容看起來具有相當(dāng)大 的值。
[0236] 結(jié)果，在耐久性測(cè)試的初始階段中在檢測(cè)區(qū)域中得到的最高電容值(受輕敲影響 的電容值)與在預(yù)定耐久性測(cè)試定時(shí)檢測(cè)到的電容之間的差異最終被檢測(cè)到。相應(yīng)地，當(dāng)基 于檢測(cè)到的值和剩余量％的閾值來計(jì)算顯影劑量時(shí)，異常大的電容值被檢測(cè)到。
[0237] 此外，因?yàn)楫?dāng)在耐久性測(cè)試的稍后階段中檢測(cè)剩余量時(shí)創(chuàng)建大于預(yù)期的差異，因 此做出通知：即剩余顯影劑量小于正常，換言之，剩余量正以較快的速率降低。
[0238] 鑒于此，在本實(shí)施例中，如在圖27A中示出，代替基于在輕敲初始狀態(tài)（圖像形成裝 置是嶄新的狀態(tài))下獲得的最高電容值來計(jì)算顯影劑量，攪拌被執(zhí)行一次以使得間隙Xl的 區(qū)域中的顯影劑在顯影劑容器內(nèi)部循環(huán)。結(jié)果，由于使空氣被與顯影劑良好混合的顯影劑 的攪拌，電容從異常大的值逐漸降低。然后，在T攪拌被停止的階段中，空氣由于顯影劑的自 身重量而逃逸并且大電容值被獲得。
[0239] 與經(jīng)歷輕敲的電容值不一樣，此時(shí)的電容值是在主體的安裝之后(緊接在圖像形 成裝置的使用的開始之后的狀態(tài))用戶的正常使用狀態(tài)下的電容的正常初始值當(dāng)中的最高 值。本實(shí)施例采用了這樣一種配置，其中該值被檢測(cè)作為用于計(jì)算剩余調(diào)色劑量的代表值。 換言之，除非T攪拌操作被執(zhí)行，否則分發(fā)期間的振動(dòng)的影響未得到解決。因此，通過監(jiān)視電 容的初始變化并且通過將作為代表值的已經(jīng)臨時(shí)降低并且隨后增大的電容值與預(yù)定定時(shí) 的電容值相比較來計(jì)算剩余調(diào)色劑量，可以對(duì)免受輕敲的調(diào)色劑檢測(cè)剩余調(diào)色劑量。
[0240] 另外，因?yàn)槿缟纤龅拿馐茌p敲的狀態(tài)在主體被安裝之后發(fā)生并且不再受分發(fā)影 響，因此當(dāng)檢測(cè)區(qū)域中的調(diào)色劑的量即使在耐久性測(cè)試期間也是最大的時(shí)，好像在正常使 用期間獲得的正常電容值可以被檢測(cè)到。
[0241] 鑒于此，作為根據(jù)本實(shí)施例的具體控制方法，從初始階段起在間隙Xl處開始對(duì)電 容的檢測(cè)，并且監(jiān)視隨著紙張通過進(jìn)行的電容值的下降。接下來，通過確定當(dāng)電容增大時(shí)的 電容值的代表值、檢測(cè)該代表值與在預(yù)定耐久性測(cè)試定時(shí)檢測(cè)到的電容之間的差異以及基 于檢測(cè)的值和剩余量％的閾值計(jì)算顯影劑量來更加精確地執(zhí)行剩余量檢測(cè)。
[0242] 現(xiàn)在將參考表格1來比較和描述第七實(shí)施例和作為傳統(tǒng)配置的比較示例2。比較示 例2是電極構(gòu)件被設(shè)在被攪拌容器中的傳統(tǒng)配置。因?yàn)轱@影劑的狀態(tài)在該配置中不穩(wěn)定（電 容檢測(cè)區(qū)域中的調(diào)色劑受攪拌影響），因此難以以高精度檢測(cè)顯影劑量。然而，利用本配置， 通過使用被攪拌區(qū)域的底部上的多個(gè)電極來提供間隙XI，可以增大調(diào)色劑量小時(shí)的電容變 化，并且得到當(dāng)調(diào)色劑量小時(shí)可以提高顯影劑量檢測(cè)的精度的優(yōu)點(diǎn)。
[0243][表格 1]
[0245] 此外，關(guān)于輕敲的影響，因?yàn)楸容^示例2更少可能檢測(cè)到顯影劑和空氣由于攪拌而 產(chǎn)生的混合程度，因此難以精確地檢測(cè)顯影劑量。相比之下，在本實(shí)施例中，電極被設(shè)在攪 拌下方，其中電容的變化變得突出并且空氣被包括以及空氣由于顯影劑的自身重量而未被 包括的狀態(tài)可以被更加精確地并且在更少量的時(shí)間內(nèi)判定。另外，因?yàn)閷㈦娙菰谀途眯詼y(cè) 試的初始狀態(tài)下的電容值下降之后增大之處的點(diǎn)檢測(cè)為電容值的代表值，因此無論耐久性 測(cè)試定時(shí)如何都可以提高剩余量檢測(cè)的精度。
[0246] 另外，當(dāng)圖27A和圖27B中的縱軸表示電容時(shí)，該電容除了電極之間的電容之外還 組合了除顯影裝置之外的裝置的測(cè)量系統(tǒng)中的電容，并且因此是依賴于測(cè)量系統(tǒng)的值。因 此，在本說明書中示出的值是受限于本發(fā)明人在實(shí)驗(yàn)等中使用的測(cè)量系統(tǒng)的數(shù)值。然而，因 為電容的相對(duì)變化的比較對(duì)于驗(yàn)證本發(fā)明的效果的目的是足夠的，因此這些值被用作展示 本發(fā)明的效果的示例。此外，在本說明書中示出的值是受限于本發(fā)明人在實(shí)驗(yàn)等中使用的 測(cè)量系統(tǒng)的數(shù)值。然而，因?yàn)殡娙莸南鄬?duì)變化的比較對(duì)于驗(yàn)證本發(fā)明的效果的目的是足夠 的，因此這些值被用作展示本發(fā)明的效果的示例。
[0247] 根據(jù)本發(fā)明，使得顯影劑量能夠被以高精度檢測(cè)的顯影劑容器、顯影裝置、處理盒 和圖像形成裝置可以被提供。
[0248] (第八實(shí)施例）
[0249] 本第八實(shí)施例與第七實(shí)施例的不同之處在于計(jì)算初始檢測(cè)到的電容的代表值的 方法。在下文中，與第七實(shí)施例的差異將被描述并且與第七實(shí)施例中的那些類似的事項(xiàng)將 不被描述。
[0250] 圖28A是圖示出根據(jù)本實(shí)施例的顯影劑量與電容之間的關(guān)系的示圖。直到對(duì)表示 在間隙Xl(圖1)的檢測(cè)區(qū)域中檢測(cè)到初始顯影劑時(shí)的減小之后已經(jīng)增大的電容的電容值的 檢測(cè)，第八實(shí)施例與第七實(shí)施例是相同的。隨后，在本實(shí)施例中，對(duì)接著初始檢測(cè)的電容值 減小之后的增大電容的測(cè)量被執(zhí)行多次，并且針對(duì)各次測(cè)量，電容增大時(shí)的值被獲得多個(gè)。 此外，使用所獲得的多個(gè)電容值的平均值作為基準(zhǔn)值來計(jì)算剩余調(diào)色劑量％。該實(shí)施例的 優(yōu)點(diǎn)是，除了第七實(shí)施例的優(yōu)點(diǎn)之外，即使當(dāng)檢測(cè)區(qū)域中的顯影劑的流動(dòng)性在耐久性測(cè)試 的初始狀態(tài)下發(fā)生時(shí)，對(duì)電容值減小之后的增大電容的多次測(cè)量的結(jié)果也可以被反映到剩 余調(diào)色劑量％的計(jì)算。因此，初始電容值的代表值可以被精確地計(jì)算。
[0251] (第九實(shí)施例）
[0252] 本實(shí)施例與第七實(shí)施例的不同之處在于計(jì)算電容值的最大值的方法。在下文中， 與第七實(shí)施例的差異將被描述并且與第七實(shí)施例中的那些類似的事項(xiàng)將不被描述。
[0253] 圖28B是圖示出根據(jù)本實(shí)施的顯影劑量與電容之間的關(guān)系的示圖。直到對(duì)表示在 間隙Xl(圖1)的檢測(cè)區(qū)域中檢測(cè)到初始顯影劑時(shí)的減小之后已經(jīng)增大的電容的電容值的檢 測(cè)，第九實(shí)施例與第七實(shí)施例是相同的。在這樣做時(shí)，在本實(shí)施例中，在驅(qū)動(dòng)顯影輥或攪拌 構(gòu)件達(dá)預(yù)定時(shí)間段以執(zhí)行如在圖28B中示出的圖像形成之后，使用表示在電容值已經(jīng)降低 之后已經(jīng)增大的電容的電容值作為代表值來計(jì)算剩余的調(diào)色劑量％。該實(shí)施例的優(yōu)點(diǎn)是， 除了第七實(shí)施例的優(yōu)點(diǎn)之外，因?yàn)榭梢愿鶕?jù)對(duì)顯影輥的驅(qū)動(dòng)或者對(duì)電極附近的攪拌的驅(qū)動(dòng) 來檢測(cè)電容，因此可以在實(shí)際攪拌顯影劑之后測(cè)量電容。換言之，即使電容在預(yù)定量的顯影 輥的驅(qū)動(dòng)或者攪拌的驅(qū)動(dòng)正被執(zhí)行時(shí)通過由于電子噪聲等所致的誤差檢測(cè)而從小變大時(shí)， 也可以通過在實(shí)際攪拌顯影劑之后檢測(cè)電容來計(jì)算代表值。
[0254] 另外，在上述的實(shí)施例中，根據(jù)第五實(shí)施例的接觸部313可以被設(shè)在根據(jù)第一實(shí)施 例的調(diào)色劑腔147中。此外，在上述的實(shí)施例中，根據(jù)第七至第九實(shí)施例的獲取調(diào)色劑量的 方法可以被針對(duì)根據(jù)第一實(shí)施例的調(diào)色劑腔147采用。另外，在其他實(shí)施例中，各個(gè)實(shí)施例 的配置也可以與其他實(shí)施例的配置相組合。
[0255] 盡管已經(jīng)參考示例性實(shí)施例描述了本發(fā)明，但是將會(huì)明白，本發(fā)明不限于所公開 的示例性實(shí)施例。以下權(quán)利要求的范圍將符合最寬廣的解釋以包含所有這種修改以及等同 的結(jié)構(gòu)和功能。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種顯影劑容器，其特征在于，包括： 容納腔，包括開口并且容納顯影劑； 攪拌構(gòu)件，包括片狀攪拌部以及該攪拌部所附接到的旋轉(zhuǎn)軸；以及 第一電極和第二電極，被用來檢測(cè)顯影劑的量并且被以在第一電極和第二電極之間有 間隔的方式布置，其中 容納腔中的在第一電極和第二電極之間的區(qū)域位于攪拌構(gòu)件的旋轉(zhuǎn)軸下方，并且 片狀攪拌部由于攪拌構(gòu)件的旋轉(zhuǎn)而與該區(qū)域接觸。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯影劑容器，其中，第一電極和第二電極位于攪拌構(gòu)件的旋轉(zhuǎn) 軸下方。3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的顯影劑容器，其中，所述區(qū)域是包括容納腔中的最低位置 的區(qū)域。4. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的顯影劑容器，其中，第一電極、第二電極和所述區(qū)域在旋轉(zhuǎn) 軸的中心下方在攪拌構(gòu)件的旋轉(zhuǎn)方向上按照第二電極、所述區(qū)域和第一電極的次序被布 置。5. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的顯影劑容器，其中，第一電極和第二電極是沿著容納腔的 壁面設(shè)置的片狀導(dǎo)電構(gòu)件。6. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的顯影劑容器，其中 容納腔從開口側(cè)向著遠(yuǎn)端側(cè)被劃分為第一容納區(qū)域和第二容納區(qū)域， 第一攪拌構(gòu)件被能旋轉(zhuǎn)地設(shè)在第一容納區(qū)域中， 第二攪拌構(gòu)件被能旋轉(zhuǎn)地設(shè)在第二容納區(qū)域中， 第一電極和第二電極被布置在第一容納區(qū)域中，并且 顯影劑容器還包括第三電極和第四電極，第三電極和第四電極被用來檢測(cè)顯影劑的量 并且以在第三電極和第四電極之間有間隔的方式被布置在第二容納區(qū)域中。7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的顯影劑容器，其中，第二電極和第三電極是被布置為橫跨第一 容納區(qū)域和第二容納區(qū)域的單個(gè)電極構(gòu)件。8. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的顯影劑容器，其中 第一電極位于第一攪拌構(gòu)件的旋轉(zhuǎn)軸下方，并且 第四電極位于第二攪拌構(gòu)件的旋轉(zhuǎn)軸下方。9. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的顯影劑容器，其中 第一攪拌構(gòu)件由于旋轉(zhuǎn)而與第一容納區(qū)域中的第一電極和第二電極之間的第一區(qū)域 接觸，并且 第二攪拌構(gòu)件由于旋轉(zhuǎn)而與第二容納區(qū)域中的第三電極和第四電極之間的第二區(qū)域 接觸。10. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的顯影劑容器，其中，第一容納區(qū)域和第二容納區(qū)域是由在形 成容納腔的壁面上的在垂直方向上向上突出的凸部劃分的。11. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的顯影劑容器，其中，開口的下端位于旋轉(zhuǎn)軸上方。12. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯影劑容器，還包括： 檢測(cè)部，用于檢測(cè)顯影劑的量；以及 接觸部，能夠與旋轉(zhuǎn)的攪拌構(gòu)件接觸并且能夠進(jìn)行接觸以推掉攪拌構(gòu)件上的顯影劑以 使得顯影劑比當(dāng)顯影劑由于其自身重量而從攪拌構(gòu)件掉落時(shí)更快的速率掉落。13. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的顯影劑容器，其中 如下初始值與預(yù)定定時(shí)處的電容的值之間的差異被獲取，所述初始值是緊接在新圖像 形成裝置的使用的開始之后的第一電極和第二電極之間的電容的值， 容納腔中的顯影劑的剩余量基于該差異而被獲取，并且 所述初始值是在容納腔中的顯影劑被攪拌構(gòu)件攪拌之后獲取的電容的值。14. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的顯影劑容器，其中，所述初始值是電容在臨時(shí)減小之后增大 的情況下的電容的最大值。15. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的顯影劑容器，其中，所述初始值是當(dāng)緊接在新圖像形成裝置 的使用的開始之后攪拌構(gòu)件運(yùn)轉(zhuǎn)一圈時(shí)電容的最大值的平均值。16. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的顯影劑容器，其中，所述初始值是在承載用于使靜電潛像顯 影的顯影劑的顯影劑承載構(gòu)件和攪拌構(gòu)件被驅(qū)動(dòng)達(dá)預(yù)定時(shí)間段之后的電容的值并且是當(dāng) 攪拌構(gòu)件運(yùn)轉(zhuǎn)一圈時(shí)電容的最大值。17. -種顯影裝置，其特征在于，包括： 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的顯影劑容器；以及 顯影劑承載構(gòu)件，顯影劑經(jīng)由設(shè)在顯影劑容器上的開口而被提供給該顯影劑承載構(gòu) 件。18. -種能與圖像形成裝置的裝置主體分開的處理盒，其特征在于，包括： 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的顯影劑容器；以及 圖像承載構(gòu)件，承載將被顯影劑顯影的靜電圖像。19. 一種使用顯影劑在記錄材料上形成圖像的圖像形成裝置，其特征在于，其中 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的顯影劑容器被配置為能與裝置主體分開。20. -種圖像形成裝置的裝置主體，包括容納顯影劑的容納腔和用來檢測(cè)該容納腔中 的顯影劑的量的多個(gè)電極的盒被安裝到該裝置主體并且該裝置主體在記錄材料上形成圖 像，其特征在于，其中 具有不同數(shù)目的電極的多個(gè)類型的盒被配置為能從該裝置主體分開， 該裝置主體包括當(dāng)盒被安裝到該裝置主體時(shí)與電極電連接的端子，并且 所提供的端子的數(shù)目等于或者大于所述多個(gè)類型的盒中分別包括的電極的數(shù)目當(dāng)中 的最大數(shù)目。21. -種在記錄材料上形成圖像的圖像形成裝置，其特征在于，包括： 裝置主體； 盒，包括容納顯影劑的容納腔和用來檢測(cè)該容納腔中的顯影劑的量的電極，并且被配 置為能從裝置主體分開；以及 端子，在盒被安裝到裝置主體時(shí)使電極和裝置主體相互電連接，其中 裝置主體被配置為使得具有不同數(shù)目的電極的多個(gè)類型的盒能從裝置主體分開，并且 所提供的端子的數(shù)目等于所述多個(gè)類型的盒中分別包括的電極的數(shù)目當(dāng)中的最大數(shù) 目。22. 根據(jù)權(quán)利要求21所述的圖像形成裝置，還包括： 施加部，經(jīng)由端子向多個(gè)電極當(dāng)中的第一電極施加電壓； 檢測(cè)部，由于施加部向第一電極施加電壓而經(jīng)由端子檢測(cè)與所述多個(gè)電極當(dāng)中的第一 電極和第二電極之間的電容相對(duì)應(yīng)的電壓值;以及 獲取部，基于由檢測(cè)部檢測(cè)的電壓值來獲取容納腔中的顯影劑的量。23. 根據(jù)權(quán)利要求22所述的圖像形成裝置，其中，獲取部使用如下表格來獲取容納腔中 的顯影劑的量，所述表格包括由檢測(cè)部檢測(cè)的電壓值與容納腔中的顯影劑的量之間的對(duì)應(yīng) 關(guān)系。24. 根據(jù)權(quán)利要求23所述的圖像形成裝置，還包括： 辨別部，辨別安裝到裝置主體的盒的類型；以及 存儲(chǔ)構(gòu)件，存儲(chǔ)與所述多個(gè)類型的盒相對(duì)應(yīng)的多個(gè)表格，其中 獲取部使用與由辨別部辨別的盒的類型相對(duì)應(yīng)的表格來獲取容納腔中的顯影劑的量。25. 根據(jù)權(quán)利要求22至24中任一個(gè)所述的圖像形成裝置，其中 多個(gè)第二電極被提供，并且 檢測(cè)部檢測(cè)與第一電極和所述多個(gè)第二電極之間的組合電容相對(duì)應(yīng)的電壓值。26. 根據(jù)權(quán)利要求22至24中任一個(gè)所述的圖像形成裝置，其中 多個(gè)第二電極被提供，并且 檢測(cè)部檢測(cè)分別對(duì)應(yīng)于第一電極和所述多個(gè)第二電極之間的相應(yīng)電容的電壓值。27. 根據(jù)權(quán)利要求21至24中任一個(gè)所述的圖像形成裝置，其中 盒包括能旋轉(zhuǎn)地設(shè)在容納腔內(nèi)部的攪拌構(gòu)件，并且 多個(gè)電極被以在多個(gè)電極之間有間隔的方式設(shè)在容納腔的底面上。28. 根據(jù)權(quán)利要求21至24中任一個(gè)所述的圖像形成裝置，其中 盒包括能旋轉(zhuǎn)地設(shè)在容納腔中的第一容納區(qū)域中的第一攪拌構(gòu)件和能旋轉(zhuǎn)地設(shè)在容 納腔中的第二容納區(qū)域中的第二攪拌構(gòu)件，并且 多個(gè)電極被以在多個(gè)電極之間有間隔的方式分別布置在容納腔的第一容納區(qū)域中的 第一底面上和第二容納區(qū)域中的第二底面上。
【文檔編號(hào)】G03G15/08GK105843013SQ201610049870
【公開日】2016年8月10日
【申請(qǐng)日】2016年1月26日
【發(fā)明人】加藤雅仁, 涉川健太, 山內(nèi)和美, 阿部克市, 淺沼直哉, 戶田純, 岸洋介, 福島直樹
【申請(qǐng)人】佳能株式會(huì)社