一種基于脈沖放大觸發(fā)電路的鎖相式檢波器的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種檢波器，具體是指一種基于脈沖放大觸發(fā)電路的鎖相式檢波器。
【背景技術(shù)】
[0002]檢波器可以檢出波動信號中某種有用信息，其是用于識別波、振蕩信號存在或變化的器件，也可用于提取外界所攜帶的信息。目前檢波器已被廣泛應(yīng)用，如可用于地質(zhì)勘探和工程測量、用于量測設(shè)備運(yùn)行時(shí)的噪音等，給人們帶來了很大的便利。
[0003]然而，目前市面上的檢波器其穩(wěn)定性不高，很大程度上影響了檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的在于克服傳統(tǒng)的檢波器其穩(wěn)定性不高的缺陷，提供一種基于脈沖放大觸發(fā)電路的鎖相式檢波器。
[0005]本發(fā)明的目的通過下述技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):一種基于脈沖放大觸發(fā)電路的鎖相式檢波器，其包括采樣電路，與采樣電路相連接的電壓比較電路，與電壓比較電路相連接的轉(zhuǎn)換電路，與轉(zhuǎn)換電路相連接的鎖相環(huán)電路，為了達(dá)到本發(fā)明的目的，本發(fā)明在電壓比較電路與鎖相環(huán)電路之間還串接有脈沖放大觸發(fā)電路。
[0006]進(jìn)一步的，所述的脈沖放大觸發(fā)電路由放大芯片U3，或非門Al，觸發(fā)芯片U4,串接在放大芯片U3的D管腳和SD管腳之間的電阻R16，P極與放大芯片U3的⑶管腳相連接、N極則經(jīng)極性電容C7后與觸發(fā)芯片U4的IN管腳相連接的二極管D1，一端與或非門Al的輸出端相連接、另一端則與觸發(fā)芯片U4的CON管腳相連接的電阻R17，以及負(fù)極分別與觸發(fā)芯片U4的HOLD管腳和CAP管腳相連接、正極接地的極性電容C8組成。所述放大芯片U3的CLK管腳與鎖相環(huán)電路相連接、其Q2管腳則與或非門Al的負(fù)極相連接、其Ql管腳則與或非門Al的正極相連接、其SC管腳則與電壓比較電路相連接；所述或非門Al的負(fù)極與二極管Dl的N極相連接；所述觸發(fā)芯片U4的REF管腳接地、其OUT管腳則作為該脈沖放大觸發(fā)電路的輸出端。
[0007]所述的鎖相環(huán)電路由三極管VT1，三極管VT2，三極管VT3，正極與轉(zhuǎn)換電路相連接、負(fù)極與三極管VTl的基極相連接的極性電容C4，一端與三極管VTl的集電極相連接、另一端經(jīng)電阻R9和電阻Rll后與三極管VTl的集電極相連接的電阻R10，負(fù)極經(jīng)電阻R13和電阻R12后與三極管VT2的集電極相連接、正極與三極管VTl的發(fā)射極相連接的極性電容C5，以及負(fù)極經(jīng)電阻R15和電阻R14后與其正極相連接的極性電容C6組成；所述三極管VT3的集電極分別與極性電容C6的負(fù)極以及放大芯片U3的CLK管腳相連接、其發(fā)射極則與三極管VT2的發(fā)射極相連接、基極與極性電容C5的負(fù)極相連接，三極管VT2的基極與極性電容C6的正極相連接、其發(fā)射極與三極管VTl的集電極相連接；所述電阻RlO和電阻R9的連接點(diǎn)與極性電容C4的負(fù)極相連接，電阻R15和電阻R14的連接點(diǎn)與電阻R13和電阻R12的連接點(diǎn)、以及電阻Rll和電阻R9的連接點(diǎn)相連接。
[0008]所述的采樣電路由放大器P，一端與放大器P的正極相連接、另一端則作為該采樣電路的信號輸入端的電阻Rl，正極與放大器P的正極相連、負(fù)極接地的極性電容Cl，與極性電容Cl相并聯(lián)的電阻R2，串接在放大器P的負(fù)極和輸出端之間的電阻R4，以及一端與放大器P的負(fù)極相連、另一端接地的電阻R3組成；所述放大器P的輸出端還與電壓比較電路相連接。
[0009]所述的電壓比較電路由比較芯片U1，一端與比較芯片Ul的IN2管腳相連接、另一端則同時(shí)與轉(zhuǎn)換電路以及比較芯片Ul的V+管腳相連接的電阻R6，一端與比較芯片Ul的IN2管腳相連接、另一端則與比較芯片Ul的OUT管腳相連的電阻R7，一端與放大器P的輸出端相連接、另一端則與比較芯片Ul的INl管腳相連的電阻R5，以及正極與比較芯片Ul的V-管腳相連、負(fù)極同時(shí)與放大芯片U3的SD管腳以及轉(zhuǎn)換電路相連的極性電容C2組成；所述比較芯片Ul的V+管腳與外部電源相連，其OUT管腳還與轉(zhuǎn)換電路相連，GND管腳則與極性電容C2的負(fù)極相連接的同時(shí)接地。
[0010]所述的轉(zhuǎn)換電路由轉(zhuǎn)換芯片U2，極性電容C3，電阻R8組成；電阻R8的一端與比較芯片Ul的OUT管腳相連、另一端與轉(zhuǎn)換芯片U2的DIS管腳相連，極性電容C3則串接在轉(zhuǎn)換芯片U2的RE管腳和OUT管腳之間；所述轉(zhuǎn)換芯片U2的VCC管腳與比較芯片Ul的V+管腳相連接，其GND管腳與比較芯片Ul的GND管腳相連，其OUT管腳則與極性電容C4的正極相連接。
[0011]為了達(dá)到更好的實(shí)施效果，所述的比較芯片Ul優(yōu)選為LM311集成電路，所述的轉(zhuǎn)換芯片U2優(yōu)選為NE555集成電路，而所述的放大芯片U3優(yōu)選為74LS74集成電路，而所述的觸發(fā)芯片U4則優(yōu)選為LF398集成電路來實(shí)現(xiàn)。
[0012]本發(fā)明較現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下優(yōu)點(diǎn)及有益效果:
[0013](I)本發(fā)明設(shè)置有鎖相環(huán)電路，其能夠使檢波器的頻率范圍更寬，且頻率更穩(wěn)定。
[0014](2)本發(fā)明的比較電路，能夠?qū)z測到的信號進(jìn)行比較處理，同時(shí)可以清楚的識別檢測信號的負(fù)峰值，避免檢測信號存在負(fù)峰值時(shí)所輸出的信號出現(xiàn)失真的情況。
[0015](3)本發(fā)明通過脈沖放大觸發(fā)電路的作用，可以使本發(fā)明的穩(wěn)定性更高，從而提高了其檢測精度。
【附圖說明】
[0016]圖1為本發(fā)明的整體結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0017]下面結(jié)合實(shí)施例對本發(fā)明作進(jìn)一步地詳細(xì)說明，但本發(fā)明的實(shí)施方式并不限于此。
[0018]實(shí)施例
[0019]如圖1所示，本發(fā)明包括采樣電路，與采樣電路相連接的電壓比較電路，與電壓比較電路相連接的轉(zhuǎn)換電路，與轉(zhuǎn)換電路相連接的鎖相環(huán)電路，為了達(dá)到本發(fā)明的目的，本發(fā)明在電壓比較電路與鎖相環(huán)電路之間還串接有脈沖放大觸發(fā)電路。
[0020]其中，脈沖放大觸發(fā)電路為本發(fā)明的重點(diǎn)所在，其由放大芯片U3，或非門Al，觸發(fā)芯片U4，電阻R17，電阻R16，極性電容C7，極性電容C8以及二極管Dl組成。
[0021]電阻R16串接在放大芯片U3的D管腳和SD管腳之間，二極管Dl的P極與放大芯片U3的CD管腳相連接、其N極則經(jīng)極性電容C7后與觸發(fā)芯片U4的IN管腳相連接，電阻R17的一端與或非門Al的輸出端相連接、其另一端則與觸發(fā)芯片U4的CON管腳相連接，極性電容C8的負(fù)極分別與觸發(fā)芯片U4的HOLD管腳和CAP管腳相連接、其正極接地。所述放大芯片U3的CLK管腳與鎖相環(huán)電路相連接、其Q2管腳則與或非門Al的負(fù)極相連接、其Ql管腳則與或非門Al的正極相連接、其SC管腳則與電壓比較電路相連接。所述或非門Al的負(fù)極與二極管Dl的N極相連接。所述觸發(fā)芯片U4的REF管腳接地、其OUT管腳則作為該脈沖放大觸發(fā)電路的輸出端。
[0022]當(dāng)信號輸入進(jìn)來，經(jīng)放大芯片U3的放大處理后再由觸發(fā)芯片U4進(jìn)行觸發(fā)。該極性電容CS為高次濾波極性電容，其可以防止電路出現(xiàn)誤觸發(fā)現(xiàn)像，從而使本發(fā)明所輸出的交流電更加穩(wěn)定。為了更好的實(shí)施本發(fā)明，該放大芯片U3優(yōu)選為74LS74集成電路，而觸發(fā)芯片U4則優(yōu)先采用LF398集成電路來實(shí)現(xiàn)。
[0023]所述的鎖相環(huán)電路由三極管VTI，三極管VT2，三極管VT3，極性電容C4，極性電容C5，極性電容C6，電阻R9，電阻R10，電阻R11，電阻R12，電阻R13，電阻R14以及電阻R15組成。
[0024]其中，極性電容C4的正極與轉(zhuǎn)換電路相連接、其負(fù)極與三極管VTl的基極相連接的，電阻RlO的一端與三極管VTl的集電極相連接、其另一端經(jīng)電阻R9和電阻Rll后與三極管VTl的集電極相連接，極性電容C5的負(fù)極經(jīng)電阻R13和電阻R12后與三極管VT2的集電極相連接