掃描器。由于應(yīng)當對圖表進行管理W滿足特定標準，因此該圖表的代價很高。另外，需要諸 如顏色特征量和頻率特征量等各種特征量來估計缺陷點，該就需要對應(yīng)于諸如顏色和分辨 率等各項的多種類型的校準處理。另一方面，本示例性實施例使用了通過將從掃描器119 之前讀取的圖像數(shù)據(jù)而獲得的特征量存儲為基準特征量來"消除"或減少掃描器特征的偏 差的影響的方法。基于該個原因，該方法比傳統(tǒng)技術(shù)更優(yōu)越的地方在于：提高了估計精度， 在估計缺陷點之前不需要執(zhí)行在先校正處理，并且由于不需要特殊圖表，因此該方法的代 價不高。
[007引在步驟S412中，需要用于估計的數(shù)據(jù)庫413。在步驟S414中，估計缺陷點W計算 估計結(jié)果415。計算出的估計結(jié)果415由服務(wù)器126中的顯示設(shè)備（未示出）來顯示。
[0076] W下將參照圖6描述使用用于估計的數(shù)據(jù)庫413來從特征量中估計缺陷點的方 法。
[0077] 在數(shù)據(jù)庫601中，生成異常圖像時所獲得的圖像特征量與造成異常圖像的缺陷點 相關(guān)聯(lián)。圖像特征量值）被分類為H種類型的特征量A至C，并針對新特征量411設(shè)置闊 值。用于分類的類型數(shù)并無限制。缺陷點化）表示在獲得圖像特征量值）時維修人員實際 已處理的缺陷點。在示例中，所有缺陷點都表示部件，但實際上存在沒有缺陷或MFP 101的 調(diào)整功能能夠解決缺陷的情況?；谠搨€原因，在本示例性實施例中，諸如"不存在缺陷點" 的情況或"未執(zhí)行校準處理"的情況等非物理原因也被定義為"缺陷點"中的一個。
[0078] 另外，在本示例性實施例中，由于計算了頻率特征量和顏色特征量，因此存在多個 數(shù)據(jù)庫601。無需費言，可W從多個特征量中計算出圖像特征量值）W創(chuàng)建數(shù)據(jù)庫。不僅可 W使用維修人員的處理結(jié)果，而且可W使用先前在設(shè)計時預測的數(shù)據(jù)或過去的產(chǎn)品數(shù)據(jù)來 創(chuàng)建數(shù)據(jù)庫601。
[0079] W下將描述使用數(shù)據(jù)庫601來估計缺陷點的方法。將W使用貝葉斯擴展公式的方 法為例進行描述。貝葉斯擴展公式由等式（3)來表示。
[0080]
【主權(quán)項】
1. 一種圖像處理裝置，其包括被配置為形成圖像的圖像形成單元，所述圖像處理裝置 包括： 存儲單元，其被配置為存儲利用由測量設(shè)備測量第一圖表的結(jié)果而獲取的基準特征 量； 第一獲取單元，其被配置為利用由所述測量設(shè)備測量第二圖表的結(jié)果獲取第一特征 量，所述第二圖表由所述圖像形成單元創(chuàng)建；W及 估計單元，其被配置為通過從所述存儲單元中存儲的所述基準特征量和所述第一獲 取單元獲取到的所述第一特征量中獲取第二特征量、利用所述第二特征量與關(guān)于所述圖像 處理裝置中生成的缺陷的信息相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)，從而估計在所述圖像處理裝置中生成的缺陷 點。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像處理裝置，其中，在接收到來自用戶的指令的情況下，由 所述圖像形成單元創(chuàng)建所述第二圖表。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像處理裝置，其中，所述第二圖表包括用于獲取所述第一 特征量的一種類型的圖案或多種類型的圖案。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像處理裝置，其中，所述基準特征量是表示所述測量設(shè)備 的特性的值。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像處理裝置，其中，所述第二特征量是所述第一特征量與 所述基準特征量間的差。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像處理裝置，其中，利用相同的圖表數(shù)據(jù)來輸出所述第一 圖表和所述第二圖表。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像處理裝置，其中，基于關(guān)于所述估計單元執(zhí)行估計之后 確認的缺陷點的信息，更新所述第二特征量與關(guān)于所述圖像處理裝置中生成的所述缺陷的 信息相關(guān)聯(lián)的所述數(shù)據(jù)。
8. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像處理裝置，所述圖像處理裝置還包括；第二獲取單元，其 被配置為獲取所述測量設(shè)備的劣化度，其中，所述估計單元利用所述數(shù)據(jù)及由所述第二獲 取單元獲取到的所述測量設(shè)備的所述劣化度來估計所述圖像處理裝置的缺陷點。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的圖像處理裝置，其中，利用所述第二獲取單元獲取到的所述 劣化度來更新所述第二特征量與關(guān)于所述圖像處理裝置中生成的所述缺陷的信息相關(guān)聯(lián) 的所述數(shù)據(jù)。
10. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像處理裝置，其中，在創(chuàng)建了所述第二圖表的情況下，促 使用戶使用與創(chuàng)建所述第一圖表所使用的片材的類型相同的片材類型。
11. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像處理裝置，其中，所述存儲單元存儲用于創(chuàng)建所述第一 圖表的片材的類型。
12. -種信息處理裝置，所述信息處理裝置包括： 第一獲取單元，其被配置為獲取作為測量設(shè)備測量第一圖表的結(jié)果的基準特征量； 第二獲取單元，其被配置為在所述第一獲取單元獲取到所述基準特征量后，獲取作為 所述測量設(shè)備測量第二圖表的結(jié)果的第一特征量；W及 估計單元，其被配置為通過從所述第一獲取單元獲取到的所述基準特征量和所述第二 獲取單元獲取到的所述第一特征量中獲取第二特征量、利用所述第二特征量與關(guān)于所述圖 像處理裝置中生成的缺陷的信息相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)，從而估計在所述圖像處理裝置中生成的缺 陷點。
13. -種圖像處理裝置的控制方法，所述圖像處理裝置包括被配置為形成圖像的圖像 形成單元，所述方法包括： 存儲利用由測量設(shè)備測量第一圖表的結(jié)果而獲取的基準特征量； 由所述圖像形成單元創(chuàng)建第二圖表； 利用由所述測量設(shè)備測量所述第二圖表的結(jié)果獲取第一特征量；W及 通過從所存儲的所述基準特征量和獲取到的所述第一特征量中獲取第二特征量、利用 所述第二特征量與關(guān)于所述圖像處理裝置中生成的缺陷的信息相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)，從而估計在 所述圖像處理裝置中生成的缺陷點。
14. 一種控制方法，所述控制方法包括： 獲取作為測量設(shè)備測量第一圖表的結(jié)果的基準特征量； 在獲取到所述基準特征量后，獲取作為所述測量設(shè)備測量第二圖表的結(jié)果的第一特征 量擬及 通過從獲取到的所述基準特征量和獲取到的所述第一特征量中獲取第二特征量、利用 所述第二特征量與關(guān)于所述圖像處理裝置中生成的缺陷的信息相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)，從而估計在 所述圖像處理裝置中生成的缺陷點。
【專利摘要】本發(fā)明公開一種圖像處理裝置及其控制方法和信息處理裝置及其控制方法。包括被配置為形成圖像的圖像形成單元的圖像處理裝置包括：存儲單元，其被配置為存儲利用由測量設(shè)備測量第一圖表的結(jié)果而獲取的基準特征量；第一獲取單元，其被配置為利用由所述測量設(shè)備測量第二圖表的結(jié)果獲取第一特征量，所述第二圖表由所述圖像形成單元創(chuàng)建；以及估計單元，其被配置為通過從所述存儲單元中存儲的所述基準特征量和所述第一獲取單元獲取到的所述第一特征量中獲取第二特征量、利用所述第二特征量與關(guān)于所述圖像處理裝置中生成的缺陷的信息相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)，從而估計在所述圖像處理裝置中生成的缺陷點。
【IPC分類】H04N1-60, H04N1-46
【公開號】CN104660860
【申請?zhí)枴緾N201410647587
【發(fā)明人】松崎公紀
【申請人】佳能株式會社
【公開日】2015年5月27日
【申請日】2014年11月15日
【公告號】EP2876501A2, EP2876501A3, US9148526, US20150138588