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Led晶粒的抽測方法和系統(tǒng)的制作方法

文檔序號:8413977閱讀:631來源:國知局
Led晶粒的抽測方法和系統(tǒng)的制作方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及測試技術領域,更具體地說,涉及一種LED晶粒的抽測方法和系統(tǒng)。
【背景技術】
[0002]由于當前的LED (Light-Emitting D1de,發(fā)光二極管)芯片還很難滿足光電特性一致性的要求,因此,在LED晶粒進行封裝之前,必須對其進行嚴格的分選和測試。其中,在對LED晶粒進行分類挑選之后,還需采用點測設備對LED晶粒進行抽測,以確保各晶粒的電性和光學特性與分類挑選的要求一致,同時保證LED產(chǎn)品出貨的品質(zhì)。
[0003]現(xiàn)有的一種抽測檢驗方法是:對所有LED晶粒進行坐標全掃描,再進行矩陣抽測,例如,7x7抽測(25顆抽I顆)或10x10抽測(100顆抽I顆)。圖1為待抽測的LED晶粒的排列示意圖,如圖1所示,這些LED晶粒分別來自晶圓I?晶圓10。在進行7x7矩陣抽測時,必須對所有晶粒進行全掃描,然后再從25顆晶粒中抽出I顆晶粒(圖1中加大加粗的數(shù)字代表抽出的I顆晶粒)進行電學和光學性能的測試。
[0004]但是,這種矩陣抽測的方式中,全掃描的時間遠遠大于真正測試的時間,從而使得抽測的效率較低。另外,根據(jù)LED晶粒分類挑揀的排列方法,如圖1所示,進行7x7矩陣抽測時來自晶圓3、7、10的晶粒并未被抽測到,也就是說,矩陣抽測漏檢的幾率很大。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]有鑒于此,本發(fā)明提供了一種LED晶粒的抽測方法和系統(tǒng),以解決現(xiàn)有的矩陣抽測方式中抽測效率較低以及漏檢幾率較大的問題。
[0006]為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供如下技術方案:
[0007]一種LED晶粒的抽測方法,包括:
[0008]從已按照預設方式進行排列的待測試LED晶粒中抽選出初始晶粒,所述待測試LED晶粒來自至少一個晶圓;
[0009]對所述初始晶粒以及與所述初始晶粒同一軸向的LED晶粒進行掃描,所述掃描的LED晶粒包括來自任一所述晶圓的至少一個LED晶粒;
[0010]對所述掃描的LED晶粒進行測試,以判斷所述LED晶粒是否滿足標準。
[0011]優(yōu)選的,所述已按照預設方式進行排列的待測試LED晶粒是指:
[0012]所述待測試LED晶粒排列成M行N列的矩陣,其中,M和N為正整數(shù),且來自同一晶圓的所述LED晶粒沿行的方向排列,來自不同晶圓的所述LED晶粒沿列的方向排列。
[0013]優(yōu)選的,所述與所述初始晶粒同一軸向的LED晶粒包括與所述初始晶粒同一列的LED晶粒。
[0014]優(yōu)選的,所述已按照預設方式進行排列的待測試LED晶粒是指:
[0015]所述待測試LED晶粒排列成M行N列的矩陣,其中,M和N為正整數(shù),且來自同一晶圓的所述LED晶粒沿列的方向排列,來自不同晶圓的所述LED晶粒沿行的方向排列。
[0016]優(yōu)選的,所述與所述初始晶粒同一軸向的LED晶粒包括與所述初始晶粒同一行的LED晶粒。
[0017]優(yōu)選的,所述初始晶粒為所述M行N列矩陣中心區(qū)域的LED晶粒。
[0018]一種LED晶粒的抽測系統(tǒng),包括:
[0019]抽選模塊,用于從已按照預設方式進行排列的待測試LED晶粒中選出初始晶粒,所述待測試LED晶粒來自至少一個晶圓;
[0020]掃描模塊,用于對所述初始晶粒以及與所述初始晶粒同一軸向的LED晶粒進行掃描,所述掃描的LED晶粒包括來自任一所述晶圓的至少一個LED晶粒;
[0021]測試模塊,用于對所述掃描的LED晶粒進行測試,以判斷所述LED晶粒是否滿足標準。
[0022]優(yōu)選的,當所述待測試LED晶粒排列成M行N列的矩陣,且來自不同晶圓的所述LED晶粒沿列的方向排列時,所述掃描模塊對所述初始晶粒以及與所述初始晶粒同一列的LED晶粒進彳丁掃描。
[0023]優(yōu)選的,當所述待測試LED晶粒排列成M行N列的矩陣,且來自不同晶圓的所述LED晶粒沿行的方向排列時,所述掃描模塊對所述初始晶粒以及與所述初始晶粒同一行的LED晶粒進彳丁掃描。
[0024]優(yōu)選的,所述抽選模塊從所述M行N列矩陣的中心區(qū)域抽選出所述初始晶粒。
[0025]與現(xiàn)有技術相比,本發(fā)明所提供的技術方案具有以下優(yōu)點:
[0026]本發(fā)明所提供的LED晶粒的抽測方法和系統(tǒng),從已按照預設方式進行排列的待測試LED晶粒中抽選出初始晶粒,再對初始晶粒以及與初始晶粒同一軸向的LED晶粒進行掃描,所述掃描的LED晶粒包括來自任一晶圓的至少一個LED晶粒,然后對掃描的LED晶粒進行測試,以判斷LED晶粒是否滿足標準。本發(fā)明提供的抽測方法和系統(tǒng),只需對初始晶粒以及與初始晶粒同一軸向的LED晶粒進行掃描,從而大大縮短了掃描時間,提高了抽測效率,并且減少了制造成本和人力成本;此外,由于掃描的LED晶粒包括來自任一晶圓的至少一個LED晶粒,因此,大大降低了漏檢的幾率,提高了抽測的準確率。
【附圖說明】
[0027]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案,下面將對實施例或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的實施例,對于本領域普通技術人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據(jù)提供的附圖獲得其他的附圖。
[0028]圖1為現(xiàn)有的一種LED晶粒抽測原理圖;
[0029]圖2為本發(fā)明的一個實施例提供的一種LED晶粒的抽測方法流程圖;
[0030]圖3為本發(fā)明的一個實施例提供的一種LED晶粒的抽測原理圖;
[0031]圖4為本發(fā)明的一個實施例提供的另一種LED晶粒的抽測原理圖;
[0032]圖5為本發(fā)明的另一個實施例提供的一種LED晶粒的抽測系統(tǒng)結構示意圖。
【具體實施方式】
[0033]下面將結合本發(fā)明實施例中的附圖,對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例,而不是全部的實施例?;诒景l(fā)明中的實施例,本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0034]本發(fā)明提供了一種LED晶粒的抽測方法,該方法的流程圖如圖2所示,包括:
[0035]S201:從已按照預設方式進行排列的待測試LED晶粒中抽選出初始晶粒,所述待測試LED晶粒來自至少一個晶圓;
[0036]在對LED晶粒進行分類挑選之后,分選設備會按照設定的方式對LED晶粒進行排序。本實施例提供的已按照預設方式進行排列的待測試LED晶粒如圖3所示,這些待測試LED晶粒來自至少一個晶圓,本實施例中仍以待測試LED晶粒來自晶圓I?晶圓10進行說明,但是本發(fā)明并不僅限于此。
[0037]如圖3所示,待測試LED晶粒排列成M行N列的矩陣,M和N為正整數(shù),且M和N的具體數(shù)值由待測試LED晶粒的實際數(shù)量決定,其中,來自同一晶圓的所述LED晶粒沿行的方向排列,來自不同晶圓的所述LED晶粒沿列的方向排列。
[0038]具體地,在對待測試的LED晶粒進行排列時,會先將來自晶圓I的LED晶粒從左往右排滿第一行,然后從右往左排滿第二行,以此類推,奇數(shù)行按照從左往右的方式依次排列,偶數(shù)行按照從右往左的方式依次排列,當來自晶圓I的LED晶粒排列完成后,按照該次序依次排列來自晶圓2的LED晶粒,以此類推,直到將來自10個晶圓的LED晶粒全部排布完成。當然,在其他實施例中,還可以按照奇數(shù)行從右往左,偶數(shù)行從左往右的方式進行排列,本發(fā)明并不僅限于此。
[0039]或者,在其他實施例中,來自同一晶圓的LED晶粒沿列的方向排列,來自不同晶圓的LED晶粒沿行的方向排列。如圖4所示,來自晶圓I的LED晶粒從上往下排滿第一列,然后從下往上排滿第二列,即奇數(shù)列按照從上往下的方式依次排列,偶數(shù)列按照從下往上的方式依次排列,直到來自10個晶圓的LED晶粒全部排布完成。當然,在其他實施例中,還可以按照奇數(shù)列從下往上,偶數(shù)列從上往下的方式進行排列,本發(fā)明并不僅限于此。
[0040]從已按照上述預設方式進行排列的LED晶粒抽選
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