專利名稱：檢查串行通信設(shè)備的缺陷的儀器與方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及檢查進(jìn)行串行通信的設(shè)備的缺陷的技術(shù)，更具體地說，涉及用來檢查使用串行通信方法在設(shè)備與微處理器之間進(jìn)行串行通信的多個串行通信設(shè)備的缺陷的技術(shù)。
用作諸如監(jiān)控器等的圖像顯示設(shè)備的微處理器與通信設(shè)備之間使用串行通信方法來進(jìn)行數(shù)據(jù)通信，并可以使用單個串行通信線進(jìn)行串行通信。在這種情況下，在任何一個通信設(shè)備中出現(xiàn)缺陷時，其余的通信設(shè)備與微處理器的通信被中斷。結(jié)果，微處理器與通信設(shè)備不能正常工作。因此，必須檢查串行通信設(shè)備的缺陷。
通常，用戶都不得不直接檢查串行通信設(shè)備的缺陷，即通過一個一個地更換所有的設(shè)備來發(fā)現(xiàn)有缺陷的設(shè)備，這樣對用戶來說將耗費大量的時間與精力。結(jié)果，降低了產(chǎn)品的開發(fā)與生產(chǎn)的效率。
因此本發(fā)明的首要目標(biāo)是提供檢查多個串行通信設(shè)備的缺陷的儀器與方法，其中多個串行通信設(shè)備通過串行通信線連接到微處理器。
本發(fā)明的另一個目標(biāo)是提供檢查多個串行顯示設(shè)備的缺陷的儀器與方法，它能在外部顯示串行通信設(shè)備中的哪一個有缺陷。
為了實現(xiàn)本發(fā)明的上述目標(biāo)，提供了用來檢查多個串行通信設(shè)備的缺陷的儀器，這些設(shè)備并行連接在一條串行通信線上，它包括微處理器，通過串行通信線輸出一個控制信號以指定其中一個串行通信設(shè)備，并在接收來自所述設(shè)備的響應(yīng)信號的基礎(chǔ)上根據(jù)響應(yīng)信號檢查所指定的串行通信設(shè)備的缺陷。
為了實現(xiàn)本發(fā)明的上述目標(biāo)，這里還提供了用來檢查多個串行通信設(shè)備的缺陷的方法，它包括第一步，通過串行通信線將微處理器的控制信號輸出到多個串行通信設(shè)備以指定其中一個串行通信設(shè)備；第二步，多個串行通信設(shè)備接收控制信號并從多個串行通信設(shè)備中確定哪一個由所述控制信號指定；第三步，為了根據(jù)第二步的結(jié)果傳輸哪一個設(shè)備有缺陷而將響應(yīng)信號發(fā)送到微處理器；第四步，微處理器根據(jù)響應(yīng)信號檢查因此指定的串行通信設(shè)備的缺陷。
本發(fā)明參考附圖后將變得更加易于理解，附圖只是作為展示用，因此不受本發(fā)明的限制，其中

圖1是展示根據(jù)本發(fā)明的第一實施例檢查串行通信設(shè)備的缺陷的儀器的示意框圖。
圖2是根據(jù)本發(fā)明的第一實施例檢查串行通信設(shè)備的缺陷的方法的流程。
圖3是展示根據(jù)本發(fā)明的第二實施例檢查串行通信設(shè)備的缺陷的儀器的示意框圖。
圖1是展示根據(jù)本發(fā)明的第一實施例檢查串行通信設(shè)備的缺陷的儀器的示意框圖。如圖所示，微處理器10通過串行通信線20連接到多個串行通信設(shè)備31、32、33上，設(shè)備31、32、33彼此并行連接。微處理器10與多個串行通信設(shè)備31、32、33進(jìn)行串行數(shù)據(jù)傳輸，因此通過串行通信線20檢查設(shè)備31、32、33的缺陷。串行通信設(shè)備31、32、33能與微處理器10進(jìn)行串行傳輸。在微處理器10被用作圖像顯示的情況下，顯示設(shè)備也可以用作串行通信設(shè)備31、32、33。
微處理器10輸出作為缺陷信號的檢查結(jié)果。顯示裝置40用來接收缺陷信號并外部地在其上顯示結(jié)果。因此，用戶能確認(rèn)串行通信設(shè)備中的哪一個有缺陷。根據(jù)顯示功能可以使用不同種類的設(shè)備。參考數(shù)字41指定一個發(fā)光二極管單元，其具有多個發(fā)光二極管。參考數(shù)字42與43分別指定一個OSD(在屏顯示)和根據(jù)檢查結(jié)果調(diào)制并輸出脈沖的脈沖寬度調(diào)制器。參考數(shù)字44指定根據(jù)檢查結(jié)果改變與外界連接的輸入/輸出(I/O)端口的特別引腳的值的I/O裝置。
下面將詳細(xì)介紹根據(jù)本發(fā)明的第一實施例的檢查串行通信設(shè)備的缺陷的儀器的工作原理。
在微處理器10與多個串行通信設(shè)備31、32、33之間預(yù)先確定串行通信的通信協(xié)議。
微處理器10輸出一個作為控制信號的帶固定值的數(shù)據(jù)?？刂菩盘柊ㄒ粋€固定地址，它用來在設(shè)備31、32、33中選擇一個設(shè)備?？刂菩盘栍?位數(shù)據(jù)組成，8位用來載帶固定地址值。各個串行通信設(shè)備各自有自己獨一無二的地址值。為了方便，假設(shè)第一與第二串行通信設(shè)備31、32的固定地址值分別是“36”與“72”。
為了檢查第一串行通信設(shè)備31的缺陷，微處理器10輸出一個有固定地址值“36”的控制信號。
控制信號通過串行通信線20輸入到設(shè)備31、32、33。
串行通信設(shè)備31、32、33的每一個設(shè)備將自己的固定地址值與控制信號的固定地址值相比較，并因此確定串行通信設(shè)備31、32、33中哪一個設(shè)備被選擇。控制信號包括固定地址值“36”，因此第一串行通信設(shè)備31識別到自己被選擇。同時，由于輸入的固定地址值與其它的串行通信設(shè)備32、33的不一致，所以它們不被操作。
第一串行通信設(shè)備31輸出具有某一數(shù)據(jù)格式的第一響應(yīng)信號。第一響應(yīng)信號是一個由9位數(shù)字組成的數(shù)據(jù)。8位用來載帶它自己的固定地址值，1位是傳輸它是否有缺陷的確認(rèn)位。為了方便，這里假設(shè)在設(shè)備有缺陷時輸出“高”確認(rèn)位值，在設(shè)備沒有缺陷時輸出“低”。根據(jù)設(shè)計，確認(rèn)位值也可以設(shè)計得相反。
當(dāng)?shù)谝淮型ㄐ旁O(shè)備31沒有正常工作時，它輸出有固定地址值“36”的第一響應(yīng)信號，確認(rèn)位為“高”。
接收第一響應(yīng)信號的微處理器10檢查固定地址值“36”，從而確定第一響應(yīng)信號來自第一串行通信設(shè)備31。同樣，微處理器10識別到確認(rèn)位值為“高”，從而確定設(shè)備31有缺陷。然后，微處理器10根據(jù)檢查結(jié)果輸出缺陷信號到顯示裝置40。
如上所述，第一串行通信設(shè)備31通過輸出第一響應(yīng)信號到微處理器10以表明其缺陷狀況。然而，第一串行通信設(shè)備31因為沒有正常工作，可以不輸出響應(yīng)信號。因此，微處理器10可以預(yù)先確定的一個時間，其設(shè)置為稍長于從輸出控制信號到來自每個串行通信設(shè)備的響應(yīng)信號的輸入所采用的時間。在輸出具有第一串行通信設(shè)備31的固定地址值為“36”的控制信號后，微處理器10計算預(yù)先確定的時間。當(dāng)在預(yù)先確定的時間過去后沒有從第一串行通信設(shè)備31接收到第一響應(yīng)信號，微處理器10識別到設(shè)備31發(fā)生了缺陷，并將缺陷信號輸出到顯示裝置40。
在根據(jù)缺陷信號，對應(yīng)于第一串行通信設(shè)備31的發(fā)光二極管發(fā)光或顯示裝置40的發(fā)光二極管裝置41的顏色改變的情況下，用戶認(rèn)識到第一串行通信設(shè)備31有缺陷。OSD42根據(jù)缺陷信號在顯示屏幕上用字符顯示設(shè)備31的缺陷。脈沖寬度調(diào)制器43根據(jù)缺陷信號調(diào)制并輸出脈沖。I/O裝置44根據(jù)缺陷信號改變外部連接的I/O端口的輸出值，也就是通過I/O端口外部輸出的信號的電平或頻率。用戶用諸如示波器這樣的外部設(shè)備檢查從脈沖寬度調(diào)制器43或I/O裝置44輸出的信號，因此確認(rèn)哪一個串行通信設(shè)備有缺陷。另一方面，圖1展示了四個顯示裝置41、42、43、44。顯示裝置可以分別使用，或者可以同時使用兩個或多個顯示裝置，進(jìn)行不同的顯示或指示。
當(dāng)?shù)谝淮型ㄐ旁O(shè)備31的缺陷檢查結(jié)束后，微處理器10為了檢查第二串行通信設(shè)備的缺陷而輸出包括固定地址值“72”的控制信號，并對預(yù)先確定的時間計數(shù)。接收控制信號的第二串行通信設(shè)備32輸出第二響應(yīng)信號。微處理器10根據(jù)該第二響應(yīng)信號確定設(shè)備32是否有缺陷。另外，當(dāng)在預(yù)先確定的時間內(nèi)沒有從第二串行通信設(shè)備32接收到第二響應(yīng)信號時，微處理器10識別到設(shè)備32出現(xiàn)缺陷，并因此給顯示裝置40輸出缺陷信號。
上述過程對所有的串行通信設(shè)備31、32、33都要進(jìn)行，因此各個設(shè)備31、32、33的缺陷狀況都會被檢查出來。
圖2是根據(jù)本發(fā)明的第一實施例檢查串行通信設(shè)備的缺陷的過程的流程。
根據(jù)上面介紹的本發(fā)明的第一實施例，先檢查一個通信設(shè)備的缺陷并顯示檢查結(jié)果，然后再對下一個串行通信設(shè)備進(jìn)行缺陷檢查。
與本發(fā)明的第二實施例一致，在所有的串行通信設(shè)備上進(jìn)行缺陷檢查，并每次在外部顯示檢查結(jié)果。如圖3所示，圖1展示的儀器更進(jìn)一步包括一個存儲單元50，它連接在微處理器10與顯示裝置40之間，用來存儲串行通信設(shè)備31、32、33的檢查結(jié)果。在儀器被合并時，微處理器10中的RAM或類似元件可以用作存儲裝置50。
存儲裝置50包括與串行通信設(shè)備31、32、33一樣多的存儲空間。
當(dāng)完成對第一串行通信設(shè)備31的檢查時，微處理器10將固定地址值和設(shè)備31的檢查結(jié)果輸出到存儲裝置50。
存儲裝置50的第一存儲空間由所述固定地址值所指定，并在其中存儲第一串行通信設(shè)備31的檢查結(jié)果。當(dāng)所有的串行通信設(shè)備31、32、33的檢查過程都完成后，設(shè)備31、32、33的檢查結(jié)果都存儲在存儲裝置50的存儲空間內(nèi)。微處理器10輸出一個標(biāo)記信號給存儲裝置50。所述標(biāo)記信號是一個表示串行通信設(shè)備的缺陷檢查已經(jīng)完成的信號。
存儲裝置50響應(yīng)標(biāo)記信號，將串行通信設(shè)備31、32、33的檢查結(jié)果輸出到顯示裝置40。顯示裝置40的發(fā)光二極管裝置41、脈沖寬度調(diào)制器42、OSD43、或I/O裝置44按本發(fā)明的第一實施例介紹的那樣工作，因此外部顯示串行通信設(shè)備中哪一個設(shè)備有缺陷。
正如在前面所討論的那樣，根據(jù)本發(fā)明，串行通信設(shè)備的缺陷能由系統(tǒng)自己檢查，當(dāng)串行通信設(shè)備出現(xiàn)缺陷時會直接顯示，這樣將在制造與維護(hù)上提高效率。
如同本發(fā)明可以在不背離實質(zhì)精神的情況下以幾種形式來體現(xiàn)，可以理解除非特別指出，上述實施例并不受前面介紹的任何細(xì)節(jié)的限制，而應(yīng)在附加權(quán)利要求限定的精神與范圍內(nèi)廣泛理解，因此權(quán)利要求的交匯與范圍內(nèi)所有的改變與修改，以及等價變化都由附加權(quán)利要求所包含。
權(quán)利要求
1．在微處理器與多個串行通信設(shè)備由串行通信線連接的串行通信系統(tǒng)中，其中串行通信設(shè)備彼此并行連接，用于檢查多個串行通信設(shè)備的缺陷的儀器，它的特征在于微處理器通過串行通信線輸出一個控制信號，用來指定串行通信設(shè)備中的一個，并在從所指定的設(shè)備接收響應(yīng)信號時根據(jù)該響應(yīng)信號檢查所指定的串行通信設(shè)備的缺陷；根據(jù)指定每個串行通信設(shè)備的控制信號的接收，所述多個串行通信設(shè)備各自輸出響應(yīng)信號以說明其是否有缺陷。
2．權(quán)利要求1的用于檢查多個串行通信設(shè)備的缺陷的儀器，其中控制信號包括指定特定串行通信設(shè)備的固定地址值，響應(yīng)信號包括表示所指定串行通信設(shè)備是否有缺陷的固定地址值與確認(rèn)位，微處理器檢查確認(rèn)位值。
3．權(quán)利要求1的用于檢查多個串行通信設(shè)備的缺陷的儀器，其中微處理器在對一個串行通信設(shè)備進(jìn)行完缺陷檢查后繼續(xù)檢查下一個通信設(shè)備的缺陷。
4．權(quán)利要求1的用于檢查多個串行通信設(shè)備的缺陷的儀器，其中微處理器在輸出控制信號后的預(yù)先確定時間內(nèi)沒有從指定的設(shè)備接收到響應(yīng)信號的情況下，確定所指定的串行通信設(shè)備有缺陷。
5．用于檢查串行通信系統(tǒng)中多個串行通信設(shè)備的缺陷的儀器，所述串行通信系統(tǒng)有一個微處理器，經(jīng)一串行通信線與多個串行通信設(shè)備相連，所述串行通信設(shè)備彼此并行連接，其特征在于用來在外部表示有缺陷的串行通信設(shè)備的顯示裝置，其中微處理器將對應(yīng)于有缺陷的設(shè)備的缺陷信號輸出到顯示裝置；微處理器通過串行通信線輸出一個控制信號，用來指定一個串行通信設(shè)備，并在從所指定的設(shè)備接收響應(yīng)信號時根據(jù)響應(yīng)信號檢查所指定的串行通信設(shè)備的缺陷；根據(jù)指定每個串行通信設(shè)備的控制信號的接收，所述多個串行通信設(shè)備各自輸出響應(yīng)信號以說明其是否有缺陷。
6．權(quán)利要求5的用于檢查串行通信系統(tǒng)中多個串行通信設(shè)備的缺陷的儀器，其中顯示裝置包括多個發(fā)光二極管，為了表示缺陷設(shè)備，發(fā)光二極管接通或顏色改變。
7．權(quán)利要求5的用于檢查串行通信系統(tǒng)中多個串行通信設(shè)備的缺陷的儀器，其中顯示裝置包括一個在屏顯示器，用來用字符表示有缺陷的串行通信設(shè)備。
8．權(quán)利要求5的用于檢查串行通信系統(tǒng)中多個串行通信設(shè)備的缺陷的儀器，其中顯示裝置包括一個輸入/輸出裝置，用來根據(jù)缺陷信號轉(zhuǎn)化通過輸入/輸出端口外部輸出的信號。
9．權(quán)利要求5的用于檢查串行通信系統(tǒng)中多個串行通信設(shè)備的缺陷的儀器，其中顯示裝置包括一個用來根據(jù)缺陷信號產(chǎn)生脈沖或保持一個定值的裝置。
10．用于檢查串行通信系統(tǒng)中多個串行通信設(shè)備的缺陷的儀器，所述串行通信系統(tǒng)有一個微處理器，經(jīng)一串行通信線與多個串行通信設(shè)備相連，所述串行通信設(shè)備彼此并行連接，其特征在于用來存儲各個串行通信設(shè)備的檢查結(jié)果的存儲裝置并將所有串行通信設(shè)備的缺陷檢查完成之后輸出檢查結(jié)果；用來顯示檢查結(jié)果的顯示裝置；微處理器通過串行通信線輸出一個控制信號，用來指定一個串行通信設(shè)備，并在從所指定的設(shè)備接收響應(yīng)信號時根據(jù)響應(yīng)信號檢查所指定的串行通信設(shè)備的缺陷；根據(jù)指定每個串行通信設(shè)備的控制信號的接收，所述多個串行通信設(shè)備各自輸出響應(yīng)信號以說明其是否有缺陷。
11．在串行通信系統(tǒng)中，微處理器與多個串行通信設(shè)備由串行通信線連接，串行通信設(shè)備彼此并行連接，用于檢查多個串行通信設(shè)備的缺陷的方法，它的特征在于第一步，用來通過串行通信線從微處理器輸出一個控制信號，以指定其中一個串行通信設(shè)備；第二步，多個串行通信設(shè)備接收控制信號，并確定上述多個串行通信設(shè)備中哪一個設(shè)備由控制信號指定；第三步，為了表明各個設(shè)備是否有缺陷，根據(jù)第二步的結(jié)果發(fā)送響應(yīng)信號給微處理器；第四步，微處理器根據(jù)響應(yīng)信號檢查所指定的串行通信設(shè)備的缺陷。
12.權(quán)利要求11的用于檢查多個串行通信設(shè)備的缺陷的方法，其中在對一個串行通信設(shè)備進(jìn)行完缺陷檢查后繼續(xù)檢查下一個通信設(shè)備的缺陷。
13．權(quán)利要求11的用于檢查多個串行通信設(shè)備的缺陷的方法，其中控制信號包括指定特定串行通信設(shè)備的固定地址值，響應(yīng)信號包括固定地址值與表示所指定串行通信設(shè)備是否有缺陷的確認(rèn)位，微處理器檢查確認(rèn)位的值。
14．權(quán)利要求11的用于檢查多個串行通信設(shè)備的缺陷的方法，其中微處理器在輸出控制信號后的預(yù)先確定時間內(nèi)沒有接收到響應(yīng)信號的情況下，確定所指定的串行通信設(shè)備有缺陷。
15．權(quán)利要求11的用于檢查多個串行通信設(shè)備的缺陷的方法，更進(jìn)一步包括一個步驟用來外部表示有缺陷的串行通信設(shè)備。
16．權(quán)利要求11的用于檢查多個串行通信設(shè)備的缺陷的方法，更進(jìn)一步包括如下步驟存儲來自微處理器的串行通信設(shè)備的檢查結(jié)果，并在完成串行通信設(shè)備的缺陷檢查時輸出檢查結(jié)果；以及在外部顯示檢查結(jié)果。
全文摘要
檢查多個串行通信設(shè)備的缺陷的儀器和方法,其中微處理器通過串行通信線連接到多個串行通信設(shè)備,串行通信設(shè)備彼此并行連接,微處理器通過串行通信線指定一個串行通信設(shè)備,并在接收來自設(shè)備的響應(yīng)信號時根據(jù)響應(yīng)信號檢查所指定的串行通信設(shè)備,串行通信線使用響應(yīng)信號來傳輸各個設(shè)備是否有缺陷,顯示裝置在外部顯示缺陷檢查結(jié)果。
文檔編號H04L1/16GK1220423SQ9812528
公開日1999年6月23日 申請日期1998年12月15日 優(yōu)先權(quán)日1997年12月15日
發(fā)明者韓昌愚 申請人:Lg電子株式會社