一種直放站下行反射互調(diào)信號的測試裝置的制造方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種直放站下行反射互調(diào)信號的測試裝置，涉及測試領(lǐng)域，所述測試裝置包括：校準裝置和待測試直放站，所述校準裝置包括：第一信號源、第二信號源、高互調(diào)電橋、高互調(diào)雙工器和頻譜儀；所述第一信號源和所述第二信號源均通過射頻電纜與所述高互調(diào)電橋連接，所述高互調(diào)電橋還通過所述射頻電纜與所述高互調(diào)雙工器的發(fā)送端口連接，所述高互調(diào)雙工器的數(shù)據(jù)傳輸端口通過數(shù)據(jù)線與所述待測試直放站的基站端口連接，所述高互調(diào)雙工器的接收端口通過所述射頻電纜與所述頻譜儀連接。本實用新型提高了測試效率和測試的準確性。
【專利說明】
一種直放站下行反射互調(diào)信號的測試裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實用新型涉及測試領(lǐng)域，特別涉及一種直放站下行反射互調(diào)信號的測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]直放站是一種無線信號中繼產(chǎn)品，是網(wǎng)絡(luò)物理層上的連接設(shè)備，主要功能是通過對數(shù)據(jù)信號的重新發(fā)送或轉(zhuǎn)發(fā)來擴大網(wǎng)絡(luò)傳輸距離。其內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖如圖1所示，包括外殼結(jié)構(gòu)件、第一雙工器、第二雙工器、下行功率放大器和上行低噪聲放大器，基站信號由基站端口經(jīng)過第一雙工器進入下行功率放大器，再經(jīng)過第二雙工器由手機端口進入外接天線，用戶終端發(fā)射的射頻信號經(jīng)過手機端口進入第二雙工器，再經(jīng)上行低噪聲放大器由基站端口發(fā)送至基站。為了保證直放站能夠正常通信，通常需要對直放站的性能參數(shù)進行測試，而直放站下行反射互調(diào)信號是直放站的一個重要指標，若直放站下行反射互調(diào)信號的信號強度過大則會直接進入基站內(nèi)部，造成基站通信質(zhì)量差等問題，因此，在直放站在使用之前，需要對直放站下行反射互調(diào)信號的信號強度進行測試。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中，如圖2所示，直放站下行反射互調(diào)信號的測試裝置主要包括第一信號源、第二信號源、合路器、射頻電纜、頻譜儀和待測試直放站，第一信號源和第二信號源均與合路器的輸入端連接，合路器的輸出端通過射頻電纜與待測試直放站內(nèi)的下行功率放大器的輸入端連接，頻譜儀的輸入端通過射頻電纜與待測試直放站內(nèi)的上行低噪聲放大器的輸出端連接，并將待測試直放站放置在屏蔽箱中，測試過程為:測試人員分別將第一信號源和第二信號源的頻率和輸出功率調(diào)整至合適值后，第一信號源和第二信號源分別輸出設(shè)定頻率和輸出功率的脈沖信號，此脈沖信號經(jīng)過直放站內(nèi)部反射后反饋至頻譜儀上進行顯示，此時測試人員根據(jù)頻譜儀上顯示的信號強度確定出直放站下行反射互調(diào)信號是否滿足預設(shè)指標。
[0004]但上述直放站下行反射互調(diào)信號的測試裝置在測試前，需要打開直放站的外殼結(jié)構(gòu)件，然后旋開直放站內(nèi)部與上行噪聲放大器連接的射頻接口和與下行功率放大器連接的射頻接口，再將射頻電纜分別與這兩個射頻接口連接，且當直放站下行反射互調(diào)信號測試結(jié)束后，需要再將射頻電纜進行拆卸，這樣直放站的完整性受到破壞，從而影響直放站的測試準確性，且測試效率低。
【實用新型內(nèi)容】
[0005]有鑒于此，本實用新型提供一種直放站下行反射互調(diào)信號的測試裝置，提高了測試效率和測試的準確性。
[0006]本實用新型通過以下技術(shù)手段解決上述問題:
[0007]本實用新型的一種直放站下行反射互調(diào)信號的測試裝置，包括校準裝置和待測試直放站，所述校準裝置包括:第一信號源、第二信號源、高互調(diào)電橋、高互調(diào)雙工器和頻譜儀；
[0008]所述第一信號源與所述高互調(diào)電橋的第一輸入端連接;所述第二信號源與所述高互調(diào)電橋的第二輸入端連接;所述高互調(diào)電橋的輸出端與所述高互調(diào)雙工器的發(fā)射端口連接;所述高互調(diào)雙工器的數(shù)據(jù)傳輸端口與所述待測試直放站的基站端口連接;所述高互調(diào)雙工器的接收端口與所述頻譜儀連接。
[0009]進一步地，還包括電磁屏蔽室，所述第一信號源、第二信號源、高互調(diào)電橋、高互調(diào)雙工器和頻譜儀均置于所述電磁屏蔽室內(nèi)部。
[0010]進一步地，所述第一信號源和所述第二信號源均通過射頻電纜與所述高互調(diào)電橋連接，所述高互調(diào)電橋通過所述射頻電纜與所述高互調(diào)雙工器的發(fā)送端口連接，所述高互調(diào)雙工器的數(shù)據(jù)傳輸端口通過數(shù)據(jù)線與所述待測試直放站的基站端口連接，所述高互調(diào)雙工器的接收端口通過所述射頻電纜與所述頻譜儀連接。
[0011]進一步地，所述高互調(diào)雙工器的數(shù)據(jù)傳輸端口通過RS232總線與所述待測試直放站的基站端口連接。
[0012]進一步地，所述待測試直放站為選頻直放站。
[0013]進一步地，所述待測試直放站為寬帶直放站。
[0014]本實用新型的一種直放站下行反射互調(diào)信號的測試裝置具有以下有益效果:
[0015]本實用新型的直放站下行反射互調(diào)信號的測試裝置包括第一信號源、第二信號源、高互調(diào)電橋、高互調(diào)雙工器、頻譜儀和待測試直放站，其中，所述第一信號源與所述高互調(diào)電橋的第一輸入端連接;所述第二信號源與所述高互調(diào)電橋的第二輸入端連接;所述高互調(diào)電橋的輸出端與所述高互調(diào)雙工器的發(fā)射端口連接;所述高互調(diào)雙工器的數(shù)據(jù)傳輸端口與所述待測試直放站的基站端口連接;所述高互調(diào)雙工器的接收端口與所述頻譜儀連接。第一信號源和第二信號源用于輸出不同頻率的兩路待測試直放站工作頻段內(nèi)的下行信號，高互調(diào)電橋用于對兩路下行信號進行合路，高互調(diào)雙工器用于對合路信號進行處理和轉(zhuǎn)發(fā)，由上述可知，本實用新型的測試裝置中包括校準裝置，校準裝置在與待測試直放站進行連接時，只需要將校準裝置中的高互調(diào)雙工器與待測試直放站中與第一雙工器連接的外部射頻接口連接即可，不需要將待測試直放站的外殼結(jié)構(gòu)件打開，這樣，待測試直放站的完整性不受到破壞，從而提高了測試效率和測試的準確性。
【附圖說明】
[0016]下面結(jié)合附圖和實施例對本實用新型作進一步描述。
[0017]圖1為直放站的內(nèi)部結(jié)構(gòu)框圖；
[0018]圖2為現(xiàn)有技術(shù)中的一種直放站下行反射互調(diào)信號的測試裝置的結(jié)構(gòu)框圖；
[0019]圖3為本實用新型的一種直放站下行反射互調(diào)信號的測試裝置的結(jié)構(gòu)框圖；
[0020]圖4為本實用新型的另一種直放站下行反射互調(diào)信號的測試裝置的結(jié)構(gòu)框圖。
【具體實施方式】
[0021]以下將結(jié)合附圖對本實用新型進行詳細說明，如圖3所示:本實施例的一種直放站下行反射互調(diào)信號的測試裝置，包括:校準裝置10和待測試直放站11，所述校準裝置10包括:第一信號源111、第二信號源112、高互調(diào)電橋113、高互調(diào)雙工器114和頻譜儀115。
[0022]所述第一信號源111和所述第二信號源112均通過射頻電纜與所述高互調(diào)電橋113連接，所述高互調(diào)電橋113還通過所述射頻電纜與所述高互調(diào)雙工器114的發(fā)送端口連接，所述高互調(diào)雙工器114的數(shù)據(jù)傳輸端口通過數(shù)據(jù)線與所述待測試直放站11的基站端口連接，所述高互調(diào)雙工器114的接收端口通過所述射頻電纜與所述頻譜儀115連接。
[0023]本實施例中，所述高互調(diào)雙工器114的數(shù)據(jù)傳輸端口通過RS232總線與所述待測試直放站11的基站端口連接。
[0024]本實施例中，所述待測試直放站11為選頻直放站，或者，所述待測試直放站11為寬帶直放站。
[0025]其中，選頻直放站具有信道選擇功能，必須在打開工作信道后才能放大工作信號，沒有打開工作信道是沒有放大功能的；而帶寬直放站沒有信道選擇功能，帶寬直放站的整個工作帶寬均可以放大。
[0026]需要說明的是，在測試之前，測試人員需要對校準裝置10進行校準，校準的目的是校準測試儀器和配件本身的互調(diào)指標是否小于被測試設(shè)備的互調(diào)指標，如果校準結(jié)果大于被測試設(shè)備的互調(diào)指標，說明測試裝置本身不符合測試要求。
[0027]具體的，第一信號源111和第二信號源112用于輸出不同頻率的兩路待測試直放站11工作頻段內(nèi)的下行信號，這兩路下行信號傳輸至高互調(diào)電橋113，經(jīng)高互調(diào)電橋113進行合路后傳輸至待測試直放站11內(nèi)的高互調(diào)雙工器114中，高互調(diào)雙工器114用于將接收到的合路信號傳輸至待測試直放站11內(nèi)部(如圖1所示)的第一雙工器，再經(jīng)下行功率放大器和第二雙工器后產(chǎn)生落在待測試直放站上行工作頻段的下行反射互調(diào)信號，該下行反射互調(diào)信號經(jīng)過上行低噪聲放大器和第一雙工器進入高互調(diào)雙工器114，由高互調(diào)雙工器114將接收到的下行反射互調(diào)信號通過射頻電纜傳輸至頻譜儀115，則最終頻譜儀115接收到該下行反射互調(diào)信號的強度并顯示，此時測試人員可根據(jù)頻譜儀115顯示的下行反射互調(diào)信號的強度確定是否滿足要求，實現(xiàn)對待測試直放站11下行反射互調(diào)信號的測試。
[0028]其中，第一信號源111和第二信號源112為同類的信號源，信號源又稱信號發(fā)生器或者振蕩器，是一種能提供各種頻率、波形和輸出電平電信號的設(shè)備。在測量各種電信系統(tǒng)或電信設(shè)備的振幅特性、頻率特性、傳輸特性、以及測量元器件的特性與參數(shù)時，用作測試的信號源或激勵源，在生產(chǎn)實踐和科技領(lǐng)域中有著廣泛的應(yīng)用。
[0029]高互調(diào)電橋113也叫同頻合路器，它能夠沿傳輸線路的某一確定方向上對傳輸功率連續(xù)取樣，能將一個輸入信號分為兩個互為等幅且具有90°相位差的信號，主要用于多信號合路，提高輸出信號的利用率，廣泛應(yīng)用于室內(nèi)覆蓋系統(tǒng)中對基站信號的合路，運用效果很好。
[0030]高互調(diào)雙工器114是異頻雙工電臺，是中繼臺的主要配件，其作用是將發(fā)射和接收信號相隔離，保證接收和發(fā)射都能同時正常工作，是由兩組不同頻率的帶阻濾波器組成，避免本機發(fā)射信號傳輸?shù)浇邮諜C。
[0031]頻譜儀115又名頻譜分析儀，是一種較昂貴的測試測量設(shè)備，主要用于射頻和微波信號的頻域分析，包括測量信號的功率、頻率、失真產(chǎn)物等，且先進的頻譜儀可以對射頻和微波信號進行解調(diào)分析，也稱為信號分析儀。
[0032]作為上述技術(shù)方案的進一步改進，如圖4所示，本實用新型的直放站下行反射互調(diào)信號的測試裝置還包括:電磁屏蔽室13，所述第一信號源111、第二信號源112、高互調(diào)電橋113、高互調(diào)雙工器114和頻譜儀115均置于所述電磁屏蔽室13內(nèi)部。
[0033]其中，電磁屏蔽室13能夠很好隔離外界電磁干擾，保證待測試直放站11和頻譜儀115能夠不受外界電磁信號干擾，確保測試結(jié)果準確、可靠。該電磁屏蔽室13還能通過電磁屏蔽室阻斷室內(nèi)電磁輻射向外界擴散，強烈的電磁輻射源應(yīng)予以屏蔽隔離，防止干擾其他電子、電氣設(shè)備正常工作甚至損害工作人員身體健康。
[0034]本實用新型的直放站下行反射互調(diào)信號的測試裝置包括第一信號源、第二信號源、高互調(diào)電橋、高互調(diào)雙工器、頻譜儀和待測試直放站，其中，第一信號源和第二信號源均通過射頻電纜與高互調(diào)電橋連接，高互調(diào)電橋通過射頻電纜與高互調(diào)雙工器的發(fā)送端口連接，高互調(diào)雙工器的數(shù)據(jù)傳輸端口通過數(shù)據(jù)線與待測試直放站的基站端口連接，高互調(diào)雙工器的接收端口通過射頻電纜與頻譜儀連接，第一信號源和第二信號源用于輸出不同頻率的兩路待測試直放站工作頻段內(nèi)的下行信號，高互調(diào)電橋用于對兩路下行信號進行合路，高互調(diào)雙工器用于對合路信號進行處理和轉(zhuǎn)發(fā)，由上述可知，本實用新型的測試裝置中包括校準裝置，校準裝置在與待測試直放站進行連接時，只需要將校準裝置中的高互調(diào)雙工器與待測試直放站中與第一雙工器連接的外部射頻接口連接即可，不需要將待測試直放站的外殼結(jié)構(gòu)件，這樣，待測試直放站的完整性不受到破壞，從而提高了測試效率且測試的準確性。另外，本實用新型將第一信號源、第二信號源、高互調(diào)電橋、高互調(diào)雙工器和頻譜儀均置于電磁屏蔽室內(nèi)部，這樣空間電磁信號，例如廣播電臺信號、2G、3G、4G移動通信信號等不會通過射頻電纜傳導至頻譜儀，則頻譜儀上不會產(chǎn)生各種干擾信號，進一步提高了測試的準確性。
[0035]最后說明的是，以上實施例僅用以說明本實用新型的技術(shù)方案而非限制，盡管參照較佳實施例對本實用新型進行了詳細說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當理解，可以對本實用新型的技術(shù)方案進行修改或者等同替換，而不脫離本實用新型技術(shù)方案的宗旨和范圍，其均應(yīng)涵蓋在本實用新型的權(quán)利要求范圍當中。
【主權(quán)項】
1.一種直放站下行反射互調(diào)信號的測試裝置，其特征在于:包括校準裝置和待測試直放站，所述校準裝置包括:第一信號源、第二信號源、高互調(diào)電橋、高互調(diào)雙工器和頻譜儀； 所述第一信號源與所述高互調(diào)電橋的第一輸入端連接;所述第二信號源與所述高互調(diào)電橋的第二輸入端連接;所述高互調(diào)電橋的輸出端與所述高互調(diào)雙工器的發(fā)射端口連接；所述高互調(diào)雙工器的數(shù)據(jù)傳輸端口與所述待測試直放站的基站端口連接;所述高互調(diào)雙工器的接收端口與所述頻譜儀連接。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的直放站下行反射互調(diào)信號的測試裝置，其特征在于:還包括電磁屏蔽室，所述第一信號源、第二信號源、高互調(diào)電橋、高互調(diào)雙工器和頻譜儀均置于所述電磁屏蔽室內(nèi)部。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的直放站下行反射互調(diào)信號的測試裝置，其特征在于:所述第一信號源和所述第二信號源均通過射頻電纜與所述高互調(diào)電橋連接，所述高互調(diào)電橋通過所述射頻電纜與所述高互調(diào)雙工器的發(fā)送端口連接，所述高互調(diào)雙工器的數(shù)據(jù)傳輸端口通過數(shù)據(jù)線與所述待測試直放站的基站端口連接，所述高互調(diào)雙工器的接收端口通過所述射頻電纜與所述頻譜儀連接。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的直放站下行反射互調(diào)信號的測試裝置，其特征在于:所述高互調(diào)雙工器的數(shù)據(jù)傳輸端口通過RS232總線與所述待測試直放站的基站端口連接。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的直放站下行反射互調(diào)信號的測試裝置，其特征在于:所述待測試直放站為選頻直放站。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的直放站下行反射互調(diào)信號的測試裝置，其特征在于:所述待測試直放站為寬帶直放站。
【文檔編號】H04B17/40GK205681429SQ201620564575
【公開日】2016年11月9日
【申請日】2016年6月12日 公開號201620564575.0, CN 201620564575, CN 205681429 U, CN 205681429U, CN-U-205681429, CN201620564575, CN201620564575.0, CN205681429 U, CN205681429U
【發(fā)明人】趙棟
【申請人】廣州杰賽科技股份有限公司