專利名稱：電流檢測裝置及其控制方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及可精確地檢測從小電流到大電流的范圍內(nèi)的電流的電流檢測裝置并且涉及用于這種裝置的控制方法。
但是，在

圖19的實例中，有這樣一個問題，當(dāng)檢測小電流和大電流時，它們互相發(fā)生影響。
發(fā)明目的和概述因而，本發(fā)明的一個目的是提供電流檢測裝置和提供這種裝置的控制方法，在所述裝置中因為能擴大電流檢測范圍并且能獨立檢測電流，所以可以使電流的影響最小化，可以減小誤差，并且可以降低損耗。
按照本發(fā)明的第一方面，提供電流檢測裝置，它包括設(shè)置在輸入端和輸出端之間的第一電阻；與第一電阻并聯(lián)設(shè)置的第一開關(guān)裝置；用于控制開關(guān)裝置的控制裝置；用于檢測流入第一電阻的電流或者在第一電阻上產(chǎn)生的電位差的第一檢測裝置；設(shè)置成與至少第一開關(guān)裝置串聯(lián)的第二電阻；以及用于檢測流入第二電阻的電流或在第二電阻上產(chǎn)生的電位差的第二檢測裝置，其中控制裝置在第一檢測裝置檢測到等于或大于第一預(yù)定值的電流或電位差時斷開所述開關(guān)裝置，并且在第二檢測裝置檢測到等于或小于第二預(yù)定值的電流或電位差時接通所述開關(guān)裝置，而且第一和第二檢測裝置輸出檢測到的電流或電位差。
按照本發(fā)明的第二方面，提供一種用于電流檢測裝置的控制方法，所述電流檢測裝置包括設(shè)置在輸入端和輸出端之間的第一電阻；與第一電阻并聯(lián)設(shè)置的開關(guān)裝置；用于控制開關(guān)裝置的控制裝置；用于檢測流入第一電阻的電流或者在第一電阻上產(chǎn)生的電位差的第一檢測裝置；設(shè)置成與至少所述開關(guān)裝置串聯(lián)的第二電阻；以及用于檢測流入第二電阻的電流或在第二電阻上產(chǎn)生的電位差的第二檢測單元，其中，當(dāng)?shù)谝粰z測裝置檢測到等于或大于第一預(yù)定值的電流或電位差時，斷開所述開關(guān)裝置，當(dāng)?shù)诙z測裝置檢測到等于或小于第二預(yù)定值的電流或電位差時，接通所述開關(guān)裝置，而且第一和第二檢測裝置輸出檢測到的電流或電位差。
由于與安排在輸入端和輸出端之間的第一電阻并聯(lián)設(shè)置的開關(guān)裝置，可以這樣檢測第一電阻獲得的電流或電位差和第二電阻獲得的電流或電位差、使得第一和第二電阻不相互影響。
參照附圖從下列詳細描述以及所附權(quán)利要求書將明白本發(fā)明的上述及其他目的和特征。
圖5是應(yīng)用本發(fā)明的第三實施例的方框圖；圖6表示用于說明本發(fā)明的特性曲線的實例；圖7是應(yīng)用本發(fā)明的第一實例的方框圖；圖8A和8B表示用于說明本發(fā)明的特性曲線的實例；圖9是應(yīng)用本發(fā)明的第二實例的方框圖；圖10是應(yīng)用本發(fā)明的第三實例的方框圖；圖11是應(yīng)用本發(fā)明的第四實施例的方框圖；圖12是應(yīng)用本發(fā)明的第四實施例的另一個實例的方框圖；圖13是應(yīng)用本發(fā)明的第五實施例的方框圖；圖14是應(yīng)用本發(fā)明的第六實施例的第一實例的方框圖；圖15是應(yīng)用本發(fā)明的第六實施例的第二實例的方框圖；圖16是應(yīng)用本發(fā)明的第六實施例的第三實例的方框圖；圖17是用于說明應(yīng)用本發(fā)明的第六實施例的操作的流程圖；圖18是應(yīng)用本發(fā)明方框圖；以及圖19是傳統(tǒng)電流檢測的實例的方框圖。
圖中具有基本上相同功能的組成部分和具有基本上相同作用的信號以同樣的標號標明并且刪去其重疊的描述。圖1表示應(yīng)用本發(fā)明的第一實施例。從輸入端Ti提供整流后的電壓和電流。電阻1和2串聯(lián)在輸入端Ti與輸出端To之間。負載連接到輸出端To。在實例中，當(dāng)電阻1的電阻值R1與電阻2的電阻值R2相比時，有R1＞R2的關(guān)系。
在PNP型晶體管3的發(fā)射極與集電極之間設(shè)置電阻1，并且還在其間設(shè)置了恒流檢測電路5。晶體管3的基極連接到控制電路4并且被控制電路4控制。恒流檢測電路5從電阻1兩端的電壓檢測電流。電流檢測電路6連接到電阻2的兩端并且從電阻2兩端的電壓來檢測電流。恒流檢測電路5檢測小電流而電流檢測電路6檢測大電流。
當(dāng)恒流檢測電路5檢測小電流時，信號被加至控制電路4?？刂齐娐?把用于提高晶體管3的阻抗的信號加至晶體管3的基極。因此，沒有電流流入晶體管3。此時，控制晶體管3的阻抗使得它不會等于或大于(流入電阻1的電流I1×電阻1的電阻值R1)。
也就是說，當(dāng)恒流檢測電路5檢測到預(yù)定值的電流且晶體管3截止時，恒流檢測電路5不能檢測隨后的電流變化。因此，作為導(dǎo)通晶體管3的信號，輸出按照由電流檢測電路6檢測的電流的信號。
圖2表示第一實施例的另一個實例。在圖2中所示的另一實例中，用ΔV檢測電路5’代替恒流檢測電路5。ΔV檢測電路5’檢測電阻1兩端電壓的電位差，即ΔV。當(dāng)檢測到ΔV時，在控制電路4上加信號?？刂齐娐?把所述用于提高晶體管3的阻抗的信號加在晶體管3的基極上。如上面提到的，甚至在檢測ΔV時，也可以獲得與通過恒流檢測獲得的類似的效果。
圖3表示本發(fā)明的第二實施例。電阻11、12和13串聯(lián)地插在輸入端Ti與輸出端To之間。電阻11設(shè)置在PNP型晶體管14的發(fā)射極與集電極之間，并且ΔV11檢測/控制電路15’也設(shè)置在其間。晶體管14的基極連接到ΔV11檢測/控制電路15’并且受ΔV11檢測/控制電路15’控制。ΔV11檢測/控制電路15’從電阻11兩端的電壓檢測電流。當(dāng)ΔV11檢測/控制電路15’檢測到預(yù)定的電位差(ΔV11)時，把用于提高晶體管14的阻抗的信號加至晶體管14的基極。
在PNP型晶體管16的發(fā)射極與集電極之間串聯(lián)地設(shè)置電阻11和12并且還在其間設(shè)置了ΔV12檢測/控制電路17’。晶體管16的基極連接到ΔV12檢測/控制電路17’。ΔV12檢測/控制電路17’控制晶體管16。ΔV12檢測/控制電路17’從串聯(lián)設(shè)置的電阻11和12兩端的電壓檢測電流。當(dāng)ΔV12檢測/控制電路17’檢測到預(yù)定的電位差(ΔV12)時，把用于提高晶體管16的阻抗的信號加在晶體管16的基極上。另外，從ΔV12檢測/控制電路17’把用于減小晶體管14的阻抗的信號加在ΔV11檢測/控制電路15’上。
電流檢測電路18連接到電阻13的兩端并且從電阻13兩端的電壓檢測電流。電流檢測電路18根據(jù)檢測到的電流經(jīng)過端子Ta發(fā)送信號到例如微計算機。
當(dāng)如上所提到的ΔV11檢測/控制電路15’檢測到作為電阻11兩端電壓的電位差ΔV11時，不會出現(xiàn)等于或大于流入電阻11的最大電流I11的電流。當(dāng)ΔV12檢測/控制電路17’檢測到作為電阻11和12兩端電壓的電位差ΔV12時，不會出現(xiàn)等于或大于流入電阻12的最大電流I12的電流。實際上，因為晶體管14的阻抗降低了，ΔV12是由電阻12兩端電壓的電位差產(chǎn)生的。
盡管在第二實施例中已經(jīng)用到ΔV11檢測/控制電路15’，但是可以使用恒流檢測/控制電路，也可以使用ΔV11檢測電路和控制電路，或者也可以使用恒流檢測電路和控制電路。盡管已經(jīng)用到ΔV12檢測/控制電路17’，但是可以使用恒流檢測電路和控制電路，也可以使用ΔV12檢測電路和控制電路，或者也可以使用恒流檢測電路和控制電路。
把電阻11的電壓降設(shè)置成低于ΔV11。把電阻12的電壓降設(shè)置成低于ΔV12。圖4中所示虛線表示電阻11產(chǎn)生的電壓降Va和電阻12產(chǎn)生的電壓降Vb。就電壓降Va而言，選擇電阻11以便獲得高于ΔV11的電壓值直至電流Ib。當(dāng)電流為電流Ib之后的電流時，例如，電流Ic，晶體管14導(dǎo)通。即選擇晶體管14導(dǎo)通時的電流以便獲得大于電流Ib的電流值。至于電壓降Vb，選擇電阻12以便獲得高于ΔV12的電壓值直至電流Ie。當(dāng)電流為電流Ie之后的電流時，例如，電流If，晶體管16導(dǎo)通。即這樣選擇晶體管16導(dǎo)通時的電流、以便獲得大于電流Ie的電流值。
還有可能從電阻11檢測ΔV11來導(dǎo)通晶體管14和通過從電阻12檢測ΔV12來導(dǎo)通晶體管16。在這種情況下，通過小于電流Ib的電流導(dǎo)通晶體管14并且通過小于電流Ie的電流導(dǎo)通晶體管16。
而且，也在該裝置具有恒流檢測電路的情況下，類似地，為了減小晶體管的損耗，當(dāng)檢測到預(yù)定電流時，使晶體管導(dǎo)通或截止。當(dāng)晶體管14導(dǎo)通時，無法從電阻11兩端的電壓檢測電流。但是，因為可以從電阻12檢測到的最大電流I12滿足I12＞I11的關(guān)系，所以在本實施例中電流I11是從電流I12中分出的。因而，晶體管14通過分出的電流I11導(dǎo)通或截止。類似地，從經(jīng)電阻13檢測到的最大電流I13中分出電流I11，并且晶體管16的導(dǎo)通/截止操作是由分出的電流I12來控制的。
將參照圖5描述本發(fā)明的第三實施例。在第三實施例中，在輸入端Ti與輸出端To之間并聯(lián)地設(shè)置電阻11、12和13，在電阻12與輸入端Ti之間設(shè)置晶體管14，而在電阻13與輸入端Ti之間設(shè)置晶體管16。盡管未示出，從晶體管14的基極引出的端子Tb連接到控制電路，并且從晶體管16的基極引出的端子Tc連接到控制電路。此時，假定在電阻11的電阻值R11、電阻12的電阻值R12和電阻13的電阻值R13之間有這樣的關(guān)系R11＞R12＞R13。
在圖6中所示從時間點ta至?xí)r間點tb的一段時間里從電阻11兩端的電壓檢測到恒定電流。如上所述，因為晶體管14由ΔV驅(qū)動，所以它在時間點tb之后導(dǎo)通。類似地，因為如上所述晶體管16也由ΔV驅(qū)動，所以它在時間點tc之后導(dǎo)通。此時，晶體管14截止。即使晶體管14截止，也能通過電阻13檢測大電流。因為R11＞＞R13，所以可以從電阻13兩端電壓檢測到精確的電流。
圖7表示應(yīng)用本發(fā)明的第一個實例的方框圖。如圖7中所示，晶體管3也可以由流入電阻2的電流值來控制。在圖7中所示實例中，通過電流檢測電路6從電阻2兩端的電壓來檢測流入電阻2的電流。當(dāng)檢測值等于預(yù)定值時，從電流檢測電路6施加信號至阻抗變化電路21。阻抗變化電路21通過恒流檢測電路5從控制電路4把用于減小晶體管3的阻抗的信號加在晶體管3的基極，以便減小晶體管3的阻抗。
如圖8A中所示，流入電阻1的電流I1在時間點td開始減小而流入電阻2的電流I2開始增大。在時間點te，電流I1幾乎達到零，至于電流I2，可以檢測到所供給的電流。在時間點td，如圖8B中所示，晶體管3的阻抗開始減小。在時間點te，晶體管3的阻抗幾乎達到零。通過這種方法，可以降低檢測損耗。
圖9表示應(yīng)用本發(fā)明的第二個實例的方框圖。如圖9中所示，也是在使用三個電阻11，12和13的情況下，類似地，電流檢測電路31檢測流入電阻12的電流并且當(dāng)檢測到的電流等于預(yù)定值時，把信號加在阻抗變化電路32上。阻抗變化電路32通過恒流控制電路15提供信號至晶體管14的基極以減小晶體管14的阻抗。
電流檢測電路18檢測流入電阻13的電流。當(dāng)檢測電流等于預(yù)定值時，把信號加在阻抗變化電路33上。阻抗變化電路33通過恒流控制電路17給晶體管16的基極提供信號以便減小晶體管16的阻抗。
還在圖9中所示的方框圖中，以類似于上述圖7中所示方框圖的電路的方式，當(dāng)流入電阻12的電流等于預(yù)定值時，晶體管14的阻抗開始減小。而且，當(dāng)流入電阻13的電流等于預(yù)定值時，執(zhí)行這樣的控制以便開始減小晶體管16的阻抗。
圖10表示應(yīng)用本發(fā)明的第三個實例的方框圖。電流檢測電路41檢測流入電阻12的電流。當(dāng)檢測電流達到預(yù)定值時，通過恒流變化電路42把信號加在恒流控制電路15上，以便減小檢測到的恒定電流以減小流入電阻11的電流。電流檢測電路18檢測流入電阻13的電流。當(dāng)檢測到的電流達到預(yù)定值時，通過恒流變化電路43把信號加在恒流控制電路17上，以便減小檢測到的恒定電流以減小流入電阻12的電流。
圖11表示本發(fā)明的第四實施例。第四實施例也可用于從兩個方向供給電壓和電流的情況。從端子Tio1或Tio2供給電壓和電流。當(dāng)從端子Tio1供給電壓和電流時，通過晶體管3a、控制電路4a和檢測電路5a檢測流入電阻1的電流。當(dāng)從端子Tio2供給電壓和電流時，通過晶體管3b、控制電路4b和檢測電路5b檢測流入電阻1的電流。通過電流檢測電路6檢測流入電阻2的電流。按照檢測到的電流來控制晶體管3a或3b的導(dǎo)通/截止操作。
盡管在第四實施例中使用晶體管3a和3b，但是也可用FET(場效應(yīng)管)來代替每個晶體管。在這種情況下，由于有FET中的寄生二極管產(chǎn)生的大約0.6伏的電壓降，要考慮到這大約0.6伏的電壓降來設(shè)置ΔV。
盡管如上所述在第四實施例中使用了檢測電路5a和5b，但是也可以使用恒流檢測電路來代替它們中的每一個，或者也可以使用ΔV檢測電路。
圖12表示第四實施例的另一實例。在微計算機51中，當(dāng)恒流檢測電路5和6中的每一個檢測到預(yù)定值的電流時，由恒流檢測電路5提供信號。微計算機51按照提供的信號通過控制電路4a和4b控制晶體管3a和3b。
如上所述，通過使用微計算機，在從電阻1兩端電壓獲得的電流和/或從電阻2兩端電壓獲得的電流的基礎(chǔ)上，可以把晶體管3a和3b的控制設(shè)置成各種控制方式。
圖13表示本發(fā)明的第五實施例。在電流檢測電路6中，當(dāng)檢測到的電流等于預(yù)定值時，把信號提供給控制電路61。控制電路61響應(yīng)提供的信號，通過控制電路4控制晶體管3的導(dǎo)通/截止操作。類似地，控制電路61改變流入電阻1并且由電流檢測電路62檢測到的電流的預(yù)定值，或者控制電路61根據(jù)提供的信號終止電流檢測電路62的檢測操作。由電流檢測電路62檢測流入電阻1的電流。當(dāng)檢測到的電流等于預(yù)定值時，從Te端輸出信號。
圖14表示本發(fā)明的第六實施例的第一個實例。由電流檢測電路71檢測電流。當(dāng)檢測到的電流等于預(yù)定值時，從Tf端輸出信號。由電流檢測電路72檢測電流。當(dāng)檢測電流等于預(yù)定值時，從Tg端輸出信號。電流檢測電路6檢測流入電阻2的電流。當(dāng)檢測到的電流等于或小于第一電流值時，從電流檢測電路6把信號(b)供給復(fù)位電路73。當(dāng)檢測到的電流等于或小于比第一電流值大的第二電流值時，從電流檢測電路6把信號(a)提供給檢測終止電路74和開關(guān)操作電路75。
復(fù)位電路73把復(fù)位信號加到檢測終止電路74和開關(guān)操作電路75上。當(dāng)提供信號(a)時，檢測終止電路74使電流檢測電路71的檢測操作停止。當(dāng)從復(fù)位電路73提供信號時，檢測終止電路74使電流檢測電路71能執(zhí)行檢測操作。當(dāng)提供信號(a)時，開關(guān)操作電路75向控制電路4提供一個信號以便導(dǎo)通晶體管3。當(dāng)從復(fù)位電路73提供信號時，開關(guān)操作電路75向控制電路4提供一個信號以便截止晶體管3。
圖15表示本發(fā)明的第六實施例的第二個實例。如圖15中所示，也可以并聯(lián)地設(shè)置電阻1和2。
盡管圖15中所示的ΔV檢測電路5′從電阻1兩端檢測ΔV，因為在電阻1和2之間有R1＞R2的關(guān)系，也可從晶體管3的發(fā)射極和集電極這兩端檢測ΔV。
圖16表示本發(fā)明的第六實施例的第三個實例。在第三個實例中，還提供了開關(guān)電路用于控制ΔV。電流檢測電路6檢測流入電阻2的電流。當(dāng)檢測到的電流等于或小于第一電流值時，從電流檢測電路6提供信號(b)至檢測操作電路81和開關(guān)斷開電路84。當(dāng)檢測到的電流等于或大于比第一電流值大的第二電流值時，從電流檢測電路6把信號(a)加至檢測終止電路82上和開關(guān)接通電路83上。
當(dāng)從檢測操作電路81供給信號時，電流檢測電路71檢測流入電阻1的電流。當(dāng)從檢測終止電路82供給信號時，電流檢測電路71停止檢測電流的操作。當(dāng)從開關(guān)接通電路83供給信號時，開關(guān)電路85接通。當(dāng)從開關(guān)斷開電路84供給信號時，開關(guān)電路85斷開。
現(xiàn)將參照圖17中所示流程圖描述在第六實施例中的操作。在步驟S1，電流檢測電路6檢測電流。在步驟S2，判斷檢測到的電流是否等于或大于第二電流值。當(dāng)確定它等于或大于第二電流值時，處理程序前進到步驟S3。當(dāng)確定它小于第二電流值時，處理程序轉(zhuǎn)回到步驟S1。在步驟S3中，執(zhí)行時間常量Δt的延遲。在步驟S4，停止電流檢測電路71的檢測操作。在步驟S5，執(zhí)行時間常量Δt的延遲。在步驟S6，把導(dǎo)通晶體管3的信號加在控制電路4上。
在步驟S7，電流檢測電路6檢測電流。在步驟S8，判斷檢測到的電流是否等于或小于第一電流值。當(dāng)確定它等于或小于第一電流值時，處理程序前進到步驟S9。當(dāng)確定它大于第一電流值時，處理程序轉(zhuǎn)回到步驟S7。在步驟S9中，執(zhí)行時間常量Δt的延遲。在步驟S10，把截止晶體管3的信號加在控制電路4上。在步驟S11，執(zhí)行時間常量Δt的延遲。在步驟S12，執(zhí)行電流檢測電路71的檢測操作。處理程序返回步驟S1。
在圖17所示的流程圖中，在步驟S3、S5、S9和S11中的時間常量Δt不是總有必要的延遲?？筛鶕?jù)其設(shè)置方法刪除這種控制。
圖18表示應(yīng)用本發(fā)明的AC(交流)適配器的電路圖的實施例。由市場上現(xiàn)有的電源101提供的合適的電源經(jīng)過包括電容器102、干擾抑制器103、濾波器104、二極管電橋105和電容器106的整流電路。電阻107、電容器108、電阻109、二極管110、PNP型晶體管112和電阻111設(shè)置在整流電路與變壓器129的初級繞組1291之間。晶體管112、晶體管113和晶體管114設(shè)置在初級繞組1291和次級繞組1292之間。
為次級繞組1292設(shè)置用于接收發(fā)自變壓器129的次級側(cè)的信號的接收單元。第一接收單元包括由光耦合器的光電二極管PC1b和NPN型晶體管124構(gòu)成的接收單元；以及由電阻116、電阻119、二極管120、二極管125、電容器126、電阻127和電容器128構(gòu)成的電源單元。第一接收單元接收表示負載已被連接到次級側(cè)的信號。第二接收單元包括由光耦合器的光電二極管PC2b和NPN型晶體管121構(gòu)成的接收單元；以及由電容器115、電阻117、二極管130、和電容器118構(gòu)成的電源單元。第二接收單元接收表示在次級側(cè)已經(jīng)檢測到恒定電壓和恒定電流的信號。電容器122和電阻123設(shè)置在第一和第二接收單元的接收單元和電源單元之間。
為用作變壓器的次級側(cè)的第三繞組1293設(shè)置包括二極管131和電容132的整流電路。與整流電路并聯(lián)地設(shè)置穩(wěn)壓二極管133。由電阻134、光耦合器的發(fā)光二極管PC1a和NPN型晶體管148構(gòu)成的第一發(fā)送單元設(shè)置成與整流電路并聯(lián)。由電阻135、光耦合器的發(fā)光二極管PC2a和NPN型晶體管149構(gòu)成的第二發(fā)送單元也設(shè)置成與整流電路并聯(lián)。
在整流電路與輸出端146之間串聯(lián)地設(shè)置電感136和電阻137。在整流電路與輸出端147之間設(shè)置電阻144。電阻137用于檢測小電流。ΔV檢測電路140從電阻137兩端電壓檢測ΔV。當(dāng)ΔV檢測電路140檢測到預(yù)定值時，PNP型晶體管138通過控制電路139被導(dǎo)通。類似地，當(dāng)ΔV檢測電路140檢測到預(yù)定值時，提供一個信號給電壓電流檢測電路141。
電阻142和電容器145設(shè)置成并聯(lián)在輸出端146與147之間。電壓電流檢測電路141從電阻142和輸出端147的結(jié)點檢測電壓和/或電流。在電壓電流檢測電路141中，根據(jù)檢測到的電壓和/或電流以及從ΔV檢測電路140獲得的信號控制NPN型晶體管148。當(dāng)晶體管148導(dǎo)通時，發(fā)光二極管PC1a點亮，并且表示已經(jīng)連接了負載的信號被發(fā)送到初級側(cè)。電流檢測電路143從電阻144兩端電壓檢測電流。當(dāng)檢測到的電壓等于預(yù)定值時，晶體管149導(dǎo)通。當(dāng)晶體管149導(dǎo)通時，發(fā)光二極管PC2a點亮，并且表示已經(jīng)檢測到恒定電流和恒定電壓的信號被發(fā)送到初級側(cè)。
按照本發(fā)明，可以擴大電流檢測范圍。因為有可能構(gòu)造這樣的裝置使得它不受不同檢測電路的影響，所以可以減小損耗，而且可以減小檢測誤差。
本發(fā)明不限于上述實施例，在本發(fā)明的所附權(quán)利要求書的精神和范圍之內(nèi)的許多修改和變化是可能的。
權(quán)利要求
1.一種電流檢測裝置，它包括設(shè)置在輸入端和輸出端之間的第一電阻；與所述第一電阻并聯(lián)設(shè)置的第一開關(guān)裝置；用于控制所述開關(guān)裝置的控制裝置；用于檢測流入所述第一電阻的電流或在所述第一電阻上產(chǎn)生的電位差的第一檢測裝置；設(shè)置成與至少所述第一開關(guān)裝置串聯(lián)的第二電阻；以及用于檢測流入所述第二電阻的電流或在所述第二電阻上產(chǎn)生的電位差的第二檢測裝置；其中所述控制裝置當(dāng)所述第一檢測裝置檢測到等于或大于第一預(yù)定值的電流或電位差時斷開所述開關(guān)裝置而且當(dāng)所述第二檢測裝置檢測到等于或小于第二預(yù)定值的電流或電位差時接通所述開關(guān)裝置，而且所述第一和第二檢測裝置輸出所述檢測到的電流或電位差。
2.權(quán)利要求1的裝置，其特征在于還包括可改變所述第一開關(guān)裝置的阻抗的阻抗變化裝置。
3.權(quán)利要求1的裝置，其特征在于還包括可改變所述第一檢測裝置的所述第一預(yù)定值的變化裝置。
4.權(quán)利要求1的裝置，其特征在于還包括與所述第二電阻并聯(lián)設(shè)置的第二開關(guān)裝置；設(shè)置成與至少所述第二開關(guān)裝置串聯(lián)并且具有小于所述第二電阻的值的第三電阻；以及用于從所述第三電阻檢測電流或小電壓的第三檢測裝置。
5.權(quán)利要求4的裝置，其特征在于還包括可改變所述第二開關(guān)裝置的阻抗的阻抗變化裝置。
6.權(quán)利要求4的裝置，其特征在于還包括可改變所述第三檢測裝置的第三預(yù)定值的變化裝置。
7.一種用于電流檢測裝置的控制方法，所述電流檢測裝置包括設(shè)置在輸入端和輸出端之間的第一電阻；與所述第一電阻并聯(lián)設(shè)置的開關(guān)裝置；用于控制所述開關(guān)裝置的控制裝置；用于檢測流入所述第一電阻的電流或在所述第一電阻上產(chǎn)生的電位差的第一檢測裝置；設(shè)置成與至少所述開關(guān)裝置串聯(lián)的第二電阻；以及用于檢測流入所述第二電阻的電流或在所述第二電阻上產(chǎn)生的電位差的第二檢測裝置；其中當(dāng)所述第一檢測裝置檢測到等于或大于第一預(yù)定值的電流或電位差時斷開所述開關(guān)裝置，當(dāng)所述第二檢測裝置檢測到等于或小于第二預(yù)定值的電流或電位差時接通所述開關(guān)裝置，以及所述第一和第二檢測裝置輸出所述檢測到的電流或電位差。
全文摘要
擴大電流的檢測范圍并且可獨立地檢測電流,使得可減小誤差并且可減少損耗。從輸入端Ti供給整流電壓和整流電流。電阻1和2串聯(lián)地設(shè)置在輸入端Ti和輸出端To之間。負載連接到輸出端To。電阻1設(shè)置在晶體管3的發(fā)射極與集電極之間且恒流檢測電路5也設(shè)于其間。晶體管3的基極連接至控制電路4并且由控制電路4來控制晶體管3的導(dǎo)通/截止操作。恒流檢測電路5從電阻1兩端電壓檢測電流。電流檢測電路6連接到電阻2的兩端并且從電阻2兩端電壓檢測電流。恒流檢測電路5檢測小電流。電流檢測電路6檢測大電流。當(dāng)恒流檢測電路5檢測到小電流時,信號被提供給控制電路4?？刂齐娐?向晶體管3的基極提供提高晶體管3的阻抗的信號。
文檔編號H02M3/335GK1359008SQ0112306
公開日2002年7月17日 申請日期2001年7月24日 優(yōu)先權(quán)日2000年7月24日
發(fā)明者永井民次, 池田多聞, 山崎和夫 申請人:索尼公司