一種高壓陶瓷電容器瓷介質(zhì)芯片在線外觀檢測及倒角裝置的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種高壓陶瓷電容器瓷介質(zhì)芯片在線外觀檢測及倒角裝置，包括自動傳輸線、外觀檢測裝置、毛刺清除裝置、計算機和不合格品箱。自動傳輸線上設(shè)置有毛刺清除工位和外觀檢測工位，毛刺清除工位包括定位電磁鐵。外觀檢測裝置設(shè)置在位于毛刺清除裝置上游或下游的自動傳輸線上；外觀檢測裝置包括豎向探頭和水平探頭，豎向探頭和水平探頭均與計算機相連接；豎向探頭位于自動傳輸線上其中一個瓷介質(zhì)芯片的正上方。采用上述結(jié)構(gòu)后，在線外觀檢測及倒角裝置能對瓷介質(zhì)芯片的外觀自動進(jìn)行檢測，并能在線自動清除機倒角均勻、自動化程度高、勞動強度小且生產(chǎn)效率高。
【專利說明】
一種高壓陶瓷電容器瓷介質(zhì)芯片在線外觀檢測及倒角裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及陶瓷電容器生產(chǎn)領(lǐng)域，特別是一種高壓陶瓷電容器瓷介質(zhì)芯片在線外觀檢測及倒角裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]傳統(tǒng)的分立元件一陶瓷電容器以圓片形為主，這種結(jié)構(gòu)成型簡單、工藝成熟、操作簡便，便于批量化、規(guī)?；a(chǎn)。
[0003]但陶瓷電容器中的瓷介質(zhì)芯片，在成型壓制階段，即使設(shè)計了工藝角，然而仍不可避免地會出現(xiàn)倒角尖銳部分。因該尖銳部分在后續(xù)噴涂過程中，會使邊角部分噴漆不良，導(dǎo)致耐壓不良，因而，在成型壓制完成后，會要求對瓷介質(zhì)芯片的邊角進(jìn)行倒角處理。然而，現(xiàn)有瓷介質(zhì)芯片的倒角方式，主要是人工倒角為主，而人工倒角主要是采用小刀或刀片對瓷介質(zhì)芯片邊角進(jìn)行旋轉(zhuǎn)刮拭。這種人工倒角，不僅勞動強度大、生產(chǎn)效率低，而且，倒角不均勻，易出現(xiàn)凹坑或遺漏倒角的現(xiàn)象。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是針對上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，而提供一種高壓陶瓷電容器瓷介質(zhì)芯片在線外觀檢測及倒角裝置，該高壓陶瓷電容器瓷介質(zhì)芯片在線外觀檢測及倒角裝置能對瓷介質(zhì)芯片的外觀自動進(jìn)行檢測，并能在線自動清除機倒角均勻、自動化程度高、勞動強度小且生產(chǎn)效率高。
[0005]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:
[0006]—種高壓陶瓷電容器瓷介質(zhì)芯片在線外觀檢測及倒角裝置，包括自動傳輸線、夕卜觀檢測裝置、毛刺清除裝置、計算機和不合格品箱。
[0007]計算機中內(nèi)置有圖像處理與分析軟件。
[0008]自動傳輸線上設(shè)置有毛刺清除工位和外觀檢測工位，毛刺清除工位包括固定設(shè)置在自動傳輸線底部的定位電磁鐵。
[0009]外觀檢測裝置設(shè)置在位于毛刺清除裝置上游或下游的自動傳輸線上;外觀檢測裝置包括豎向探頭和水平探頭，豎向探頭和水平探頭均與計算機相連接;豎向探頭位于自動傳輸線上其中一個瓷介質(zhì)芯片的正上方。
[0010]毛刺清除裝置設(shè)置在毛刺清除工位的一側(cè)；毛刺清除裝置包括底座、上模、下模、旋轉(zhuǎn)軸、壓力傳感器、吸附電磁鐵、支撐桿、橫桿和旋轉(zhuǎn)軸承;旋轉(zhuǎn)軸和支撐桿均固定在底座上，并均能夠轉(zhuǎn)動，支撐桿的高度還能夠升降；下模固定在旋轉(zhuǎn)軸的頂端，下模能與瓷介質(zhì)芯片的下表面相配合;上模同軸設(shè)置在下模的正上方，上模能與瓷介質(zhì)芯片的上表面相配合，上模內(nèi)置有電磁鐵，上模底部設(shè)置有壓力傳感器;支撐桿的一側(cè)設(shè)置有橫桿，橫桿的底部通過懸掛的旋轉(zhuǎn)軸承與上模頂部轉(zhuǎn)動連接;上模和下模內(nèi)均設(shè)置有倒角毛刺打磨機構(gòu)。[0011 ]上述定位電磁鐵、吸附電磁鐵、旋轉(zhuǎn)軸、支撐桿和壓力傳感器均與計算機相連接。
[0012]所述倒角毛刺打磨機構(gòu)為傾斜設(shè)置的環(huán)狀削刀。
[0013]所述倒角毛刺打磨機構(gòu)為錐形設(shè)置的環(huán)狀磨石。
[0014]所述自動傳輸線兩側(cè)設(shè)置有限位板。
[0015]所述支撐桿上設(shè)置有與計算機相連接的位移傳感器。
[0016]本發(fā)明采用上述結(jié)構(gòu)后，上述自動傳輸線可以是成型自動傳輸線，也可以是燒結(jié)自動傳輸線或研磨自動傳輸線。
[0017]當(dāng)瓷介質(zhì)芯片在自動傳輸線上傳輸時，外觀檢測裝置中豎向探頭能對位于自動傳輸線上的瓷介質(zhì)芯片的上表面進(jìn)行外觀檢測，外觀檢測項目如裂紋、毛刺、燒結(jié)介質(zhì)附著等。
[0018]當(dāng)瓷介質(zhì)芯片傳輸至毛刺清除工位時，毛刺清除工位上的定位電磁鐵通電，從而使待清除毛刺的瓷介質(zhì)芯片固定在毛刺清除工位。然后，支撐桿下降并轉(zhuǎn)動，同時吸附電磁鐵通電，將位于毛刺清除工位上的瓷介質(zhì)芯片轉(zhuǎn)移至毛刺清除裝置的下模中。
[0019]然后，吸附電磁鐵斷電，支撐桿再次下降，上模與瓷介質(zhì)芯片的上表面壓緊接觸，壓力傳感器能對上模與瓷介質(zhì)芯片的壓緊力進(jìn)行檢測，當(dāng)該壓緊力達(dá)到設(shè)定值時，支撐桿停止下降。下模在旋轉(zhuǎn)軸的驅(qū)動下旋轉(zhuǎn)，上模在下模的帶動下旋轉(zhuǎn)，從而對瓷介質(zhì)芯片的上下兩個表面進(jìn)行倒角毛刺去除，倒角均勻、無遺漏，生產(chǎn)效率高。毛刺去除完成后，旋轉(zhuǎn)軸停止轉(zhuǎn)動，吸附電磁鐵再次通電，能將位于下模上的瓷介質(zhì)芯片自動吸附。然后，支撐桿上升并轉(zhuǎn)動，將瓷介質(zhì)芯片再次轉(zhuǎn)移至位于隔板下游的自動傳輸線上。
[0020]當(dāng)瓷介質(zhì)芯片從自動傳輸線轉(zhuǎn)移至下模或從下模轉(zhuǎn)移至自動傳輸線的過程中，外觀檢測裝置中的水平探頭將對瓷介質(zhì)芯片的下表面進(jìn)行外觀檢測，外觀不合格品將被轉(zhuǎn)移或推送至不合格品箱內(nèi)。
【附圖說明】
[0021]圖1是本發(fā)明一種高壓陶瓷電容器瓷介質(zhì)芯片在線外觀檢測及倒角裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0022]圖2顯示了圖1中毛刺清除裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0023]下面結(jié)合附圖和具體較佳實施方式對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。
[0024]如圖1和圖2所示，一種高壓陶瓷電容器瓷介質(zhì)芯片在線外觀檢測及倒角裝置，其中有底座1、旋轉(zhuǎn)軸2、下模3、上模4、壓力傳感器41、吸附電磁鐵42、支撐桿5、橫桿51、旋轉(zhuǎn)軸承6、計算機7、自動傳輸線8、毛刺清除工位81、定位電磁鐵811、外觀檢測工位82、不合格品箱9、瓷介質(zhì)芯片10、毛刺清除裝置11、外觀檢測裝置12、豎向探頭121和水平探頭122等主要技術(shù)特征。
[0025]—種高壓陶瓷電容器瓷介質(zhì)芯片在線外觀檢測及倒角裝置，包括自動傳輸線、夕卜觀檢測裝置、毛刺清除裝置、計算機和不合格品箱。
[0026]計算機中內(nèi)置有圖像處理與分析軟件。
[0027]自動傳輸線上設(shè)置有毛刺清除工位和外觀檢測工位，毛刺清除工位包括固定設(shè)置在自動傳輸線底部的定位電磁鐵。
[0028]外觀檢測裝置設(shè)置在位于毛刺清除裝置上游或下游的自動傳輸線上;外觀檢測裝置包括豎向探頭和水平探頭，豎向探頭和水平探頭均與計算機相連接;豎向探頭位于自動傳輸線上其中一個瓷介質(zhì)芯片的正上方。
[0029]毛刺清除裝置設(shè)置在毛刺清除工位的一側(cè)；毛刺清除裝置包括底座、上模、下模、旋轉(zhuǎn)軸、壓力傳感器、吸附電磁鐵、支撐桿、橫桿和旋轉(zhuǎn)軸承;旋轉(zhuǎn)軸和支撐桿均固定在底座上，并均能夠轉(zhuǎn)動，支撐桿的高度還能夠升降；下模固定在旋轉(zhuǎn)軸的頂端，下模能與瓷介質(zhì)芯片的下表面相配合;上模同軸設(shè)置在下模的正上方，上模能與瓷介質(zhì)芯片的上表面相配合，上模內(nèi)置有電磁鐵，上模底部設(shè)置有壓力傳感器;支撐桿的一側(cè)設(shè)置有橫桿，橫桿的底部通過懸掛的旋轉(zhuǎn)軸承與上模頂部轉(zhuǎn)動連接;上模和下模內(nèi)均設(shè)置有倒角毛刺打磨機構(gòu)。
[0030]上述定位電磁鐵、吸附電磁鐵、旋轉(zhuǎn)軸、支撐桿和壓力傳感器均與計算機相連接。
[0031]所述倒角毛刺打磨機構(gòu)為傾斜設(shè)置的環(huán)狀削刀。
[0032]所述倒角毛刺打磨機構(gòu)為錐形設(shè)置的環(huán)狀磨石。
[0033]所述自動傳輸線兩側(cè)設(shè)置有限位板。
[0034]所述支撐桿上設(shè)置有與計算機相連接的位移傳感器。
[0035]本發(fā)明采用上述結(jié)構(gòu)后，上述自動傳輸線可以是成型自動傳輸線，也可以是燒結(jié)自動傳輸線或研磨自動傳輸線。
[0036]當(dāng)瓷介質(zhì)芯片在自動傳輸線上傳輸時，外觀檢測裝置中豎向探頭能對位于自動傳輸線上的瓷介質(zhì)芯片的上表面進(jìn)行外觀檢測，外觀檢測項目如裂紋、毛刺、燒結(jié)介質(zhì)附著等。
[0037]當(dāng)瓷介質(zhì)芯片傳輸至毛刺清除工位時，毛刺清除工位上的定位電磁鐵通電，從而使待清除毛刺的瓷介質(zhì)芯片固定在毛刺清除工位。然后，支撐桿下降并轉(zhuǎn)動，同時吸附電磁鐵通電，將位于毛刺清除工位上的瓷介質(zhì)芯片轉(zhuǎn)移至毛刺清除裝置的下模中。
[0038]然后，吸附電磁鐵斷電，支撐桿再次下降，上模與瓷介質(zhì)芯片的上表面壓緊接觸，壓力傳感器能對上模與瓷介質(zhì)芯片的壓緊力進(jìn)行檢測，當(dāng)該壓緊力達(dá)到設(shè)定值時，支撐桿停止下降。下模在旋轉(zhuǎn)軸的驅(qū)動下旋轉(zhuǎn)，上模在下模的帶動下旋轉(zhuǎn)，從而對瓷介質(zhì)芯片的上下兩個表面進(jìn)行倒角毛刺去除，倒角均勻、無遺漏，生產(chǎn)效率高。毛刺去除完成后，旋轉(zhuǎn)軸停止轉(zhuǎn)動，吸附電磁鐵再次通電，能將位于下模上的瓷介質(zhì)芯片自動吸附。然后，支撐桿上升并轉(zhuǎn)動，將瓷介質(zhì)芯片再次轉(zhuǎn)移至位于隔板下游的自動傳輸線上。
[0039]當(dāng)瓷介質(zhì)芯片從自動傳輸線轉(zhuǎn)移至下?；驈南履＾D(zhuǎn)移至自動傳輸線的過程中，外觀檢測裝置中的水平探頭將對瓷介質(zhì)芯片的下表面進(jìn)行外觀檢測，外觀不合格品將被轉(zhuǎn)移或推送至不合格品箱內(nèi)。
[0040]以上詳細(xì)描述了本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，但是，本發(fā)明并不限于上述實施方式中的具體細(xì)節(jié)，在本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思范圍內(nèi)，可以對本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行多種等同變換，這些等同變換均屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項】
1.一種高壓陶瓷電容器瓷介質(zhì)芯片在線外觀檢測及倒角裝置，其特征在于:包括自動傳輸線、外觀檢測裝置、毛刺清除裝置、計算機和不合格品箱； 計算機中內(nèi)置有圖像處理與分析軟件； 自動傳輸線上設(shè)置有毛刺清除工位和外觀檢測工位，毛刺清除工位包括固定設(shè)置在自動傳輸線底部的定位電磁鐵； 外觀檢測裝置設(shè)置在位于毛刺清除裝置上游或下游的自動傳輸線上;外觀檢測裝置包括豎向探頭和水平探頭，豎向探頭和水平探頭均與計算機相連接;豎向探頭位于自動傳輸線上其中一個瓷介質(zhì)芯片的正上方； 毛刺清除裝置設(shè)置在毛刺清除工位的一側(cè)；毛刺清除裝置包括底座、上模、下模、旋轉(zhuǎn)軸、壓力傳感器、吸附電磁鐵、支撐桿、橫桿和旋轉(zhuǎn)軸承;旋轉(zhuǎn)軸和支撐桿均固定在底座上，并均能夠轉(zhuǎn)動，支撐桿的高度還能夠升降；下模固定在旋轉(zhuǎn)軸的頂端，下模能與瓷介質(zhì)芯片的下表面相配合;上模同軸設(shè)置在下模的正上方，上模能與瓷介質(zhì)芯片的上表面相配合，上模內(nèi)置有電磁鐵，上模底部設(shè)置有壓力傳感器;支撐桿的一側(cè)設(shè)置有橫桿，橫桿的底部通過懸掛的旋轉(zhuǎn)軸承與上模頂部轉(zhuǎn)動連接;上模和下模內(nèi)均設(shè)置有倒角毛刺打磨機構(gòu)； 上述定位電磁鐵、吸附電磁鐵、旋轉(zhuǎn)軸、支撐桿和壓力傳感器均與計算機相連接。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高壓陶瓷電容器瓷介質(zhì)芯片在線外觀檢測及倒角裝置，其特征在于:所述倒角毛刺打磨機構(gòu)為傾斜設(shè)置的環(huán)狀削刀。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高壓陶瓷電容器瓷介質(zhì)芯片在線外觀檢測及倒角裝置，其特征在于:所述倒角毛刺打磨機構(gòu)為錐形設(shè)置的環(huán)狀磨石。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高壓陶瓷電容器瓷介質(zhì)芯片在線外觀檢測及倒角裝置，其特征在于:所述自動傳輸線兩側(cè)設(shè)置有限位板。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高壓陶瓷電容器瓷介質(zhì)芯片在線外觀檢測及倒角裝置，其特征在于:所述支撐桿上設(shè)置有與計算機相連接的位移傳感器。
【文檔編號】H01G13/00GK106024429SQ201610545743
【公開日】2016年10月12日
【申請日】2016年7月12日
【發(fā)明人】錢云春
【申請人】蘇州宏泉高壓電容器有限公司