專利名稱：記錄裝置的校準的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于在記錄介質(zhì)上形成圖像的記錄裝置。更具體地，本發(fā)明涉及這樣的記錄裝置的校準。
背景技術(shù)：
各種記錄裝置被用于在記錄介質(zhì)上形成圖像。例如，計算機直接制版系統(tǒng)(也被稱為CTP系統(tǒng))被用于在印刷板上形成圖像。多個成像的印刷版隨后被提供給印刷廠，來自所述印刷版的圖像在印刷廠里被轉(zhuǎn)移到紙或其他適合的表面上。重要的是多個圖像被相對于彼此準確對齊以確保圖像之間的準確配準。重要的是每個圖像都是幾何上正確的并且沒有畸變以確保完成的印刷文章的所希望的質(zhì)量特征。圖像的幾何特征可包含但不限于 圖像部分的所希望的尺寸或一個圖像部分與另一個圖像部分的所希望的對齊。在記錄介質(zhì)上所形成的圖像的幾何準確性取決于許多因素。例如，可通過將介質(zhì)裝載在支架上并且朝介質(zhì)引導(dǎo)成像光束以在其上形成圖像而在記錄介質(zhì)上形成圖像?？赏ㄟ^在多次掃描期間用成像光束掃描記錄介質(zhì)來形成圖像。成像光束相對于記錄介質(zhì)的定位準確性影響所形成的圖像的幾何正確性。成像光束在每次掃描期間的所要求的定位的偏差可導(dǎo)致成像誤差。為了減少成像誤差，記錄系統(tǒng)通常被校準。通常在記錄介質(zhì)上形成校準圖像并且對校準圖像進行分析來確定偏差。與校準圖像的所希望的幾何特征相關(guān)聯(lián)的偏差通常通過在記錄系統(tǒng)中執(zhí)行各種調(diào)節(jié)而被糾正。所述調(diào)節(jié)在本質(zhì)上可以是電子的或是機械的。校準圖像的分析通常在專門的和專用的設(shè)備上執(zhí)行，所述設(shè)備可包括各種圖像捕獲傳感器。例如，CCD傳感器可被用于捕獲校準圖像的各種圖像，而控制器可被用于分析所捕獲的圖像并且從其中確定校準信息。專門的和專用的校準系統(tǒng)是昂貴的并且其本身要求定期的校準以保證它們的可靠性。這樣的系統(tǒng)通常在制造記錄系統(tǒng)的工廠中被采用?；诠S的校準系統(tǒng)的使用使在現(xiàn)場對記錄系統(tǒng)的校準變得復(fù)雜。例如，將需要在現(xiàn)場制作測試圖像并且進而將所述測試圖像運送到另一個地點進行分析。這增加了校準所要求的時間并且增大了成像誤差出現(xiàn)的可能性。因此，對允許記錄裝置的校準以由記錄裝置糾正在記錄介質(zhì)上所形成的圖像的幾何畸變的有效并且實用的方法和系統(tǒng)有需要。

發(fā)明內(nèi)容
簡要地說，根據(jù)本發(fā)明的一個方面，用于改變記錄裝置的校準以調(diào)節(jié)幾何畸變的方法提供用于承載記錄介質(zhì)的介質(zhì)支架；操作包括多個單獨可尋址的記錄通道的記錄頭以在所述記錄介質(zhì)以第一取向被定位在所述介質(zhì)支架上的同時在所述記錄介質(zhì)上形成至少一個圖像特征；以第二取向?qū)⑺鲇涗浗橘|(zhì)定位在所述介質(zhì)支架上，其中所述第二取向不同于所述第一取向；在所述記錄介質(zhì)以所述第二取向被定位在所述介質(zhì)支架上的同時檢測所述至少一個圖像特征的畸變；并且依照被檢測到的畸變調(diào)節(jié)所述記錄通道中的一部分的激活時機。


本發(fā)明的實施例和應(yīng)用由所附的非限制性附圖示意。附圖是為了示意本發(fā)明的概念的目的并且可以不是按比例的。圖1是在本發(fā)明的示例實施例中所采用的記錄裝置的局部示意性視圖；圖2示出了表示用于校準如本發(fā)明的示例實施例所采用的記錄裝置的方法的流程圖；圖3是要在記錄介質(zhì)上形成的目標圖像的示意性平面視圖；圖4是響應(yīng)圖3的目標圖像的所希望的成像而在記錄介質(zhì)上形成的校準圖像的示意性平面視圖；圖5A示出了圖1所示的記錄頭的橫擺(yawing)移動所引起的副掃描畸變的示例；圖5B示出了圖1中所示的記錄裝置的導(dǎo)向系統(tǒng)中的非準直(non-straightness) 所引起的主掃描畸變的示例；圖5C示出了圖1所示的記錄頭的縱搖移動所引起的主掃描畸變的示例；圖6示出了表示按照本發(fā)明的示例實施例的用于調(diào)節(jié)圖1的記錄裝置的校準的方法的流程圖；圖7A示出了包括第一圖像特征在以第一取向定位在圖1的記錄裝置的介質(zhì)支架上的記錄介質(zhì)上的形成的本發(fā)明的示例實施例；圖7B示出了包括第二圖像特征在以與第一取向不同的取向定位在圖1的記錄裝置的介質(zhì)支架上的圖7A的記錄介質(zhì)上的形成的本發(fā)明的示例實施例；圖7C示出了其中在記錄介質(zhì)以與第一取向不同的第二取向被定位在圖1的記錄裝置的介質(zhì)支架上時檢測到圖7A的第一圖像特征中的畸變的本發(fā)明的示例實施例；圖7D示出了包括圖像特征的圖案在以第一取向定位在圖1的記錄裝置的介質(zhì)支架上的記錄介質(zhì)上的形成的本發(fā)明的示例實施例；圖7E示出了其中在記錄介質(zhì)以與第一取向不同的第二取向被定位在圖1的記錄裝置的介質(zhì)支架上時檢測到圖7D的圖像特征的圖案中的畸變的本發(fā)明的示例實施例。圖7F示出了如在展開的或平面的取向上所示的、圖7B的記錄介質(zhì)上的第一圖像特征和第二圖像特征。圖8示意性地示出了從用傳感器對第一圖像特征的各個部分的檢測得到的、對圖 7A的圖像特征中的畸變的錯誤確定，所述傳感器沿大體上平行于第一圖像特征的畸變形式的路徑被移動。
具體實施例方式貫穿以下說明，特定細節(jié)被呈現(xiàn)以向本領(lǐng)域的技術(shù)人員提供更徹底的理解。然而， 眾所周知的元件可能未被示出或未被詳細描述以避免不必要地混淆本公開內(nèi)容。因此，應(yīng)從示意性的而不是限制性的意義上來看待說明和附圖。圖1示意性地示出了按照本發(fā)明的示例實施例的用于在記錄介質(zhì)17上形成圖像19(即示意性地由虛線表示)的記錄裝置10。記錄介質(zhì)17可包括各種包括適用于在其上形成圖像19的表面的介質(zhì)。記錄裝置10包括介質(zhì)支架12，所述介質(zhì)支架在這個示例實施例中按照外滾筒式構(gòu)造被配置。本發(fā)明的其他實施例可包括根據(jù)例如內(nèi)滾筒式構(gòu)造或平臺式構(gòu)造所配置的其他形式的介質(zhì)支架。在這個示例實施例中，記錄介質(zhì)17在介質(zhì)支架12 的圓柱形表面13上被支撐。由夾具28A和28B將記錄介質(zhì)17的一個或多個邊緣部分固定在圓柱形表面13上。本發(fā)明的其他示例實施例可通過其他方法將記錄介質(zhì)17固定在介質(zhì)支架12上。例如，可通過包括在表面之間提供低壓源在內(nèi)的各種方法將記錄介質(zhì)17的表面固定在圓柱形表面13上。介質(zhì)支架12可移動地與支架20耦合。在這個示例實施例中， 介質(zhì)支架12旋轉(zhuǎn)地與支架20耦合。在這個示例實施例中，介質(zhì)支架12包括多個配準特征 25，所述配準特征包括配準特征25A和配準特征25B。記錄裝置10包括相對于介質(zhì)支架12可移動的記錄頭16。在本發(fā)明的這個示例實施例中，介質(zhì)支架12適于通過繞其旋轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)來移動。在這個示例實施例中，記錄頭16 被裝載在可移動的滑架18上?；?8被操作用于使記錄頭16沿與介質(zhì)支架12的旋轉(zhuǎn)軸對齊的路徑被移動。運動系統(tǒng)22被采用以提供記錄頭16與介質(zhì)支架12之間的相對移動。 運動系統(tǒng)22 (其可包括一個或多個運動系統(tǒng))可包括對于所要求的移動所需要的任何適合的驅(qū)動。在本發(fā)明的這個示例實施例中，運動系統(tǒng)22被用于沿與主掃描軸沈?qū)R的路徑移動介質(zhì)支架12，并且被用于沿與副掃描軸M對齊的路徑移動記錄頭16。導(dǎo)向系統(tǒng)32被用于引導(dǎo)在傳輸構(gòu)件33的影響下被移動的滑架18。在本發(fā)明的這個示例實施例中，傳輸構(gòu)件33包括精密螺旋結(jié)構(gòu)。在其他示例實施例中，直線電動機被采用以移動記錄頭16。在一些示例實施例中，多個記錄頭16被移動使得記錄頭16中的每一個獨立于彼此被移動。在一些示例實施例中，多個記錄頭16串聯(lián)地被移動。本領(lǐng)域的技術(shù)人員將認識到記錄頭16與介質(zhì)支架12之間的各種形式的相對移動可依照本發(fā)明被使用。例如，在一些情況下當介質(zhì)支架12被移動時記錄頭16可以是靜止的。在其他情況下，介質(zhì)支架12是靜止的而記錄頭16被移動。在還有其他情況下，記錄頭 16和介質(zhì)支架12兩者都被移動。記錄頭16和介質(zhì)支架12中的一個或兩者可沿對應(yīng)的路徑往復(fù)運動。獨立的運動系統(tǒng)還可被用于操作記錄裝置10內(nèi)的不同系統(tǒng)。在這個示例實施例中，記錄頭16包括諸如激光的輻射源(未被示出)。在各種示例實施例中，記錄頭16包括一個或多個單獨可尋址的記錄通道23，記錄通道23中的每一個都可被控制用于在記錄介質(zhì)17上形成各個圖像部分?？捎冒ㄒ痪S或二維陣列構(gòu)造在內(nèi)的不同構(gòu)造來布置多個記錄通道23。在這個示例實施例中，當在記錄介質(zhì)17上掃描以形成圖像19時，記錄頭16可被控制用于發(fā)射各種成像光束21。根據(jù)指定要被寫入的圖像的圖像數(shù)據(jù)37，成像光束可以是按圖像調(diào)制的。在這個示例實施例中，記錄通道23中的一個或多個被適當?shù)仳?qū)動以無論在任何希望形成圖像19的成像部分的地方都產(chǎn)生具有活動強度水平的成像光束21。不對應(yīng)于成像部分的記錄通道23被驅(qū)動以便不對對應(yīng)的區(qū)域成像。 記錄通道23中的每一個都可被控制用于依照圖像數(shù)據(jù)37所提供的信息在記錄介質(zhì)17上形成通常被稱為圖像像素或圖像點的圖像的單位元素。各個圖像像素可與其他圖像像素結(jié)合以形成圖像19的各個特征。在一些示例實施例中，可按各種圖案來布置圖像像素，包括半色調(diào)圖案、隨機圖案和混合圖案(即包括半色調(diào)圖案和隨機圖案的圖案)。在一些示例實施例中，可按各種非遮蔽圖案(non-screened pattern)來布置圖像像素(例如網(wǎng)格圖案或各種基準點的圖案)。可通過不同方法在記錄介質(zhì)17上形成圖像19。例如，記錄介質(zhì)17可包括可更改的表面，其中當被成像光束21照射時可更改的表面的特性或特征被改變。成像光束21可被用于燒蝕記錄介質(zhì)17的表面以形成圖像19。成像光束21可被用于促進圖像形成材料向記錄介質(zhì)17的表面的轉(zhuǎn)移以形成圖像19 (例如熱轉(zhuǎn)移過程)。成像光束21可經(jīng)歷從輻射源到記錄介質(zhì)17的直接路徑，或可通過一個或多個光學(xué)元件使其朝記錄介質(zhì)偏轉(zhuǎn)。在本發(fā)明的一些示例實施例中，用其他圖像形成技術(shù)來形成圖像19。例如，在一些噴墨過程中，記錄通道23可適于朝記錄介質(zhì)17發(fā)射圖像形成材料以在其上形成圖像19。多組記錄通道23可形成圖像帶(image swath)，其具有與在給定的掃描期間所成像的第一個像素和所成像的最后一個像素之間的距離有關(guān)的寬度。記錄介質(zhì)17通常太大以致于不能在單個圖像帶內(nèi)被成像。通常形成多個成像帶以在記錄介質(zhì)17上完成圖像。記錄裝置10包括傳感器52和照明器55。傳感器52適于檢測各種實體的存在，所述實體包括但不限于圖像19的各個部分。照明器55適于照亮各個實體并且可在這些實體的檢測期間可選地被采用。可包括一個或多個控制器的控制器30被用于控制記錄裝置10的一個或多個系統(tǒng)，所述一個或多個系統(tǒng)包括但不限于被介質(zhì)支架12和滑架18所使用的各個運動系統(tǒng)22。 控制器30還可控制介質(zhì)裝卸機構(gòu)，該介質(zhì)裝卸機構(gòu)可分別發(fā)起記錄介質(zhì)17向介質(zhì)支架12 的加載或記錄介質(zhì)17從介質(zhì)支架12的卸載。控制器30還可向記錄頭16提供圖像數(shù)據(jù) 37，并且依照這個數(shù)據(jù)控制記錄頭16發(fā)射成像光束21。控制器30還可控制傳感器52和照明器陽?？墒褂酶鞣N控制信號或?qū)嵤└鞣N方法來控制各個系統(tǒng)?？刂破?0是可編程的并且可被配置用于執(zhí)行適合的軟件以及可包括一個或多個數(shù)據(jù)處理器，連同適合的硬件， 所述硬件以非限制性示例的方式包括可存取存儲器、邏輯電路、驅(qū)動器、放大器、A/D和D/ A轉(zhuǎn)換器、輸入/輸出端口等等。控制器30可包括但不限于微處理器、片上計算機、計算機的CPU或任何其他適合的微處理器?？刂破?0可由若干不同的或邏輯單元組成，其中每一個都專用于執(zhí)行特定的任務(wù)。圖2示出了表示如本發(fā)明的示例實施例所采用的那樣校準記錄裝置的方法100的流程圖。參照圖1所示的記錄裝置10來描述圖2所示的各個步驟。這只是為了示意的目的并且其他適合的記錄裝置可被用在本發(fā)明中。記錄裝置10可被用于在各種記錄介質(zhì)17 上形成各種所希望的圖像。在這個示例實施例中，所希望的是記錄裝置10被操作用于形成如圖3所示意性地表示的那樣的目標圖像40。在這個示例實施例中，目標圖像40包括由目標單元格41構(gòu)成的精確的網(wǎng)格圖案，所述單元格由所希望的尺寸的圖像邊界定義。在這個示例實施例中，單元格41是正方形的。目標圖像40被表示為與記錄介質(zhì)17的各個邊緣理想對齊，為了清楚起見以展開的或“平面的”取向示出記錄介質(zhì)17。特別地，所希望的是形成相對于記錄介質(zhì)17A的第一邊緣35和第二邊緣36所定位的目標圖像40。在這個示例實施例中，第一邊緣35要與副掃描軸M對齊，而第二邊緣36要與主掃描軸沈?qū)R。在本發(fā)明的其他示例實施例中，所希望的可以是將目標圖像40的各個部分與記錄介質(zhì)17A的各個其他配準點對齊。在這個示例實施例中，相對于主掃描軸沈和副掃描軸M來描述目標圖像40的幾何特征。目標圖像40由各種圖像數(shù)據(jù)表示，所述圖像數(shù)據(jù)被提供給控制器30以在記錄介質(zhì)17A上形成圖像。在本發(fā)明的這個示例實施例中，控制器30控制運動系統(tǒng)22以在成像期間產(chǎn)生記錄頭16與記錄介質(zhì)17A之間的相對移動。在本發(fā)明的這個示例實施例中，通過介質(zhì)支架12的旋轉(zhuǎn)以協(xié)同的方式平移記錄頭16來形成各個圖像帶。在一些示例實施例中， 圖像帶是用圓形掃描技術(shù)所形成的環(huán)形的或圓形的圖像帶。在這個示例實施例中，圖像帶是用螺旋掃描技術(shù)形成的螺線形或螺旋形的圖像帶。在步驟110中，記錄裝置10被操作用于響應(yīng)表示目標圖像40的圖像數(shù)據(jù)而形成校準圖像。圖4示意性地示出了由記錄頭16響應(yīng)目標圖像40的所希望的成像而在記錄介質(zhì)17A上形成的示例校準圖像19A。為了清楚起見，以“平面的”取向描繪記錄介質(zhì)17A和圓柱形表面13。校準圖像19A包括對應(yīng)于目標單元格41的多個成像單元格42。如圖4所示，校準圖像19A有畸變并且并不正好對應(yīng)于目標圖像40。各種成像畸變出現(xiàn)在校準圖像 19A的不同區(qū)域。各個成像單元格42并不正好對應(yīng)于目標圖像40中對應(yīng)的目標單元格41。 例如，包括成像單元格42A在內(nèi)的一列成像單元格42相對于包括成像單元格42B在內(nèi)的一列成像單元格42沿主掃描軸沈的方向偏移。圖4還示出了包括成像單元格42C在內(nèi)的各個成像單元格42如與對應(yīng)的目標單元格41所比較的那樣沿副掃描軸M的方向在尺寸上被拉長。應(yīng)理解的是圖像畸變不限于成像單元格42A和42C，并且校準圖像19A中的其他成像單元格42也可以相似的或不同的方式有畸變。位置或尺寸的畸變可由于若干原因而發(fā)生。例如，總體縮放(scaling)問題可由溫度變化引起。記錄介質(zhì)17、介質(zhì)支架12以及諸如傳輸構(gòu)件33的各個傳輸部件中的一個或多個可包括具有不同熱膨脹系數(shù)的不同材料成分。不同的膨脹率可導(dǎo)致縮放問題。滑架 18沿形式上不完美的導(dǎo)向系統(tǒng)32移動。導(dǎo)向系統(tǒng)32可包括各種適合的導(dǎo)向軌道和受引導(dǎo)的構(gòu)件，其可包括滑動的或旋轉(zhuǎn)的移動軸承元件。即使在使用高精度部件時瑕疵也可能存在。諸如受引導(dǎo)的構(gòu)件與導(dǎo)向軌道之間的游隙、導(dǎo)向軌道的準直度以及支架20的下垂等機械因素可導(dǎo)致成像瑕疵。滑架18沿與副掃描軸M對齊的路徑移動，這些瑕疵可使記錄頭16經(jīng)受各種額外的移動，所述額外的移動可不利地影響成像光束21到記錄介質(zhì)17上的投影?？蓞⒄請D5A、 5B和5C使成像瑕疵形象化。圖5A示出了成像光束21到記錄介質(zhì)17A上的投影中的副掃描畸變的可能原因。 在這種情況下，當滑架18沿與副掃描軸M對齊的路徑移動時，滑架18經(jīng)受沿橫擺方向27 的小的橫擺旋轉(zhuǎn)(為了清楚起見被放大)。這引起了成像光束21到記錄介質(zhì)17A上的投影的變化，該變化可引起所形成的圖像沿副掃描方向的畸變?；?8的橫擺移動可由于包括導(dǎo)向系統(tǒng)32中的游隙在內(nèi)的許多原因引起。進一步地，其他部件中的瑕疵可導(dǎo)致副掃描偏差。例如，傳輸構(gòu)件33可包括精密導(dǎo)螺桿，其可在沿其長度的各個點上具有輕微的縱搖不規(guī)則性?？v搖不規(guī)則性可在所形成的圖像中引起副掃描畸變。圖5B和圖5C示出了成像光束21到記錄介質(zhì)17A上的投影中的主掃描畸變的可能原因。主掃描畸變可由不同的原因引起。例如，當滑架18沿導(dǎo)向系統(tǒng)32移動時，它可經(jīng)受沿如圖5B所示的與主掃描軸沈?qū)R的方向的各種位移。為了清楚起見，已在圖5B中將這些位移放大。這些位移可由各種因素引起，所述因素可包括導(dǎo)向軌道的準直度的偏差。導(dǎo)向軌道的準直度的偏差可由包括軌道的重力下垂和支架20的重力下垂在內(nèi)的各種原因引起。重力下垂可不利地影響成像光束21的主掃描定位準確性。主掃描畸變可由于當記錄頭16沿與副掃描軸M對齊的路徑被移動時滑架18經(jīng)受沿縱搖方向四的小的縱搖移動而被引起(即在圖5C中為了清楚起見被放大)?？v搖位移可由包括導(dǎo)向系統(tǒng)32中的游隙在內(nèi)的許多原因引起。本領(lǐng)域的技術(shù)人員將意識到所描述的圖像畸變在本質(zhì)上是示例性的并且其他類型的畸變也可能發(fā)生。參照回圖2，記錄裝置10在步驟120中被調(diào)節(jié)以糾正校準圖像19A的畸變?？赏ㄟ^各種方法來糾正畸變。在本發(fā)明的一些示例實施例中，諸如成像單元格42A和42B之間的偏移的主掃描畸變可通過調(diào)節(jié)記錄通道23的各個部分的激活時機而被糾正。雖然為形成或不形成圖像像素對給定記錄通道23的激活依賴于圖像數(shù)據(jù)，但是給定的記錄通道23或給定的一組記錄通道23的激活的時機可被調(diào)節(jié)。各個記錄通道23的激活時機的調(diào)節(jié)可被用于延遲或提前那些記錄通道的激活以形成或不形成一個或多個圖像像素。各個記錄通道 23可被控制以沿主掃描方向相對于圖像帶的額外部分偏置圖像帶的第一部分。各個記錄通道23可被控制以沿主掃描方向從額外的圖像帶的一部分偏置給定的圖像帶的一部分。圖像帶的一部分可包括整個圖像帶。當記錄頭16沿與副掃描軸M對齊的路徑被移動時，記錄頭16內(nèi)的各個記錄通道23的激活時機可在各個點被調(diào)節(jié)。當記錄頭16被定位在對應(yīng)于校準圖像19A的區(qū)域中的各種畸變的各個副掃描位置時，可對各個記錄通道23進行激活時機調(diào)節(jié)。在本發(fā)明的這個示例實施例中，獨立于圖像數(shù)據(jù)進行激活時機改變。在其他示例實施例中，圖像數(shù)據(jù)被操縱來達到相似的效果?？刂破?0可被配置用于向記錄頭16提供信號以調(diào)節(jié)一些或所有記錄通道23的激活時機來補償對應(yīng)于記錄頭16的特定副掃描定位的所預(yù)期的圖像畸變。運動系統(tǒng)22可包括適合的傳感器或編碼器(未示出)，所述傳感器或編碼器可生成表示記錄頭16和/或介質(zhì)支架12的位置的各種信號。在本發(fā)明的一些示例實施例中，這些信號可被控制器30用于在沿記錄頭16的行進路徑的各個位置上調(diào)節(jié)各個記錄通道23的激活時機。在一些示例實施例中，控制器30使用開環(huán)控制技術(shù)來追蹤記錄頭16的位置。諸如被拉長的成像單元格42的副掃描畸變可通過各種方法被糾正。在本發(fā)明的一些示例實施例中，滑架18的移動被調(diào)節(jié)。在本發(fā)明的一些示例實施例中，傳輸構(gòu)件33的移動被調(diào)節(jié)。調(diào)節(jié)滑架18或傳輸構(gòu)件33的移動可包括調(diào)節(jié)滑架18或傳輸構(gòu)件33的速度。例如，在基于滾筒的記錄系統(tǒng)(例如記錄裝置10)中，由于滑架18在介質(zhì)支架12被旋轉(zhuǎn)的同時被平移，螺線形或螺旋形的圖像帶被形成。通過調(diào)節(jié)傳輸構(gòu)件33或滑架18的速度，螺旋形的帶的縱搖可被調(diào)節(jié)以將圖像縮放到所希望的尺寸。在本發(fā)明的一些示例實施例中，勻速調(diào)節(jié)可被用于調(diào)節(jié)所形成的圖像的總體尺寸。在本發(fā)明的一些示例實施例中，非勻速調(diào)節(jié)可被用于調(diào)節(jié)所形成的圖像的一部分的尺寸。例如，在沿滑架18的移動路徑的各個點上調(diào)節(jié)傳輸構(gòu)件33的速度可被用于糾正對應(yīng)于那些點的圖像畸變。在沿滑架18的移動路徑的各個點上調(diào)節(jié)傳輸構(gòu)件33的速度可被用于糾正傳輸構(gòu)件33的縱搖差異。在沿滑架18的移動路徑的各個點上調(diào)節(jié)傳輸構(gòu)件33的速度可被用于糾正與記錄頭16的特定定位相關(guān)聯(lián)的橫擺位移。控制器30可被編程用于向運動系統(tǒng)22提供信號以調(diào)節(jié)滑架18或傳輸構(gòu)件33的移動。在本發(fā)明的一些示例實施例中，傳感器或編碼器信號可被用于輔助控制器30在沿記錄頭16的行進路徑的各個位置上調(diào)節(jié)滑架18或傳輸構(gòu)件33的移動。包括激活時機調(diào)節(jié)和/或移動調(diào)節(jié)在內(nèi)的成像糾正通常在給定的時間點在工廠中在專用設(shè)備上被確定。記錄裝置10的重新校準可由于各種原因而在將來的某個時間被需要。例如，環(huán)境溫度改變可與初始校準被執(zhí)行的條件不同。運動系統(tǒng)22和導(dǎo)向系統(tǒng)32 中的各個部件可隨著使用而磨損并且降低這些系統(tǒng)的精度和準確性。如支架20的結(jié)構(gòu)元件可由于各種加載條件而隨時間蠕變。結(jié)構(gòu)元件的蠕變可以是一個因素，特別是在較大的記錄系統(tǒng)中。這些及其他因素可起作用而更改記錄頭16所發(fā)射的成像光束21與記錄介質(zhì) 17之間的理想對齊，從而降低了記錄頭16所形成的圖像的可靠性。圖6示出了表示按照本發(fā)明的示例實施例的用于調(diào)節(jié)記錄裝置的校準的方法200 的流程圖。參照圖1所示的記錄裝置10來描述圖6所示的各個步驟。這只是為了示意的目的并且其他適合的記錄裝置可被用在本發(fā)明中。依照步驟210，以第一取向?qū)⒂涗浗橘|(zhì) 17B定位在介質(zhì)支架12上。圖7A示出了記錄介質(zhì)17B按照本發(fā)明的示例實施例以第一取向50A在記錄裝置10的介質(zhì)支架12上的定位。在本發(fā)明的這個示例實施例中，記錄介質(zhì)17B被適當?shù)囟ㄎ辉诮橘|(zhì)支架12上以允許記錄頭16在記錄介質(zhì)17B的表面上形成圖像。在這個示例實施例中，通過將記錄介質(zhì) 17B的第一邊緣35A與位于介質(zhì)支架12上的多個配準特征25對齊而將記錄介質(zhì)17B定位在第一取向50A上。在一些示例實施例中，配準特征25中的每一個可包括適于與第一邊緣 35A接觸以將記錄介質(zhì)17B與適合于采取圖像形成動作的第一取向50A對齊的表面。在這個示例實施例中，通過建立第一邊緣35A與配準特征25A和25B之間的接觸來定義第一取向50A。特別地，在第一邊緣35A上的配準點64和66處建立接觸。在一些示例實施例中， 配準特征25中的每一個可包括適于將正在定位的記錄介質(zhì)17B引導(dǎo)到適合于成像的第一取向50A上的指示器。在一些示例實施例中，記錄介質(zhì)17B被定位在介質(zhì)支架12上隨機的第一取向50A上，并且記錄頭16的各個圖像形成參數(shù)被調(diào)節(jié)以適應(yīng)該隨機的取向。非限制性地舉例來說，對圖像形成參數(shù)的調(diào)節(jié)可包括激活時機或?qū)τ涗涱^16相對于副掃描軸M 的傾斜度的調(diào)節(jié)。在一些示例實施例中，各種傳感器被采用以檢測記錄介質(zhì)17B的各個邊緣上的各個點來確定其取向。在這個示例實施例中，記錄介質(zhì)17B以第一取向50A被定位使得第一邊緣35A沿大體上平行于副掃描軸M的方向延伸。在其他示例實施例中，記錄介質(zhì)17B以第一取向 50A被定位使得第一邊緣35A沿相對于副掃描軸M偏斜的方向延伸。在步驟220中，當記錄介質(zhì)17B以第一取向50A被定位時，記錄裝置10被操作用于在記錄介質(zhì)17B上形成至少一個圖像特征。在這個示例實施例中，所述至少一個圖像特征包括第一圖像特征60，該第一圖像特征包括適合于確定可能要求記錄裝置10的校準改變的圖像畸變的存在的形式。在這個示例實施例中，第一圖像特征60包括適合于確定主掃描圖像畸變的存在的形式，所述主掃描圖像畸變可能在記錄裝置10先前的校準之后出現(xiàn)。在這個示例實施例中，所希望的是記錄裝置10被操作用于形成沿大體上平行于副掃描軸M 的方向延伸的延長的第一圖像特征60。在這個示例實施例中，如在先前的校準(例如校準方法100)中所建立的各種激活時機和移動糾正在第一圖像特征60的形成期間被進行以糾正先前所識別的圖像畸變?？捎酶鞣N方式操作記錄裝置10以形成第一圖像特征60。例如，第一圖像特征60的各個部分可在多個螺旋形掃描期間被形成，所述螺旋形掃描通過介質(zhì)支架12和記錄頭16 兩者的協(xié)同移動被產(chǎn)生。可替換地，第一圖像特征60的各個部分可在多個環(huán)形或圓形掃描期間被形成，其中每個掃描在記錄頭16在固定的副掃描位置上保持靜止并且介質(zhì)支架12在主掃描方向上旋轉(zhuǎn)時被產(chǎn)生。其他圖像形成技術(shù)可包括副掃描掃描技術(shù)，其中當記錄頭 16在形成第一圖像特征60的一部分的同時沿副掃描軸M被平移時介質(zhì)支架12被維持在所希望的主掃描位置上。如圖7A所示，在本發(fā)明的這個示例實施例中第一圖像特征60依照圖像數(shù)據(jù)37A被形成。如圖7A所示，圖像畸變存在于所形成的第一圖像特征60中。特別地，第一圖像特征60被示出為包括彎曲的形式(即為了清楚起見被放大)而不是其所預(yù)期的直線延長形式，由此指示需要新的成像糾正。應(yīng)理解的是所示意的彎曲畸變僅以示例的方式被提供而其他畸變形狀也是可能的。在這個示例實施例中，第一圖像特征60的畸變在步驟250中被傳感器52檢測。在本發(fā)明的一些實施例中，一個或多個傳感器52位于支架20上，處在適合于檢測各種圖像特征或其部分的各個副掃描位置。在本發(fā)明的這個示例實施例中，傳感器52以與記錄頭16的預(yù)先確定的對齊被裝載在滑架18上。當運動系統(tǒng)22控制滑架18和介質(zhì)支架 12在適合于第一圖像特征60的各個部分的檢測的位置上的定位時，傳感器52可操作用于檢測這些部分。例如，參考圖7A，第一圖像特征60的各個部分可被傳感器52檢測，該傳感器被定位在滑架18所行進的路徑上的適當?shù)臋z測位置上。運動系統(tǒng)22所提供的各種編碼器/傳感器信號可被用于確定滑架18相對于第一圖像60的部分的位置。在本發(fā)明的各種實施例中，描述第一圖像特征60的各個部分中的每一個的位置或取向的信息由控制器30 根據(jù)來自運動系統(tǒng)22和傳感器52的各種信號來確定。雖然滑架18可被操作用于將傳感器52定位在各個副掃描位置，但是這個操作不一定有助于檢測第一圖像特征60的畸變。在類似于先前結(jié)合圖5A、5B和5C所描述的那些的方式中，當記錄頭16在第一圖像特征60的形成期間被定位在沿有偏差的副掃描移動路徑的各個位置上時，第一圖像特征60的畸變可由記錄頭16的定位和/或取向的改變引起。 記錄頭16的定位的這種改變可由包括支架20的蠕變在內(nèi)的不同因素引起。然而，應(yīng)注意的是因為傳感器52也位于滑架52上，它也將沿與有偏差的副掃描移動路徑大體上相同的傳感器移動路徑54(未圖7A中示出)行進，記錄頭16在畸變的第一圖像特征60的形成期間沿所述有偏差的副掃描移動路徑行進。沿傳感器移動路徑M的這種傳感器移動的后果示意性地在圖8中被描繪。圖8示出了大致平行于在記錄介質(zhì)17B以第一取向50A被定位時所形成的畸變的第一圖像特征60 的形狀的傳感器移動路徑M。如前所述，當傳感器52被移動到沿傳感器移動路徑M的各個位置時，第一圖像特征60的各個部分可被傳感器52檢測。包括畸變的第一圖像特征60 的每個被檢測到的部分的主掃描位置信息在內(nèi)的各種信息可被提供給控制器30以識別所述部分中的每一個的位置。然而，由于在每個檢測位置上傳感器52在位置上偏移與畸變的第一圖像特征60的被檢測到的部分的主掃描位置變化有關(guān)的量，所以被提供給控制器30 的主掃描位置信息使得控制器30將不正確地認為畸變的第一圖像特征60包括如圖8所示意性地示出的大體上無畸變的形式60A。這樣的結(jié)果將錯誤地暗示不需要記錄裝置10的重新校準。由于各個傳感器52在支架20上的定位也可結(jié)合導(dǎo)致第一圖像特征60的畸變的記錄裝置10的改變而變化，所以如果一系列傳感器52被附加至支架20上的各個副掃描位置，那么相似的結(jié)果可能出現(xiàn)。在本發(fā)明的這個示例實施例中，記錄介質(zhì)17B被重新定位在介質(zhì)支架12上以減少
11前述檢測問題的發(fā)生。在步驟240中，記錄介質(zhì)17B以不同于第一取向50A的第二取向50B 被定位在介質(zhì)支架12上。在這個示例實施例中，在第一圖像特征60已被形成在記錄介質(zhì) 17B上之后，記錄介質(zhì)17B以第二取向50B被定位在介質(zhì)支架12上。如圖7C所示，在檢測第一圖像特征60的各種畸變之前，記錄介質(zhì)17B被重新定位在介質(zhì)支架12上使得第二邊緣36A被定位在配準特征25附近(vicinity)。在這個示例實施例中，第二邊緣36A是記錄介質(zhì)17B的與第一邊緣35A橫向?qū)R的邊緣。在這點上，記錄介質(zhì)17B在介質(zhì)支架12上的第二取向50B表示記錄介質(zhì)17B相對于第一取向50A的旋轉(zhuǎn)。在本發(fā)明的這個示例實施例中，繞沿大體上垂直于圓柱形表面13的方向與圓柱形表面13相交的軸進行這種代表性旋轉(zhuǎn)。在這個示例實施例中，這種代表性旋轉(zhuǎn)大致為90度而在其他實施例中，這種代表性旋轉(zhuǎn)可落在大致85度到95度的范圍內(nèi)。諸如第一邊緣35A與第二邊緣36A之間的非垂直等因素可引起該代表性旋轉(zhuǎn)的變化。在本發(fā)明的一些示例實施例中，當維持與介質(zhì)支架12的接觸時記錄介質(zhì)17B被重新定位。在其他示例實施例中，記錄介質(zhì)17在以第二取向50B被定位在介質(zhì)支架12上之前被從介質(zhì)支架12上移除。在一些示例實施例中，記錄介質(zhì)17B可在以第二取向50B被定位在介質(zhì)支架12上之前經(jīng)受一個或多個其他步驟。這些其他步驟可使記錄介質(zhì)17B經(jīng)受包括例如記錄介質(zhì)17B的表面的機械的、熱的或化學(xué)的修正在內(nèi)的各種過程。這些過程中的一些可被用于增強記錄介質(zhì)17B的成像區(qū)域與記錄介質(zhì)17B的未被成像的區(qū)域之間的對比度(contrast)。在本發(fā)明的這個示例實施例中，記錄介質(zhì)17B被定位在介質(zhì)支架12上以允許傳感器52成功地檢測到第一圖像特征60的畸變。通過以第二取向50B將記錄介質(zhì)17B定位在介質(zhì)支架12上，前述錯誤結(jié)果的出現(xiàn)可被減少。在本發(fā)明的這個示例實施例中，第二取向 50B對應(yīng)于第一圖像特征60在介質(zhì)支架12上的、傳感器52定位的不希望的偏差在第一圖像特征60的檢測期間可被減少的位置上的定位。如在圖7C中所表示的那樣，傳感器52被定位在第一副掃描位置56上并且介質(zhì)支架12沿主掃描軸沈的方向被移動以相繼將第一圖像特征60的各個部分定位在適合于由傳感器52檢測的位置上。在本發(fā)明的這個示例實施例中，傳感器52在所述檢測期間被維持在第一副掃描位置56上。在這個示例實施例中，介質(zhì)支架12沿主掃描軸沈的移動與導(dǎo)致第一圖像特征60的畸變的、滑架18沿副掃描軸M的移動相比不那么易受偏差影響。在這個特定的實施例中，介質(zhì)支架12是經(jīng)由旋轉(zhuǎn)軸承(未示出)旋轉(zhuǎn)地與支架20耦合的圓柱形構(gòu)件。適合的旋轉(zhuǎn)軸承可包括例如各種精密深溝球軸承、各種精密角接觸軸承以及各種精密自位軸承。這些旋轉(zhuǎn)軸承通常慮及可能由于引起第一圖像特征60的畸變的記錄裝置10的各種改變而出現(xiàn)的微小量的轉(zhuǎn)軸未對齊。在這點上，介質(zhì)支架12沿主掃描軸沈的移動與記錄頭16沿副掃描軸M的移動相比不那么易受偏差影響。因此，在本發(fā)明的這個示例實施例中，以第二取向50B對記錄介質(zhì)17B的定位允許傳感器52檢測第一圖像特征60 的各個部分中的每一個以及第一圖像特征60的總體畸變本身。在本發(fā)明的一些示例實施例中，傳感器52通過檢測第一圖像特征60的每個被檢測到的部分的所預(yù)期的位置的變化來檢測第一圖像特征60的畸變。在記錄介質(zhì)17B根據(jù)第二取向50B被定位之后，當介質(zhì)支架12旋轉(zhuǎn)地被移動以將圖像特征部分中的每一個定位在適合于由傳感器52檢測的位置上時，第一圖像特征60的每個部分的所預(yù)期的副掃描位置的變化將被檢測。在根據(jù)第二取向50B被定位時第一圖像特征60的各個部分的被檢測到的副掃描位置變化與在根據(jù)第一取向50A被定位時第一圖像特征60的各個部分的主掃
描畸變有關(guān)。在本發(fā)明的一些示例實施例中，當每個部分在傳感器52的可檢測范圍內(nèi)被移動時，傳感器52通過檢測第一圖像特征60的各個部分之間的副掃描位移來檢測第一圖像特征60的畸變。在這個示例實施例中，在根據(jù)第二取向50B被定位時第一圖像特征60的各個部分的被檢測到的副掃描位移與在根據(jù)第一取向50A被定位時第一圖像特征60的各個部分的主掃描位移有關(guān)。在一些示例實施例中，這些副掃描位移參照第一副掃描位置56。 第一圖像特征60的每個被檢測到的部分之間相對于彼此或相對于第一副掃描位置56的變化的位移的存在可被用于識別畸變。然而，應(yīng)注意的是當記錄介質(zhì)17B的第二取向50B使得第一圖像特征60沿相對于主掃描軸沈偏斜的方向延伸時可能會遇到一些誤差。在各種示例實施例中，檢測沿通過介質(zhì)支架12沿主掃描軸沈的方向的移動所建立的檢測路徑發(fā)生。如果第二取向50B使得第一圖像特征60相對于這個檢測路徑偏斜，那么第一圖像特征 60的被檢測到的部分之間任何變化的位移可包括來自這個偏斜的影響。在一些示例實施例中，被檢測到的副掃描位移參照可檢測的基準，諸如在根據(jù)第二取向50B被定位時參照第一邊緣35A。由于在步驟220中第一邊緣35A在第一圖像特征 60的形成期間與第一和第二配準特征25A和25B對齊，存在第一圖像特征60與第一邊緣 35A之間對應(yīng)的對齊，并且對這兩者之間變化的間隔的檢測可被用于識別第一圖像特征60 的畸變的存在。然而，當?shù)谝贿吘?5A本身在形式上不準直的時候，仍然可能遇到一些誤差。很多記錄介質(zhì)17可包括波狀的邊緣，特別是當介質(zhì)在尺寸上很大或是由非形穩(wěn)材料制成的時候。在本發(fā)明的這個示例實施例中，被檢測到的副掃描位移參照在步驟230中依照圖像數(shù)據(jù)37B所形成的第二圖像特征62。如圖7B所示，由記錄頭16在以不同于在第一圖像特征60的形成期間所使用的第一取向50A的取向50C被定位在介質(zhì)支架12上的記錄介質(zhì) 17B上形成圖像特征62。在這個示例實施例中，第二圖像特征62是鄰近于第一圖像特征60 被定位的延長的圖像特征。在這個示例實施例中，第二圖像特征62包括與第一圖像特征60 大體上相同的長度并且被形成使得它沿與第一圖像特征60沿其延伸的方向大體上相同的方向延伸。為了清楚起見，在圖7F中以展開的或平面的取向示出包括第一圖像特征60和第二圖像特征62在內(nèi)的記錄介質(zhì)17B。在本發(fā)明的這個示例實施例中，以與在第一圖像特征60的形成期間所采用的第一邊緣35A上的兩個配準點64和66的對齊關(guān)系形成第二圖像特征62。第一圖像特征60 先前在記錄介質(zhì)17B以通過在配準點64和66與對應(yīng)的配準特征25A和25B之間建立接觸所定義的第一取向50A被定位時被形成。因此，第一取向50A使得第一圖像特征60以與兩個接觸點對齊的取向被形成。應(yīng)注意的是在這個示例實施例中，當記錄介質(zhì)17B以第一取向50A被定位時，兩個接觸點之間的基準線(未示出)大體上平行于副掃描軸M。在其他示例實施例中，配準特征25A和25B可以其中接觸點之間的基準線將相對于副掃描軸M偏斜的方式位于介質(zhì)支架12上。在本發(fā)明的這個示例實施例中，所希望的是第二圖像特征62也以與先前在第一圖像特征60的形成期間所采用的兩個配準點64和66的相同對齊被形成。在這個示例實施例中，同樣希望的是第二圖像特征62以降低畸變在第二圖像特征62中形成的可能性的方式被形成。在這個示例實施例中，主掃描旋轉(zhuǎn)移動與副掃描平移移動相比不那么傾向于有偏差。在這個示例實施例中，第二圖像特征62優(yōu)選地通過記錄頭沿副掃描軸M很少的移動或不移動而被形成。如前所述，在圖像特征62的形成期間所采用的取向50C不同于在第一圖像特征60 的形成期間所采用的第一取向50A。在一些示例實施例中，取向50C與在步驟250中的畸變檢測期間所采用的第二取向50B相同，而在其他示例實施例中，取向50C不同于第二取向 50B。在這個示例實施例中，取向50C使得第一邊緣35A圍繞介質(zhì)支架12沿圓周延伸。在一些示例實施例中，取向50C可以使得第一邊緣35A沿相對于主掃描軸26偏斜微小的角旋轉(zhuǎn)的方向延伸，所述角旋轉(zhuǎn)通常在+/-15度的范圍內(nèi)。在任何一種情況下，當?shù)谝贿吘?5A 這樣被定向時，其可被視為圍繞介質(zhì)支架12大體上沿圓周延伸。一旦記錄介質(zhì)17B以取向50C被定位，第一和第二配準點64和66中的每一個的位置在以與這些點的所希望的對齊形成第二圖像特征62之前被確定。各種技術(shù)可被采用以確定這個取向上的配準點64和66。例如，美國專利No. 6，968，782 (Cummings)和美國專利No. 7，456，379 (Neufeld等人)公開了可被采用以沿介質(zhì)的邊緣找到圍繞滾筒型介質(zhì)支架大體上沿圓周延伸的各個點的各種檢測技術(shù)，這兩個專利均在此通過引用被并入本文。 在這點上，各種傳感器可被用于檢測配準點64和66的位置，特別是當取向50C相對于主掃描軸沈偏斜時。在這個示例實施例中，傳感器52被采用以檢測配準點64和66的位置。在這個示例實施例中，一旦配準點64和66中的每一個的主掃描和副掃描位置被確定，記錄裝置10就被操作用于以與配準點64和66的所確定的位置的所希望的對齊形成第二圖像特征62。第二圖像特征62可以各種方式被形成。在一些示例實施例中，第二圖像特征62在操作記錄裝置10在記錄介質(zhì)17B上圓形地進行掃描時被形成。在本發(fā)明的其他示例實施例中，第二圖像特征62在操作記錄裝置10在記錄介質(zhì)17B上螺旋形地進行掃描時被形成。在一些示例實施例中，表示第二圖像特征62的圖像數(shù)據(jù)37B被調(diào)節(jié)以計入主掃描軸26與由兩個配準點64和66所定義的基準線(同樣未示出)之間的偏斜。在一些示例實施例中，第二圖像特征62在以由主掃描軸沈與由兩個配準點64和66所定義的基準線(同樣未示出)之間的偏斜所決定的協(xié)同的方式移動記錄頭16和介質(zhì)支架12中的每一個時被形成。對于微小量的偏斜，這種協(xié)同的移動可包括記錄頭16沿副掃描軸M的微小量的移動。這種微小的副掃描移動通常小于將被采用以形成螺旋形的圖像帶的副掃描移動。一旦第二圖像特征62以與由兩個配準點64和66所定義的基準線的所希望的對齊在記錄介質(zhì)17B上被形成，傳感器52就在步驟250中通過隨著第一圖像特征60和第二圖像特征62的各個對應(yīng)的部分中的每一個在傳感器52的可檢測范圍內(nèi)被移動而檢測這些對應(yīng)的部分之間所預(yù)期的副掃描間隔的變化來檢測第一圖像特征60的畸變。由于第二圖像特征62已通過與第一圖像特征60通過其被形成的配準點64和66的大體上相同的對齊被形成，所以對應(yīng)的部分的被檢測到的副掃描間隔之間的任何變化與在第一圖像特征60 的形成期間被傳到其上的主掃描畸變有關(guān)。包括關(guān)于被檢測到的副掃描間隔的信息在內(nèi)的信號被提供給控制器30。在步驟260期間，控制器30被配置用于根據(jù)傳感器52所提供的檢測信息來確定畸變信息。具體地，控制器30被配置用于將被檢測到的副掃描間隔信息變換回在步驟220 的圖像形成動作中所采用的主掃描基準幀(reference frame)。變換可在各種因素的基礎(chǔ)上進行，包括在第一圖像特征60的形成期間記錄介質(zhì)17B在介質(zhì)支架12上的先前位置以及各個被檢測到的間隔的量和方向。在這個示例實施例中，控制器30被配置用于將關(guān)于根據(jù)第二取向50B所定位的第一圖像特征60的各個被檢測到的畸變區(qū)域的位置的主掃描位置信息變換回在步驟220的圖像形成動作中所采用的副掃描基準幀。運動系統(tǒng)22所提供的各種編碼器信息可被控制器30在確定各種位置信息時采用。記錄裝置10在步驟270中被重新校準。對各個先前所形成的成像糾正的新的成像糾正或調(diào)節(jié)依照所確定的關(guān)于第一圖像特征60的畸變的信息來進行。在這點上，控制器 30確定所確定的信息中的任何畸變的幅度和方向，并且將它們與關(guān)于畸變的位置的副掃描位置信息關(guān)聯(lián)。如果畸變具有足夠的幅度以要求對記錄裝置10的重新校準，那么控制器30 依照表示這些畸變的所確定的值來調(diào)節(jié)先前所確定的成像糾正。由于第一圖像特征60被形成以識別主掃描成像畸變，控制器30被配置用于更改介質(zhì)支架12的對應(yīng)于所述畸變的區(qū)域的激活時機改變。在這點上，當記錄頭16被定位以在對應(yīng)于第一圖像特征60的畸變的區(qū)域中對后續(xù)圖像的部分成像時，各個記錄通道23的激活時機被調(diào)節(jié)。有利地，記錄裝置10的重新校準可在即將被使用時被執(zhí)行。重新校準可被執(zhí)行而無需額外的專用校準設(shè)備。在本發(fā)明的一些示例實施例中，控制器30保存表示對成像糾正所進行的各種調(diào)節(jié)的數(shù)據(jù)以建立日志。這樣的日志可被用于識別可提高系統(tǒng)的圖像質(zhì)量的條件。應(yīng)理解的是，方法200所示的各個步驟在本質(zhì)上是示例性的，并且這些步驟的其他順序、或額外步驟的添加、或?qū)@些步驟的修正可被本發(fā)明的各種示例實施例采用。例如，第二圖像特征62可在第一圖像特征60的形成之前被形成。應(yīng)理解的是，在本發(fā)明的一些實施例中，多個圖像特征可被形成以檢測主掃描畸變而不是單個圖像特征(例如第一圖像特征60)。例如，第一圖像特征60可被圖像特征的圖案取代并且可通過在記錄介質(zhì)17B 以第二取向62被定位時檢測所述特征中的一個或多個的所預(yù)期的位置的變化來檢測畸變。在一些示例實施例中，第一圖像特征60可被圖像特征的圖案取代并且可通過在記錄介質(zhì)17B以第二取向62被定位時檢測所述特征中的一個或多個與第二圖像特征62之間的所預(yù)期的間隔的變化來檢測畸變。在一些示例實施例中，第一圖像特征60和第二圖像特征62 兩者可分別被圖像特征的分組取代并且可通過在記錄介質(zhì)17B以第二取向50B被定位時檢測每個分組中的各個對應(yīng)的特征之間的所預(yù)期的間隔的變化來檢測畸變。介質(zhì)支架12可包括沿主掃描軸沈和副掃描軸M中的各個軸的尺寸屬性，所述尺寸屬性對可依照本發(fā)明的各種實施例被裝卸的適合的記錄介質(zhì)17B的尺寸施加限制。例如，圍繞介質(zhì)支架12的有限圓周距離可對能夠在第一取向50A與第二取向50B之間被重新定位的記錄介質(zhì)17B的尺寸施加限制。因此，在一些示例實施例中，相似于方法200的方法在介質(zhì)支架12的各個副掃描位置上被實踐以確定與那些副掃描位置中的每一個相關(guān)聯(lián)的各個區(qū)域的成像糾正。在一些示例實施例中，在第一取向50A與第二取向50B之間對記錄介質(zhì)17B的重新定位可對應(yīng)于不同于圖7A和7C所示的代表性旋轉(zhuǎn)。例如，可從第一取向50A向其中邊緣35B (即記錄介質(zhì)17B的與第一邊緣35A相對的邊緣)與配準特征25對齊的另一取向重新定位記錄介質(zhì)17B。在這個示例實施例中，代表性旋轉(zhuǎn)將通常對應(yīng)于在大致175度到185 度的范圍內(nèi)的旋轉(zhuǎn)角。如果記錄介質(zhì)17B足夠透明，它可被額外地被反轉(zhuǎn)以便使其成像的表面與圓柱形表面13接觸。在移動介質(zhì)支架12以將重新定位的第一圖像特征60帶入傳感器52的檢測范圍內(nèi)之后，可在將傳感器52定位在沿副掃描軸的各個位置上時檢測第一圖像特征60的畸變。在這些示例實施例中，由于傳感器52沿大體上反映(mirror)第一圖像特征60的畸變的傳感器移動路徑M被移動，被檢測到的畸變將對應(yīng)于第一圖像特征60 的實際畸變的大致兩倍。在一些示例實施例中，額外的圖像特征在記錄介質(zhì)17B以不同于第一取向50A并且被選擇以使所述額外的圖像特征的畸變的形成最少的取向(例如取向50C)被定位時被形成。當記錄介質(zhì)17B被定位在使得第一圖像特征60和額外的圖像特征兩者都沿大體上平行于副掃描軸M的方向延伸的取向時，主掃描畸變可直接被傳感器52檢測?？赏ㄟ^在傳感器52沿其副掃描路徑被移動時檢測第一圖像特征60和額外的圖像特征的各個對應(yīng)的部分之間的所預(yù)期的間隔的變化來實現(xiàn)這些實施例中的畸變檢測。應(yīng)理解的是，第一圖像特征60和額外的圖像特征沿大體上平行于副掃描軸M的方向的延伸可包括當記錄介質(zhì)17B 被定位在檢測取向上時相對于副掃描軸M的微小量的偏斜。在一些示例實施例中，副掃描畸變被檢測。例如，如圖7D所示，圖像特征63的圖案可在記錄介質(zhì)17C上被形成，記錄介質(zhì)17C以第一取向50D被定位在介質(zhì)支架12上。在這個示例實施例中，通過與被采用以建立先前所描述的第一取向50A的那些方法相似的方法建立第一取向50D。圖像特征63的圖案可包括各種一維或二維圖案。圖像特征63的圖案可包括各種布置方向，圖像特征63沿所述方向被布置。所述各種布置方向可相對于主掃描軸26和副掃描軸M來定向。應(yīng)理解的是如果記錄介質(zhì)17C以不同于第一取向50D的取向在介質(zhì)支架上被重新定位，那么各個布置方向的取向?qū)⒏淖?。在這個示例實施例中，圖像特征63的圖案包括將以總體平行于副掃描軸M的方向的布置方向被形成的一行圖像特征 63。在各種示例實施例中，所希望的是該行圖像特征63以各對圖像特征63之間的目標副掃描間隔被形成。在這個非限制性的示例實施例中，所希望的是鄰近的圖像特征63以大體上相等的目標副掃描間隔被形成。圖7D示出了各種副掃描畸變導(dǎo)致所形成的圖像特征63 中的各個圖像特征之間的所希望的目標副掃描間隔的變化。依照圖像數(shù)據(jù)37C形成圖像特征63的圖案。一旦圖像特征63的圖案被形成，記錄介質(zhì)17C就以如圖7E所示的第二取向50E 被重新定位。第二取向50E不同于第一取向50D并且被選擇用于對各個圖像特征63之間的實際間隔與它們對應(yīng)的目標間隔之間的任何改變的檢測。如果在記錄介質(zhì)17C以第一取向50D被定位在介質(zhì)支架12上的同時，傳感器52被采用以檢測圖像特征63的圖案中的第一圖像特征與第二圖像特征之間的所預(yù)期的間隔的變化，那么各種檢測誤差可能出現(xiàn)。例如，由于在檢測期間傳感器52也由滑架18移動，所以各種滑架橫擺移動(例如如圖5C所示的那樣)也可使傳感器52經(jīng)受相同的瞄準誤差，所述各種滑架橫擺移動是圖像特征63中的兩個圖像特征之間的所預(yù)期的間隔的變化的原因之一。通過以第二取向50E將記錄介質(zhì)17C定位在介質(zhì)支架12上，前述錯誤結(jié)果的出現(xiàn)可被減少。在這個示例實施例中，通過與被采用以建立先前所描述的第二取向50B的那些方法相似的方法建立第二取向50E。這樣，第二取向50E使得所述行圖像特征63現(xiàn)在沿大體上沿圓周的方向延伸。因此，當記錄介質(zhì)17C根據(jù)第二取向50E被定位時，圖像特征63的圖案中的圖像特征的布置方向被重新定向。由于介質(zhì)支架12的主掃描旋轉(zhuǎn)移動與滑架18 的副掃描平移移動相比不那么傾向于有偏差，所以當介質(zhì)支架12被旋轉(zhuǎn)以將圖像特征63 中的每一個定位至適合于由傳感器52檢測的位置時圖像特征63中的兩個圖像特征之間的所預(yù)期的間隔之間的變化可準確地被檢測。應(yīng)理解的是當記錄介質(zhì)17C根據(jù)第二取向50E 被定位時，所述行圖像特征63可沿能夠包括相對于主掃描軸沈的微小量的傾斜的大體上沿圓周的方向被定位。在這個示例實施例中，任何被檢測到的變化表示已在記錄裝置10內(nèi)顯現(xiàn)出來的副掃描畸變。包括對滑架18的移動參數(shù)(例如速度參數(shù))的調(diào)節(jié)在內(nèi)的成像糾正可被進行以補償這些畸變。在一些示例實施例中，對滑架18的定位的調(diào)節(jié)在對應(yīng)于畸變區(qū)域的各個副掃描位置上被進行。在這個示例實施例中，對滑架18的速度調(diào)節(jié)在沿其行進路徑的各個點上被進行。在這個示例實施例中，這些不同的點對應(yīng)于記錄頭16在各個畸變的形成期間的位置。這些點的位置可通過與本發(fā)明的其他被描述的實施例所并入的那些技術(shù)相似的技術(shù)來識別。因此，滑架18可在沿其行進路徑的各個點上以不同的速度被移動。應(yīng)理解的是速度的改變在本質(zhì)上通常是很小的，但具有足以克服被檢測到的畸變的幅度。在一些示例實施例中，所預(yù)期的間隔的改變可在形成在單個圖像帶中的多個圖像特征63的各個成員之間被檢測。在一些情況下，副掃描畸變可能跨多個圖像帶更顯著而不是在給定的圖像帶內(nèi)更顯著。在一些示例實施例中，至少一個圖像特征63在每次掃描期間被形成，并且所預(yù)期的間隔的改變可從形成在不同圖像帶中的圖像特征63中被檢測。在本發(fā)明的一些示例實施例中，通過檢測圖像特征63中的一個的所預(yù)期的位置的改變來檢測副掃描畸變。運動系統(tǒng)22所提供的各種編碼器信號可被采用以輔助對被檢測到的圖像特征63的特定位置的識別。在本發(fā)明的其他示例實施例中，通過檢測圖像特征 63中的一個的所預(yù)期的尺寸的改變來檢測副掃描畸變。例如，圖像特征63中的每一個可依照所希望的副掃描目標尺寸被形成，并且與這個尺寸的偏差可被用于識別畸變。與所希望的目標尺寸的偏差可由于例如記錄頭16的橫擺移動或傳輸構(gòu)件33的移動不規(guī)則性而出現(xiàn)。在一些示例實施例中，一個或多個額外的圖像特征可在記錄介質(zhì)17C以不同于第一取向50D的取向被定位時形成?？赏ㄟ^在記錄介質(zhì)17C以第二取向50E被定位時檢測圖像特征63中的一個與額外的圖像特征中的一個之間的所預(yù)期的間隔的變化來檢測畸變。 在一些示例實施例中，當記錄介質(zhì)17C以第二取向50E被定位時，在檢測圖像特征63與額外形成的圖像特征中的一個之間的所預(yù)期的主掃描間隔的偏差之后確定圖像特征63的位置的副掃描變化。在本發(fā)明的一些示例實施例中，圖像特征63的圖案被用于確定副掃描畸變和主掃描畸變兩者。圖像特征的圖案可在記錄介質(zhì)17C以第一取向被定位在介質(zhì)支架12上時被形成，并且可在記錄介質(zhì)17C以不同于第一取向的第二取向被定位在介質(zhì)支架12上時檢測相關(guān)聯(lián)的主掃描畸變和副掃描畸變。應(yīng)理解的是不同示例實施例的各個方面的適合的組合均在本發(fā)明的范圍內(nèi)。包括依照本發(fā)明的各種實施例所進行的滑架18的移動調(diào)節(jié)和/ 或記錄通道23的激活時機調(diào)節(jié)在內(nèi)的各種成像糾正可在記錄裝置10所采取的后續(xù)圖像形成動作期間被采用。依照本發(fā)明的各種實施例所進行的各種滑架18的移動調(diào)節(jié)和/或記
17錄通道23的激活時機調(diào)節(jié)可在滑架18的后續(xù)移動期間被采用。依照本發(fā)明的各種實施例所形成的各種圖像特征可包括適合于檢測的任何形式、 尺寸、形狀或特征。在沒有限制的情況下，依照本發(fā)明的各種實施例所形成的各種圖像特征可包括適合于檢測的各種目標、配準特征或基準點(feducials)。在本發(fā)明的各種實施例中，傳感器52可包括任何適合于檢測一個或多個圖像特征的各種畸變的傳感器。在沒有限制的情況下，傳感器52可包括光學(xué)的、機械的和電性的元件。在本發(fā)明的各種示例實施例中，傳感器52包括諸如CCD傳感器或CMOS傳感器等圖像捕獲設(shè)備。具有適當大小的視場的圖像捕獲傳感器可被采用以捕獲圖像特征的各個部分的圖像。來自圖像捕獲傳感器的各種信號可被用于定義圖像特征的被檢測到的部分的位置。 另外，對應(yīng)于介質(zhì)支架12和滑架18的位置的信號(例如編碼器信號)可被用于在圖像特征的給定部分被定位在圖像捕獲傳感器的視場中時確定所述圖像特征的給定部分的主掃描位置和/或副掃描位置。在一些示例實施例中，傳感器52可以是不同于記錄裝置10的裝置的一部分。在本發(fā)明的一些示例實施例中，照明器55被用于在對圖像特征的檢測期間照亮一個或多個圖像特征的一部分。照明器陽可被用于照亮所述一個或多個圖像特征的一部分，而同時用圖像捕獲設(shè)備捕獲該部分的圖像。在本發(fā)明的一些示例實施例中，照明器55 包括可朝記錄介質(zhì)17發(fā)射輻射以增強所形成的圖像特征與記錄介質(zhì)17的邊界區(qū)域之間的差異的輻射源。被反射的輻射的量和方向的改變可被傳感器52檢測以檢測圖像特征的特定部分。在本發(fā)明的一些示例實施例中，照明器55是發(fā)射器/接收器類型的傳感器的發(fā)射器。在本發(fā)明的一些示例實施例中，照明器55包括LED光源。在本發(fā)明的一些示例實施例中，照明器陽包括頻閃光源。在一些示例實施例中，照明器55被定位在滑架18上。在一些示例實施例中，照明器陽被定位在支架20上。部件列表
10記錄裝置
12介質(zhì)支架
13圓柱形表
16記錄頭
17記錄介質(zhì)
17A記錄介質(zhì)
17B記錄介質(zhì)
17C記錄介質(zhì)
18滑架
19圖像
19A校準圖像
20支架
21成像光束
22運動系統(tǒng)
23記錄通道
24副掃描軸
25配準特征
25A配準特征
25B配準特征
26主掃描軸
27橫擺方向
28A夾具
28B夾具
29縱搖方向
30控制器
32導(dǎo)向系統(tǒng)
33傳輸構(gòu)件
35第一邊緣
35A第一邊緣
35B邊緣
36第二邊緣
36A第二邊緣
37圖像數(shù)據(jù)
37A圖像數(shù)據(jù)
37B圖像數(shù)據(jù)
37C圖像數(shù)據(jù)
40目標圖像
41目標單元格
42成像單元格
42A成像單元格
42B成像單元格
42C成像單元格
50A第一取向
50B第二取向
50C取向
50D第一取向
50E第二取向
52傳感器
54傳感器移動路徑
55照明器
56第一副掃描位置
60第一圖像特征
60A無畸變形式
62第二圖像特征
63圖像特征
64配準點66配準點100方法110形成校準圖像120節(jié)記錄裝置以糾正校準圖像的畸變200方法210以第一取向?qū)⒂涗浗橘|(zhì)定位在介質(zhì)支架上220在以第一取向被定位的記錄介質(zhì)上形成圖像特征230形成第二圖像特征240以不同于第一取向的第二取向定位記錄介質(zhì)250檢測圖像特征的畸變260確定畸變信息270重新校準記錄裝置
權(quán)利要求
1.一種用于改變記錄裝置的校準以調(diào)節(jié)幾何畸變的方法，所述方法包括提供用于承載記錄介質(zhì)的介質(zhì)支架；操作包括多個單獨可尋址的記錄通道的記錄頭以在所述記錄介質(zhì)以第一取向被定位在所述介質(zhì)支架上的同時在所述記錄介質(zhì)上形成至少一個圖像特征；以第二取向?qū)⑺鲇涗浗橘|(zhì)定位在所述介質(zhì)支架上，其中所述第二取向不同于所述第一取向；在所述記錄介質(zhì)以所述第二取向被定位在所述介質(zhì)支架上的同時檢測所述至少一個圖像特征的畸變；以及依照被檢測到的畸變調(diào)節(jié)所述記錄通道中的一部分的激活時機。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述介質(zhì)支架包括配準特征，并且所述方法包括在所述記錄介質(zhì)以所述第一取向被定位在所述介質(zhì)支架上的同時將所述記錄介質(zhì)的第一邊緣定位在所述配準特征附近，而在所述記錄介質(zhì)以所述第二取向被定位在所述介質(zhì)支架上的同時將所述記錄介質(zhì)的第二邊緣定位在所述配準特征附近，其中所述第一邊緣不同于所述第二邊緣。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其中所述第二邊緣與所述第一邊緣橫向?qū)R。
4.如權(quán)利要求2所述的方法，其中所述第一邊緣和所述第二邊緣是所述記錄介質(zhì)的相對的邊緣。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其包括在將所述至少一個圖像特征形成在所述記錄介質(zhì)上的同時建立所述記錄頭與所述介質(zhì)支架之間沿第一方向的相對移動，并且在檢測所述至少一個圖像特征的畸變的同時建立所述記錄頭與所述介質(zhì)支架之間沿第二方向的相對移動，其中所述第二方向不同于所述第一方向。
6.如權(quán)利要求1所述的方法，其包括提供適于沿路徑移動所述記錄頭的可移動的滑架；在將所述至少一個圖像特征形成在所述記錄介質(zhì)上的同時沿所述路徑移動所述滑架；以及在檢測所述至少一個圖像特征的畸變的同時將所述滑架維持在靜止的位置上。
7.如權(quán)利要求6所述的方法，其包括在所述滑架上提供傳感器以用于檢測所述至少一個圖像特征的畸變。
8.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述記錄介質(zhì)在所述介質(zhì)支架上的第二取向表示所述記錄介質(zhì)相對于所述記錄介質(zhì)在所述介質(zhì)支架上的第一取向的旋轉(zhuǎn)。
9.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述記錄介質(zhì)在所述介質(zhì)支架上的第二取向?qū)?yīng)于所述記錄介質(zhì)在所述介質(zhì)支架上的第一取向的改變，通過使所述記錄介質(zhì)繞大體上垂直于所述記錄介質(zhì)的由所述介質(zhì)支架所支撐的表面的軸旋轉(zhuǎn)一旋轉(zhuǎn)角而產(chǎn)生所述改變。
10.如權(quán)利要求9所述的方法，其中所述旋轉(zhuǎn)角在85度到95度的范圍內(nèi)。
11.如權(quán)利要求9所述的方法，其中所述旋轉(zhuǎn)角在175度到185度的范圍內(nèi)。
12.如權(quán)利要求11所述的方法，其包括在所述記錄介質(zhì)以所述第一取向被定位在所述介質(zhì)支架上的同時使所述介質(zhì)支架與所述記錄介質(zhì)的第一表面接觸，并且在所述記錄介質(zhì)以所述第二取向被定位在所述介質(zhì)支架上的同時使所述介質(zhì)支架與所述記錄介質(zhì)的第二表面接觸，其中所述第一表面和所述第二表面是所述記錄介質(zhì)的相對的表面。
13.如權(quán)利要求1所述的方法，其包括在以所述第一取向?qū)λ鲇涗浗橘|(zhì)在所述介質(zhì)支架上的定位與以所述第二取向?qū)λ鲇涗浗橘|(zhì)在所述介質(zhì)支架上的定位之間將所述記錄介質(zhì)與所述介質(zhì)支架完全分開。
14.如權(quán)利要求1所述的方法，其包括在以所述第一取向?qū)λ鲇涗浗橘|(zhì)在所述介質(zhì)支架上的定位與以所述第二取向?qū)λ鲇涗浗橘|(zhì)在所述介質(zhì)支架上的定位之間調(diào)節(jié)所述記錄介質(zhì)的成像部分與所述記錄介質(zhì)的未成像部分之間的對比度。
15.如權(quán)利要求1所述的方法，其包括提供傳感器以用于檢測所述圖像特征的畸變。
16.如權(quán)利要求15所述的方法，其包括提供適于沿路徑移動所述傳感器的滑架。
17.如權(quán)利要求15所述的方法，其中所述傳感器包括圖像捕獲設(shè)備。
18.如權(quán)利要求15所述的方法，其包括提供照明器以用于在檢測所述至少一個圖像特征的畸變的同時照亮所述至少一個圖像特征。
19.一種記錄裝置，所述記錄裝置包括包括圓柱形表面的介質(zhì)支架，其適于承載記錄介質(zhì)；記錄頭，其包括多個單獨可尋址的記錄通道；滑架，其適于沿相對于所述介質(zhì)支架的旋轉(zhuǎn)軸的路徑移動所述記錄頭；傳感器；以及控制器，其被配置用于操作所述滑架以在將至少一個圖像特征形成在以第一取向被定位在所述圓柱形表面上的記錄介質(zhì)上的同時沿所述路徑移動所述記錄頭。操作所述傳感器以在所述記錄介質(zhì)以第二取向被定位在所述圓柱形表面上的同時檢測所述至少一個圖像特征的主掃描畸變，所述第二取向不同于所述第一取向；以及依照被檢測到的主掃描畸變調(diào)節(jié)所述記錄通道中的一部分的激活時機。
20.如權(quán)利要求19所述的記錄裝置，其中所述至少一個圖像特征包括第一圖像特征， 并且所述傳感器適于通過在所述記錄介質(zhì)以所述第二取向被定位在所述圓柱形表面上的同時檢測所述第一圖像特征的一個或多個部分的所預(yù)期的副掃描定位的改變來檢測所述主掃描畸變。
21.如權(quán)利要求19所述的記錄裝置，其中所述至少一個圖像特征包括第一圖像特征和第二圖像特征，并且所述傳感器適于通過在所述記錄介質(zhì)以所述第二取向被定位在所述圓柱形表面上的同時檢測所述第一圖像特征與所述第二圖像特征之間的所預(yù)期的副掃描間隔的改變來檢測所述主掃描畸變。
22.如權(quán)利要求19所述的記錄裝置，其中所述介質(zhì)支架包括至少一個配準特征，并且所述記錄介質(zhì)包括第一邊緣和與所述第一邊緣橫向?qū)R的第二邊緣，其中在所述記錄介質(zhì)以所述第一取向被定位在所述圓柱形表面上的同時所述第一邊緣被定位在所述至少一個配準特征附近，并且在所述記錄介質(zhì)以所述第二取向被定位在所述圓柱形表面上的同時所述第二邊緣被定位在所述至少一個配準特征附近。
23.如權(quán)利要求19所述的記錄裝置，其中所述滑架適于沿所述路徑移動所述傳感器。
24.如權(quán)利要求19所述的記錄裝置，其中所述傳感器包括圖像捕獲設(shè)備。
25.如權(quán)利要求M所述的記錄裝置，其包括適于在所述至少一個圖像特征的主掃描畸變被檢測的同時照亮所述記錄介質(zhì)的照明器。
全文摘要
本發(fā)明涉及用于改變記錄裝置(10)的校準以調(diào)節(jié)幾何畸變的方法，所述方法包括提供用于承載記錄介質(zhì)(17)的介質(zhì)支架(12)；操作包括多個單獨可尋址的記錄通道(23)的記錄頭(16)以在所述記錄介質(zhì)以第一取向(50A)被定位在所述介質(zhì)支架上的同時在所述記錄介質(zhì)上形成至少一個圖像特征；以第二取向(50B)將所述記錄介質(zhì)定位在所述介質(zhì)支架上，其中所述第二取向不同于所述第一取向；在所述記錄介質(zhì)以所述第二取向被定位在所述介質(zhì)支架上的同時檢測所述至少一個圖像特征的畸變；以及依照被檢測到的畸變調(diào)節(jié)所述記錄通道中的一部分的激活時機。
文檔編號H04N1/047GK102422625SQ201080020908
公開日2012年4月18日 申請日期2010年4月22日 優(yōu)先權(quán)日2009年5月7日
發(fā)明者A·瓦爾內(nèi)斯 申請人:伊斯曼柯達公司