專利名稱：無線收發(fā)信機(jī)系統(tǒng)可靠性驗證的多樣本監(jiān)測系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及無線通信系統(tǒng)中的無線收發(fā)信機(jī)系統(tǒng)(RRU)，尤其涉及一種RRU可靠 性驗證的多樣本監(jiān)測系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
RRU是無線移動通信系統(tǒng)中可靠性要求最高的無線遠(yuǎn)端子系統(tǒng)。 RRU的可靠性是整個無線移動通信系統(tǒng)競爭力的關(guān)鍵點之一。RRU可靠性的測試
驗證是整個RRU產(chǎn)品研發(fā)過程中最關(guān)鍵的環(huán)節(jié)之一。 通過檢索現(xiàn)有技術(shù)發(fā)現(xiàn)，目前RRU可靠性的測試驗證技術(shù)，主要采用手動測試和 單樣本自動測試。 但測試可靠性和可信性的一個關(guān)鍵要素就是要在標(biāo)準(zhǔn)的測試環(huán)境中測試足夠多 的樣本。 現(xiàn)有技術(shù)在可靠性的測試中(如高低溫環(huán)境測試)，不能很好地滿足RRU作為核 心子系統(tǒng)的高可靠性的要求，經(jīng)過現(xiàn)有技術(shù)測試通過的RRU產(chǎn)品在生產(chǎn)及工程應(yīng)用中依然
會出現(xiàn)較多不穩(wěn)定性的故障。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供無線收發(fā)信機(jī)系統(tǒng)可靠性驗證的多樣本監(jiān)測系 統(tǒng)及方法，解決現(xiàn)有RRU測試的可靠性較低的缺陷，實現(xiàn)提高測試的可靠性，滿足無線收發(fā)
信機(jī)系統(tǒng)較高的可靠性要求。 為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的一種無線收發(fā)信機(jī)系統(tǒng)可靠性驗證的多樣本監(jiān)測 系統(tǒng)，其特征在于，包括開關(guān)矩陣模塊、多路開關(guān)模塊、微控制器(MCU)監(jiān)控子系統(tǒng)和系統(tǒng) 平臺，其中 開關(guān)矩陣模塊分別與多路開關(guān)模塊以及一個或多個待監(jiān)測的無線收發(fā)信機(jī)系統(tǒng) (RRU)連接; 多路開關(guān)模塊還與外部監(jiān)測設(shè)備連接； MCU監(jiān)控子系統(tǒng)控制開關(guān)矩陣模塊和多路開關(guān)模塊的開關(guān)切換，實現(xiàn)待監(jiān)測的 RRU與外部監(jiān)測設(shè)備的連接； 系統(tǒng)平臺調(diào)用單樣本RRU可靠性驗證監(jiān)測模塊對待監(jiān)測的RRU進(jìn)行可靠性監(jiān)測。
進(jìn)一步地，系統(tǒng)平臺包括一配置算法模塊，該配置算法模塊中配置有開關(guān)矩陣模 塊所連接的待監(jiān)測RRU的物理配置參數(shù)，該配置算法模塊建立每個待監(jiān)測RRU的物理配置 參數(shù)與單樣本RRU可靠性驗證監(jiān)測模塊的虛擬物理接口變量的關(guān)聯(lián)關(guān)系，以調(diào)用該單樣本 RRU可靠性驗證監(jiān)測模塊對待監(jiān)測的RRU進(jìn)行可靠性監(jiān)測。 進(jìn)一步地，MCU監(jiān)控子系統(tǒng)查詢配置算法模塊中配置的待監(jiān)測RRU的物理配置參 數(shù)，根據(jù)查詢到的物理配置參數(shù)設(shè)置開關(guān)矩陣模塊和多路開關(guān)模塊的開關(guān)切換，建立測試 鏈路的物理通路，實現(xiàn)待監(jiān)測的RRU與外部監(jiān)測設(shè)備的連接。
進(jìn)一步地，開關(guān)矩陣模塊和多路開關(guān)模塊分別包括主連接端口和輔連接端口，該
開關(guān)矩陣模塊的輔連接端口連接待監(jiān)測的RRU，該開關(guān)矩陣模塊的主連接端口與多路開關(guān)
模塊的主連接端口相連，多路開關(guān)模塊的輔連接端口連接外部監(jiān)測設(shè)備。
進(jìn)一步地，多路開關(guān)模塊包括主連接端口和輔連接端口 ； 開關(guān)矩陣模塊包括主開關(guān)和輔開關(guān)，該主開關(guān)和輔開關(guān)均分別包括主連接端口和 輔連接端口 ，該輔開關(guān)的輔連接端口連接待監(jiān)測的RRU，該輔開關(guān)的主連接端口連接到主開
關(guān)的輔連接端口 ，該主開關(guān)的主連接端口與多路開關(guān)模塊的主連接端口相連，多路開關(guān)模 塊的輔連接端口連接外部監(jiān)測設(shè)備。 進(jìn)一步地，開關(guān)矩陣模塊和多路開關(guān)模塊分別包括主連接端口和輔連接端口 ；
開關(guān)矩陣模塊與多路開關(guān)模塊組成監(jiān)測板，該系統(tǒng)包括主監(jiān)測板和輔監(jiān)測板；
輔監(jiān)測板的開關(guān)矩陣模塊的輔連接端口連接待監(jiān)測的RRU，主連接端口與該輔監(jiān) 測板的多路開關(guān)模塊的主連接端口連接，該輔監(jiān)測板的多路開關(guān)的輔連接端口與主監(jiān)測板 的開關(guān)矩陣模塊的輔連接端口相連，該主監(jiān)測板的開關(guān)矩陣模塊的主連接端口與該主監(jiān)測 板的多路開關(guān)模塊的主連接端口相連，該主監(jiān)測板的多路開關(guān)模塊的輔連接端口與外部監(jiān) 測設(shè)備連接。 進(jìn)一步地，在配置算法模塊的待監(jiān)測RRU的物理配置參數(shù)中增加級聯(lián)配置參數(shù)， 該級聯(lián)配置參數(shù)記錄監(jiān)測板之間的連接關(guān)系。 進(jìn)一步地，單樣本RRU可靠性驗證監(jiān)測模塊還查詢、存儲和分析與測試項相關(guān)的
各硬件單元的狀態(tài)寄存器的數(shù)據(jù)和軟件功能單元的狀態(tài)數(shù)據(jù)。 進(jìn)一步地，一種無線收發(fā)信機(jī)系統(tǒng)可靠性驗證的多樣本監(jiān)測方法，包括 將多路開關(guān)模塊以及一個或多個待監(jiān)測的RRU與開關(guān)矩陣模塊相連，并將外部檢
查設(shè)備連接到多路開關(guān)模塊； MCU監(jiān)控子系統(tǒng)控制開關(guān)矩陣模塊和多路開關(guān)模塊的開關(guān)切換，實現(xiàn)待監(jiān)測的 RRU與外部監(jiān)測設(shè)備的連接； 系統(tǒng)平臺調(diào)用單樣本RRU可靠性驗證監(jiān)測模塊對待監(jiān)測的RRU進(jìn)行可靠性監(jiān)測。
進(jìn)一步地，系統(tǒng)平臺中配置有開關(guān)矩陣模塊所連接的待監(jiān)測RRU的物理配置參 數(shù)，該系統(tǒng)平臺建立每個待監(jiān)測RRU的物理配置參數(shù)與單樣本RRU可靠性驗證監(jiān)測模塊的 虛擬物理接口變量的關(guān)聯(lián)關(guān)系，以調(diào)用該單樣本RRU可靠性驗證監(jiān)測模塊對待監(jiān)測的RRU 進(jìn)行可靠性監(jiān)測。 進(jìn)一步地，MCU監(jiān)控子系統(tǒng)查詢配置算法模塊中配置的待監(jiān)測RRU的物理配置參 數(shù)，根據(jù)查詢到的物理配置參數(shù)設(shè)置開關(guān)矩陣模塊和多路開關(guān)模塊的開關(guān)切換，建立測試 鏈路的物理通路，實現(xiàn)待監(jiān)測的RRU與外部監(jiān)測設(shè)備的連接。 綜上所述，通過本發(fā)明，可提高RRU測試的可靠性，同時，多樣本RRU的眾多測試線 纜都可按最方便的連接方式，連接到開關(guān)矩陣模塊的RRU端接口的任何接口上，使多樣本 RUU的連接監(jiān)測十分方便。


圖1為RTS系統(tǒng)的開關(guān)矩陣模塊的示意圖； 圖2為由六個SP4T開關(guān)組成的開關(guān)矩陣模塊的示意 圖3為四個RRU被測試樣本的RTS系統(tǒng)的示意圖； 圖4為64個RRU被測試樣本的RTS系統(tǒng)的示意圖； 圖5為單樣本RRU可靠性驗證的監(jiān)測模塊的進(jìn)行樣本測試的流程圖。
具體實施例方式本實施方式中提供了一種RRU可靠性驗證的多樣本監(jiān)測系統(tǒng)(簡稱RTS系統(tǒng))，包 括開關(guān)矩陣模塊、多路開關(guān)模塊及其它配套設(shè)備，實現(xiàn)對足夠多RRU樣本的系統(tǒng)可靠性狀 態(tài)實施在線自動監(jiān)測，獲取多個RRU樣本性能指標(biāo)的可靠性數(shù)據(jù)。
下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的具體實施方式
進(jìn)行說明。 圖1是RTS系統(tǒng)通用開關(guān)矩陣監(jiān)控板的示意圖，包括RRU接口端的開關(guān)矩陣模 塊、儀器接口端的多路開關(guān)模塊、MCU(微控制器)監(jiān)控子系統(tǒng)及連接開關(guān)矩陣模塊和多路 開關(guān)模塊的單串行鏈路，通過MCU監(jiān)控子系統(tǒng)的控制，RRU接口端的任何一個接口都可與儀 器接口端的任何一個接口相連通。 開關(guān)矩陣模塊和多路開關(guān)模塊分別包括主連接端口和輔連接端口 ，開關(guān)矩陣模塊 的輔連接端口連接待監(jiān)測的RRU，開關(guān)矩陣模塊的主連接端口與多路開關(guān)模塊的主連接端 口相連，多路開關(guān)模塊的輔連接端口連接外部監(jiān)測設(shè)備。 如圖2所示，為增加測試RRU的數(shù)量，開關(guān)矩陣模塊可以包括主開關(guān)和輔開關(guān)，主 開關(guān)和輔開關(guān)均分別包括主連接端口和輔連接端口 ，輔開關(guān)的輔連接端口連接待監(jiān)測的 RRU，輔開關(guān)的主連接端口連接到主開關(guān)的輔連接端口 ，主開關(guān)的主連接端口與多路開關(guān)模 塊的主連接端口相連。 具體而言，開關(guān)矩陣模塊可以包括5個SP4T開關(guān)K2、 K3、 K4、 K5和K6， K2為主開 關(guān)，K3 K4為輔開關(guān)，其連接關(guān)系是K2. 2開關(guān)節(jié)點與K3. 1開關(guān)節(jié)點通過一條單串行鏈 路相連接；K2. 3開關(guān)節(jié)點與K4. 1開關(guān)節(jié)點通過一條單串行鏈路相連接；K2. 4開關(guān)節(jié)點與 K5. 1開關(guān)節(jié)點通過一條單串行鏈路相連接；K2. 5開關(guān)節(jié)點與K6. 1開關(guān)節(jié)點通過一條單串 行鏈路相連接。 儀器接口端的多路開關(guān)模塊為一個SP4T開關(guān)K1，RRU接口端的開關(guān)矩陣模塊的公 共開關(guān)節(jié)點K2. l與儀器接口端的多路開關(guān)模塊的公共開關(guān)節(jié)點Kl. l通過一條單串行鏈路 相連接。 MCU監(jiān)控子系統(tǒng)控制開關(guān)矩陣中的開關(guān)切換，可使RRU接口端的任意接口都可以 和儀器接口端的任意儀器接口相連通，使RRU接口端的所有RRU接口既可接TX(前向鏈 路)，也可接RX (反向鏈路)，也可接TRX (前反向鏈路)。 如圖3所示，為包含四個兩發(fā)四收RRU樣本的RTS系統(tǒng)應(yīng)用示例，包括由5個 SP4T開關(guān)組成的開關(guān)矩陣模塊、四個RRU被測樣本、測試基帶源BBU、信號源、頻譜儀及系 統(tǒng)平臺，其中的系統(tǒng)平臺，對所有RRU被測樣本的可靠性測試可調(diào)用同一個現(xiàn)有的單樣本 RRU可靠性驗證的監(jiān)測模塊，該單樣本RRU可靠性驗證的監(jiān)測模塊不直接對應(yīng)具體的物理 接口 ，而是只提供一組虛擬的物理接口變量，供RTS系統(tǒng)調(diào)用時使用。
系統(tǒng)平臺包括一配置算法模塊，該模塊中配置有每個RRU樣本的物理配置參數(shù)， RRU樣本的物理配置參數(shù)包括RRU連接到的開關(guān)矩陣模塊的端口以及外部監(jiān)測設(shè)備連接 到多路開關(guān)模塊的端口 。配置算法模塊將每個RRU樣本的物理配置參數(shù)與單樣本RRU可靠性驗證的監(jiān)測模塊的虛擬物理接口變量相關(guān)聯(lián)對應(yīng)，使每個RRU樣本既可方便地在矩陣監(jiān) 控電路的RRU接口端自由連線，又可正確地調(diào)用單樣本RRU可靠性驗證的監(jiān)測模塊進(jìn)行測 試。 如圖3所示的RTS系統(tǒng)，對每個RRU樣本的每個測試項測試時，MCU監(jiān)控子系統(tǒng)需 首先查詢配置算法模塊中RRU樣本的物理配置參數(shù)，并依據(jù)物理配置參數(shù)設(shè)置開關(guān)矩陣模 塊和多路開關(guān)模塊的開關(guān)切換，建立測試鏈路的物理通路，再進(jìn)行測試。其中，若多個測試 項的物理通路相同，則只對開關(guān)矩陣模塊上的開關(guān)切換設(shè)置一次，即連續(xù)完成測試。
系統(tǒng)平臺的單樣本RRU可靠性驗證的監(jiān)測模塊，在RRU樣本每個測試項的測試流 程中，還查詢、存儲和分析與該測試項相關(guān)的各硬件單元(如電源告警電路單元和鎖相環(huán) 電路單元)的狀態(tài)寄存器的數(shù)據(jù)和軟件功能單元的狀態(tài)數(shù)據(jù)(RRU黑匣子數(shù)據(jù))，使RRU系 統(tǒng)測試出現(xiàn)異常時，特別是RRU系統(tǒng)的CPU小系統(tǒng)出現(xiàn)異常時，RTS系統(tǒng)仍可保留RRU異常 時刻前的所有"RRU黑匣子數(shù)據(jù)"，對分析異常RRU樣本，提高RRU系統(tǒng)可靠性十分有價值。
系統(tǒng)中還包括基帶處理單元(BBU)、基站控制器(BSC)和網(wǎng)管平臺(0MC)等實現(xiàn) 測試的標(biāo)準(zhǔn)件部分。 本實施例的RTS系統(tǒng)的開關(guān)矩陣模塊的RRU端接口具有級聯(lián)擴(kuò)展功能，為便于描 述，下面將開關(guān)矩陣模塊和多路開關(guān)模塊合稱為監(jiān)測板(RTSB板)。參考附圖4，當(dāng)開關(guān)矩 陣模塊上的RRU端接口不夠用時，可通過在RRU樣本的物理配置參數(shù)中增加級聯(lián)配置參數(shù)， 即級聯(lián)的RTSB連接在前一個RTSB的RRU端的哪個接口上，實現(xiàn)級聯(lián)多塊開關(guān)矩陣模塊， 擴(kuò)展RRU端接口 ，保證可同時監(jiān)測足夠多的RRU樣本。 如圖4所示，本實施例的開關(guān)矩陣模塊的RRU端接口級聯(lián)擴(kuò)展的應(yīng)用示例，為包含 64個兩發(fā)四收RRU樣本的RTS系統(tǒng)，包括17塊級聯(lián)的由6個SP4T開關(guān)組成的開關(guān)矩陣模 塊、64個RRU被測樣本、測試基帶源BBU、信號源、頻譜儀及系統(tǒng)平臺，其中
監(jiān)測板包括主監(jiān)測板和輔監(jiān)測板，輔監(jiān)測板的開關(guān)矩陣模塊的輔連接端口連接待 監(jiān)測的RRU，主連接端口與該輔監(jiān)測板的多路開關(guān)模塊的主連接端口連接，該輔監(jiān)測板的多 路開關(guān)的輔連接端口與主監(jiān)測板的開關(guān)矩陣模塊的輔連接端口相連，該主監(jiān)測板的開關(guān)矩 陣模塊的主連接端口與該主監(jiān)測板的多路開關(guān)模塊的主連接端口相連，該主監(jiān)測板的多路 開關(guān)模塊的輔連接端口與外部監(jiān)測設(shè)備連接。 具體而言，(RTSB板lft)的K21接口與(RTSB板2S)的Kll接口相連；(RTSB板1#) 的K22接口與(RTSB板3#)的Kll接口相連；(RTSB板1#)的K23接口與(RTSB板4#)的 Kll接口相連;(RTSB板1#)的K24接口與(RTSB板5#)的Kll接口相連;(RTSB板1#)的 K25接口與(RTSB板6#)的Kll接口相連；(RTSB板1#)的K26接口與(RTSB板7#)的Kll 接口相連;(RTSB板1#)的K27接口與(RTSB板8#)的Kll接口相連;(RTSB板1#)的K28 接口與(RTSB板9#)的Kll接口相連；(RTSB板1#)的K29接口與(RTSB板10#)的Kll接 口相連；(RTSB板1#)的K2A接口與(RTSB板11S)的Kll接口相連；(RTSB板1#)的K2B接 口與(RTSB板12#)的Kll接口相連；(RTSB板1#)的K2C接口與(RTSB板13#)的Kll接 口相連;(RTSB板1#)的K2D接口與(RTSB板14#)的Kll接口相連;(RTSB板1#)的K2E接 口與(RTSB板15#)的Kll接口相連；(RTSB板1#)的K2F接口與(RTSB板16#)的Kll接 口相連;(RTSB板1#)的K2G接口與(RTSB板17#)的Kll接口相連。
圖5所示為單樣本RRU可靠性驗證的監(jiān)測模塊的樣本測試的流程，包括
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501 :根據(jù)RRU實際的物理連接，在配置算法模塊中配置RRU樣本的物理配置參 數(shù)； 502 :啟動測試，開始RRU樣本的測試，對RRU樣本的第一個測試項進(jìn)行測試；
503 :根據(jù)RRU樣本的物理配置參數(shù)判斷是否需要進(jìn)行開關(guān)矩陣模塊的開關(guān)切換， 如果需要，則執(zhí)行步驟504 ;否則，則執(zhí)行步驟505 ; 504 :查詢配置算法模塊中相應(yīng)的物理配置參數(shù)，按配置參數(shù)設(shè)置開關(guān)矩陣模塊上 的開關(guān)切換，建立物理測試鏈路； 505 :開始該測試項的標(biāo)準(zhǔn)化測試，并存儲測試結(jié)果； 完成標(biāo)準(zhǔn)化測試后，還通過RRU網(wǎng)口查詢并存儲與該測試項相關(guān)的黑匣子數(shù)據(jù)。
506 :分析、判斷并輸出測試結(jié)果，如果測試失敗，則上報到告警模塊；
507 :查詢是否存在其它測試項，如果存在，則執(zhí)行步驟503 ;否則，執(zhí)行步驟508 ;
508 :查詢是否存在其它待監(jiān)測的RRU樣本，如果存在，則執(zhí)行步驟502 ;否則，結(jié)束。 以上提供了對優(yōu)選實施例的詳細(xì)描述，以使本領(lǐng)域的任何技術(shù)人員都能制造或使 用本發(fā)明。對這些實施例的各種修改對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員而言是顯而易見的，且這里所 定義的基本原理可以應(yīng)用于其他實施例而無須使用創(chuàng)造性。因此，本發(fā)明不限于這里所示 的實施例，而應(yīng)該符合與這里所公開的原理和新穎性特征一致的最寬泛的范圍。
權(quán)利要求
一種無線收發(fā)信機(jī)系統(tǒng)可靠性驗證的多樣本監(jiān)測系統(tǒng)，其特征在于，包括開關(guān)矩陣模塊、多路開關(guān)模塊、微控制器(MCU)監(jiān)控子系統(tǒng)和系統(tǒng)平臺，其中所述開關(guān)矩陣模塊分別與所述多路開關(guān)模塊以及一個或多個待監(jiān)測的無線收發(fā)信機(jī)系統(tǒng)(RRU)連接；所述多路開關(guān)模塊還與外部監(jiān)測設(shè)備連接；所述MCU監(jiān)控子系統(tǒng)控制所述開關(guān)矩陣模塊和所述多路開關(guān)模塊的開關(guān)切換，實現(xiàn)所述待監(jiān)測的RRU與所述外部監(jiān)測設(shè)備的連接；所述系統(tǒng)平臺調(diào)用單樣本RRU可靠性驗證監(jiān)測模塊對所述待監(jiān)測的RRU進(jìn)行可靠性監(jiān)測。
2. 如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于所述系統(tǒng)平臺包括一配置算法模塊，該配置算法模塊中配置有所述開關(guān)矩陣模塊所 連接的待監(jiān)測RRU的物理配置參數(shù)，該配置算法模塊建立每個待監(jiān)測RRU的物理配置參數(shù) 與所述單樣本RRU可靠性驗證監(jiān)測模塊的虛擬物理接口變量的關(guān)聯(lián)關(guān)系，以調(diào)用該單樣本 RRU可靠性驗證監(jiān)測模塊對所述待監(jiān)測的RRU進(jìn)行可靠性監(jiān)測。
3. 如權(quán)利要求2所述的系統(tǒng)，其特征在于所述MCU監(jiān)控子系統(tǒng)查詢所述配置算法模塊中配置的待監(jiān)測RRU的物理配置參數(shù)，根 據(jù)查詢到的物理配置參數(shù)設(shè)置所述開關(guān)矩陣模塊和多路開關(guān)模塊的開關(guān)切換，建立測試鏈 路的物理通路，實現(xiàn)所述待監(jiān)測的RRU與所述外部監(jiān)測設(shè)備的連接。
4. 如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于所述開關(guān)矩陣模塊和多路開關(guān)模塊分別包括主連接端口和輔連接端口 ，該開關(guān)矩陣模 塊的輔連接端口連接所述待監(jiān)測的RRU，該開關(guān)矩陣模塊的主連接端口與所述多路開關(guān)模 塊的主連接端口相連，所述多路開關(guān)模塊的輔連接端口連接所述外部監(jiān)測設(shè)備。
5. 如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于 所述多路開關(guān)模塊包括主連接端口和輔連接端口；所述開關(guān)矩陣模塊包括主開關(guān)和輔開關(guān)，該主開關(guān)和輔開關(guān)均分別包括主連接端口和輔連接端口 ，該輔開關(guān)的輔連接端口連接所述待監(jiān)測的RRU，該輔開關(guān)的主連接端口連接 到所述主開關(guān)的輔連接端口 ，該主開關(guān)的主連接端口與所述多路開關(guān)模塊的主連接端口相 連，所述多路開關(guān)模塊的輔連接端口連接所述外部監(jiān)測設(shè)備。
6 . 如權(quán)利要求3所述的系統(tǒng)，其特征在于所述開關(guān)矩陣模塊和多路開關(guān)模塊分別包括主連接端口和輔連接端口 ；所述開關(guān)矩陣模塊與所述多路開關(guān)模塊組成監(jiān)測板，該系統(tǒng)包括主監(jiān)測板和輔監(jiān)測板；所述輔監(jiān)測板的開關(guān)矩陣模塊的輔連接端口連接所述待監(jiān)測的RRU，主連接端口與該 輔監(jiān)測板的多路開關(guān)模塊的主連接端口連接，該輔監(jiān)測板的多路開關(guān)的輔連接端口與所述 主監(jiān)測板的開關(guān)矩陣模塊的輔連接端口相連，該主監(jiān)測板的開關(guān)矩陣模塊的主連接端口與 該主監(jiān)測板的多路開關(guān)模塊的主連接端口相連，該主監(jiān)測板的多路開關(guān)模塊的輔連接端口 與所述外部監(jiān)測設(shè)備連接。
7. 如權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，其特征正在于在所述配置算法模塊的待監(jiān)測RRU的物理配置參數(shù)中增加級聯(lián)配置參數(shù)，該級聯(lián)配置參數(shù)記錄監(jiān)測板之間的連接關(guān)系。
8. 如權(quán)利要求l所述的系統(tǒng)，其特征在于所述單樣本RRU可靠性驗證監(jiān)測模塊還查詢、存儲和分析與測試項相關(guān)的各硬件單元 的狀態(tài)寄存器的數(shù)據(jù)和軟件功能單元的狀態(tài)數(shù)據(jù)。
9. 一種無線收發(fā)信機(jī)系統(tǒng)可靠性驗證的多樣本監(jiān)測方法，包括將多路開關(guān)模塊以及一個或多個待監(jiān)測的RRU與開關(guān)矩陣模塊相連，并將外部檢查設(shè) 備連接到所述多路開關(guān)模塊；MCU監(jiān)控子系統(tǒng)控制所述開關(guān)矩陣模塊和所述多路開關(guān)模塊的開關(guān)切換，實現(xiàn)所述待 監(jiān)測的RRU與所述外部監(jiān)測設(shè)備的連接；系統(tǒng)平臺調(diào)用單樣本RRU可靠性驗證監(jiān)測模塊對所述待監(jiān)測的RRU進(jìn)行可靠性監(jiān)測。
10. 如權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于所述系統(tǒng)平臺中配置有所述開關(guān)矩陣模塊所連接的待監(jiān)測RRU的物理配置參數(shù)，該系 統(tǒng)平臺建立每個待監(jiān)測RRU的物理配置參數(shù)與所述單樣本RRU可靠性驗證監(jiān)測模塊的虛擬 物理接口變量的關(guān)聯(lián)關(guān)系，以調(diào)用該單樣本RRU可靠性驗證監(jiān)測模塊對所述待監(jiān)測的RRU 進(jìn)行可靠性監(jiān)測。
11. 如權(quán)利要求IO所述的方法，其特征在于所述MCU監(jiān)控子系統(tǒng)查詢所述配置算法模塊中配置的待監(jiān)測RRU的物理配置參數(shù)，根 據(jù)查詢到的物理配置參數(shù)設(shè)置所述開關(guān)矩陣模塊和多路開關(guān)模塊的開關(guān)切換，建立測試鏈 路的物理通路，實現(xiàn)所述待監(jiān)測的RRU與所述外部監(jiān)測設(shè)備的連接。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種無線收發(fā)信機(jī)系統(tǒng)可靠性驗證的多樣本監(jiān)測系統(tǒng)，其特征在于，包括開關(guān)矩陣模塊、多路開關(guān)模塊、微控制器(MCU)監(jiān)控子系統(tǒng)和系統(tǒng)平臺，其中開關(guān)矩陣模塊分別與多路開關(guān)模塊以及一個或多個待監(jiān)測的無線收發(fā)信機(jī)系統(tǒng)(RRU)連接；多路開關(guān)模塊還與外部監(jiān)測設(shè)備連接；MCU監(jiān)控子系統(tǒng)控制開關(guān)矩陣模塊和多路開關(guān)模塊的開關(guān)切換，實現(xiàn)待監(jiān)測的RRU與外部監(jiān)測設(shè)備的連接；系統(tǒng)平臺調(diào)用單樣本RRU可靠性驗證監(jiān)測模塊對待監(jiān)測的RRU進(jìn)行可靠性監(jiān)測。本發(fā)明可提高RRU測試的可靠性。
文檔編號H04B17/00GK101711036SQ20091022432
公開日2010年5月19日 申請日期2009年11月17日 優(yōu)先權(quán)日2009年11月17日
發(fā)明者李京海 申請人:中興通訊股份有限公司