專利名稱：一種無(wú)線終端類產(chǎn)品的整機(jī)ota性能的快速評(píng)估方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種無(wú)線終端類產(chǎn)品的整機(jī)OTA性能的快速評(píng)估方法。背景技術(shù)：
隨著個(gè)人通訊技術(shù)的高速發(fā)展，無(wú)線終端類產(chǎn)品逐漸成為人們?nèi)粘９ぷ骱蜕钪斜夭豢缮俚墓ぞ撸壳霸跓o(wú)線終端產(chǎn)品類的研發(fā)上其重要指標(biāo)，整機(jī)OTA性能的前期測(cè)試評(píng)估中，通常的評(píng)估方法是
第一步，根據(jù)客戶需求進(jìn)行無(wú)線終端產(chǎn)品的外形結(jié)構(gòu)ID設(shè)計(jì)，天線設(shè)計(jì)人員以及天線設(shè)計(jì)廠家在已有的結(jié)構(gòu)造型ID設(shè)計(jì)的基礎(chǔ)上進(jìn)行內(nèi)外置天線的前期無(wú)源射頻仿真評(píng)估， 給出初步內(nèi)外置天線電路板上凈空面積要求、電路布局和布線面積的要求、結(jié)構(gòu)造型ID的局部修改要求；
第二步，無(wú)線終端產(chǎn)品的硬件電路設(shè)計(jì)人員再根據(jù)結(jié)構(gòu)造型ID設(shè)計(jì)和天線射頻仿真評(píng)估給出的電路布局面積上進(jìn)行整機(jī)功能電路設(shè)計(jì)；
第三步，待硬件電路設(shè)計(jì)人員完成整機(jī)功能電路設(shè)計(jì)以及投板加工、貼片焊接、整機(jī)電路自測(cè)試通過(guò)后，天線設(shè)計(jì)人員及設(shè)計(jì)廠家才能將內(nèi)外置天線安裝到已測(cè)試的整機(jī)電路上并裝配到整機(jī)結(jié)構(gòu)中再次進(jìn)行無(wú)線終端產(chǎn)品的整機(jī)無(wú)源測(cè)試和整機(jī)有源OTA性能測(cè)試；
第四步，根據(jù)無(wú)線終端產(chǎn)品的整機(jī)無(wú)源測(cè)試和整機(jī)有源OTA性能測(cè)試結(jié)果，天線設(shè)計(jì)人員及設(shè)計(jì)廠家在已有的電路板凈空面積中調(diào)整天線自身的技術(shù)指標(biāo)和與整機(jī)電路的輸入輸出端口的射頻匹配特性，直至調(diào)整到滿足整機(jī)有源OTA性能指標(biāo)要求，最后提交給客戶進(jìn)行整機(jī)性能的最終測(cè)試確認(rèn)。此無(wú)線終端產(chǎn)品類的整機(jī)OTA性能的前期測(cè)試評(píng)估中無(wú)線終端產(chǎn)品的內(nèi)外置天線設(shè)計(jì)時(shí)間、周期太長(zhǎng)；無(wú)線終端產(chǎn)品整機(jī)內(nèi)外置天線的性能設(shè)計(jì)好壞與整機(jī)電路性能設(shè)計(jì)的好壞無(wú)法快速區(qū)別分析及問(wèn)題定位；內(nèi)外置天線的前期設(shè)計(jì)評(píng)估不能實(shí)際反映到整機(jī)最終的OTA測(cè)試結(jié)果；整機(jī)硬件電路的不穩(wěn)定、掉線、連接不上、輸出功率不穩(wěn)定等會(huì)嚴(yán)重影響內(nèi)外置天線的設(shè)計(jì)評(píng)估；在多通訊制式融合的整機(jī)終端產(chǎn)品天線設(shè)計(jì)上不能快速有效地反映整機(jī)最終的多通訊制式相互干擾情況；無(wú)線終端產(chǎn)品的整機(jī)OTA性能只能通過(guò)后期的整機(jī)有源測(cè)試進(jìn)行微調(diào)，微調(diào)結(jié)果會(huì)嚴(yán)重影響內(nèi)外置天線自身的其它輻射指標(biāo)；如果無(wú)線終端產(chǎn)品的整機(jī)OTA性能測(cè)試不滿足指標(biāo)要求，通過(guò)天線微調(diào)及整機(jī)電路調(diào)整仍然不能解決的話，就要重新進(jìn)行外形結(jié)構(gòu)ID的設(shè)計(jì)，這樣整個(gè)項(xiàng)目就會(huì)存在巨大的成敗風(fēng)險(xiǎn)等問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為了解決上述背景中的不足之處，提供一種可以大幅度加快產(chǎn)品的測(cè)試評(píng)估、 分析決策，縮短產(chǎn)品的研發(fā)周期及上市時(shí)間的無(wú)線終端類產(chǎn)品的整機(jī)OTA性能的快速評(píng)估方法。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案為一種無(wú)線終端類產(chǎn)品的整機(jī)OTA性能的快速評(píng)估方法，其特征在于所述的評(píng)估方法的步驟為
(1)按照通訊制式分別設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)接口的射頻接收靈敏度可步進(jìn)調(diào)節(jié)以及射頻發(fā)射功率可步進(jìn)調(diào)節(jié)的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模塊或直接購(gòu)買現(xiàn)成測(cè)試模塊；
(2)對(duì)于單一通訊制式的無(wú)線終端產(chǎn)品整機(jī)有源測(cè)試可以用加有不同長(zhǎng)度測(cè)試電纜線及校準(zhǔn)定標(biāo)后的相應(yīng)測(cè)試模塊作為整機(jī)OTA測(cè)試評(píng)估、內(nèi)外置天線評(píng)估、結(jié)構(gòu)ID設(shè)計(jì)評(píng)估的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電路；
(3)對(duì)于多種通訊制式融合的無(wú)線終端產(chǎn)品整機(jī)有源測(cè)試；
(4)評(píng)估在有較強(qiáng)干擾時(shí)的整機(jī)OTA性能。
所述的評(píng)估方法的步驟為
第一步，按照目前世界上主流的多種通訊制式分別設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)USB接口的射頻接收靈敏度可步進(jìn)調(diào)節(jié)以及射頻發(fā)射功率可步進(jìn)調(diào)節(jié)的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模塊，再定制一些標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試用50 歐姆同軸電纜；分別對(duì)各通訊制式的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模塊和測(cè)試電纜線進(jìn)行校準(zhǔn)定標(biāo)，校準(zhǔn)定標(biāo)后的測(cè)試模塊以及測(cè)試模塊加不同長(zhǎng)度測(cè)試電纜線后要求射頻傳導(dǎo)收發(fā)特性分別滿足各自通訊制式的技術(shù)指標(biāo)要求；
第二步，對(duì)于單一通訊制式的無(wú)線終端產(chǎn)品整機(jī)有源測(cè)試可以用加有不同長(zhǎng)度測(cè)試電纜線及校準(zhǔn)定標(biāo)后的相應(yīng)測(cè)試模塊作為整機(jī)OTA測(cè)試評(píng)估、內(nèi)外置天線評(píng)估、結(jié)構(gòu)ID設(shè)計(jì)評(píng)估的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電路，
首先，在微波暗室中不加電進(jìn)行整機(jī)無(wú)源測(cè)試，主要測(cè)試結(jié)構(gòu)ID設(shè)計(jì)與內(nèi)外置天線自身的收發(fā)特性增益、效率、方向圖的輻射參數(shù)，
其次，整機(jī)結(jié)構(gòu)加上內(nèi)外置天線在微波暗室中加電進(jìn)行整機(jī)有源OTA測(cè)試，測(cè)試方法是用加有固定長(zhǎng)度測(cè)試電纜線及校準(zhǔn)定標(biāo)后的相應(yīng)測(cè)試模塊，將連接有測(cè)試模塊的射頻測(cè)試電纜接入整機(jī)結(jié)構(gòu)中電路板上的內(nèi)外置天線的饋電點(diǎn)上，再使用標(biāo)準(zhǔn)射頻測(cè)試儀表或綜測(cè)儀連接到整機(jī)結(jié)構(gòu)中電路板上的內(nèi)外置天線的饋電點(diǎn)射頻測(cè)試端口上，斷開(kāi)內(nèi)外置天線測(cè)試標(biāo)定整機(jī)的射頻傳導(dǎo)特性，達(dá)到相應(yīng)通訊制式射頻傳導(dǎo)特性指標(biāo)的要求，
然后，將射頻測(cè)試電纜引出整機(jī)部分和相應(yīng)測(cè)試模塊均要求被吸波材料包裹并放置在不影響無(wú)線終端產(chǎn)品整機(jī)有源OTA測(cè)試的位置上，
最后，連接測(cè)試模塊的USB接口或其它標(biāo)準(zhǔn)接口到測(cè)試電腦PC機(jī)或整機(jī)有源OTA測(cè)試設(shè)備上進(jìn)行測(cè)試；
第三步，對(duì)于多種通訊制式融合的無(wú)線終端產(chǎn)品整機(jī)有源測(cè)試，用幾個(gè)不同制式的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模塊加上測(cè)試電纜接入到整機(jī)結(jié)構(gòu)中的不同制式天線饋電點(diǎn)上，再使用標(biāo)準(zhǔn)射頻測(cè)試儀表或綜測(cè)儀連接到整機(jī)結(jié)構(gòu)中電路板上的內(nèi)外置天線的饋電點(diǎn)射頻測(cè)試端口上，斷開(kāi)內(nèi)外置天線分別進(jìn)行逐一測(cè)試標(biāo)定整機(jī)的射頻傳導(dǎo)特性，達(dá)到相應(yīng)通訊制式射頻傳導(dǎo)特性指標(biāo)的要求，射頻測(cè)試電纜引出整機(jī)部分和相應(yīng)測(cè)試模塊均要求被吸波材料包裹并放置在不影響整機(jī)有源OTA測(cè)試的位置上，最后，通過(guò)USB交換機(jī)HUB連接測(cè)試模塊的USB接口或其它標(biāo)準(zhǔn)接口到測(cè)試電腦PC機(jī)或整機(jī)有源OTA測(cè)試設(shè)備分別進(jìn)行測(cè)試，在所有通訊制式同時(shí)并行工作的情況下，以了解在多種通訊制式融合的情況下整機(jī)有源OTA性能以及單一通訊制式受到其它通訊制式同時(shí)工作時(shí)整機(jī)OTA測(cè)試被影響的實(shí)際效果；
第四步，評(píng)估在有較強(qiáng)干擾時(shí)的整機(jī)OTA性能通過(guò)給標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模塊的接地面和整機(jī)結(jié)構(gòu)中的電路板接地面上人為施加白噪聲，提高整機(jī)的噪聲底用以模擬干擾電平或者用射頻信號(hào)源模擬干擾諧波能量并施加到標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模塊的接地面和整機(jī)結(jié)構(gòu)中的電路板接地面上人為制造諧波干擾，進(jìn)而測(cè)試整機(jī)OTA指標(biāo)。
所述的步驟一中的可步進(jìn)調(diào)節(jié)的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模塊的收發(fā)步進(jìn)調(diào)節(jié)精度可選 士 0. 25dB、士 0. 5dB 或士 1. OdB0與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有的優(yōu)點(diǎn)和效果如下本發(fā)明可以做到有效加快無(wú)線終端產(chǎn)品的內(nèi)外置天線設(shè)計(jì)及整機(jī)OTA性能的前期評(píng)估；縮短無(wú)線終端產(chǎn)品的內(nèi)外置天線設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)時(shí)間；有助于提前區(qū)別定位天線設(shè)計(jì)問(wèn)題還是電路設(shè)計(jì)問(wèn)題；對(duì)多通訊制式融合的整機(jī)終端產(chǎn)品天線設(shè)計(jì)上能有效地反映及量化整機(jī)最終的多制式相互干擾；不依賴整機(jī)硬件電路是否完成設(shè)計(jì)及測(cè)試穩(wěn)定性；提前預(yù)知整機(jī)外形結(jié)構(gòu)ID的設(shè)計(jì)是否滿足內(nèi)外置天線的設(shè)計(jì)技術(shù)要求；能夠快速有效地給出多種不同電路板上的內(nèi)置天線凈空面積對(duì)內(nèi)置天線自身性能的影響大??；對(duì)無(wú)線終端類產(chǎn)品的整機(jī)設(shè)計(jì)成敗及風(fēng)險(xiǎn)提出有效的前期評(píng)估，為決策提供前期的技術(shù)支持，此外，由于本發(fā)明在通過(guò)以上整機(jī)OTA測(cè)試后還可以提供無(wú)線終端類產(chǎn)品的整機(jī)SAR性能指標(biāo)的快速評(píng)估，對(duì)整機(jī)OTA測(cè)試項(xiàng)目中TRP指標(biāo)、TIS指標(biāo)、PEIRP指標(biāo)、天線Efficiency指標(biāo)、天線Directivity指標(biāo)、天線Gain指標(biāo)等都可以快速有效地給出評(píng)估結(jié)果，因此，該測(cè)試方法是一種整機(jī)OTA性能測(cè)試非常好的評(píng)估手段。四
圖1是本發(fā)明的整機(jī)OTA標(biāo)準(zhǔn)有源測(cè)試電路模塊示意圖； 圖2是本發(fā)明的微波暗室整機(jī)OTA測(cè)試框圖示意圖； 圖3是本發(fā)明微波暗示整機(jī)OTA測(cè)試框圖。五具體實(shí)施例方式
下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明一種無(wú)線終端類產(chǎn)品的整機(jī)OTA性能的快速評(píng)估及測(cè)試方法進(jìn)行說(shuō)明。如圖1所示，標(biāo)準(zhǔn)通信測(cè)試模塊包含通信測(cè)試模塊106 ；主信道控制單元107 ；分集信道控制單元108。定制設(shè)計(jì)包含各種通信制式的通信測(cè)試模塊106，連接外部可調(diào)節(jié)主信道控制單元107、分集信道控制單元108，使通信測(cè)試模塊106的收發(fā)通道可以在配合不同長(zhǎng)度射頻 50歐姆測(cè)試電纜的情況下進(jìn)行單獨(dú)校準(zhǔn)。如圖2所示，整機(jī)OTA標(biāo)準(zhǔn)有源測(cè)試電路模塊包含測(cè)試用電腦PC機(jī)101 ；USB接口 HUB或其它接口 HUB電路單元102 ；各種通信制式的通信測(cè)試模塊106 ；射頻多路開(kāi)關(guān)103、 104 ；標(biāo)準(zhǔn)射頻50歐姆測(cè)試電纜105。將測(cè)試用電腦PC機(jī)101經(jīng)USB接口 HUB或其它接口 HUB電路單元102連接到各種通信制式的通信測(cè)試模塊106上根據(jù)具體的測(cè)試評(píng)估要求選擇不同的測(cè)試模塊106，再通過(guò)射頻測(cè)試電纜連接射頻多路開(kāi)關(guān)103、104，進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候可以切換不同的通信制式， 或者不使用射頻多路開(kāi)關(guān)103、104，而直接為每種標(biāo)準(zhǔn)有源測(cè)試電路模塊單獨(dú)配置標(biāo)準(zhǔn)射頻50歐姆測(cè)試電纜105。如圖3所示，微波暗室整機(jī)OTA測(cè)試框圖包含測(cè)試用電腦PC機(jī)101 ；整機(jī)OTA標(biāo)準(zhǔn)有源測(cè)試電路模塊109 ；被測(cè)無(wú)線終端整機(jī)110 ；微波暗室三維測(cè)試轉(zhuǎn)臺(tái)111。將以上測(cè)試用電腦PC機(jī)101連接到整機(jī)OTA標(biāo)準(zhǔn)有源測(cè)試電路模塊109，再通過(guò)固定長(zhǎng)度的標(biāo)準(zhǔn)射頻50歐姆測(cè)試電纜105連接被測(cè)無(wú)線終端整機(jī)110，將以上功能單元用吸波材料包裹后放置到不影響測(cè)試的地方，并使用已經(jīng)校準(zhǔn)過(guò)的標(biāo)準(zhǔn)射頻50歐姆測(cè)試電纜105連接到被測(cè)無(wú)線終端整機(jī)110中的待測(cè)試天線的射頻端口上，把以上各部分整體放置到微波暗室三維測(cè)試轉(zhuǎn)臺(tái)111上進(jìn)行無(wú)線終端產(chǎn)品的整機(jī)OTA測(cè)試和SAR值測(cè)試。在評(píng)估整機(jī)干擾情況下的OTA指標(biāo)時(shí)，可以采用通過(guò)給標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模塊的接地面和整機(jī)結(jié)構(gòu)中的電路板接地面上人為施加白噪聲(注電路板上已有內(nèi)外置天線；白噪聲由射頻寬帶白噪聲發(fā)生器產(chǎn)生)，提高整機(jī)的噪聲基底用以模擬干擾電平或者用射頻信號(hào)源模擬干擾諧波能量并施加到標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模塊的接地面和整機(jī)結(jié)構(gòu)中的電路板接地面上人為制造諧波干擾，進(jìn)而測(cè)試整機(jī)OTA指標(biāo)。本發(fā)明采用定制的一種或多種通訊制式的已知標(biāo)準(zhǔn)有源測(cè)試模塊作為整機(jī)OTA 測(cè)試評(píng)估的標(biāo)準(zhǔn)件，通過(guò)該測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)件可以快速有效地評(píng)估整機(jī)結(jié)構(gòu)ID設(shè)計(jì)、內(nèi)外置天線設(shè)計(jì)是否能夠滿足整機(jī)有源OTA指標(biāo)要求。第一步，按照目前世界上主流的多種通訊制式分別設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)USB或其它標(biāo)準(zhǔn)接口的射頻接收靈敏度可步進(jìn)調(diào)節(jié)以及射頻發(fā)射功率可步進(jìn)調(diào)節(jié)的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模塊(收發(fā)步進(jìn)調(diào)節(jié)精度可選士0. 25dB、士0. 5dB、士 l.OdB)，該模塊的體積設(shè)計(jì)一定要盡量小，再定制一些不同長(zhǎng)度、線徑較細(xì)、質(zhì)量較好的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試用50歐姆同軸電纜；分別對(duì)各通訊制式的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模塊和測(cè)試電纜線進(jìn)行校準(zhǔn)定標(biāo)，校準(zhǔn)定標(biāo)后的測(cè)試模塊以及測(cè)試模塊加不同長(zhǎng)度測(cè)試電纜線后要求射頻傳導(dǎo)收發(fā)特性分別滿足各自通訊制式的技術(shù)指標(biāo)要求并留有一定的余里ο第二步，對(duì)于單一通訊制式的無(wú)線終端產(chǎn)品整機(jī)有源測(cè)試可以用加有不同長(zhǎng)度測(cè)試電纜線及校準(zhǔn)定標(biāo)后的相應(yīng)測(cè)試模塊作為整機(jī)OTA測(cè)試評(píng)估、內(nèi)外置天線評(píng)估、結(jié)構(gòu)ID 設(shè)計(jì)評(píng)估的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電路。首先，在微波暗室中不加電進(jìn)行整機(jī)無(wú)源測(cè)試(注主要測(cè)試結(jié)構(gòu)ID設(shè)計(jì)與內(nèi)外置天線自身的收發(fā)特性增益、效率、方向圖等輻射參數(shù))。其次，整機(jī)結(jié)構(gòu)加上內(nèi)外置天線在微波暗室中加電進(jìn)行整機(jī)有源OTA測(cè)試，測(cè)試方法是用加有固定長(zhǎng)度測(cè)試電纜線及校準(zhǔn)定標(biāo)后的相應(yīng)測(cè)試模塊，將連接有測(cè)試模塊的射頻測(cè)試電纜接入整機(jī)結(jié)構(gòu)中電路板上的內(nèi)外置天線的饋電點(diǎn)上，再使用標(biāo)準(zhǔn)射頻測(cè)試儀表或綜測(cè)儀連接到整機(jī)結(jié)構(gòu)中電路板上的內(nèi)外置天線的饋電點(diǎn)射頻測(cè)試端口上，斷開(kāi)內(nèi)外置天線測(cè)試標(biāo)定整機(jī)的射頻傳導(dǎo)特性，達(dá)到相應(yīng)通訊制式射頻傳導(dǎo)特性指標(biāo)的要求。然后，將射頻測(cè)試電纜引出整機(jī)部分和相應(yīng)測(cè)試模塊均要求被吸波材料包裹并放置在不影響無(wú)線終端產(chǎn)品整機(jī)有源OTA測(cè)試的位置上。最后，連接測(cè)試模塊的USB接口或其它標(biāo)準(zhǔn)接口到測(cè)試電腦PC機(jī)或整機(jī)有源OTA測(cè)試設(shè)備上進(jìn)行測(cè)試。第三步，對(duì)于多種通訊制式融合的無(wú)線終端產(chǎn)品整機(jī)有源測(cè)試，可以用幾個(gè)不同制式的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模塊加上測(cè)試電纜接入到整機(jī)結(jié)構(gòu)中的不同制式天線饋電點(diǎn)上，再使用標(biāo)準(zhǔn)射頻測(cè)試儀表或綜測(cè)儀連接到整機(jī)結(jié)構(gòu)中電路板上的內(nèi)外置天線的饋電點(diǎn)射頻測(cè)試端口上，斷開(kāi)內(nèi)外置天線分別進(jìn)行逐一測(cè)試標(biāo)定整機(jī)的射頻傳導(dǎo)特性，達(dá)到相應(yīng)通訊制式射頻傳導(dǎo)特性指標(biāo)的要求。射頻測(cè)試電纜引出整機(jī)部分和相應(yīng)測(cè)試模塊均要求被吸波材料包裹并放置在不影響整機(jī)有源OTA測(cè)試的位置上。最后，通過(guò)USB交換機(jī)HUB連接測(cè)試模塊的USB接口或其它標(biāo)準(zhǔn)接口到測(cè)試電腦PC機(jī)或整機(jī)有源OTA測(cè)試設(shè)備分別進(jìn)行測(cè)試。在所有通訊制式同時(shí)并行工作的情況下，以了解在多種通訊制式融合的情況下整機(jī)有源OTA 性能以及單一通訊制式受到其它通訊制式同時(shí)工作時(shí)整機(jī)OTA測(cè)試被影響的實(shí)際效果。第四步，評(píng)估在有較強(qiáng)干擾時(shí)的整機(jī)OTA性能。通過(guò)給標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模塊的接地面和整機(jī)結(jié)構(gòu)中的電路板接地面上人為施加白噪聲(注電路板上已有內(nèi)外置天線；白噪聲由射頻寬帶白噪聲發(fā)生器產(chǎn)生)，提高整機(jī)的噪聲底用以模擬干擾電平或者用射頻信號(hào)源模擬干擾諧波能量并施加到標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模塊的接地面和整機(jī)結(jié)構(gòu)中的電路板接地面上人為制造諧波干擾，進(jìn)而測(cè)試整機(jī)OTA指標(biāo)。
權(quán)利要求
1.一種無(wú)線終端類產(chǎn)品的整機(jī)OTA性能的快速評(píng)估方法，其特征在于所述的評(píng)估方法的步驟為(1)按照通訊制式分別設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)接口的射頻接收靈敏度可步進(jìn)調(diào)節(jié)以及射頻發(fā)射功率可步進(jìn)調(diào)節(jié)的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模塊或直接購(gòu)買現(xiàn)成測(cè)試模塊；(2)對(duì)于單一通訊制式的無(wú)線終端產(chǎn)品整機(jī)有源測(cè)試可以用加有不同長(zhǎng)度測(cè)試電纜線及校準(zhǔn)定標(biāo)后的相應(yīng)測(cè)試模塊作為整機(jī)OTA測(cè)試評(píng)估、內(nèi)外置天線評(píng)估、結(jié)構(gòu)ID設(shè)計(jì)評(píng)估的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電路；(3)對(duì)于多種通訊制式融合的無(wú)線終端產(chǎn)品整機(jī)有源測(cè)試；(4)評(píng)估在有較強(qiáng)干擾時(shí)的整機(jī)OTA性能。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種無(wú)線終端類產(chǎn)品的整機(jī)OTA性能的快速評(píng)估方法，其特征在于所述的評(píng)估方法的步驟為第一步，按照目前世界上主流的多種通訊制式分別設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)USB接口的射頻接收靈敏度可步進(jìn)調(diào)節(jié)以及射頻發(fā)射功率可步進(jìn)調(diào)節(jié)的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模塊，再定制一些標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試用50 歐姆同軸電纜；分別對(duì)各通訊制式的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模塊和測(cè)試電纜線進(jìn)行校準(zhǔn)定標(biāo)，校準(zhǔn)定標(biāo)后的測(cè)試模塊以及測(cè)試模塊加不同長(zhǎng)度測(cè)試電纜線后要求射頻傳導(dǎo)收發(fā)特性分別滿足各自通訊制式的技術(shù)指標(biāo)要求；第二步，對(duì)于單一通訊制式的無(wú)線終端產(chǎn)品整機(jī)有源測(cè)試可以用加有不同長(zhǎng)度測(cè)試電纜線及校準(zhǔn)定標(biāo)后的相應(yīng)測(cè)試模塊作為整機(jī)OTA測(cè)試評(píng)估、內(nèi)外置天線評(píng)估、結(jié)構(gòu)ID設(shè)計(jì)評(píng)估的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電路，首先，在微波暗室中不加電進(jìn)行整機(jī)無(wú)源測(cè)試，主要測(cè)試結(jié)構(gòu)ID設(shè)計(jì)與內(nèi)外置天線自身的收發(fā)特性增益、效率、方向圖的輻射參數(shù)，其次，整機(jī)結(jié)構(gòu)加上內(nèi)外置天線在微波暗室中加電進(jìn)行整機(jī)有源OTA測(cè)試，測(cè)試方法是用加有固定長(zhǎng)度測(cè)試電纜線及校準(zhǔn)定標(biāo)后的相應(yīng)測(cè)試模塊，將連接有測(cè)試模塊的射頻測(cè)試電纜接入整機(jī)結(jié)構(gòu)中電路板上的內(nèi)外置天線的饋電點(diǎn)上，再使用標(biāo)準(zhǔn)射頻測(cè)試儀表或綜測(cè)儀連接到整機(jī)結(jié)構(gòu)中電路板上的內(nèi)外置天線的饋電點(diǎn)射頻測(cè)試端口上，斷開(kāi)內(nèi)外置天線測(cè)試標(biāo)定整機(jī)的射頻傳導(dǎo)特性，達(dá)到相應(yīng)通訊制式射頻傳導(dǎo)特性指標(biāo)的要求，然后，將射頻測(cè)試電纜引出整機(jī)部分和相應(yīng)測(cè)試模塊均要求被吸波材料包裹并放置在不影響無(wú)線終端產(chǎn)品整機(jī)有源OTA測(cè)試的位置上，最后，連接測(cè)試模塊的USB接口或其它標(biāo)準(zhǔn)接口到測(cè)試電腦PC機(jī)或整機(jī)有源OTA測(cè)試設(shè)備上進(jìn)行測(cè)試；第三步，對(duì)于多種通訊制式融合的無(wú)線終端產(chǎn)品整機(jī)有源測(cè)試，用幾個(gè)不同制式的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模塊加上測(cè)試電纜接入到整機(jī)結(jié)構(gòu)中的不同制式天線饋電點(diǎn)上，再使用標(biāo)準(zhǔn)射頻測(cè)試儀表或綜測(cè)儀連接到整機(jī)結(jié)構(gòu)中電路板上的內(nèi)外置天線的饋電點(diǎn)射頻測(cè)試端口上，斷開(kāi)內(nèi)外置天線分別進(jìn)行逐一測(cè)試標(biāo)定整機(jī)的射頻傳導(dǎo)特性，達(dá)到相應(yīng)通訊制式射頻傳導(dǎo)特性指標(biāo)的要求，射頻測(cè)試電纜引出整機(jī)部分和相應(yīng)測(cè)試模塊均要求被吸波材料包裹并放置在不影響整機(jī)有源OTA測(cè)試的位置上，最后，通過(guò)USB交換機(jī)HUB連接測(cè)試模塊的USB接口或其它標(biāo)準(zhǔn)接口到測(cè)試電腦PC機(jī)或整機(jī)有源OTA測(cè)試設(shè)備分別進(jìn)行測(cè)試，在所有通訊制式同時(shí)并行工作的情況下，以了解在多種通訊制式融合的情況下整機(jī)有源OTA性能以及單一通訊制式受到其它通訊制式同時(shí)工作時(shí)整機(jī)OTA測(cè)試被影響的實(shí)際效果；第四步，評(píng)估在有較強(qiáng)干擾時(shí)的整機(jī)OTA性能通過(guò)給標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模塊的接地面和整機(jī)結(jié)構(gòu)中的電路板接地面上人為施加白噪聲，提高整機(jī)的噪聲底用以模擬干擾電平或者用射頻信號(hào)源模擬干擾諧波能量并施加到標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模塊的接地面和整機(jī)結(jié)構(gòu)中的電路板接地面上人為制造諧波干擾，進(jìn)而測(cè)試整機(jī)OTA指標(biāo)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種無(wú)線終端類產(chǎn)品的整機(jī)OTA性能的快速評(píng)估方法，其特征在于所述的步驟一中的可步進(jìn)調(diào)節(jié)的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模塊的收發(fā)步進(jìn)調(diào)節(jié)精度可選 士 0. 25dB、士 0. 5dB 或士 1. OdB0
全文摘要
本發(fā)明涉及一種無(wú)線終端類產(chǎn)品的整機(jī)OTA性能的快速評(píng)估方法。其可以大幅度加快產(chǎn)品的測(cè)試評(píng)估、分析決策，縮短產(chǎn)品的研發(fā)周期及上市時(shí)間，本發(fā)明評(píng)估方法的步驟為(1)按照通訊制式分別設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)接口的射頻接收靈敏度可步進(jìn)調(diào)節(jié)以及射頻發(fā)射功率可步進(jìn)調(diào)節(jié)的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模塊或直接購(gòu)買現(xiàn)成測(cè)試模塊；(2)對(duì)于單一通訊制式的無(wú)線終端產(chǎn)品整機(jī)有源測(cè)試可以用加有不同長(zhǎng)度測(cè)試電纜線及校準(zhǔn)定標(biāo)后的相應(yīng)測(cè)試模塊作為整機(jī)OTA測(cè)試評(píng)估、內(nèi)外置天線評(píng)估、結(jié)構(gòu)ID設(shè)計(jì)評(píng)估的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電路；(3)對(duì)于多種通訊制式融合的無(wú)線終端產(chǎn)品整機(jī)有源測(cè)試；(4)評(píng)估在有較強(qiáng)干擾時(shí)的整機(jī)OTA性能。
文檔編號(hào)H04B17/00GK102571233SQ201110448660
公開(kāi)日2012年7月11日 申請(qǐng)日期2011年12月29日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月29日
發(fā)明者朱國(guó)斌 申請(qǐng)人:西安欣創(chuàng)電子技術(shù)有限公司