專利名稱：基于蛇形流的網(wǎng)絡(luò)端口測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種基于蛇形流的網(wǎng)絡(luò)端ロ測試方法。
背景技術(shù)：
在通信設(shè)備中，網(wǎng)絡(luò)端ロ的密度越來越高，特別是在高密交換機和路由器中表現(xiàn)的更明顯，這樣就給網(wǎng)絡(luò)端ロ的流量測試帶來極大的不便、物料成本的上升和測試周期的延長。隨著云計算的發(fā)展，特別是大型數(shù)據(jù)中心的建設(shè)加快，對于高密度的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的需求急劇增加，當前適應(yīng)低密度的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試方法已影響到高密網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試效率。對于低密度的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備，如圖4所示，網(wǎng)絡(luò)端ロ少，目前的測試方法是從端ロ I-端ロ 12，逐個端ロ測試，兩兩端ロ之間流量對打，然后以遍歷的方式測完所有端ロ。對于高密網(wǎng)絡(luò)設(shè)備，如圖5所示，網(wǎng)絡(luò)端口數(shù)量多，應(yīng)用當前的測試方法，測試周期大大延長，測試成本大大提高，對產(chǎn)品的及時推向市場帶來很大的挑戰(zhàn)。采用現(xiàn)有的逐個測試的方法測試大量的網(wǎng)絡(luò)端ロ時，具有以下缺點測試周期長，效率低，需要遍歷所有的網(wǎng)絡(luò)端ロ，只適用于端ロ密度小的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備，隨著設(shè)備端ロ密度的増加，該方法測試周期會成本的增長；人工參與多，端ロ遍歷測試，需要人為更換網(wǎng)線，光模塊，光纖等，必須有專人負責(zé)整個測試過程。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是為避免上述已有技術(shù)中存在的不足之處，提供了一種基于蛇形流的網(wǎng)絡(luò)端ロ測試方法，以提高高密網(wǎng)絡(luò)設(shè)備網(wǎng)絡(luò)端ロ的測試效率、節(jié)約測試成本。本發(fā)明提供了一種基于蛇形流的網(wǎng)絡(luò)端ロ測試方法。基于蛇形流的網(wǎng)絡(luò)端ロ測試方法，其特征是，包括以下步驟(I)判斷系統(tǒng)是單芯片轉(zhuǎn)發(fā)系統(tǒng)還是多芯片轉(zhuǎn)發(fā)系統(tǒng)；(2)根據(jù)系統(tǒng)類型，設(shè)置蛇形流規(guī)則；(3)根據(jù)芯片寄存器通過命令行設(shè)置端ロ環(huán)回功能(4)按照組網(wǎng)圖組網(wǎng)( 5 )啟動測試儀打流量測試(6)等待測試時間到，觀察測試儀丟包情況，測試完成。與已有技術(shù)相比，本發(fā)明有益效果體現(xiàn)在本發(fā)明的網(wǎng)絡(luò)端ロ測試方法，選定首端口和尾端ロ與測試儀端ロ相連，其他端ロ按順序設(shè)置環(huán)回，形成蛇形流，采用該測試方案后，大大縮短了高密網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試周期，有效的降低了人力成本和管理成本，提高了產(chǎn)品的綜合競爭力。本發(fā)明的網(wǎng)絡(luò)端ロ測試方法，具有可縮短高密網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試周期、降低測試成本等優(yōu)點。


圖I為本發(fā)明的基于蛇形流的網(wǎng)絡(luò)端ロ測試方法的單芯片轉(zhuǎn)發(fā)系統(tǒng)的測試示意圖。圖2為本發(fā)明的基于蛇形流的網(wǎng)絡(luò)端ロ測試方法的多芯片轉(zhuǎn)發(fā)系統(tǒng)的測試示意圖。圖3為本發(fā)明的基于蛇形流的網(wǎng)絡(luò)端ロ測試方法的環(huán)形流量方向示意圖。圖4為低密度網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的端ロ分布示意圖。圖5為高密度網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的端ロ分布示意圖。以下通過具體實施方式
，并結(jié)合附圖對本發(fā)明作進ー步說明。
具體實施例方式參見圖1-3，基于蛇形流的網(wǎng)絡(luò)端ロ測試方法，包括以下步驟 (I)判斷系統(tǒng)是單芯片轉(zhuǎn)發(fā)系統(tǒng)還是多芯片轉(zhuǎn)發(fā)系統(tǒng)；(2)根據(jù)系統(tǒng)類型，設(shè)置蛇形流規(guī)則；(3)根據(jù)芯片寄存器通過命令行設(shè)置端ロ環(huán)回功能；(4)按照組網(wǎng)圖組網(wǎng)；將各個被測試端ロ、轉(zhuǎn)發(fā)芯片、測試儀等通過導(dǎo)線連接起來，形成測試系統(tǒng)；(5)啟動測試儀打流量測試；測試儀發(fā)出流量經(jīng)過各個端口和轉(zhuǎn)發(fā)芯片形成ー個循環(huán)；(6)等待測試時間到，觀察測試儀丟包情況，測試完成。如圖I所示，對于單轉(zhuǎn)發(fā)芯片構(gòu)成的轉(zhuǎn)發(fā)系統(tǒng)，按上述組網(wǎng)圖連接好設(shè)備，選定端ロ I和端ロ 48與測試儀端ロ相連，按順序2-47端ロ設(shè)置環(huán)回，形成蛇形流。如圖2所示，對于多轉(zhuǎn)發(fā)芯片構(gòu)成的轉(zhuǎn)發(fā)系統(tǒng)，蛇形流的設(shè)置原則是，流量從ー個端ロ到另ー個端ロ必須跨轉(zhuǎn)發(fā)芯片，這樣同時能保證芯片轉(zhuǎn)發(fā)能力以及物理鏈路信號完整性的測試。單芯片轉(zhuǎn)發(fā)系統(tǒng)的測試過程流量從測試儀Tx端ロ出發(fā)，進入端ロ I，轉(zhuǎn)發(fā)芯片根據(jù)單芯片系統(tǒng)的轉(zhuǎn)發(fā)規(guī)則設(shè)置，將流量從端ロ 2轉(zhuǎn)發(fā)出去，然后在端ロ設(shè)置流量的環(huán)回回到轉(zhuǎn)發(fā)芯片，再根據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)規(guī)則將流量轉(zhuǎn)發(fā)到端ロ 3，以此類推，直到流量從端ロ 48返回測試儀，在測試儀上保留并觀察測試結(jié)果。多芯片轉(zhuǎn)發(fā)系統(tǒng)的測試過程多芯片的轉(zhuǎn)發(fā)過程類似于單芯片轉(zhuǎn)發(fā)系統(tǒng)，但流量轉(zhuǎn)發(fā)規(guī)則必須是跨越轉(zhuǎn)發(fā)芯片。
權(quán)利要求
1.基于蛇形流的網(wǎng)絡(luò)端口測試方法，其特征是，包括以下步驟(1)判斷系統(tǒng)是單芯片轉(zhuǎn)發(fā)系統(tǒng)還是多芯片轉(zhuǎn)發(fā)系統(tǒng)；(2)根據(jù)系統(tǒng)類型，設(shè)置蛇形流規(guī)則；(3)根據(jù)芯片寄存器通過命令行設(shè)置端口環(huán)回功能； (4)按照組網(wǎng)圖組網(wǎng)；(5)啟動測試儀打流量測；(6)等待測試時間到，觀察測試儀丟包情況，測試完成。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種基于蛇形流的網(wǎng)絡(luò)端口測試方法，判斷系統(tǒng)是單芯片轉(zhuǎn)發(fā)系統(tǒng)還是多芯片轉(zhuǎn)發(fā)系統(tǒng)；根據(jù)系統(tǒng)類型，設(shè)置蛇形流規(guī)則；根據(jù)芯片寄存器通過命令行設(shè)置端口環(huán)回功能；按照組網(wǎng)圖組網(wǎng)；啟動測試儀打流量測試；等待測試時間到，觀察測試儀丟包情況，測試完成。本發(fā)明的網(wǎng)絡(luò)端口測試方法，具有可縮短高密網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試周期、降低測試成本等優(yōu)點。
文檔編號H04L12/26GK102684948SQ20121017007
公開日2012年9月19日 申請日期2012年5月29日 優(yōu)先權(quán)日2012年5月29日
發(fā)明者汪樹東 申請人:合肥華云通信技術(shù)有限公司