一種nfc天線測試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及天線測試領(lǐng)域，具體地，涉及一種NFC天線測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]近場通訊(Near Field Communicat1n，NFC)又稱近距離無線通信，是一種傳輸距離在10厘米之內(nèi)的高頻無線通信技術(shù)。NFC技術(shù)目前在無線終端尤其是手機支付等領(lǐng)域具有很大的應(yīng)用前景。NFC也因為其相比于其他無線通訊技術(shù)較好的安全性被中國物聯(lián)網(wǎng)校企聯(lián)盟比作機器之間的“安全對話”。NFC天線是用于發(fā)射和接受NFC信號的必不可缺的器件，通常由線圈部分和導(dǎo)磁片組裝而成，它的性能穩(wěn)定性直接影響無線終端NFC功能的實現(xiàn)。現(xiàn)有技術(shù)中，需要檢測主板上NFC功能的器件是否貼的很好，有沒有漏貼，同時需要判斷NFC的讀功能和卡功能能不能實現(xiàn)等問題。因此對于NFC天線的射頻功能檢測顯得尤為重要。而復(fù)雜而昂貴的檢測裝置不利于對批量NFC天線的檢測。
【實用新型內(nèi)容】
[0003]針對現(xiàn)有技術(shù)中的缺陷，本實用新型的目的是提供一種NFC天線測試裝置，結(jié)構(gòu)簡單，便于測試。
[0004]根據(jù)本實用新型提供的一種NFC天線測試裝置，包括測試箱、輔助天線、輔助天線承載體；
[0005]所述測試箱頂部設(shè)有與待測NFC天線對應(yīng)的測試位，所述測試箱還設(shè)有與所述待測NFC天線饋電點接觸導(dǎo)通的接觸探針A、接觸探針B，所述接觸探針A、接觸探針B之間并聯(lián)連接至少一個電容，所述電容與待測NFC天線構(gòu)成LC閉合回路；
[0006]所述輔助天線設(shè)于所述天線承載體上，所述輔助天線的末端外接網(wǎng)絡(luò)分析儀；
[0007]所述輔助天線與所述LC閉合回路耦合獲取所述待測NFC天線上的回波信號傳輸至所述網(wǎng)絡(luò)分析儀。
[0008]作為一種優(yōu)化方案，所述輔助天線為單線圈天線。
[0009]作為一種優(yōu)化方案，所述測試箱還包括至少一組限位插槽;所述限位插槽與所述輔助天線承載體對應(yīng)，所述輔助天線承載體插接于不同限位插槽來實現(xiàn)與所述待測NFC天線的不同相對距離的調(diào)節(jié)。
[0010]作為一種優(yōu)化方案，所述測試箱還包括翻轉(zhuǎn)板;所述接觸探針A、接觸探針B設(shè)于所述翻轉(zhuǎn)板上，所述翻轉(zhuǎn)板翻轉(zhuǎn)運動實現(xiàn)所述接觸探針A、接觸探針B與所述待測NFC天線饋電點的接觸導(dǎo)通和斷開。
[0011]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型具有如下的有益效果:
[0012]本實用新型提供一種通用的測試方案，對于不同外形的待測NFC天線均具有很好適用性和穩(wěn)定性。
【附圖說明】
[0013]通過閱讀參照以下附圖對非限制性實施例所作的詳細描述，本實用新型的其它特征、目的和優(yōu)點將會變得更明顯:
[0014]圖1為可選的一種NFC天線測試裝置結(jié)構(gòu)示意圖；
[0015]圖2為可選的一種待測NFC天線示意圖；
[0016]圖3為可選的一種翻轉(zhuǎn)板上探針連接示意圖；
[0017]圖4為可選的一種單圈天線示意圖。
[0018]圖中:11-測試箱，12-測試位，13-限位插槽，20-待測NFC天線，21-待測NFC天線饋電點，30-翻轉(zhuǎn)板，31-接觸探針，32-電容，40-輔助天線承載體，41-單線圈天線，42-單線圈天線末端。
【具體實施方式】
[0019]下面結(jié)合具體實施例對本實用新型進行詳細說明。以下實施例將有助于本領(lǐng)域的技術(shù)人員進一步理解本實用新型，但不以任何形式限制本實用新型。應(yīng)當指出的是，對本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進。這些都屬于本實用新型的保護范圍。
[0020]本實用新型提出一種NFC天線測試裝置，如圖1所示，包括測試箱11、輔助天線、輔助天線承載體40;
[0021]所述測試箱11頂部設(shè)有與待測NFC天線20對應(yīng)的測試位12，所述測試箱11還設(shè)有與所述待測NFC天線20饋電點21接觸導(dǎo)通的接觸探針A、接觸探針B，所述接觸探針A、接觸探針B之間并聯(lián)連接至少一個電容32，所述電容32與待測NFC天線20構(gòu)成LC閉合回路；
[0022]所述輔助天線設(shè)于所述天線承載體上，所述輔助天線的末端42外接網(wǎng)絡(luò)分析儀；
[0023]所述輔助天線與所述LC閉合回路耦合獲取所述待測NFC天線20上的回波信號傳輸至所述網(wǎng)絡(luò)分析儀。
[0024]作為一種實施例，所述輔助天線為圖4所示的單線圈天線41。輔助天線還可以是其他類型的天線，比如多圈的環(huán)形天線，但本實施例選用單圈天線為最優(yōu)方案。
[0025]作為一種實施例，所述測試箱11還包括至少一組限位插槽13;所述限位插槽13與所述輔助天線承載體40對應(yīng)，所述輔助天線承載體40插接于不同限位插槽13來實現(xiàn)與所述待測NFC天線20的不同相對距離的調(diào)節(jié)。所述輔助天線承載體40為板狀載體，通過將輔助天線承載體40插入不同高度的限位插槽13，即可實現(xiàn)單圈天線與NFC天線之間不同距離的調(diào)節(jié)。所述限位插槽13與所述輔助天線承載體40的配合可以如圖1所示的抽屜式的結(jié)構(gòu)，其占用空間少且結(jié)構(gòu)簡單耐用。
[0026]作為一種實施例，所述測試箱11還包括如圖1所示的翻轉(zhuǎn)板30;所述接觸探針A、接觸探針B設(shè)于所述翻轉(zhuǎn)板30上，如圖3所示，所述翻轉(zhuǎn)板30翻轉(zhuǎn)運動實現(xiàn)所述接觸探針A、接觸探針B與所述待測NFC天線20饋電點21的接觸導(dǎo)通和斷開。待測NFC天線20的結(jié)構(gòu)如圖2所不O
[0027]在大批量測試中，可以在翻轉(zhuǎn)板30上設(shè)置多組所述接觸探針A、接觸探針B，測試箱11頂部設(shè)置多個與所述接觸探針A、接觸探針B對應(yīng)的待測NFC天線20，每個待測NFC天線20對應(yīng)設(shè)置一單線圈天線41和一網(wǎng)絡(luò)分析儀端口，從而實現(xiàn)NFC天線的批量測試。
[0028]本實施例的工作過程:首先測試箱11上的測試位12用于對待測NFC天線20進行固定，其次含接觸探針31和電容32的PCB小板30合上，其上的接觸探針31會與待測NFC天線饋電點21進行連接導(dǎo)通，同時接觸探針之間有電容元件32相連，這樣形成一個LC閉合回路。網(wǎng)絡(luò)分析儀首先向單線圈天線41提供一測試信號，單線圈測試天線與待測NFC天線20互耦，互耦的信號即所述回波信號返回給網(wǎng)絡(luò)分析儀，這個回波信號能夠被與單線圈測試天線末端42連接的網(wǎng)絡(luò)分析儀檢測到。接著通過多檔位的插槽13來調(diào)整單線圈天線41與待測NFC天線的相對位置，使得這個耦合信號幅度達到最強。最后再通過調(diào)整PCB小板上的電容32的值來調(diào)整這個耦合信號的頻率。一旦達到預(yù)定目標，耦合信號的幅度和頻率都固定，可以用最后固定下來的信號作為測試參考值，對其他待測NFC天線進行性能測試。當待測NFC天線存在不良時，可以通過這個耦合信號的幅度和頻率偏差反映出來。
[0029]需要指出的是，圖示測試箱上的測試位12以及含接觸探針和電容元器件的翻轉(zhuǎn)板30都需要根據(jù)待測NFC天線的外形做出調(diào)整。
[0030]以上對本實用新型的具體實施例進行了描述。需要理解的是，本實用新型并不局限于上述特定實施方式，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在權(quán)利要求的范圍內(nèi)做出各種變形或修改，這并不影響本實用新型的實質(zhì)內(nèi)容。
【主權(quán)項】
1.一種NFC天線測試裝置，其特征在于，包括測試箱、輔助天線、輔助天線承載體； 所述測試箱頂部設(shè)有與待測NFC天線對應(yīng)的測試位，所述測試箱還設(shè)有與所述待測NFC天線饋電點接觸導(dǎo)通的接觸探針A、接觸探針B，所述接觸探針A、接觸探針B之間并聯(lián)連接至少一個電容，所述電容與待測NFC天線構(gòu)成LC閉合回路； 所述輔助天線設(shè)于所述天線承載體上，所述輔助天線的末端外接網(wǎng)絡(luò)分析儀； 所述輔助天線與所述LC閉合回路耦合獲取所述待測NFC天線上的回波信號傳輸至所述網(wǎng)絡(luò)分析儀。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種NFC天線測試裝置，其特征在于，所述輔助天線為單線圈天線。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種NFC天線測試裝置，其特征在于，所述測試箱還包括至少一組限位插槽;所述限位插槽與所述輔助天線承載體對應(yīng)，所述輔助天線承載體插接于不同限位插槽來實現(xiàn)與所述待測NFC天線的不同相對距離的調(diào)節(jié)。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種NFC天線測試裝置，其特征在于，所述測試箱還包括翻轉(zhuǎn)板;所述接觸探針A、接觸探針B設(shè)于所述翻轉(zhuǎn)板上，所述翻轉(zhuǎn)板翻轉(zhuǎn)運動實現(xiàn)所述接觸探針A、接觸探針B與所述待測NFC天線饋電點的接觸導(dǎo)通和斷開。
【專利摘要】本實用新型提供了一種NFC天線測試裝置，包括測試箱、輔助天線、輔助天線承載體；所述測試箱頂部設(shè)有與待測NFC天線對應(yīng)的測試位，所述測試箱還設(shè)有與所述待測NFC天線饋電點接觸導(dǎo)通的接觸探針A、接觸探針B，所述接觸探針A、接觸探針B之間并聯(lián)連接至少一個電容，所述電容與待測NFC天線構(gòu)成LC閉合回路；所述輔助天線設(shè)于所述天線承載體上，所述輔助天線的末端外接網(wǎng)絡(luò)分析儀；所述輔助天線與所述LC閉合回路耦合獲取所述待測NFC天線上的回波信號傳輸至所述網(wǎng)絡(luò)分析儀。本實用新型提供一種通用的測試方案，對于不同外形的待測NFC天線均具有很好適用性和穩(wěn)定性。
【IPC分類】H04B17/12
【公開號】CN205212845
【申請?zhí)枴緾N201521065959
【發(fā)明人】黃參
【申請人】上海安費諾永億通訊電子有限公司
【公開日】2016年5月4日
【申請日】2015年12月18日