本發(fā)明涉及一種電路,是一種基于大規(guī)模CMOS集成電路的輸入靜電保護(hù)電路的設(shè)計(jì)??梢詰?yīng)用于超大規(guī)模CMOS集成電路、科學(xué)研究以及產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)領(lǐng)域。
背景技術(shù):
靜電放電(ESD)給電子器件會(huì)帶來(lái)破壞性的后果,它是造成集成電路失效的主要原因之一。隨著集成電路工藝不斷發(fā)展,CMOS電路的特征尺寸不斷縮小,管子的柵氧厚度越來(lái)越薄,芯片的面積規(guī)模越來(lái)越大,MOS管能承受的電流和電壓也越來(lái)越小,而外圍的使用環(huán)境并未改變,因此要進(jìn)一步優(yōu)化電路的抗ESD性能,如何使全芯片有效面積盡可能小、ESD性能可靠性滿(mǎn)足要求且不需要增加額外的工藝步驟成為IC設(shè)計(jì)者的主要考慮的問(wèn)題。
在IC內(nèi)部電路減小的情況下,ESD保護(hù)電路自身的面積需要減小,以降低芯片總體的成本。LVTSCR(低壓觸發(fā)可控硅)由于它的低保持電壓特性,相對(duì)于其他ESD保護(hù)器件,具有更高的單位面積保護(hù)性能。本設(shè)計(jì)中的IO輸入靜電保護(hù)電路的性能主要體現(xiàn)在(1)不存在熱擊穿的危險(xiǎn);(2)由于它本身的電學(xué)特性,其單位面積通過(guò)的電流高于其它器件,因此占用的面積更小;(3)具有較小的寄生電容。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明的主要目的是面積有限的情況下提高輸入電路的抗靜電保護(hù)能力,提出了一種基于大規(guī)模CMOS集成電路的輸入靜電保護(hù)電路的設(shè)計(jì),可以快速地泄放加到PAD上的ESD電流,把PAD的電壓鉗位在一個(gè)較低的水平,從而起到保護(hù)內(nèi)部電路的作用;同時(shí)輸入電路的靜電保護(hù)在實(shí)際應(yīng)用中輸入電壓高于電源電壓的情況也可以正常起作用。
本發(fā)明為實(shí)現(xiàn)上述目的所采用的技術(shù)方案是:基于大規(guī)模CMOS集成電路的輸入靜電保護(hù)電路,包括主靜電保護(hù)電路、電阻和次靜電保護(hù)電路;所述主靜電保護(hù)電路輸出端接地,輸入端用于連接PAD,還通過(guò)電阻與次靜電保護(hù)電路連接,次靜電保護(hù)電路輸出端用于連接內(nèi)核電路。
所述主靜電保護(hù)電路為L(zhǎng)VTSCR;
所述次靜電保護(hù)電路包括多個(gè)NMOS管;第一NMOS管的G極、S極與電源連接,D極與第二NMOS管的S極連接;第二NMOS管的G極、D極與第三NMOS管的S極連接,還與電阻、內(nèi)核電路連接;第三NMOS管的G極、D極接地。
所述電阻阻值大于500歐且小于1000歐。
基于大規(guī)模CMOS集成電路的輸入靜電保護(hù)方法,包括以下步驟:
當(dāng)PAD的輸入電壓低于16V,主靜電保護(hù)電路不開(kāi)啟,由次靜電保護(hù)電路進(jìn)行靜電保護(hù);
當(dāng)PAD的輸入電壓在16V以上時(shí),主靜電保護(hù)電路開(kāi)啟,通過(guò)電流泄放靜電荷,次靜電保護(hù)電路不工作。
所述次靜電保護(hù)電路進(jìn)行靜電保護(hù)具體為:
當(dāng)在PAD上施加正的ESD脈沖時(shí),第三NMOS管被觸發(fā),內(nèi)部的寄生雙極結(jié)構(gòu)開(kāi)啟,對(duì)ESD電流進(jìn)行旁路;
在PAD上施加負(fù)的ESD脈沖時(shí),第一NMOS管、第二NMOS管被觸發(fā),旁路ESD電流。
本發(fā)明具有以下有益效果及優(yōu)點(diǎn):
1.本發(fā)明占用盡量少的面積,能夠快速地泄放加到PAD上的ESD電流,把PAD的電壓鉗位在一個(gè)較低的水平,從而起到保護(hù)內(nèi)部電路的作用;同時(shí)輸入電路的靜電保護(hù)在實(shí)際應(yīng)用中輸入電壓高于電源電壓的情況也可以正常起作用。
2.主級(jí)靜電保護(hù)電路LVTSCR占用芯片面積小,保持電壓低,單位面積的電流泄放能力高,同時(shí)只有很小的寄生電容。
附圖說(shuō)明
圖1是本發(fā)明的基于大規(guī)模CMOS集成電路的輸入靜電保護(hù)電路的電路圖。
圖2是本發(fā)明的LVTSCR版圖設(shè)計(jì)圖。
圖3是本發(fā)明的LVTSCR剖面示意圖。
圖4是本發(fā)明的LVTSCR結(jié)構(gòu)的I-V特性。
圖5是本發(fā)明的次靜電保護(hù)電路的版圖設(shè)計(jì)圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖及實(shí)施例對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明。
一種基于大規(guī)模CMOS集成電路的輸入靜電保護(hù)電路的設(shè)計(jì),這種電路由三部分模塊組成,主要包括:(1)、主靜電保護(hù)電路LVTSCR(2)、次靜電保護(hù)電路(3)、大電阻。該電路實(shí)現(xiàn)功能的最終目的在于,輸入保護(hù)電路占用盡量少的面積,能夠快速地泄放加到PAD上的ESD電流,把PAD的電壓鉗位在一個(gè)較低的水平,從而起到保護(hù)內(nèi)部電路的作用。
主級(jí)靜電保護(hù)電路LVTSCR占用芯片面積小,保持電壓低,單位面積的電流泄放能力高,同時(shí)只有很小的寄生電容。
當(dāng)在pad上施加正的ESD脈沖時(shí),最下面的nmos被觸發(fā),內(nèi)部的寄生雙極結(jié)構(gòu)開(kāi)啟,對(duì)ESD電流進(jìn)行旁路;在pad上施加負(fù)的ESD脈沖時(shí),上面的兩個(gè)管子旁路ESD電流。其中中間的nmos管起到隔斷直流通路的作用。
中間串聯(lián)的大電阻用來(lái)提高LVTSCR端的電壓,使其快速導(dǎo)通,同時(shí)起到限流的作用。
當(dāng)PAD的輸入電壓高于電源電壓時(shí),輸入靜電保護(hù)電路仍然能夠正常工作。
在外加電壓不是很大的情況下(如低于16V),主電路部分LVTSCR不會(huì)開(kāi)啟,由次電路部分來(lái)承擔(dān)保護(hù)任務(wù)。當(dāng)外加電壓較大(如高于16V)時(shí),主電路開(kāi)啟,通過(guò)大電流泄放靜電荷。在主次電路之間應(yīng)放置較大的電阻,目的是為了在LVTSCR開(kāi)啟之前限制流過(guò)次電路部分的電流,以免發(fā)生熱擊穿。同時(shí),使降落在LVTSCR上的壓降很快提高,使主電路盡快開(kāi)啟。另外,由于實(shí)際應(yīng)用中,輸入PAD的電壓可能會(huì)高于電源電壓,為了防止PMOS導(dǎo)通漏電,次電路部分只采用了NMOS管來(lái)完成它的靜電保護(hù)電路。
如圖1所示為本發(fā)明的基于大規(guī)模CMOS集成電路的輸入靜電保護(hù)電路的電路圖,它包括主靜電保護(hù)電路LVTSCR,次靜電保護(hù)電路和串聯(lián)的大電阻。實(shí)際應(yīng)用中會(huì)出現(xiàn)輸入電壓比電源電壓大一個(gè)|VGS(th)|時(shí),PMOS保護(hù)管會(huì)發(fā)生導(dǎo)通漏電,故這里的次靜電保護(hù)電路使用圖1中的結(jié)構(gòu)以避免產(chǎn)生漏電流。
如圖2所示為本發(fā)明的LVTSCR版圖設(shè)計(jì)。
如圖3所示為本發(fā)明的LVTSCR剖面示意圖,該LVTSCR為現(xiàn)有技術(shù),需要說(shuō)明的是它與標(biāo)準(zhǔn)的SCR結(jié)構(gòu)相比,在N阱邊緣加入了一個(gè)N+重?fù)诫s區(qū),并且插入了NMOS管結(jié)構(gòu),其中NMOS管的柵極接地,形成GG—NMOS結(jié)構(gòu),該結(jié)構(gòu)也叫NMOS觸發(fā)的LVTSCR結(jié)構(gòu)。在陰極N+區(qū)加入N阱是為了增加寄生NPN管的發(fā)射極效率。在ESD條件下,插入的NMOS管會(huì)首先進(jìn)入回掃擊穿區(qū),此時(shí)SCR結(jié)構(gòu)被觸發(fā)。LVTSCR的觸發(fā)電壓等于插入的短溝道NMOS管的漏一襯底結(jié)回掃擊穿電壓。直流I-V特性測(cè)試表明,該結(jié)構(gòu)具有低電壓觸發(fā)特性,能對(duì)相同工藝下的集成電路直接進(jìn)行ESD保護(hù)。
如圖4所示為本發(fā)明的LVTSCR結(jié)構(gòu)的I-V特性,其中橫軸為2V/div,縱軸為2mA/div。增加LVRSCR結(jié)構(gòu)陽(yáng)極和陰極之間的電壓,該結(jié)構(gòu)在13V電壓時(shí)開(kāi)始導(dǎo)通電流,當(dāng)電壓增加到16V時(shí),保護(hù)結(jié)構(gòu)被觸發(fā),觸發(fā)電流為3mA,保持電壓為1.2V。進(jìn)一步增加兩極間壓,LVTSCR在電流為1A時(shí)發(fā)生熱失效,此時(shí)對(duì)應(yīng)電壓為5V。
如圖5所示為本發(fā)明的次靜電保護(hù)電路的版圖設(shè)計(jì),為了滿(mǎn)足次靜電保護(hù)電路的功能以及彌補(bǔ)不能使用PMOS的情況,版圖設(shè)計(jì)中3個(gè)NMOS的尺寸很大。
以上所述僅為本發(fā)明的實(shí)施例,并非因此限定本發(fā)明的專(zhuān)利保護(hù)范圍,本發(fā)明還可以對(duì)上述各種模塊進(jìn)行附加地改進(jìn),或者是采用技術(shù)等同物進(jìn)行替換,例如:增加進(jìn)一步優(yōu)化的其他模塊等等。故凡運(yùn)用本發(fā)明的說(shuō)明書(shū)及圖示內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)變化,或直接或間接運(yùn)用于其他相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域均同理皆包含于本發(fā)明所涵蓋的范圍內(nèi)。