一種用于測試光模塊的多通道自動測試方法及系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種用于測試光模塊的多通道自動測試系統(tǒng)和方法，通過計(jì)算機(jī)控制成對設(shè)置的多路光開關(guān)的選擇性導(dǎo)通來自動切換多個測試光通道，從而實(shí)現(xiàn)對多個測試光通道中的待測光模塊依次進(jìn)行自動測試；同時通過可調(diào)光衰減器實(shí)現(xiàn)光功率的程控，通過光功率計(jì)和光譜儀設(shè)備探測輸出光的功率和光譜特性，通過測試程序?qū)崿F(xiàn)對測試系統(tǒng)的自動化控制，將所有儀器儀表安插到機(jī)架中，最終形成一個完備的整體。使用這種多通道自動測試系統(tǒng)和方法可以提高光模塊測試效率和測試準(zhǔn)確性，節(jié)約勞動成本，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品生產(chǎn)的自動化、批量化。
【專利說明】一種用于測試光模塊的多通道自動測試方法及系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種光器件模塊測試的方法和裝置，尤其是能夠?qū)崿F(xiàn)以多個通道對光模塊進(jìn)行自動化測試的方法及系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
[0002]隨著光通信技術(shù)的快速發(fā)展，光通信系統(tǒng)中的光模塊的需求量日益遞增，這些光模塊在實(shí)際的生產(chǎn)和測試過程中，通常的做法是人工將一個光模塊安插到測試夾具中，依次執(zhí)行以下測試過程:通過誤碼儀來測試光模塊的誤碼，通過光譜儀測試光模塊的輸出光譜，通過功率計(jì)測試光模塊的輸出光功率，等。在現(xiàn)有技術(shù)中，誤碼測試是通過誤碼儀跟光模塊對接來測試光模塊的誤碼，由誤碼儀提供激勵光接入到光模塊，光模塊輸出光接回誤碼儀，然后測試一定時間段內(nèi)的誤碼情況；在現(xiàn)有技術(shù)中，通過在光模塊的輸入端接入激勵光源，將光模塊的輸入端接入到光譜儀，測試光模塊的輸出光譜；在現(xiàn)有技術(shù)中通過在光模塊的輸入端接入激勵光源，將光模塊的輸入端接入到光功率計(jì)，測試光模塊的輸出光功率；
[0003]但是，由于光模塊的測試指標(biāo)繁多，不同指標(biāo)的測試需要使用不同的測試儀器并相應(yīng)搭建不同的測試平臺，由此產(chǎn)生的頻繁的光纖連接、設(shè)備更替等工作勢必造成大量的人力成本，且隨著產(chǎn)品量產(chǎn)，測試工作量的增大，該生產(chǎn)方式將不能滿足生產(chǎn)需求。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]為了解決上述光模塊測試的生產(chǎn)效率低，人工成本高等問題,本發(fā)明提供一種基于多通道的光模塊測試測試系統(tǒng)和測試方法，該測試系統(tǒng)采用機(jī)架封裝代替?zhèn)鹘y(tǒng)的粗放式設(shè)備管理方式，該發(fā)明實(shí)現(xiàn)了生產(chǎn)和測試的自動化從而很大程度縮減人工成本，測試技術(shù)自動采集測試結(jié)果取代人工記錄，提高了生產(chǎn)效率和測試準(zhǔn)確性。
[0005]為了實(shí)現(xiàn)以上發(fā)明目的，如圖1，本發(fā)明的實(shí)現(xiàn)方案是:通過I分2耦合器將光路拆分，通過I分32光開關(guān)實(shí)現(xiàn)光路的自動切換，通過可調(diào)光衰減器實(shí)現(xiàn)光功率的程控，通過光功率計(jì)，光譜儀設(shè)備探測輸出光的功率和光譜特性，計(jì)算機(jī)通過測試程序?qū)崿F(xiàn)對測試系統(tǒng)的自動化控制，將所有儀器儀表安插到機(jī)架中，最終形成一個完備的整體。
[0006]本發(fā)明提供了一種用于測試光模塊的多通道自動測試系統(tǒng)，包括:誤碼儀、第一分光率禹合器、輸入光參數(shù)測試設(shè)備、第一多路光開關(guān)、第二多路光開關(guān)、第二分光稱合器、多個不同的輸出光參數(shù)測試設(shè)備以及測試控制主機(jī)；
[0007]所述誤碼儀、輸入光參數(shù)測試設(shè)備、多個不同的輸出光參數(shù)測試設(shè)備、第一多路光開關(guān)和第二多路光開關(guān)與所述測試控制主機(jī)相連；
[0008]所述第一多路光開關(guān)為一入N出光開關(guān)，所述第二多路光開關(guān)為N入一出光開關(guān)，N為大于I的整數(shù)，從而在所述第一多路光開關(guān)和第二多路光開關(guān)之間形成可由所述測試控制主機(jī)選擇性導(dǎo)通的多個測試光通道，至少一個所述測試光通道上設(shè)置有待測模塊。
[0009]在上述技術(shù)方案中，所述誤碼儀輸出的測試光信號被第一分光稱合器分成兩路，一路接入到輸入光參數(shù)測試設(shè)備，另一路接入到第一多路光開關(guān)；第二多路光開關(guān)輸出的光信號被第二分光稱合器分成多路，分別接入到多個不同的輸出光參數(shù)測試設(shè)備。
[0010]在上述技術(shù)方案中，所述輸入光參數(shù)測試設(shè)備包括光功率計(jì)；多個不同的輸出光參數(shù)測試設(shè)備包括光功率計(jì)、光譜儀、與轉(zhuǎn)換模塊相連的長程傳輸光纖中的一種或多種。
[0011]在上述技術(shù)方案中，誤碼儀和第一分光耦合器之間進(jìn)一步包括第一可調(diào)衰減器以調(diào)整誤碼儀輸出的測試光信號的強(qiáng)度，所述第一可調(diào)衰減器與所述測試控制主機(jī)相連。
[0012]在上述技術(shù)方案中，所述長程傳輸光纖和所述轉(zhuǎn)接模塊之間可進(jìn)一步設(shè)置第二可調(diào)衰減器以調(diào)整輸入轉(zhuǎn)接模塊的光信號的強(qiáng)度，所述第二可調(diào)衰減器與所述測試控制主機(jī)相連；所述轉(zhuǎn)換模塊的輸出通過固定光衰減器接回到誤碼儀的輸入端。
[0013]在上述技術(shù)方案中，所述第一分光稱合器為50:50的一分二稱合器；所述第一多路光開關(guān)為1*32光開關(guān)；所述第二多路光開關(guān)為32*1光開關(guān)；所述第二分光耦合器為一分三稱合器，稱合比例為10:10:80 ;所述長程傳輸光纖為80km的G.652光纖。
[0014]在上述技術(shù)方案中，進(jìn)一步包括用于裝載多個所述待測模塊的光模塊測試板機(jī)框，所述光模塊測試板機(jī)框上設(shè)置有光模塊測試板，所述光模塊測試板與所述測試控制主機(jī)相連，所述光模塊測試板通過排線實(shí)現(xiàn)所述測試控制主機(jī)與待測光模塊的通信，使得所述測試控制主機(jī)能夠通過電通信方式分別讀取多個所述待測模塊的電參數(shù)。
[0015]本發(fā)明還提供一種對多個光模塊進(jìn)行測試的方法，包括如下步驟:
[0016]步驟1，測試控制主機(jī)切換第一多路光開關(guān)和第二多路光開關(guān)到指定測試光通道;
[0017]步驟2，測試控制主機(jī)調(diào)整輸入到指定測試光通道中待測模塊的輸入光參數(shù)，使其到達(dá)目標(biāo)值Rnl ；
[0018]步驟3，測試控制主機(jī)調(diào)整輸入到轉(zhuǎn)接模塊輸入光參數(shù)，使其達(dá)到目標(biāo)值Rt ；
[0019]步驟4，測試控制主機(jī)讀取誤碼儀和多個不同的輸出光參數(shù)測試設(shè)備的測試數(shù)據(jù)并保存測試結(jié)果；
[0020]步驟5，調(diào)整測試參數(shù)重復(fù)步驟(1)-(4)，直到完成所有需要測試的功率點(diǎn)；
[0021]步驟6，測試控制主機(jī)切換第一多路光開關(guān)和第二多路光開關(guān)至另一指定測試光通道，重復(fù)步驟(1)-(5)，直到完成所有待測模塊的測試。
[0022]在上述技術(shù)方案中，在執(zhí)行步驟I之前還對第一多路光開關(guān)的每一個光路的光路損耗進(jìn)行測試，并將其記錄在配置文件中。
[0023]在上述技術(shù)方案中，所述步驟2中測試控制主機(jī)調(diào)整輸入到指定測試光通道中待測模塊的輸入光參數(shù)，使其到達(dá)目標(biāo)值Rnl，具體包括:測試控制主機(jī)通過逐步調(diào)節(jié)可調(diào)衰減器1，同時讀取輸入光參數(shù)測試設(shè)備所探測到的光功率P1，當(dāng)Pl = Rnl+Ll時，即達(dá)到調(diào)節(jié)第一個待測模塊輸入光功率的目的，LI為第一多路光開關(guān)的第一路光路的光路損耗。
[0024]在上述技術(shù)方案中，所述步驟3中測試控制主機(jī)調(diào)整輸入到轉(zhuǎn)接模塊輸入光參數(shù)，使其達(dá)到目標(biāo)值Rt，具體包括:測試控制主機(jī)通過逐步調(diào)節(jié)第二可調(diào)衰減器的衰減值，并同步讀取轉(zhuǎn)接模塊的接收功率Rti，當(dāng)Rti的功率等于目標(biāo)功率Rt時，即完成了轉(zhuǎn)接模塊輸入光功率的調(diào)節(jié)。
[0025]在上述技術(shù)方案中，所述步驟4中測試控制主機(jī)讀取的測試數(shù)據(jù)包括:誤碼儀測試的誤碼數(shù)，光功率計(jì)測得的待測模塊的輸入光功率，光譜儀測得的待測模塊的輸出光譜數(shù)據(jù)；測試控制主機(jī)對這些測試數(shù)據(jù)加以合格判定并保存測試數(shù)據(jù)到報(bào)表。
[0026]本發(fā)明取得了以下技術(shù)效果:
[0027]測試系統(tǒng)通過腳本引擎加載腳本執(zhí)行來控制整個系統(tǒng)的硬件設(shè)備，由于腳本修改都是ASCII文本，不需要重新編譯代碼，我們可以很方便地直接在用戶測試環(huán)境中進(jìn)行調(diào)試，及時發(fā)現(xiàn)錯誤，最終達(dá)到快速響應(yīng)用戶需求的目的。另外，不同測試命令的序列，也就是不同的腳本，可快速適應(yīng)不同測試設(shè)備及流程的目的，在面對不同的客戶需求，可以通過修改腳本實(shí)現(xiàn)各類測試任務(wù)，具有很好的擴(kuò)展性和兼容性。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0028]圖1是本發(fā)明的測試系統(tǒng)的光路圖；
[0029]圖2是本發(fā)明的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)拓?fù)鋱D；
[0030]圖3是本發(fā)明的系統(tǒng)的測試測試流程圖；
[0031]圖4是本發(fā)明的測試系統(tǒng)的軟件用戶界面。

【具體實(shí)施方式】
[0032]為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，下面結(jié)合實(shí)施方式和附圖，對本發(fā)明做進(jìn)一步詳細(xì)說明。在此，本發(fā)明的示意性實(shí)施方式及其說明用于解釋本實(shí)施新型，但并不作為對本發(fā)明的限定。
[0033]本發(fā)明提供的用于光模塊的多通道自動測試系統(tǒng)的光路如圖1所示，其包括誤碼儀、分光耦合器1、光功率計(jì)1、多路光開關(guān)1、多路光開關(guān)2、分光耦合器2、光功率計(jì)2、光譜儀、長程傳輸光纖、轉(zhuǎn)接模塊以及測試控制主機(jī)(圖中未示出)；多路光開關(guān)I為一入N出光開關(guān)，多路光開關(guān)2為N入一出光開關(guān)，N為大于等于I的整數(shù)，多路光開關(guān)I和多路光開關(guān)2與測試控制主機(jī)相連，從而在多路光開關(guān)I和多路光開關(guān)2之間形成可由測試控制主機(jī)選擇性導(dǎo)通的多個測試光通道，至少一個測試光通道上設(shè)置有待測模塊，多路光開關(guān)I和多路光開關(guān)2在測試控制主機(jī)的控制下將從誤碼儀輸出的測試光信號選通到指定的測試光通道，對該測試光通道上相應(yīng)的待測模塊進(jìn)行測試；其中，誤碼儀和分光耦合器I之間可進(jìn)一步設(shè)置可調(diào)衰減器I以調(diào)整誤碼儀輸出的測試光信號的強(qiáng)度，其調(diào)整范圍為0-50dB線性可調(diào)；長程傳輸光纖和轉(zhuǎn)接模塊之間可進(jìn)一步設(shè)置可調(diào)衰減器2以調(diào)整輸入轉(zhuǎn)接模塊的光信號的強(qiáng)度，其調(diào)整范圍為0-50dB線性可調(diào)；轉(zhuǎn)接模塊和誤碼儀之間可進(jìn)一步設(shè)置固定衰減器(1dB)以防止誤碼儀過載。
[0034]典型的測試光路如圖1所示，誤碼儀輸出端Tx接可調(diào)衰減器I的輸入，可調(diào)衰減器I的輸出接入分光稱合器I，分光稱合器I為50:50的一分二稱合器,分光稱合器I的兩個輸出分別接光功率計(jì)I和多路光開關(guān)I的輸入，多路光開關(guān)I優(yōu)選為1*32光開關(guān)，多路光開關(guān)2優(yōu)選為32*1光開關(guān)，多路光開關(guān)I的32個輸出可分別接32個待測模塊，待測模塊為需要測試的光模塊、光器件、光設(shè)備、光系統(tǒng)中的一個或多個，待測模塊的輸入接入到多路光開關(guān)2,多路光開關(guān)2的輸出接入分光稱合器2,分光稱合器2為一分三稱合器,I禹合比例優(yōu)選為10:10:80，分光耦合器2的三個輸出分別接功率計(jì)2、光譜儀和長程傳輸光纖，長程傳輸光纖可以根據(jù)需要任意選擇，如80km的G.652光纖,光纖的輸出接可調(diào)衰減器2,可調(diào)衰減器2的輸出接轉(zhuǎn)接模塊的輸入端Rt，轉(zhuǎn)接模塊的輸出端Tt串聯(lián)一個1dB的固定衰減器后接回誤碼儀輸出端Rx，在測試控制主機(jī)的控制下，多路光開關(guān)I和多路光開關(guān)2選擇性導(dǎo)通多個測試光通道中的任意一個，從而對選擇導(dǎo)通的測試光通道中的待測模塊進(jìn)行測試。
[0035]圖2為系統(tǒng)結(jié)構(gòu)拓?fù)鋱D，示出了硬件連接拓?fù)潢P(guān)系，測試控制主機(jī)可以是安裝有專用測試軟件的個人計(jì)算機(jī)、工作站、服務(wù)器、嵌入式系統(tǒng)等，測試控制主機(jī)可以分為用戶層、運(yùn)算層、控制層，用戶層提供與用戶交互的圖形用戶界面(GUI)，運(yùn)算層執(zhí)行控制邏輯，控制層提供與測試系統(tǒng)的硬件通信接口。如圖2所示，測試控制主機(jī)通過通信接口，例如串口、并口、USB、以太網(wǎng)、光纖、WIF1、紅外、藍(lán)牙等，分別控制可調(diào)衰減器1、可調(diào)衰減器2、功率計(jì)1、功率計(jì)2和誤碼儀；通過GPIB (General-Purpose Interface Bus,通用接口總線)線對光譜儀通訊；通過以太網(wǎng)線控制1*32光開關(guān)1、32*1光開關(guān)2和光模塊測試板，光模塊測試板通過排線實(shí)現(xiàn)對待測光模塊的通信。
[0036]優(yōu)選地，本發(fā)明提供的多通道自動測試系統(tǒng)中還可以進(jìn)一步設(shè)置裝載多個待測模塊的光模塊測試板機(jī)框，即可將32個待測光模塊安裝于同一機(jī)框中，方便待測光模塊的安裝與固定，光模塊測試板可以是光模塊測試板機(jī)框的背板，也可以單獨(dú)設(shè)置，使得待測光模塊安裝于光模塊測試板機(jī)框之后，可以與光模塊測試板機(jī)框進(jìn)行可靠地電通信，從而方便測試控制主機(jī)分別或同時讀取32個待測光模塊的電參數(shù)。
[0037]優(yōu)選地，測試系統(tǒng)通過軟件定義的測試流程，自動的完成產(chǎn)品的測試流程，測試方法的具體過程如下:
[0038](I)連接所有使用設(shè)備，串口通信設(shè)備有:可調(diào)衰減器1，可調(diào)衰減器2，光功率計(jì)I,光功率計(jì)2，誤碼儀，測試控制主機(jī)通過發(fā)送連接指令與之建立串口(RS232)連接；網(wǎng)口通信設(shè)備有:多路光開關(guān)1，多路光開關(guān)2，光模塊測試板，測試控制主機(jī)通過發(fā)送連接指令與之建立起網(wǎng)口連接，通信方式是m)P通信；測試控制主機(jī)通過發(fā)送GPIB指令建立與光譜儀的GPIB通訊連接；
[0039](2)測試控制主機(jī)切換多路光開關(guān)I和多路光開關(guān)2到指定測試光通道，例如測試控制主機(jī)切換光開關(guān)I和光開關(guān)2到第二測試光通道。如圖1所示，1*32路光開關(guān)I與32*1路光開關(guān)2中間串聯(lián)了 32個待測模塊，通過這兩個多路光開關(guān)的同步切換來實(shí)現(xiàn)對指定待測模塊執(zhí)行自動測試的目的，對于要測試的第一個待測模塊來說，需要兩個多路光開關(guān)同步都切換到光路一，這樣這個測試系統(tǒng)光路形成一個完整的回路，即可實(shí)現(xiàn)后續(xù)的指標(biāo)測試；
[0040](3)調(diào)節(jié)可調(diào)衰減器I的衰減增益，使待測模塊I的輸入光到達(dá)目標(biāo)值Rnl，從圖1所示光路結(jié)構(gòu)圖可知，功率計(jì)I探測到的光功率Pl跟第一個待測模塊輸入光功率Rnl存在如下關(guān)系:P1 = Rnl+Ll,其中LI是多路光開關(guān)I的第一路光路損耗，其中該光路損耗預(yù)先測試出來并保存在配置文件中。為了達(dá)到待測模塊I的輸入光功率Rnl，采取的實(shí)施辦法是，測試控制主機(jī)通過逐步調(diào)節(jié)可調(diào)衰減器1，同時讀取功率計(jì)I的探測功率Pl，當(dāng)Pl =Rnl+Ll時，即達(dá)到調(diào)節(jié)第一個待測模塊輸入光功率的目的；
[0041](4)測試控制主機(jī)調(diào)節(jié)可調(diào)衰減器2，使轉(zhuǎn)接模塊的接收功率達(dá)到目標(biāo)值Rt，如圖1所示，測試控制主機(jī)通過逐步調(diào)節(jié)可調(diào)衰減器2的衰減值，并同步讀取轉(zhuǎn)接模塊的接收功率Rti，當(dāng)Rti的功率等于目標(biāo)功率Rt時，即完成了轉(zhuǎn)接模塊輸入光功率的調(diào)節(jié)；
[0042](5)測試控制主機(jī)讀取測試數(shù)據(jù)并保持測試結(jié)果，主要的測試數(shù)據(jù)有:通過誤碼儀測試的誤碼數(shù)，通過功率計(jì)2讀取待測模塊的輸入光功率，通過取光譜儀讀取待測模塊的輸出光譜數(shù)據(jù)，對這些數(shù)據(jù)加以合格判定并保存數(shù)據(jù)到報(bào)表；
[0043](6)調(diào)整測試參數(shù)重復(fù)步驟(2)?(5)，例如通過設(shè)置可調(diào)衰減器I衰減，使得第一個待測模塊輸入光功率達(dá)到另一目標(biāo)值Rnl_2，保存測試數(shù)據(jù)，直到完成所有需要測試的功率點(diǎn)；
[0044](7)測試控制主機(jī)切換多路光開關(guān)I和多路光開關(guān)2到另一指定測試光通道重復(fù)步驟(2)?(6)，例如測試控制主機(jī)切換光開關(guān)I和光開關(guān)2到第二測試光通道，通過設(shè)置可調(diào)衰減器I衰減，使得第二個待測模塊輸入光功率達(dá)到目標(biāo)值Rn2，切換光開關(guān)到光路2，保存測試數(shù)據(jù)，直到完成最后一個待測模塊的測試，從而實(shí)現(xiàn)32個待測模塊的測試。
[0045]上述測試流程可以ASCII文本腳本方式進(jìn)行編輯和存儲，測試控制主機(jī)中可以進(jìn)一步包括腳本處理模塊，通過腳本處理模塊自動加載選擇/設(shè)定的測試腳本來執(zhí)行上述測試流程，由此可以通過修改腳本實(shí)現(xiàn)各類測試任務(wù)，面對不同的客戶需求快速適應(yīng)不同測試設(shè)備及流程，具有很好的擴(kuò)展性和兼容性。
[0046]以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實(shí)施例，并非對本發(fā)明作任何形式上的限制，凡是依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)對以上實(shí)施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬本發(fā)明技術(shù)方案的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種用于測試光模塊的多通道自動測試系統(tǒng)，其特征在于包括:誤碼儀、第一分光率禹合器、輸入光參數(shù)測試設(shè)備、第一多路光開關(guān)、第二多路光開關(guān)、第二分光稱合器、多個不同的輸出光參數(shù)測試設(shè)備以及測試控制主機(jī)； 所述誤碼儀、輸入光參數(shù)測試設(shè)備、多個不同的輸出光參數(shù)測試設(shè)備、第一多路光開關(guān)和第二多路光開關(guān)與所述測試控制主機(jī)相連； 所述第一多路光開關(guān)為一入N出光開關(guān)，所述第二多路光開關(guān)為N入一出光開關(guān)，N為大于I的整數(shù)，從而在所述第一多路光開關(guān)和第二多路光開關(guān)之間形成可由所述測試控制主機(jī)選擇性導(dǎo)通的多個測試光通道，至少一個所述測試光通道上設(shè)置有待測模塊。
2.如權(quán)利要求1所述的用于測試光模塊的多通道自動測試系統(tǒng)，其特征在于:所述誤碼儀輸出的測試光信號被第一分光稱合器分成兩路，一路接入到輸入光參數(shù)測試設(shè)備，另一路接入到第一多路光開關(guān)；第二多路光開關(guān)輸出的光信號被第二分光稱合器分成多路，分別接入到多個不同的輸出光參數(shù)測試設(shè)備。
3.如權(quán)利要求2所述的用于測試光模塊的多通道自動測試系統(tǒng)，其特征在于:所述輸入光參數(shù)測試設(shè)備包括光功率計(jì)；多個不同的輸出光參數(shù)測試設(shè)備包括光功率計(jì)、光譜儀、與轉(zhuǎn)換模塊相連的長程傳輸光纖中的一種或多種。
4.如權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的用于測試光模塊的多通道自動測試系統(tǒng)，其特征在于:誤碼儀和第一分光耦合器之間進(jìn)一步包括第一可調(diào)衰減器以調(diào)整誤碼儀輸出的測試光信號的強(qiáng)度，所述第一可調(diào)衰減器與所述測試控制主機(jī)相連。
5.如權(quán)利要求4所述的用于測試光模塊的多通道自動測試系統(tǒng)，其特征在于:所述長程傳輸光纖和所述轉(zhuǎn)接模塊之間可進(jìn)一步設(shè)置第二可調(diào)衰減器以調(diào)整輸入轉(zhuǎn)接模塊的光信號的強(qiáng)度，所述第二可調(diào)衰減器與所述測試控制主機(jī)相連；所述轉(zhuǎn)換模塊的輸出通過固定光衰減器接回到誤碼儀的輸入端。
6.如權(quán)利要求5中所述的用于測試光模塊的多通道自動測試系統(tǒng)，其特征在于:所述第一分光稱合器為50:50的一分二稱合器；所述第一多路光開關(guān)為1*32光開關(guān)；所述第二多路光開關(guān)為32*1光開關(guān)；所述第二分光稱合器為一分三稱合器，稱合比例為10:10:80 ；所述長程傳輸光纖為80km的G.652光纖。
7.如權(quán)利要求1-6中任一項(xiàng)所述的用于測試光模塊的多通道自動測試系統(tǒng)，其特征在于:進(jìn)一步包括用于裝載多個所述待測模塊的光模塊測試板機(jī)框，所述光模塊測試板機(jī)框上設(shè)置有光模塊測試板，所述光模塊測試板與所述測試控制主機(jī)相連，所述光模塊測試板通過排線實(shí)現(xiàn)所述測試控制主機(jī)與待測模塊的通信，使得所述測試控制主機(jī)能夠通過電通信方式分別讀取多個所述待測模塊的電參數(shù)。
8.一種使用權(quán)利要求1-7所述的多通道自動測試系統(tǒng)對多個光模塊進(jìn)行測試的方法，其特征在于包括如下步驟: 步驟I，測試控制主機(jī)切換第一多路光開關(guān)和第二多路光開關(guān)到指定測試光通道； 步驟2，測試控制主機(jī)調(diào)整輸入到指定測試光通道中待測模塊的輸入光參數(shù)，使其到達(dá)目標(biāo)值Rnl ； 步驟3，測試控制主機(jī)調(diào)整輸入到轉(zhuǎn)接模塊輸入光參數(shù)，使其達(dá)到目標(biāo)值Rt ； 步驟4，測試控制主機(jī)讀取誤碼儀和多個不同的輸出光參數(shù)測試設(shè)備的測試數(shù)據(jù)并保存測試結(jié)果； 步驟5，調(diào)整測試參數(shù)重復(fù)步驟(1)-(4)，直到完成所有需要測試的功率點(diǎn)； 步驟6，測試控制主機(jī)切換第一多路光開關(guān)和第二多路光開關(guān)至另一指定測試光通道，重復(fù)步驟(1)-(5)，直到完成所有待測模塊的測試。
9.如權(quán)利要求8所述的對多個光模塊進(jìn)行測試的方法，其特征在于:在執(zhí)行步驟I之前還對第一多路光開關(guān)的每一個光路的光路損耗進(jìn)行測試，并將其記錄在配置文件中。
10.如權(quán)利要求9所述的對多個光模塊進(jìn)行測試的方法，其特征在于:所述步驟2中測試控制主機(jī)調(diào)整輸入到指定測試光通道中待測模塊的輸入光參數(shù)，使其到達(dá)目標(biāo)值Rnl，具體包括:測試控制主機(jī)通過逐步調(diào)節(jié)可調(diào)衰減器1，同時讀取輸入光參數(shù)測試設(shè)備所探測到的光功率P1，當(dāng)Pl = Rnl+Ll時，即達(dá)到調(diào)節(jié)第一個待測模塊輸入光功率的目的，LI為第一多路光開關(guān)的第一路光路的光路損耗。
11.如權(quán)利要求8所述的對多個光模塊進(jìn)行測試的方法，其特征在于:所述步驟3中測試控制主機(jī)調(diào)整輸入到轉(zhuǎn)接模塊輸入光參數(shù)，使其達(dá)到目標(biāo)值Rt，具體包括:測試控制主機(jī)通過逐步調(diào)節(jié)第二可調(diào)衰減器的衰減值，并同步讀取轉(zhuǎn)接模塊的接收功率Rti,當(dāng)Rti的功率等于目標(biāo)功率Rt時，即完成了轉(zhuǎn)接模塊輸入光功率的調(diào)節(jié)。
12.如權(quán)利要求8所述的對多個光模塊進(jìn)行測試的方法，其特征在于:所述步驟4中測試控制主機(jī)讀取的測試數(shù)據(jù)包括:誤碼儀測試的誤碼數(shù)，光功率計(jì)測得的待測模塊的輸入光功率，光譜儀測得的待測模塊的輸出光譜數(shù)據(jù)；測試控制主機(jī)對這些測試數(shù)據(jù)加以合格判定并保存測試數(shù)據(jù)到報(bào)表。
【文檔編號】H04B10/073GK104333415SQ201410502132
【公開日】2015年2月4日 申請日期:2014年9月26日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月26日
【發(fā)明者】裴青峰, 李仲偉, 鮑婕, 喻杰奎, 周治柱 申請人:武漢光迅科技股份有限公司