液晶顯示器及其多路分配器控制電路的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及液晶顯示領(lǐng)域，尤其是涉及一種多路分配器控制電路及一種具有該多路分配器的液晶顯示器。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有的顯示面板例如手機顯示面板、電腦顯示面板等在設計制造時，通常會預留陣列測試。請參閱圖1，圖1為現(xiàn)有的液晶顯示器的平面走線示意圖，具體測試方法為，在顯示面板60的一側(cè)設置一組測試墊片61，然后將所述顯示面板60正常顯示時所需要的信號由所述測試墊片61通過外接的方式提供至該顯示面板60，以進行測試。上述顯示面板60還包括設置于其內(nèi)的集成電路63及多路分配器(圖未示)。該多路分配器分別通過位于顯示面板60 —側(cè)的第一組走線A和位于顯示面板60相對的另一側(cè)的第二組走線B與測試墊片61相連。該第一組走線A和第二組走線B用于在進行陣列測試時，向多路分配器提供控制信號，將其傳輸門關(guān)閉，防止其發(fā)生漏電而影響陣列測試的效果。
[0003]其中，如果該多路分配器只是采用N型TFT (Thin Film Transistor，薄膜晶體管)或者P型TFT作為傳輸門，則分別需要引出3條線路。如果該多路分配器同時采用N型TFT和P型TFT作為傳輸門，則需要引出6條線路。如此一來，不但增加了布線的復雜度，而且還需要在該顯示面板60的相對兩側(cè)預留容納該線路的空間，并在一定程度上造成所述顯示面板60兩側(cè)的邊框?qū)挾仍黾?。同時，當該顯示面板60正常顯示，該部分線路會增加該多路分配器的荷載力，尤其對于超高分辨率的顯示面板60而言，其影響會更加嚴重。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明提供一種多路分配器控制電路及具有該多路分配器的液晶顯示器，其可減小顯示面板兩側(cè)的邊框?qū)挾?，同時，當顯示面板正常顯示，降低該多路分配器的荷載力。
[0005]本發(fā)明一方面提供了一種多路分配器控制電路，所述多路分配器控制電路包括控制單元及與該控制單元電性連接的多路分配器，所述多路分配器包括傳輸門，當所述液晶顯示器進行陣列測試時，所述控制單元向所述多路分配器提供控制信號，以控制所述多路分配器的傳輸門先導通，后斷開。
[0006]其中，所述多路分配器采用N型TFT (Thin Film Transistor，薄膜晶體管)作為傳輸門，所述控制單元包括第一控制端，所述N型TFT的柵極與所述第一控制端電性連接，所述N型TFT的漏極分別與所述多路分配器的信號端電性連接，所述N型TFT的源極為低電位，當所述液晶顯示器進行陣列測試時，所述第一控制端提供高電位至所述N型TFT的柵極，控制該N型TFT導通，使得所述多路分配器的信號端被拉低到低電位，從而將所述N型TFT斷開。
[0007]其中，當所述液晶顯示器正常顯示時，所述第一控制端提供低電位至所述N型TFT的柵極，以控制該N型TFT斷開。
[0008]其中，所述多路分配器采用P型TFT作為傳輸門，所述控制單元包括第二控制端，該P型TFT的柵極與所述第二控制端電性連接，該P型TFT的漏極分別與所述多路分配器的信號端電性連接，該P型TFT的源極為高電位，當所述液晶顯示器進行陣列測試時，該第二控制端提供低電位至所述P型TFT的柵極，以控制該P型TFT導通，使得所述多路分配器的信號端被拉高到高電位，從而將所述P型TFT斷開。
[0009]其中，當所述液晶顯示器正常顯示時，所述第二控制端提供高電位至所述P型TFT的柵極，以控制該P型TFT斷開。
[0010]其中，當所述多路分配器同時采用N型TFT與P型TFT作為傳輸門時，所述控制單元包括第一控制端與第二控制端，其中，所述N型TFT的柵極與所述第一控制端電性連接，所述N型TFT的漏極分別與所述多路分配器的信號端電性連接，所述N型TFT的源極為低電位，當所述液晶顯示器進行陣列測試時，該第一控制端提供高電位至所述N型TFT的柵極，以控制該N型TFT導通，使得該多路分配器的信號端被拉低到低電位，從而將所述N型TFT斷開；所述P型TFT的柵極與該第二控制端電性連接，所述P型TFT的漏極分別與所述多路分配器的信號端電性連接，所述P型TFT的源極為高電位，當所述液晶顯示器進行陣列測試時，該第二控制端提供低電位至所述P型TFT的柵極，以控制該P型TFT導通，使得該多路分配器的信號端被拉高到高電位，從而將所述P型TFT斷開。
[0011]其中，當所述液晶顯示器正常顯示時，所述第一控制端提供低電位至所述N型TFT的柵極，以控制該N型TFT斷開。
[0012]其中，當所述液晶顯示器正常顯示時，所述第二控制端提供高電位至所述P型TFT的柵極，以控制該P型TFT斷開
[0013]本發(fā)明另一方面提供了一種液晶顯示器，其包括顯示面板及多路分配器控制電路，該顯示面板設有測試墊片，該多路分配器控制電路通過該測試墊片接入控制信號，該多路分配器控制電路包括上述的多路分配器控制電路。
[0014]相較于現(xiàn)有技術(shù)，在本發(fā)明實施例的多路分配器控制電路及液晶顯示器，不但可以簡化布線的復雜度，而且還可有效地減小顯示面板的邊框?qū)挾?。同時，在液晶顯示器正常顯示后，多路分配器的傳輸門都處于斷開狀態(tài)，一方面可降低該多路分配器的荷載力，另一方面可降低信號端導入靜電放電的風險。
【附圖說明】
[0015]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0016]圖1為現(xiàn)有的液晶顯示器的平面走線示意圖。
[0017]圖2為本發(fā)明的實施例的多路分配器控制電路的電路圖。
[0018]圖3為本發(fā)明的多路分配器控制電路在進行陣列測試時，第一控制端提供的控制信號的時序圖。
[0019]圖4本發(fā)明的多路分配器控制電路在正常顯示時，第一控制端提供的控制信號的時序圖。
[0020]圖5為本發(fā)明的另一實施例的多路分配器控制電路的電路圖。
[0021]圖6為本發(fā)明的多路分配器控制電路在進行陣列測試時，第二控制端提供的控制信號的時序圖。
[0022]圖7本發(fā)明的多路分配器控制電路在正常顯示時，第二控制端提供的控制信號的時序圖。
[0023]圖8為本發(fā)明的又一實施例的多路分配器控制電路的電路圖。
[0024]圖9為本發(fā)明的實施例的液晶顯示器的平面示意圖。
【具體實施方式】
[0025]下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0026]此外，以下各實施例的說明是參考附加的圖示，用以例示本發(fā)明可用以實施的特定實施例。本發(fā)明中所提到的方向用語，例如，“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“內(nèi)”、“外”、“側(cè)面”等，僅是參考附加圖式的方向，因此，使用的方向用語是為了更好、更清楚地說明及理解本發(fā)明，而不是指示或暗指所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構(gòu)造和操作，因此不能理解為對本發(fā)明的限制。
[0027]在本發(fā)明的描述中，需要說明的是，除非另有明確的規(guī)定和限定，術(shù)語“安裝”、“相連”、“連接”應做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸地連接，或者一體地連接；可以是機械連接；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，可以是兩個元件內(nèi)部的連通。對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以具體情況理解上述術(shù)語在本發(fā)明中的具體含義。
[0028]此外，在本發(fā)明的描述中，除非另有說明，“多個”的含義是兩個或兩個以上。若本說明書中出現(xiàn)“工序”的用語，其不僅是指獨立的工序，在與其它工序無法明確區(qū)別時，只要能實現(xiàn)該工序所預期的作用則也包括在本用語中。另外，本說明書中用“?”表示的數(shù)值范圍是指將“?”前后記載的數(shù)值分別作為最小值及最大值包括在內(nèi)的范圍。在附圖中，結(jié)構(gòu)相似或相同的單元用相同的標號表示。
[0029]請參閱圖2，圖2為本發(fā)明的多路分配器控制電路的電路圖，該多路分配器可用于液晶顯示器。如圖2所示，該多路分配器控制電路100包括控制單元10及與該控制單元10電性相連的多路分配器30，該多路分配器包30括傳輸門31，當該液晶顯示器進行陣列測試時，該控制單元10向該多路分配器30提供控制信號，將所述傳輸門31先導通，后斷開。
[0030]在本較佳實施例中，該多路分配器30采用N型TFT (Thin Film Transistor，薄膜晶體管)作為傳輸門31，該控制單元10包括第一控制端Control-N。該N型TFT的柵極G與該第一控制端Control-N電性連接，其漏極D分別與所述多路分配器30的信號端CKHR、CKHG, CKHB電性連接，其源極S為低電位VGL。請參閱圖3，圖3為本發(fā)明的多路分配器控制電路在進行陣列測試時，第一控制端提供的控制信號的時序圖。當進行陣列測試時，該第一控制端Contr